磁吸找正装置的制作方法

1.本实用新型属于机械制造工艺与设备领域，尤其涉及一种磁吸找正装置。


背景技术：

2.采用数控铣加工非标准零件时，需要通过找正零件上基准面，从而来校正零件位置，使零件基准面与加工坐标x向或y向平行后才能加工。
3.现有技术，是通过在数控铣主轴上装夹一个杠杆百分表支架及杠杆百分表，然后通过杠杆表头直接与零件上基准面接触，通过看杠杆表数值，来确定零件基准面与加工坐标x向或y向是否平行。
4.如图1所示，第一基准面和第二基准面是与x向平行的面。按加工基准与设计基准重合原则，确定第一基准面和第二基准面做为加工时找正基准面。数控铣加工找正过程：找正时主轴仅做x向移动，带动百分表从第二基准面移动到第一基准面，看百分表数值在第一基准面与在第二基准面是否一样，若不一致则按百分表值移动零件；零件移动后，再用百分表检测第一基准面和第二基准面，看百分表数值是否一样，重复上述动作，直到百分表从第二基准面移动到第一基准面过程中，第一基准面和第二基准面的百分表数值一样为止，这样就确定了第一基准面和第二基准面与x向平行，零件即可装夹紧固，进一步加工零件上的键槽和孔。
5.如图2所示，当第一基准面和第二基准面之间有障碍体，数控铣主轴仅做x向移动百分表会与障碍体发生碰撞，易造成安全质量事故；为了躲开障碍体，数控铣主轴不仅需要做x向移动还要做y向移动。数控铣加工找正过程为：主轴在第一基准面移动时，主轴先y向移动x向不动，当y向移动距离＞障碍体后，再做x向移动y向不动，当接近第二基准面后，再做y向移动直到百分表表头接触到第二基准面，看百分表数值，同时看数控铣显示器上y值。当第一基准面和第二基准面的百分表值和数控铣显示器上y值一致时，找正完成即第一基准面和第二基准面与x向平行，若数值不一致则重复整个找正过程，找正完成需要0.5-1小时效率低，x向y向都移动，操作工不仅要记住第一基准面和第二基准面的y向值，还要记住百分表值，增加作业难度，极易出错，影响零件加工质量。


技术实现要素：

6.为解决以上问题，本实用新型提供一种磁吸找正装置，能够躲开找正过程中的障碍体，数控铣主轴不用作y向移动。
7.本实用新型采用的技术方案是：一种磁吸找正装置，其特征在于：包括磁吸座、支架和测量块，所述磁吸座吸附在待找正的工件基准面上，所述测量块从y方向伸出，通过支架与磁吸座固定连接，所述测量块上设有测量孔，所述测量孔内设有与x轴平行的测量面。
8.作为优选，所述支架整体呈l型，包括沿x轴方向设置的底板和沿y轴方向设置的连接板，所述底板与磁吸座固定，所述连接板一端与底板连接，另一端与测量块连接。
9.进一步的，所述连接板上设有凸起，所述测量块上设有与凸起过盈配合的凹槽。
10.进一步的，所述底板和连接板之间设有加强肋。
11.作为优选，所述测量孔为方形孔，所述测量面为处于方形孔靠磁吸座一侧的内端面上。
12.本实用新型取得的有益效果是：通过采用本实用新型的磁性找正装置，在对非标零件找正过程中，数控铣主轴仅做x向或y向移动就能够躲开找正过程中的障碍体，整个找正过程快速准确，找正时间缩短了50％。
附图说明
13.图1-2为现有的非标零件找正的示意图；
14.图3为采用本实用新型的磁吸找正装置找正的示意图；
15.图4为本实用新型的磁吸找正装置的结构示意图；
16.其中：1、待找正零件；11、第一基准面；12、第二基准面；13、待加工键槽；14、待加工孔；2、主轴；3、百分表；4、障碍体；5、磁吸找正装置；51、磁吸座；511、磁吸开关；52、支架；521、底板；522、连接板；53、测量块；531、测量孔；532、测量面。
具体实施方式
17.下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
18.现有技术，是通过在数控铣主轴上装夹一个杠杆百分表支架及杠杆百分表，然后通过杠杆表头直接与零件上基准面接触，通过看杠杆表数值，来确定零件基准面与加工坐标x向或y向是否平行。
19.如图1所示，在对待加工零件1找正(以x向找正为例)过程中，选取与x向平行的两个面作为基准面(按加工基准与设计基准重合原则，确定第一基准面11和第二基准面12做为加工时找正基准面)。数控铣加工找正过程：找正时主轴2仅做x向移动，带动百分表3从第二基准面12移动到第一基准面11，看百分表3数值在第一基准面11与在第二基准面12是否一样，若不一致则按百分表值移动待加工零件1；待加工零件1移动后，再用百分表3检测第一基准面11和第二基准面12，看百分表数值是否一样，重复上述动作，直到百分表从第二基准面12移动到第一基准面11过程中，第一基准面11和第二基准面12的百分表数值一样为止，这样就确定了第一基准面11和第二基准面12与x向平行，零件即可装夹紧固，进一步加工零件上的键槽13和孔14。
20.如图2所示，当第一基准面11和第二基准面12之间有障碍体4时，若主轴2仅作x向移动，百分表3会与障碍体4发生碰撞，易造成安全质量事故；为了躲开障碍体4，主轴2不仅需要作x向移动还要作y向移动。数控铣加工找正过程为：主轴2在第一基准面11移动时，主轴先y向移动x向不动，当y向移动距离＞障碍体4后，再作x向移动y向不动，当接近第二基准面12后，再作y向移动直到百分表3表头接触到第二基准面12，看百分表数值，同时看数控铣显示器上y值。当第一基准面11和第二基准面12的百分表值和数控铣显示器上y值一致时，找正完成即第一基准面11和第二基准面12与x向平行，若数值不一致则重复整个找正过程，
找正完成需要0.5～1小时效率低，x向y向都移动，操作工不仅要记住第一基准面11和第二基准面12的y向值，还要记住百分表值，增加作业难度，极易出错，影响零件加工质量。
21.如图3-4所示，本实用新型的一种磁吸找正装置，包括磁吸座51、支架52和测量块53，磁吸座51吸附在待找正的工件基准面上，测量块53从y方向伸出，通过支架52与磁吸座51固定连接，测量块53上设有测量孔531，测量孔531内设有与x轴平行的测量面532。
22.在一实施例中，支架52整体呈l型，包括沿x轴方向设置的底板521和沿y轴方向设置的连接板522，底板521与磁吸座51固定，连接板522一端与底板521连接，另一端与测量块53连接。本实施例中，连接板522上设有凸起，测量块53上设有与凸起过盈配合的凹槽，通过凸起和凹槽的配合，实现支架52与测量块53的固定连接；同时由于测量块53为易磨损件，且对精度要求较高，通过设置凸起和凹槽，也可以实现测量块53磨损后的快速更换。
23.在一实施例中，底板521和连接板522之间设有加强肋，可以增加支架52的整体强度。
24.在一实施例中，测量孔531为方形孔，测量面532为处于方形孔靠磁吸座51一侧的内端面上，避免在使用过程，测量面532与其它物体发生磕碰，影响测量面532的精度。
25.在一实施例中，磁吸座51为带磁吸开关511的标准磁吸座，通过操作磁吸开关511，可以快速实现磁吸座51与工件的吸合或分离；支架52为自制支架，测量块53为自制测量块，支架52通过圆柱销和螺钉紧固在磁吸座51，测量块53用螺钉紧固在支架52上。通过采用不同长度的支架52，已达到依据障碍体4的高度选择合适高度的磁吸找正装置5的目的。磁吸找正装置5作为量具，需定期检测其精度，若精度超差，可以通过更换测量块53进行修正。
26.结合图3所示，将两个规格相同的磁吸找正装置5分别吸附在第一基准面11和第二基准面12上，要求其测量面532与基准面(第一基准面11和第二基准面12)平行，同时要求其测量面532高于障碍体4。找正过程：数控铣找正时主轴2作x向移动，带动百分表3从第二基准面12处的磁吸找正装置5的测量面532移动到第一基准面11处的磁吸找正装置5的测量面532，看百分表数值是否一样，若不一致则按百分表值移动零件，零件移动后再重新找正直到百分表数值在第一基准面11和第二基准面12的数值一样为止，即可确定第一基准面11和第二基准面12与x向平行，找正完成。整个找正过程中，主轴2仅作x向移动y向不移动，障碍体4被避开，找正完成后将磁吸找正装置5松开即可拿走不需用专门工具拆卸，操作过程简单高效。
27.以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要结构特征。本实用新型不受上述实例的限制，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型的范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
28.在此，需要说明的是，上述技术方案的描述是示例性的，本说明书可以以不同形式来体现，并且不应被解释为限于本文阐述的技术方案。相反，提供这些说明将使得本实用新型公开将是彻底和完整的，并且将向本领域技术人员充分传达本说明书所公开的范围。此外，本实用新型的技术方案仅由权利要求的范围限定。
29.用于描述本说明书和权利要求的各方面公开的形状、尺寸、比率、角度和数字仅仅是示例，因此，本说明书和权利要求的不限于所示出的细节。在以下描述中，当相关的已知功能或配置的详细描述被确定为不必要地模糊本说明书和权利要求的重点时，将省略详细
描述。
30.在使用本说明书中描述的“包括”、“具有”和“包含”的情况下，除非使用否则还可以具有另一部分或其他部分，所用的术语通常可以是单数但也可以表示复数形式。
31.应该指出，尽管在本说明书可能出现并使用术语“第一”、“第二”、“顶部”、“底部”、“一侧”、“另一侧”、“一端”、“另一端”等来描述各种不同的组件，但是这些成分和部分不应受这些术语的限制。这些术语仅用于区分一个成分和部分和另一个成分和部分。例如，在不脱离本说明书的范围的情况下，第一部件可以被称为第二部件，并且类似地，第二部件可以被称为第一部件，顶部和底部的部件在一定情况下，也可以彼此对调或转换；一端和另一端的部件可以彼此性能相同或者不同。
32.在描述位置关系时，例如，当位置顺序被描述为“在...上”、“在...上方”、“在...下方”和“下一个”时，除非使用“恰好”或“直接”这样的词汇或术语，此外则可以包括它们之间不接触或者接触的情形。如果提到第一元件位于第二元件“上”，则并不意味着在图中第一元件必须位于第二元件的上方。所述部件的上部和下部会根据观察的角度和定向的改变而改变。因此，在附图中或在实际构造中，如果涉及了第一元件位于第二元件“上”的情况可以包括第一元件位于第二元件“下方”的情况以及第一元件位于第二元件“上方”的情况。在描述时间关系时，除非使用“恰好”或“直接”，否则在描述“之后”、“后续”、“随后”和“之前”时，可以包括步骤之间并不连续的情况。本实用新型的各种实施方案的特征可以部分地或全部地彼此组合或者拼接，并且可以如本领域技术人员可以充分理解的以各种不同地构造来执行。本实用新型的实施方案可以彼此独立地执行，或者可以以相互依赖的关系一起执行。
33.最后，应当指出，以上实施例仅是本实用新型较有代表性的例子。显然，本实用新型不限于上述实施例，还可以有许多变形。凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均应认为属于本实用新型的保护范围。