一种对产品进行自检的旋压机系统的制作方法

文档序号:11060020阅读:813来源:国知局
一种对产品进行自检的旋压机系统的制造方法与工艺

本发明涉及一种旋压机,具体涉及一种对产品进行自检的旋压机系统。



背景技术:

旋压机属于金属塑性成型机械。在其床身上面装有交流伺服系统,该系统中的旋轮架设有纵、横两个相互垂直的滑架,横向和纵向进给采用精密滚珠丝杠副,由伺服电机依次与同步带传动副及精密滚珠丝杠副相连接;在滑架下面设有精密滚珠直线导轨;在旋轮架的横向滑座的上面设有对芯模外形轮廓“拷贝”机构;控制伺服系统的数控系统装置及控制液压传动系统的可编程序控制器均分别与工业PC机相连。新型旋压机实现了自动加工和控制,为多功能、通用型设备,精度和可靠性高,并具有CAD绘图编程功能、芯模拷贝功能及录返功能。

现有的旋压机在完成对工件的加工后,需要对工件进行质检判断是否加工合格,工作效率低,无法在加工的同时完成对工件的质检,浪费时间。



技术实现要素:

本发明所要解决的技术问题是在旋压机工作的同时完成产品质检,目的在于提供一种对产品进行自检的旋压机系统,解决现有的旋压机在完成对工件的加工后,需要对工件进行质检判断是否加工合格,工作效率低,无法在加工的同时完成对工件的质检,浪费时间的问题。

本发明通过下述技术方案实现:

一种对产品进行自检的旋压机系统,包括旋压机,还包括MCU和连接在MCU上的供电模块、检测模块,所述检测模块包括DSP处理器和连接在DSP处理器上的激光发射器、激光接收器;所述激光发射器与激光接收器匹配安装在旋压机执行旋压工作的结构上;

MCU:向DSP处理器发送标准数据;从DSP处理器接收对比结果;

供电模块:给整个系统提供电力支持;

DSP处理器:接收MCU发出的标准数据,处理成控制信号后发送给激光发射器;接收激光接收器发送的数字信号,与从MCU接收到的标准数据进行对比,将对比结果发送给MCU;

激光发射器:接收DSP处理器发送的控制信号,根据控制信号向待测产品发射激光;

激光接收器:接收从待测产品表面反射的激光,处理为数字信号后发送给DSP处理器。旋压机产品检测主要为表面光滑度和表面形状,当表面光滑度与表面形状稳定时,激光射在其表面反射光也较为稳定,将激光发射器与激光接收器匹配安装在旋压机执行旋压工作的结构上,随着旋压结构的工作检测产品的表面数据,并将数据发送给DSP处理器,DSP将表面数据与MCU发送的标准数据进行比对,并将比对结果发送给MSU,所述标准数据通过对标准件的检测获取,在加工要求范围内允许有合适的误差。

所述MCU上还连接有计数器与计时器;

计数器:记录旋压机的工作周期数量;

计时器,记录旋压机每个周期的工作时间。对每件产品的加工时间进行检测并发送给MCU,MCU根据预录入的数据进行对比,若某个工件加工周期或某个加工周期时间超过预录入数据的上限,则发出错误提示。

所述MCU上还连接有数据库;

数据库:储存标准数据、标准工作周期与每个周期的标准工时。可储存多种工件的标准数据便于调用。

所述MCU上还连接有通信模块;

通信模块:接收外界输入的信息,将信息发送给MCU;接收MCU的信息并发送给外部设备。可实现远程监控、远程操作及数据录入的工作。

本发明与现有技术相比,具有如下的优点和有益效果:

1、本发明一种对产品进行自检的旋压机系统,在加工过程中完成产品质检,节约时间;

2、本发明一种对产品进行自检的旋压机系统,可预存多种工件的标准数据;

3、本发明一种对产品进行自检的旋压机系统,可对系统运行状况进行自检。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解,构成本申请的一部分,并不构成对本发明实施例的限定。在附图中:

图1为本发明系统结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合实施例和附图,对本发明作进一步的详细说明,本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明,并不作为对本发明的限定。

实施例

如图1所示,本发明一种对产品进行自检的旋压机系统,包括旋压机,还包括MCU和连接在MCU上的供电模块、检测模块、计数器、计时器、数据库和通信模块,所述检测模块包括DSP处理器和连接在DSP处理器上的激光发射器、激光接收器;MCU采用51系列单片机,DSP处理器采用ADI芯片,供电模块采用蓄电池和变压器供电,计数器采用电磁计数器,计时器采用555定时器,数据库采用SD卡,通信模块采用RS485通信接口;所述激光发射器与激光接收器匹配安装在旋压机执行旋压工作的结构上;旋压机产品检测主要为表面光滑度和表面形状,当表面光滑度与表面形状稳定时,激光射在其表面反射光也较为稳定,将激光发射器与激光接收器匹配安装在旋压机执行旋压工作的结构上,随着旋压结构的工作检测产品的表面数据,并将数据发送给DSP处理器,DSP将表面数据与MCU发送的标准数据进行比对,并将比对结果发送给MSU,所述标准数据通过对标准件的检测获取,在加工要求范围内允许有合适的误差。数据库可储存多种工件的标准数据便于调用。计数器、计时器对每件产品的加工时间进行检测并发送给MCU,MCU根据预录入的数据进行对比,若某个工件加工周期或某个加工周期时间超过预录入数据的上限,则发出错误提示。

MCU:向DSP处理器发送标准数据;从DSP处理器接收对比结果;

供电模块:给整个系统提供电力支持;

DSP处理器:接收MCU发出的标准数据,处理成控制信号后发送给激光发射器;接收激光接收器发送的数字信号,与从MCU接收到的标准数据进行对比,将对比结果发送给MCU;

激光发射器:接收DSP处理器发送的控制信号,根据控制信号向待测产品发射激光;

激光接收器:接收从待测产品表面反射的激光,处理为数字信号后发送给DSP处理器;

计数器:记录旋压机的工作周期数量;

计时器,记录旋压机每个周期的工作时间;

数据库:储存标准数据、标准工作周期与每个周期的标准工时;

通信模块:接收外界输入的信息,将信息发送给MCU;接收MCU的信息并发送给外部设备。可实现远程监控、远程操作及数据录入的工作。

以上所述的具体实施方式,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施方式而已,并不用于限定本发明的保护范围,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

当前第1页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1