具有真空带的输送设备的制作方法

本发明涉及用于输送颗粒的设备。该设备包括真空传送带，即，具有能够施加负压的多个孔(穿孔)的传送带。该设备可以方便地用于将颗粒分类成多个质量等级。

背景技术：

WO 2012/145850A1公开了用于将例如谷物或种子的颗粒分类成两个或更多个质量等级的分类设备。该设备包括用于确定所述颗粒的至少一种分析特性的测量装置，所述测量装置包括用于照射颗粒的光源和用于分析颗粒的光谱特性的光谱仪。分类装置操作性地联接至测量装置并且基于分析特性将颗粒分类成多个质量等级。输送装置将颗粒输送经过测量装置并输送至分类装置。输送装置包括真空传送带和真空泵，真空传送带即环形的带穿孔的传送带，该真空传送带具有多个穿孔，真空泵对穿孔施加负压。真空使得给送到输送装置的颗粒被吸入穿孔并且在传送带上经过测量装置输送到分类装置。传送带的输送颗粒的表面(“输送表面”)指向下，即，颗粒在“上面”输送，即，从传送带悬置而非置于传送带的顶部上。

将颗粒给送到真空传送带是通过使用给送带来实现的，该给送带接纳来自料斗的颗粒并且使颗粒朝向真空传送带加速以助于颗粒吸入到传送带的穿孔。回收导管接纳未被吸入到穿孔的颗粒。由此，颗粒借助于泵回收至料斗。

可以看出这种现有技术设备的缺点在于给送系统和回收系统的复杂性，这会导致制造成本和维修成本增大。该现有技术设计的另一个缺点在于输送装置的驱动部件和测量装置的精密部件暴露于天然来源的颗粒如谷物或种子所不可避免地伴随有的灰尘。

技术实现要素：

在本发明的第一方面，本发明的目的是提供一种具有真空传送带的输送设备，该输送设备实现了简化供给、回收以及使设备的选定部件免受灰尘的更好保护。

根据第一方面，本发明提供了一种用于输送颗粒的设备，所述设备包括：

环形传送带，该环形传送带具有沿着其长度的多个穿孔，所述设备构造成能够对所述穿孔施加负压，以将颗粒吸入到所述穿孔，传送带构造成在颗粒被吸入到所述穿孔的同时沿着输送方向输送颗粒，由此限定可移动输送表面；以及

给送装置，该给送装置用于将颗粒在给送区域中给送到传送带，

其中，输送表面在大致竖向平面中延伸，并且

其中，输送方向相对于水平方向向上倾斜。

所述设备可以进一步包括用于对传送带的穿孔施加负压的负压源、特别地为真空泵。为了驱动传送带以沿着输送方向输送颗粒，设备可以包括驱动马达，例如电动或气动马达。

根据本发明，当设备按照预期使用时，传送带上的输送颗粒的部分大致竖向定向而不是水平地定向，并且传送带斜向地布置，即与水平平面成一角度，以使颗粒沿着向上倾斜的方向移动。通过对输送表面选择大致竖向取向，颗粒可以通过比现有技术更简单的方式给送到传送带。特别地，可以省略如在现有技术中已经提出的用于在颗粒被吸入到传送带之前加速颗粒的给送带。此外，未被恰当吸入到传送带的颗粒的回收可以通过更简单的方式完成。特别地，由于传送带使颗粒以一定倾斜向上移动，因此能够仅通过重力的作用将从传送带掉落的颗粒输送回到给送区域。另外，输送表面的大致竖向取向使得能够在与颗粒直接相互作用的部件和不需要紧邻颗粒的部件之间进行直接的空间分离，其中，与颗粒直接相互作用的部件比如是给送装置或用于将颗粒分类的部件，不要紧邻颗粒的部件比如是用于传送带的驱动马达或电子电路。如果输送表面法向上的表面与水平平面(定义为垂直于重力方向)之间的角度在-30°与+30°之间，优选地在-10°与+10°，最优选地在-5°和+5°之间，则输送表面被认为在大致竖向平面中延伸。

为了完成从传送带掉落到给送区域外的颗粒的回收，所述设备可以包括回收盘，该回收盘布置在输送表面下方以收集从传送带(从输送表面)掉落到给送区域外的颗粒并且通过重力的作用将所述颗粒回收到给送区域。回收盘可以限定一个或更多个倾斜的滑动表面，其中，收集到的颗粒可以在一个或更多个倾斜滑动表面上朝向给送区域向下滑动。特别地，回收可以采取向下倾斜的斜槽的形式，该斜槽向上敞开以接纳从传送带落下的颗粒。并不需要诸如泵或带的致动器来回收颗粒。

为了完成特别简单的给送操作，给送装置可以包括给送室，该给送室限定给送区域并且具有由传送带形成的侧壁部分。换句话说，给送室可以在侧向上——即给送装置的两侧中的一侧——由传送带部分地限定。由于传送带竖向地定向，这种布置仅是可能的。给送室可以朝向传送带向下渐缩以使给送室的死区体积最小化。

为了改进在涉及颗粒的处理并因此应紧邻输送表面的部件与可以远离输送表面布置的部件之间的分隔，所述设备可以包括竖向分隔壁，该竖向分隔壁限定第一侧和第二侧，分隔壁限定了长形开口，输送表面布置在所述长形开口中以指向分隔壁的第一侧。因而，分隔壁在设备的两个不同区域之间形成屏障。在分隔壁的第一侧的第一区域是“处理区域”，在第一区域中，例如在设备形成分类设备的情况下，颗粒在测量和分类期间被输送和处理。该区域可能暴露于来源于颗粒的大量灰尘。第二个区域是应当免受灰尘的“清洁区域”。传送带及其驱动部件通常布置在第二区域(“清洁区域”)中；然而，分隔壁中的长形开口提供了从第一区域(“处理区域”)至传送带的用作用于颗粒的移动输送表面的部分的入口。可以存在另外的开口在第一区域与第二区域之间提供用于能量、数据和介质传送的连接。特别地，如果设备构造成包括具有光源和光检测器的测量装置的分类设备，则所述光源和所述光检测器中的至少一者优选地布置在分隔壁的第二侧的“清洁区域”中。另一方面，如果设备包括用于接纳输送和/或分类之后的颗粒的容器，则所述容器将有利地布置在分隔壁的第一侧的“处理区域”中。所述设备可以包括用于封闭第一区域和/或第二区域的壳体。

在第二方面，本发明提供一种输送设备，该输送设备包括：

环形传送带，该环形传送带具有沿着其长度的多个穿孔，传送带构造成在颗粒被吸入到所述穿孔的同时沿着输送方向输送颗粒，由此限定可移动输送表面；

沿着输送方向延伸的长形真空箱，该真空箱沿着一个纵向侧(不一定是横向侧)敞开并且能够连接至负压源以对所述真空箱施加负压；以及

长形滑动件，该长形滑动件覆盖真空箱的所述纵向侧，该滑动件具有多个抽吸开口，所述抽吸开口限定沿着输送方向变化的自由截面，

其中，该传送带在所述滑动件上沿着所述输送方向被可滑动地导引，使得所述真空箱中的负压引起传送带的穿孔处的负压，并且穿孔处的负压根据由滑动件的抽吸开口限定的自由截面沿着输送方向被调节。

以这种方式，可以容易地调节传送带的抽吸功率。自由截面(有效截面)是在滑动件的足够大以能够容纳多个抽吸开口的特定区域中的抽吸开口的总截面面积相对于该区域的总表面面积的百分比。如果所有的抽吸开口具有沿着滑动件的长度的相同尺寸和相同间隔，则自由截面将是沿着滑动件的长度恒定的。如果所有的抽吸开口具有相同的间隔，但截面面积沿着滑动件的长度增大或减小，则自由截面也将增大或减小。如果所有的抽吸开口具有相同的截面面积，但间隔沿滑动件的长度减小或增大，则自由截面将同样变化。当然，抽吸开口的尺寸和间隔两者可以同时变化以调节自由截面。

抽吸开口的自由截面沿着输送方向的变化量(通过改变尺寸和/或间隔)优选地等于至少两倍、更优选地等于至少五倍。换句话说，滑动件具有沿着其长度的第一区域，在第一区域中，抽吸开口比在第二区域中更密集地间隔和/或具有更大的尺寸，第一区域中形成的自由截面是第二区域中的至少两倍、更优选地至少五倍大。以这种方式，能够以非常简单的方式实现抽吸功率相当显著的调节。

为了在滑动件的长度上产生平滑连续变化的抽吸功率，优选的是，滑动件限定沿着输送方向延伸的纵向凹槽，该纵向凹槽在传送带与滑动件的设置有抽吸开口的部分之间产生间隙空间。滑动件可以包括限定纵向凹槽的两个平行的纵向腹板(即纵向分隔壁)，每个腹板形成针对传送带的接触表面。间隙空间实现了滑动件的长度上的有限的压力均衡。

输送装置可以包括给送装置，该给送装置用于在给送区域中将颗粒给送到传送带。下述情况则是有利的：由抽吸开口限定的自由截面在给送区域中比沿着输送方向在给送区域下游大从而在给送区域中提供增大水平的负压(产生更大的抽吸功率)。

滑动件可以设置有阻挡构件，该阻挡构件布置在滑动件上以覆盖(和封闭)滑动件的选定的抽吸开口。阻挡构件可以布置在滑动件的以上提到的纵向凹槽中。以这种方式，传送带的穿孔处的负压能够选择性在期望颗粒从传送带落下的区域中减小。例如，如果所述设备构造成分类装置，则期望颗粒在分类区域的端部处从传送带落下。

本发明的第二方面可以容易地与本发明的第一方面相结合，即，根据本发明的第二方面的真空箱和滑动件可以容易地使用在根据本发明的第一方面的具有竖向输送表面和倾斜的输送方向的设备中。

通过使用多个传送带，输送和分类可以是并行的。为此，所述设备可以包括一个或更多个另外的环形传送带，所有的传送带彼此平行布置并且相对于竖向方向一个堆叠在一个上。每个传送带限定用于沿着输送方向输送颗粒的可移动输送表面。输送表面优选地基本上彼此共面。以这种方式，能够在多个平行传送带上同时对颗粒进行输送、分析及分类。多个传送带可以由共用的驱动马达驱动。

所述设备可以与其他部件互补以形成用于将颗粒分类成多个质量等级的分类设备。为此，所述设备可以包括以下中的一者或更多者：

至少一个测量装置，所述至少一个测量装置用于确定颗粒的至少一个分析特性，所述测量装置相对于输送方向布置在给送区域的下游；以及

分类装置，该分类装置操作性地联接至所述测量装置，以基于所述分析特性将颗粒分类成至少两个质量等级，该分类装置相对于输送方向布置在测量装置的下游。

测量装置可以包括一个或更多个光谱仪、成像光谱仪、摄像机、质谱仪、声学可调谐滤波器等以针对颗粒的分析特性分析如谷物、豆类或种子的颗粒。本装置能够通过测量受分析的颗粒的光谱特性(即，在光谱仪的情况下，特定的光学特性如反射率或透射率和波长的相关性)来同时评估一种或几种分析特性。另外或作为替代，测量装置可以包括配置成确定不同分析特性的多个检测器。

在优选的实施方式中，颗粒的分析通过光学仪器来执行，并且测量装置包括至少一个光源和至少一个光检测器。术语“光”应当被理解为包括从电磁光谱的远红外(IR)区域到远紫外线(UV)或甚至到X射线区域的所有种类的电磁辐射。光源和光检测器可以布置在输送表面的不同侧上以发出穿过穿孔光，并且光检测器然后可以布置成接收透射穿过在输送表面上移动经过测量装置的颗粒的光。在另一些实施方式中，光源和光检测器可以布置在输送表面的相同侧上(优选地布置在输送颗粒的那一侧)，光检测器布置成接收从在输送表面上移动经过测量装置的颗粒反射的光。为了增大设备的生产能量，测量装置可以包括沿着横向于输送方向延伸的横向方向布置的多个光检测器，以实现移动经过测量装置的颗粒的分析特性在不同横向位置中的同时测量。

光检测器可以包括至少一个光谱仪，所述至少一个光谱仪配置成记录从移动经过测量装置的颗粒接收的光谱。然后，可以分析这些光谱以从光谱得到分析特性。在一些实施方式中，光检测器可以包括成像光谱仪，该成像光谱仪配置成记录移动经过测量装置的颗粒在不同横向位置中的空间分辨光谱。以这种方式，不仅可以分析这些颗粒的光谱特性，还可以得到诸如尺寸或形状的几何特性。在另一些实施方式中，光检测器可以包括摄像机、特别地为线扫描摄像机或具有二维图像传感器的摄像机。这允许独立于其他特性分析尺寸和/或形状和/或颜色和/或荧光。

测量装置可以包括处理装置，该处理装置基于一个或更多个测量变量对每个单个颗粒分配给一个质量等级以进行随后的分类。处理装置可以这样控制分类装置。处理装置可以包括执行预测和分类算法的计算机。如果测量装置包括光谱仪，则处理装置从光谱仪接收的测量变量可以包括光谱数据。如果测量装置包括一个或更多个摄像机，则处理装置从摄像机接收的测量变量可以包括图像数据。

分类可以通过各种不同的方式——包括气动、压电、机械、重力以及其他类型的分类装置——执行。例如，分类装置可以包括至少一个气动喷射喷嘴，所述至少一个气动喷射喷嘴操作性地联接至所述测量装置以产生用于选择性地将移动经过所述喷射喷嘴的颗粒吹离输送表面的空气流。喷射喷嘴可以定位在输送表面的与输送颗粒的侧相反的侧上，从而产生穿过所述穿孔的空气流。在另一些实施方式中，喷射喷嘴可以产生平行于输送表面且横向于输送方向的气流以沿横向方向将颗粒吹离输送表面。

能够使用这种设备输送和分类的颗粒类型包括但不限于：农作物颗粒比如谷物、豆类、诸如小麦、大麦、燕麦、稻、玉米或高粱的谷物的种子或谷粒；大豆、可可豆和咖啡豆等等。可以评估的分析特性的类型如下但不限于：化学或生物化学特性、在污染剂和/或感染剂和/或其他病原体剂下的污染程度、和/或几何和感官特性比如尺寸、形状和颜色。特别地，生物化学特性应当被理解为反映活生物体中的物质的结构、组成和化学反应的特性。生物化学特性包括但不限于：蛋白质含量、油含量、糖含量和/或氨基酸含量、水分含量、多糖含量，特别是淀粉含量或谷蛋白含量、脂肪或油脂含量、抗氧化剂含量，维生素含量、或本领域中公知的特定生物化学或化学标记物如化学降解标记物的含量。污染或感染剂包含能够导致消费者患病的有害化学制品和微生物并且包括但不限于杀菌剂、除草剂、杀虫剂、病原体剂、细菌和真菌。

附图说明

下面参照附图描述本发明的优选实施方式，附图是用于说明本发明的优选实施方式的目的而非用于限制本发明的目的。在附图中，

图1示出了分类设备的第一实施方式；

图2以轴测图示出了图1中的分类设备的一部分；

图3以正视图示出了图1中的分类设备的一部分；

图4是图示了颗粒被给送和回收的方式的示意图；

图5示出了图1中的分类设备的输送单元；

图6示出了结合图5中的输送单元使用的滑动件；

图7示出了沿图8的平面VII-VII的穿过图6中的滑动件以及传送带的放大截面；

图8示出了图6中的滑动件的近端部分和远端部分的放大图，其中，阻挡构件安置在一些抽吸开口的上方；

图9至图10示出了图5中的输送单元以及分隔壁；

图11示出了分类设备的详细视图；

图12示出了分类设备的第二实施方式；

图13示出了分类设备的第三实施方式；以及

图14示出了用于第二实施方式和第三实施方式的给送装置。

具体实施方式

图1至图11中图示了采用根据本发明的输送机构的分类设备的第一实施方式。首先参考图1至图3，图1至图3以不同的视图示出了分类设备的各个部分。

分类设备包括输送装置，该输送装置包括真空传送带310。传送带310具有用于将颗粒从给送装置100沿着输送方向T(参见图2和图3)输送到分类设备500的部分。该部分限定输送表面。输送表面被竖向地定向，即，输送表面在竖向平面x-z中延伸。如在图3中最佳示出的，输送方向T相对于水平平面(x-y平面)倾斜了角度α。在本示例中，角度α约为45°。

给送装置100将颗粒给送到传送带310。给送装置100包括料斗110(仅在图2和图3中示出)，待分类的颗粒以堆的形式填充到料斗110中。由此，颗粒穿过漏斗120进入到给送室130中。给送室130在一侧由移动的传送带310限定。

颗粒可以借助于出口斜槽140从给送室130移除。

从图4的示意图中清楚可见，传送带310具有多个穿孔(通孔)311，所述多个穿孔311沿着带的长度(即，沿着输送方向T)以规则间隔布置。如下面将更详细地说明的，穿孔311被施加负压(真空)。进入给送室130的颗粒312在给送区域150中到达传送带310并且通过负压的作用被吸入(抽吸)到穿孔311。已吸入的颗粒通过传送带沿着输送方向T被输送。因而，颗粒将在由穿孔限定的明确限定的位置中被输送，这些穿孔通常小于颗粒的最小尺寸以避免颗粒穿过穿孔。

理想地，恰好一个颗粒被吸入到每个穿孔。然而，可能发生第二个颗粒粘附到与另一个颗粒相同的穿孔中。这种额外的颗粒通过分离器(skimmer)313、314、315与传送带310分离，分离器313、314、315每次仅允许一个颗粒通过。每个分离器可以包括例如实心材料块、海绵、刷子、薄叶片、产生锋利有限的空气流(“空气叶片”)的喷嘴等。另外，分离器可以构造成迫使保持附接至传送带的颗粒采取预定取向。特别地，如在许多谷粒的情况下，颗粒可以呈具有长轴线的大致椭圆形形状。在这种情况下，分离器可以构造成使颗粒采取沿其长轴线大致平行于输送方向T的取向。为此，分离器可以具有可调节的横向距离(垂直于输送方向的距离)，以便于能够将距离调节为小于颗粒的长轴线的典型长度但大于短轴线的典型长度。分离器中的至少一个分离器(此处为分离器313)可以具有用于将颗粒导引到其期望的取向中的相对于输送方向倾斜的导引表面。

已经通过分离器被分离的颗粒以及由于其他原因从带上掉落的颗粒由呈向上敞开的倾斜斜槽的形式的回收盘200收集。回收盘200相对于水平方向倾斜。回收盘的下端通入给送区域中(即，通入给送室中130中)。在本示例中，回收盘200限定两个不同倾斜度的相邻滑动表面211、212，颗粒能够在滑动表面211、212上向下滑动。因而，进入回收盘的颗粒通过重力作用沿回收盘向下滑动并且在没有任何主动致动的情况下重新进入给送区域中。

再次参照图1至图3，传送带310将保持吸入到传送带的穿孔的那些颗粒输送经过摄像机440和照明箱420。照明箱420和摄像机440是测量装置400的一部分，测量装置400还包括公知的一个或更多个NIR光源410以及也是公知的NIR光谱仪430。光纤411、431将由NIR光源(多个光源)410发射的光引导到照明箱420，并且将从颗粒反射回的光传输到NIR光谱仪430。为了增加所检测信号的量，照明箱420可以包含聚焦、成像或导引系统，比如例如，透镜、反射镜、准直器、光纤或这些元件的组合，以将光源辐射集中到颗粒上并且用以收集颗粒朝向光谱仪发射、反射、散射或透射的信号。附图中未示出这些元件，原因在于这些元件在相关的光学领域中是公知的。在本示例中，用于照明颗粒的光由一个或更多个光纤(“冷光源”)导引。在另一些实施方式中，可以想到的是，颗粒在不使用光纤的情况下被照射(“直接照射”)。NIR光谱仪430记录反射光的NIR光谱。这些光谱由包括计算机的处理装置来分析，该处理装置可以被包括在与光谱仪430相同的壳体中或不同的壳体中(甚至处于不同的位置)，并且处理装置在概念上可以被认为是测量装置的一部分。可选地，处理装置还可以接收由摄像机440记录的图像，并且该分析可以附加地将这些图像考虑在内。分析的结果是，处理装置确定每个颗粒所属的质量等级并且将相关的控制信号发送到分类装置500。

可以使用其他测量装置替代NIR光源和NIR光谱仪。更一般地说，测量装置400可以包括一个或更多个光谱仪、成像光谱仪、摄像机、质谱仪、声学可调谐滤波器等，以针对颗粒的分析特性分析如谷物、豆类或种子的颗粒。本装置能够通过测量受分析的颗粒的光谱特性(即，特定的光学特性如反射率或透射率和波长的相关性)来同时评估一种或几种分析特性。

在已经经过测量装置400之后，颗粒到达分类装置500。分类置500操作性地联接至测量装置400，从测量装置400接收控制信号。在本示例中，分类装置500将颗粒分为三个质量等级。针对每个质量等级，分别提供了容器510、520和530。管状导管512、522和532将分类装置连接至容器。下文将进一步结合图11更详细地说明分类装置。

图5至图8更详细地图示了输送装置300。传送带310在两端处通过转向带轮312被转向。传送带310由驱动马达320经由驱动带321驱动。在转向带轮312之间布置有真空箱330。真空箱330在其纵向侧部中的一个纵向侧部处朝向传送带310的形成输送表面316的部分侧向地敞开。真空箱经由多个真空管道331连接至集管340，集管340采取中空长筒的形式。集管在其一端处具有用于连接真空泵360(在图1中仅以高度示意性方式图示)的真空连接器341。自身在图6至图8中示出的滑动件350覆盖真空箱330的侧向敞开侧部。传送带310借助于一对导轨353在滑动件350上被导引，导轨353在两侧环住带。滑动件包括多个抽吸开口351、352。在本示例中，存在两个不同尺寸的抽吸开口：小圆孔351和较大的长形孔352，较大的长形孔352的长轴线沿着输送方向延伸并且具有的截面比小孔351的大。孔沿着输送方向(即，沿着滑动件的长度)以大致规则的间距分布。

如在图7的剖视图中最佳可见，传送带310与滑动件的设置有抽吸开口(具有宽度d2)的壁部分之间布置有宽度为d1的纵向凹槽354。纵向凹槽354在两侧由纵向腹板357限定，纵向腹板357形成针对传送带310底面的接触表面。纵向凹槽354沿着滑动件350的整个长度延伸(或至少沿着包括多个开口的长度延伸)并且具有高度h。因而，纵向凹槽354在传送带310与抽吸开口351、352之间留有间隙h。纵向凹槽354相对于纵向方向的截面面积(等于乘积h*d1)在负压施加到真空箱330时对允许沿凹槽的长度的一定程度的局部压力均衡是足够大的，但对允许在滑动件的整个长度上的全局压力均衡来说又太小。以这种方式，由传送带310的底面经受的(并且因而由传送带的穿孔311经受的)负压的量根据滑动件的抽吸开口的截面沿着滑动件350的长度平滑地变化：带的靠近较大开口312的部分经受比带的靠近较小开口311的部分大的负压量(更高的抽吸功率)。

滑动件的包含较大开口312的部分将有利地布置在给送区域350中，以便于在该区域中提供增大的抽吸功率。

在本示例中，纵向凹槽354的典型尺寸可以选择如下：d1＝4mm，h＝3mm，使凹槽354的截面面积为12mm²。孔的尺寸可以选择如下：小孔的直径d1＝3mm(截面约7mm²)，长孔的宽度4mm，长孔的长度30mm(截面约120mm²)。当然，可以根据需要选择不同的尺寸。

腹板357两侧外的纵向凹槽356减小了接触表面的宽度，以使带的底面与滑动件之间的摩擦最小化。导轨353具有钩形截面以将带保持在滑动件上。

如图8中所图示，一些抽吸开口可以由呈长形立方体形式的阻挡构件358覆盖，该阻挡构件358部分地或完全地填充纵向凹槽354，并且因而阻塞对应的孔。以这种方式，对于传送带310的不需要抽吸的部分、特别是在分类装置350的端部处的部分，抽吸功率可以是最小化的。

如果传送带具有多于一排的穿孔，例如，沿着输送方向延伸的两个或更多个平行的排，则滑动件的设计可以容易地适应于这些排的穿孔。特别地，可以沿着滑动件的长度提供与第一排平行的一个或更多个附加排的抽吸开口。然后，可以在传送带与滑动件的设置有抽吸开口的每个壁部分之间布置纵向凹槽。每个纵向凹槽可以由纵向腹板限定。

回到图1，竖向分隔壁600将分类设备的两个不同区域分隔开。可以称为处理区域的第一区域布置在分隔壁600的第一侧A。在该区域中执行颗粒的输送和处理。特别地，在该区域中布置有给送装置100、回收盘200、摄像机440、照明箱420和分类装置500。可以被称为清洁区域的第二区域布置在分隔壁600的第二侧B。在该区域中布置有应当保持远离灰尘和污垢的精密部件，包括NIR光源410、光谱仪430、用于输送装置300的驱动部件等。分隔壁用作第一区域与第二区域之间的针对灰尘和污垢的隔板。分类装置还包括壳体700(仅以高度示意性的方式通过虚线示出)，壳体700限定了朝向环境的这些区域，因而形成了两个彼此良好隔离的基本上封闭的空间。壳体当然可以具有进入开口以提供至容器510、520、530和设备的其他部件的入口，该进入开口可以通过适当的装置如门或可移除盖来封闭。

图9和图10图示了传送带310如何布置在分隔壁600的长形开口601中以提供从第一侧A至输送表面316的入口，而输送装置的剩余部分——包括转向带轮、驱动马达320、驱动带321、集管340等——布置在分隔壁600的第二侧B。

分类可以通过包括气动、压电、机械和其他类型的分类装置的各种不同的方式执行。例如，分类装置500可以包括至少一个气动喷射喷嘴(加压空气喷嘴)，所述至少一个气动喷射喷嘴操作性地联接至所述测量装置以产生用于选择性地将移动经过所述喷射喷嘴的颗粒吹离输送表面的空气流。喷射喷嘴可以定位在输送表面的与输送颗粒的侧相反的侧上，从而产生穿过穿孔的空气流，或者喷射喷嘴可以定位在与输送颗粒的侧相同的侧上、例如传送带的侧边上，从而产生跨过输送表面的空气流。

图11图示了优选的分类装置500。传送带310上的颗粒从右边进入分类装置。颗粒首先进入第一分类箱511，第一分类箱511经由第一导管512连接至第一容器510。如果颗粒已经被测量装置400识别为属于第一质量等级，则连接至分配器箱540的第一加压空气喷嘴541借助于分配器箱中的阀而启动，从而将颗粒吹离传送带并且吹落到第一导管512中，颗粒从第一导管512到达第一容器510。否则，颗粒将继续被传送带输送到第二分类箱512中。如果颗粒已经被测量装置400识别为属于第二质量等级，则第二空气喷嘴542启动，从而将颗粒吹离传送带并且吹落到第二导管522中，颗粒从第二导管522到达第二容器520。否则，颗粒将继续由传送带输送并且将进入第三分类箱513。第三分类箱531包含转向板543，转向板543使进入第三分类箱531的所有颗粒向下转向到第三导管531中，颗粒从第三导管到达第三容器530。在第三分类箱531的区域中在滑动件350上布置阻挡构件354(图8)是要使传送带在该区域中的抽吸功率最小化。

当然，能够通过提供更多或更少的空气喷嘴将颗粒分类成多于或少于三个质量等级。可以使用用于选择性地将颗粒从传送带移除的任何其他装置比如压电装置、磁性装置、移动折板或能够由测量装置激活和控制的任何其他装置来替代加压空气喷嘴。

在替代的实施方式中，传送带的穿孔可以布置成沿输送方向延伸的多个平行排。以这种方式，能够使多个颗粒在明确限定的位置中同时移动经过测量装置。多个排之间的横向距离优选地稍大于颗粒的最大(平均)尺寸，以避免颗粒的重叠。相邻排的穿孔可以沿着输送方向布置在相同的位置中，使得穿孔在输送表面上形成矩形网格，或者穿孔可以沿着输送方向布置在不同的位置中，使得穿孔形成倾斜网格或甚至不规则布置。

另外地或替代地，能够并排布置多个平行的传送带。图12图示了这种实施方式，其中，使用了多个平行的传送带310、310’、310”、310”’。所有的传送带布置成平行构型，并且传送带的相应输送表面316、316’等均是共面的。带全部由共用的驱动马达550来驱动。每个传送带限定了两个平行纵向排的穿孔。以这种方式，颗粒可以在八个平行排中同时被输送、分析和分类。颗粒通过共用的给送装置给送到四个传送带，对此，图1中更详细地图示了示例。每个传送带与布置在对应传送带正下方的回收盘200相关联。每个回收盘如上面结合第一实施方式描述的那样设计。每个传送带与一个单独的摄像机440和一个单独的照明箱420相关联。共用分类装置500’用于根据与结合第一实施方式说明的原理相同的原理将颗粒分类成多个质量等级。

图13示出了具有多个平行传送带的替代的第三实施方式。在该实施方式中，共用的照相机单元440’和共用的照明箱420’设置用于所有传送带。

图14图示了可以与第二实施方式或第三实施方式一起使用的给送装置。颗粒从共用的漏斗120给送到多个导管121中。

每个导管在一个给送室130处终止，给送室130在一侧由一个传送带限定。朝向相应传送带向下倾斜并且平行于给送室130的外壁131延伸的分离板将会吸入到每个传送带的上排穿孔的颗粒与会吸入到下排的颗粒分离。

显然，在不脱离本发明的范围的情况下，可以进行大量的修改。特别地，传送带中存在的穿孔的排数可以不同于一个或两个。可以平行布置多于或少于四个传送带。由传送带(多个传送带)限定的输送方向具有的相对于水平方向的倾斜度可以不同于上述示例中的倾斜度。可以使用基于不同检测原理的不同种类的测量装置，只要测量装置能够区分质量等级即可。关于测量装置的其他考虑，参照WO 2012/145850 A1，其内容通过引用整体并入本文。

附图标记

100 给送装置 354 阻挡构件

110 料斗 360 真空泵

120 漏斗 400 测量装置

130 给送室 410 NIR光源

131 外壁 411 管

132 分隔板 412 照明光纤

140 出口斜槽 420 照明箱

150 给送区域 430 NIR光谱仪

200 回收盘 440 摄像机

211、212 滑动表面 500 分类装置

300 输送装置 510、520、530 容器

310 传送带 511、521、531 接收箱

311 穿孔 512、522、532 导管

312 带轮 540 分配器箱

313 分离器 541、542 喷射喷嘴

314 分离器 543 转向板

315 分离器 550 带马达

316 输送表面 600 分隔壁

320 驱动马达 601 长形开口

321 驱动带 700 壳体

330 真空箱 A 第一侧

331 管道 B 第二侧

340 集管 A 倾斜角度

341 真空连接件 x、y 水平方向

342 支架 z 竖向方向

350 滑动件

351 抽吸开口

352 抽吸开口

353 导轨