一种金合金靶材及其制备方法

文档序号:8247448阅读:1276来源:国知局
一种金合金靶材及其制备方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种金合金靶材及其制备方法,主要用于GaAs基半导体器件的欧姆 接触制作,属于冶金和压延加工技术领域。
【背景技术】
[0002] GaAs基半导体材料是化合物半导体中最重要、用途最广泛的半导体材料,是目前 研宄得最成熟、生产量最大的化合物半导体材料,也是微电子和光电子的基础材料。由于 GaAs具有电子迀移率高、禁带宽度大且为直接带隙,容易制成半绝缘材料、本征载流子浓度 低、光电特性好、以及具有耐热、抗辐射性能好和对磁场敏感等优良特性,用GaAs材料制作 的半导体器件频率响应好、速度快、工作温度高,能满足集成光电子的需要。它是目前最重 要的光电子材料,也是继硅材料之后最重要的微电子材料,它适合于制造高频、高速的器件 和电路。
[0003] GaAs基半导体器件具备超高速、低功耗、多功能、抗辐射等特点,主要应用于智能 化武器、航空航天、军事通信、雷达等军事领域,此外在手机、光纤通信、图像处理、照明等民 用商用领域也有着广泛应用。
[0004] 常规的GaAs半导体器件欧姆接触制备方法是,在GaAs半导体表面溅射AuGe合金 薄膜后,在一定温度、时间条件下进行金属化处理。在金属化过程中,随着温度的升高,AuGe 薄膜开始熔化,Ga扩散到金属中去,而锗作为两性掺杂物,以约为2X IO19CnT3的密度掺杂 到GaAs中,占据Ga的晶格位置,形成高掺杂的合金层,实现金属-半导体的欧姆接触。在 GaAs半导体器件欧姆接触原理中,Ga和Ge的相互扩散是形成欧姆接触的基础,但Ge过度 扩散会抬高欧姆接触电阻值,破坏接触性能。

【发明内容】

[0005] 本发明的目的在于提供一种Au-Ge-Ni金基合金革El材,该革El材用于GaAs基半导体 器件磁控溅射镀膜,该靶材成分配比合理,可推广应用于多种GaAs基半导体器件的欧姆接 触制备。
[0006] 本发明的另一目的在于提供一种所述Au-Ge-Ni金基合金靶材的制备方法,该方 法简单,利于批量生产。
[0007] 为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
[0008] -种Au-Ge-Ni金基合金革巴材,该革巴材由以下含量的成分组成:Ge 9. 5? 13.5wt%、Ni 4.2 ?5.8wt%,Au 余量。
[0009] 另一方面,本发明提供一种Au-Ge-Ni金基合金靶材的制备方法,采用"离心铸 造-热压-机械加工"方法,包括以下步骤:
[0010] (1)备料:选择原料,其中纯度99. 99%的金、纯度99. 99%的镍、单晶锗;按照各组 分的质量百分比称取原料;
[0011] ⑵离心铸造:将称好的金、镍、锗原料放入离心铸造机的石英坩埚中,抽真空,采 用超音频感应恪炼,金属全恪后甩入石墨模;
[0012] (3)热压:将得到的板坯在铜加热板上加热至245°C?255°C,采用万吨压机持续 压2min,压力维持在180MPa?200MPa ;
[0013] (4)机械加工:将热压后的板坯进行铣床加工,先采用硬质合金铣刀将板材长、 宽、厚尺寸分别铣至比成品尺寸大〇.5_,再用金刚石铣刀进行精加工,最后加工至成品尺 寸。
[0014] 如上所述的制备方法,优选地,所述步骤(2)中离心铸造真空度不低于 I. OXKT1Pa0
[0015] 如上所述的制备方法,优选地,所述步骤(2)中离心浇铸温度为645°C?655°C,甩 臂速度为30r/min?35r/min。
[0016] 再一方面,本发明提供一种金合金靶材,该靶材是采用如上所述的方法制备的。
[0017] 又一方面,本发明提供如上所述的金合金作为GaAs基半导体器件磁控溅射镀膜 材料的应用。
[0018] 本发明的有益效果在于以下几个方面:
[0019] (1)采用本发明Au-Ge-Ni系统制备的GaAs基半导体器件欧姆接触,具有较低的欧 姆接触电阻值和优异的高温稳定性能,解决了目前微电子器件所存在的欧姆接触问题。这 是由于靶材中Ni的添加可改变Au-Ge合金原有的单一共晶组织结构,形成GeNi化合物相, 在薄膜金属化过程中GeNi化合物可束缚部分Ge,抑制Ge过度向GaAs半导体扩散,降低欧 姆接触电阻值。Ni的最佳添加比例实现了最小欧姆接触电阻值。同时该Au-Ge-Ni金基合 金靶材可以应用于其他半导体器件的Μ/S系统中形成欧姆接触,如高电子迀移率晶体管、 赝高电子迀移率晶体管等。同时扩大了 GaAs基半导体器件的应用空间,将在半导体激光制 导跟踪、半导体激光雷达、半导体激光引信、激光测距、激光通信光源等方面有更加广泛应 用。
[0020] (2)本发明采用离心铸造法可获得致密度更高、缺陷更少、含氧量更低的锭坯,相 对传统浇铸板坯(致密度小于98%,含氧量大于50ppm),本发明制备的Au-Ge-Ni合金靶材 成分均匀、准确,合金组织均匀、细小,致密度高于99. 8%,含氧量低于50ppm。最终制备的 薄膜均匀性、电性能更好。且该制备方法简单,利于批量生产。
【具体实施方式】
[0021] 下面将结合具体配料计算的实施例对本发明Au-Ge-Ni金基合金祀材及其制备方 法作进一步描述。
[0022] 以下实施例中Au-Ge-Ni金基合金靶材是通过以下方法制备得到的,具体包括以 下步骤:
[0023] 步骤⑴:原材料选用
[0024] 金选用高纯金,纯度不低于99.99% ;锗选用单晶锗;镍选用镍片,纯度不低于 99. 99 % 〇
[0025] 步骤(2):配料
[0026] 按照各组分的质量百分比称取原料,总重量按5. IOkg?5. 20kg配料。
[0027] 步骤3:离心铸造
[0028] 1)设备:10kg离心铸造机;
[0029] 2)模具:石墨模,模腔尺寸:10. OmmX 1 PO. OmmX430. Omm ;
[0030] 3)操作:将称好的金、镍、锗原料放入离心铸造机的石英坩埚中,抽真空,使真 空度不低于I. ox lO^pa,采用超音频感应恪炼,金属全恪后甩入石墨模,离心饶铸温度为 645°C?655°C,甩臂速度为30r/min?35r/min。最后铸成厚度10. 0mm、宽度100. 0mm、长 度430. Omm的板还。
[0031] 步骤4:热压
[0032] 1)设备:万吨压机;
[0033] 2)加热温度:245°C ?255? ;
[0034] 3)压力:180MPa ?200MPa ;
[0035] 4)持续时间:2min。
[0036] 步骤5 :机
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