1.一种微量样品的检测芯片，包括：相对设置的第一基板和第二基板；其特征在于，所述微量样品的检测芯片包括：位于所述第二基板面向所述第一基板一侧的电极层；
所述电极层包括多个所述电极单元，所述电极单元包括：间隔设置的驱动电极和参考电极；每一个所述电极单元中，所述驱动电极在所述第二基板的正投影的边缘和所述参考电极在所述第二基板的正投影的边缘之间的最小距离相同。
2.如权利要求1所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，每一个所述电极单元包括一个所述驱动电极和一个所述参考电极；
所述驱动电极在所述第二基板的正投影围绕所述参考电极在所述第二基板的正投影的至少部分边缘。
3.如权利要求2所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，所述驱动电极在所述第二基板的正投影环形围绕所述参考电极在所述第二基板的正投影；或者，
所述驱动电极在所述第二基板的正投影与所述参考电极在所述第二基板的正投影沿第一方向交替排列。
4.如权利要求1所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，每一个所述电极单元包括两个所述驱动电极和一个所述参考电极；
同一所述电极单元中，所述参考电极在所述第二基板的正投影位于两个所述驱动电极在所述第二基板的正投影之间。
5.如权利要求1所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，每一个所述电极单元包括四个所述驱动电极和一个所述参考电极；
所述电极单元为矩形，一个所述驱动电极位于所述矩形的一个顶角对应的区域，所述参考电极位于所述电极单元的矩形的几何中心所在的区域。
6.如权利要求1所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，所述微量样品的检测芯片还包括：位于所述电极层与所述第二基板之间的预设绝缘层，以及位于所述预设绝缘层与所述第二基板之间的参考电极线；
所述参考电极线通过贯穿所述预设绝缘层的过孔与所述参考电极电连接。
7.如权利要求6所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，所述驱动电极阵列排布于所述电极层中；所述微量样品的检测芯片还包括：位于所述电极层与所述第二基板之间的多条数据线、多条扫描线以及多个开关晶体管；其中，一个所述开关晶体管对应一个所述驱动电极，一列所述驱动电极对应一条所述扫描线，一行所述驱动电极对应一条所述数据线，所述开关晶体管的栅极与所述扫描线电连接，所述开关晶体管的源极与所述数据线电连接，所述开关晶体管的漏极与对应的驱动电极电连接。
8.如权利要求7所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，所述扫描线与所述参考电极线同层设置，或，所述数据线与所述参考电极线同层设置。
9.如权利要求6所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，所述微量样品的检测芯片还包括：位于所述电极层与所述第二基板之间的多条驱动电极线，一条所述驱动电极线对应电连接一个所述驱动电极。
10.如权利要求9所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，所述驱动电极线与所述参考电极线设置在同一层。
11.如权利要求1-10任一项所述的微量样品的检测芯片，其特征在于，所述微量样品的检测芯片至少分为储液槽区域、通道区域以及检测区域；其中，所述储液槽区域通过所述通道区域与所述检测区域连通；
所述储液槽区域中的驱动电极的面积大于所述通道区域中的驱动电极的面积；和/或，
所述储液槽区域中的驱动电极的面积大于所述检测区域中的驱动电极的面积。