电子元件分类方法及装置与流程

本发明是有关于一种分类方法及装置，尤指使用在具有不同特性的电子元件上，将多个电子元件各自依其特性分配至不同收集区的电子元件分类方法及装置。

背景技术：

按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分类的装置必须提供精密、迅速的搬送，此外，由于制程因素，同一电子元件的物理特性愈来愈多样化，因此分类装置的可分类级(Bin)数被要求日益提升，由早期的32级增加到64级，至目前常用的128级或256级，甚至业界已有512级的分类装置出现，随着电子元件分类级数的提升且因其物理特性具有集中于部分料码(Bin Code)的情形，遂有如专利号第I402108号「用于测试和分类电子元件的系统」的方式，以两个输送管道将不同特性的电子元件由旋转台移动到高速容器盘或常规容器盘来提高分类速度，其中，高速容器盘的接收座数量小于常规容器盘。

技术实现要素：

惟，已知的两个输送管道搭配两个接收座数量不同的容器盘的分类方式虽可提高分类速度，但需使用在电子元件的特性集中在少数料码之前提下，一般是适用于128级以下的分类，若是使用于256级以上的分类，此种集中在少数料码的情形虽然还是会存在，但因级数的增加，原本高速容器盘的接收座数量亦需提升，且以256级的分类为例，在分成一个是1至128料码的容器盘，另一个是129至256料码的容器盘，在两个输送管道搭配两个容器盘的情形下，请参阅图10，电子元件由旋转台间歇旋转搬运到定位排出会有四种逻辑，只要电子元件有从旋转台排出一次，就需等待一次电子元件在输送管道内移动至容器盘的移动时间，只有在皆不需要排出的﹝无；无﹞情形，才可节省该次的移动时间，使旋转台快速转动至下一排出情形发生，因在256级的分类下电子元件特性一般会较集中于第1至128料码的区间，故有一输送管道单独使用占了85％的比例，这意谓着另一输送管道有85％比例闲置，而可节省移动时间的﹝无；无﹞情形仅有5％比例；换言之，随着高速容器盘的接收座数量提升甚至等同于常规容器盘的接收座数量时，将会导致一个输送管道处于过于忙碌状态，而另一个输送管道大部分处于闲置状态，产生电子元件在旋转台内耗费额外时间等待进入输送管道处的情形，无法均匀分配两个输送管道的效能，电子元件分类速度受到限制。

爰是，本发明的目的，在于提供一种有效提高电子元件分类速度的电子元件分类方法。

本发明的另一目的，在于提供一种有效提高电子元件分类速度的电子元件分类装置。

依据本发明目的的电子元件分类方法，包括：使多个电子元件被一检测机构进行搬送及特性检测，当电子元件被检测出其料码归类为单数时，将该电子元件由一第一排出管经一第一分配装置至一第一收集区收集；当电子元件被检测出其料码归类为双数时，将该电子元件由一第二排出管经一第二分配装置至一第二收集区收集。

依据本发明另一目的的电子元件分类装置，包括：用以执行如权利要求1所述种电子元件分类方法的装置。

依据本发明另一目的的另一电子元件分类装置，包括：一检测机构，执行一间歇旋转的电子元件搬运流路并检测电子元件的特性，该检测机构设有一测盘，该测盘周缘等距环列布设有多个容槽供电子元件容置；一第一收集区，该第一收集区设有多个第一类料盒，用以收集检测后料码归类为单数的电子元件；一第二收集区，该第二收集区设有多个第二类料盒，用以收集检测后料码归类为双数的电子元件；一第一分配装置，该第一分配装置与一第一排出管连通，该第一排出管对应该测盘其中一容槽，该第一分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第一收集区的该第一类料盒相对应；一第二分配装置，该第二分配装置与一第二排出管连通，该第二排出管对应该测盘其中一容槽，该第二分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第二收集区的该第二类料盒相对应。

本发明实施例的电子元件分类方法及装置，依电子元件检测后被归类的料号，将单数料号的电子元件，借由第一排出管排出至第一分配装置，经水平位移与上下弧形摆移或以第一方向与第二方向水平位移的移动路径，最后落下至第一收集区的预定的第一类料盒被收集；而双数料号的电子元件，借由第二排出管与第二分配装置，经水平位移与上下弧形摆移或以第一方向与第二方向水平位移的移动路径，最后落下至第二收集区的预定的第二类料盒被收集；因第一收集区与第二收集区分别收集单数与双数料号的电子元件，第一类料盒与第二类料盒总数相等，且电子元件由测盘至第一收集区或第二收集区的路径长度相等，可降低电子元件单一集中使用于第一排出管或第二排出管的比例，请参阅图11，因电子元件均匀分配至第一收集区与第二收集区，故测盘排出的四种逻辑会趋向各25％的比例分配，这意谓着可节省时间的﹝无；无﹞情形比例提升，将可有效提高电子元件整体分类的速度。

【附图说明】

图1是本发明实施例的电子元件分类装置的示意图。

图2是本发明实施例的第一收集区的第一类料盒与第二收集区的第二类料盒料码配置的示意图。

图3是本发明实施例的第一收集区的立体示意图。

图4是本发明实施例的第一分配装置的立体示意图。

图5是本发明实施例的分配座的立体示意图。

图6是本发明实施例的第一分配装置与第一收集区的侧面示意图。

图7是本发明实施例的第一分配装置的俯视示意图。

图8是本发明另一实施例的第一分配装置的立体示意图。

图9是本发明另一实施例的第一分配装置的俯视示意图。

图10是本发明比较例的电子元件排出逻辑比例示意图。

图11是本发明实施例的电子元件排出逻辑比例示意图。

【符号说明】

A 检测机构 A1 测盘

A11 容槽 A2 送料机

A21 输送槽道 A3 检测仪器

A4 第一排出管 A5 第二排出管

B 第一收集区 B1 第一类料盒

B2 导料件 B3 拖架

B31 拖座 B311 握把

B4 载台 B5 挠性管

C 第一收集区 C1 第二类料盒

D 第一分配装置 D1 模座

D11 操作区间 D12 第一侧座

D13 第二侧座 D14 第三侧座

D15 滑轨 D2 第一驱动件

D21 皮带 D3 第二驱动件

D31 输出轴 D32 驱动臂

D33 连动臂 D4 移摆机构

D41 第一固定座 D42 嵌轮

D43 转轴 D44 嵌沟

D45 第二固定座 D46 拨架

D47 分配头 D48 枢座

D5 分配座 D51 上端缘

D6 分配管 D61 端口

D’ 第一分配装置 D1’ 模座

D11’ 操作区间 D12’ 第一侧座

D13’ 第二侧座 D14’ 第三侧座

D2’ 第一驱动件 D21’ 输出轴

D22’ 枢座 D23’ 嵌沟

D3’ 第一滑轨 D4’ 第二滑轨

D5’ 第二驱动件 D51’ 输出轴

D52’ 驱动臂 D53’ 连动臂

D6’ 滑座 D61’ 第一固定座

D62’ 第二固定座 D63’ 第一嵌轮

D64’ 第二嵌轮 D65’ 皮带

D66’ 第三滑轨 D67’ 第三固定座

D7’ 分配头 D8’ 分配座

D9’ 分配管 D91’ 端口

E 第二分配装置 E’ 第二分配装置

T 机台 W 电子元件

【具体实施方式】

请参阅图1，本发明实施例的电子元件分选方法可以图中所示分选装置为例作说明，包括：

一检测机构A，包括一可作间歇旋转的测盘A1，该测盘A1受架高于一机台T台面上，周缘环列布设等间距凹设的容槽A11，可借自震动送料机A2的输送槽道A21承载电子元件W以间歇性旋转流路搬送电子元件W；测盘A1上方可设置各种物理特性检测仪器A3以对位于测盘A1周缘容槽A11中的电子元件W进行检测；检测机构A设有一第一排出管A4与一第二排出管A5，该第一排出管A4与该第二排出管A5分别各对应连通测盘A1的不同容槽A11，可用以将完成检测的电子元件W依其物理特性所归类的料码为单数或双数，分别由第一排出管A4或第二排出管A5予以排出分类；

一第一收集区B，该第一收集区B设于机台T台面下方，用以收集检测后料码归类为单数的电子元件W；

一第二收集区C，该第二收集区C设于机台T台面下方，用以收集检测后料码归类为双数的电子元件W；

一第一分配装置D，该第一分配装置D设于第一收集区B上方，并与第一排出管A4连通，料码为单数的电子元件W经第一分配装置D落下至第一收集区B；

一第二分配装置E，该第二分配装置E设于第二收集区C上方，并与第二排出管A5连通，料码为双数的电子元件W经第二分配装置E落下至第二收集区C。

请参阅图1、2，该第一收集区B与第二收集区C内各设有多个第一类料盒B1与第二类料盒C1，该第一类料盒B1是提供料码为单数的电子元件W的存储空间，该第二类料盒C1是提供料码为双数的电子元件W的存储空间，该第一类料盒B1的总数等于该第二类料盒C1总数且分别以矩阵方式排列，在本发明实施例中，是将电子元件W分成256级，故第一收集区B的多个第一类料盒B1的料码分别为1、3、5、…、255，第二收集区C的多个第二类料盒C1的料码分别为2、4、6、…、256，各采13×10的矩阵排列且各有两个位于角落的第一类料盒B1与第二类料盒C1闲置未使用。

请参阅图1、3，第一收集区B与第二收集区C左右对称且具有相同的机构，在此仅以第一收集区B作为表示，第一收集区B包括：多个第一类料盒B1与多个导料件B2；多个第一类料盒B1以矩阵方式排列于一拖架B3中，该拖架B3下部设有一拖座B31，该拖座B31上设有可供手执拖移的握把B311；该多个导料件B2各为管状体且以矩阵方式排列于一载台B4上，各导料件B2分别各对应一种料号的第一类料盒B1，并各位于所对应第一类料盒B1的相对上方。

请参阅图1、4，第一分配装置D与第二分配装置E左右对称且具有相同的机构仅左、右配置相反，在此仅以第一分配装置D作为表示，第一分配装置D包括：一设于机台T上的模座D1，其设有一镂空的操作区间D11，并经由该镂空的操作区间D11将模座D1区隔出位于操作区间D11一侧的第一侧座D12，以及对应第一侧座D12并与其平行且位于操作区间D11另一侧的第二侧座D13，和位于第一侧座D12与第二侧座D13间，朝相对远离测盘A1方向的操作区间D11另一侧的第三侧座D14；

该第一侧座D12上方设有由马达构成的第一驱动件D2，其输出轴(图中未示)平行第一侧座D12表面，并朝在远离测盘A1的方向伸设；第二侧座D13下方设有一由马达构成的第二驱动件D3，其偏靠朝远离测盘A1的方向设置，其输出轴D31垂直第二侧座D13表面，并凸伸于第二侧座D13表面；第三侧座D14上设置一移摆机构D4，其以一第一固定座D41枢设一嵌轮D42，嵌轮D42中设有一转轴D43，该转轴D43的圆周设有轴向嵌沟D44，转轴D43的轴向与该第一侧座D12上的第一驱动件D2输出轴平行，转轴D43的一端凸伸于嵌轮D42后端，转轴D43借该嵌沟D44嵌卡并与嵌轮D42旋转连动，但转轴D43可自由伸经嵌轮D42并于其中前后滑移；该转轴D43位于嵌轮D42的另一端伸经第一固定座D41而与一第二固定座D45固定并在轴向位移上连动，但转轴D43的旋转不与第二固定座D45连动；该第二固定座D45呈L型而以一侧设于第二侧座D13上一滑轨D15，该滑轨D15与转轴D43的轴向平行；转轴D43伸经第二固定座D45前方并于端部固设一与转轴D43轴向垂直的拨架D46，拨架D46底端设有一分配头D47，该分配头D47连通第一排出管A4尾端以承接电子元件W；该第一侧座D12上的第一驱动件D2输出轴(图中未示)以一与输出轴轴向垂直圈设的皮带D21与移摆机构D4嵌轮D42形成连动，使水平设置的转轴D43可被驱动进行间歇性转动，而带动其前端的拨架D46进行与转轴D43轴向垂直之间歇性旋摆运动；

该第二侧座D13的第二驱动件D3的输出轴D31固设一与输出轴D31垂直设置的驱动臂D32一端，驱动臂D32另一端则枢设一连动臂D33一端，该连动臂D33另一端则与该移摆机构D4第二固定座D45上一枢座D48枢设，并借此形成连动，以借单独驱动第二固定座D45在滑轨D15上滑移作间歇性直线运动时，将带动转轴D43可沿转轴轴向作间歇性水平位移，并连动拨架D46及其上分配头D47在转轴D43轴向前、后伸移地作间歇性水平位移，此时分配头D47的移动路径为一直线并与转轴D43轴向在相隔一间距下相互平行；

请同时配合参阅图5、6，在镂空的操作区间D11下方设有一三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面的分配座D5，其三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面两侧上端缘D51分别各固设于操作区间D11两侧的第一侧座D12及第二侧座D13上，而由两侧的第一侧座D12及第二侧座D13处向下凹陷弧设，分配座D5矩形的凹弧状平面上设有多个分配管D6，各分配管D6的配设呈由上往下的扇形放射状配置，其下端各分别接设一透明挠性管B5至对应的导料件B2，各分配管D6上方端口D61呈凹弧状平面排列布设，分配头D47是在各分配管D6上方端口D61排列布设的凹弧状平面作上、下的弧形摆移。

请参阅图1、6、7，本发明实施例的电子元件分类装置在实施上，使多个电子元件W容置于检测机构A的测盘A1的容槽A11中被测盘A1进行搬送及受测盘A1上方的检测仪器A3检测，当电子元件W被检测出其料码归类为单数时，将该电子元件W由一第一排出管A4排出至第一分配装置D的分配头D47，在电子元件W尚未经分配头D47排进预定分配管D6前，第一驱动件D2驱动嵌轮D42连动转轴D43旋转，使拨架D46载动分配头D47作间歇性旋摆运动，并贴靠在分配座D5上方凹弧状平面排列布设的各分配管D6上方端口D61上缘作上、下的弧形摆移，同时第二驱动件D3也使驱动臂D32驱动连动臂D33使第二固定座D45在滑轨D15上以间歇性直线运动作前、后的水平位移，以连动拨架D46载动分配头D47作前或后位移，而由该弧形摆移配合直线滑移将拨架D46上分配头D47选择性的移动到预定的分配管D6上方端口D61，以令第一排出管A4中的电子元件W经分配头D47被卸放至预定的分配管D6中再自挠性管B5落下至第一收集区B预定的第一类料盒B1被收集；而当电子元件W被检测出其料码归类为双数时，将该电子元件W由一第二排出管A5排出经第二分配装置E至第二收集区C被收集，因第二分配装置E、第二收集区C与第一分配装置D、第一收集区B的机构相同，实施方式相同于上述，在此不多加赘述，且电子元件W由测盘A1排出至第一收集区B的移动路径长度等于排出至第二收集区C的移动路径长度。

请参阅图1、8、9，本发明另一实施例的第一分配装置D’与第二分配装置E’左右对称且具有相同的机构仅左、右配置相反，在此仅以第一分配装置D’作为表示，第一分配装置D’包括：一设于机台T上的模座D1’，其设有一操作区间D11’，并经由该操作区间D11’将模座D1’区隔出位于操作区间D11’一侧的第一侧座D12’，以及对应第一侧座D12’并与其平行且位于操作区间D11’另一侧的第二侧座D13’，和位于第一侧座D12’与第二侧座D13’间，且朝相对远离测盘A1方向的操作区间D11’另一侧的第三侧座D14’；

该第一侧座D12’上方设有由马达构成的第一驱动件D2’，其输出轴D21’平行第一侧座D12’表面，并朝在靠近测盘A1的方向伸设，输出轴D21’末端与模座D1’上一枢座D22’枢设；第一侧座D12’同时设有第一滑轨D3’，该第一滑轨D3’与输出轴D21’平行并位于输出轴D21’与操作区间D11’间；该第二侧座D13’上设有一第二滑轨D4’设于第二侧座D13’上并与第一滑轨D3’平行；该第三侧座D14’下方设有一由马达构成的第二驱动件D5’，其输出轴D51垂直第二侧座D13’表面，并凸伸于第二侧座D13’表面；输出轴D51’固设一与输出轴D51’垂直设置的驱动臂D52’一端，驱动臂D52’另一端则枢设一连动臂D53’一端，连动臂D53’另一端则与一滑座D6’枢接并与其连动；该第二驱动件D5’的输出轴D51’位于第二侧座D13’一端之外侧朝远离测盘A1的方向设置，其并位于第一滑轨D3’与第二滑轨D4’间；

该滑座D6’与第一滑轨D3’、第二滑轨D4’垂直并设于其上，可受该第二驱动件D5’的连动臂D53’一端连动，而受第二驱动件D3’驱动在第一滑轨D3’与第二滑轨D4’上作滑移；滑座D6’的两端各伸跨该第一侧座D12’、第二侧座D13’的上方，且两端对应在近第一滑轨D3’与第二滑轨D4’上方处分别各设有第一固定座D61’、第二固定座D62’，第一固定座D61’上设有第一嵌轮D63’，第二固定座D62’上设有第二嵌轮D64’，其特征在于，第一驱动件D2’的输出轴D21’枢经第一嵌轮D63’并借输出轴D21’上设有轴向嵌沟D23’而与其嵌设并连动进行转动，但第一嵌轮D63’则可于输出轴D21’上随第一固定座D61’作滑移，同时于第一嵌轮D63’、第二嵌轮D64’之间绕设有一皮带D65’；该滑座D6’上设有一横跨两端并与第一滑轨D3’、第二滑轨D4’垂直的第三滑轨D66’，皮带D65’在保持一上、下之间距下设于滑座D6’的第三滑轨D66’上方，第三滑轨D66’上设有一第三固定座D67’，其与绕设的皮带D65’下方段固设并受其连动地可在第三滑轨D66’上作间歇性位移，第三固定座D67’上设有一分配头D7’；该分配头D7’一端以该第三固定座D67’设于第三滑轨D66’上而仅能作第一方向的位移，其与该电子元件W的第一排出管A4连结且呈悬空于该第三滑轨D66’外一侧的分配座D8’上方；

该分配头D7’一端连接第一排出管A4以承接电子元件W，其下方位于该操作区间D11’上方；该操作区间D11’中设有分配座D8’，其上设有多数个分配管D9’，其各分配管D9’的配设呈由上往下的直向状配置，其下端各分别接设一透明挠性管B5至对应的导料件B2(图6)，各分配管D9’上方端口D91’呈平面排列布设，分配头D7’是在各分配管D9’上方端口D91’排列布设的平面作前、后、左、右的位移。

本发明另一实施例的电子元件分类装置在实施上，使多个电子元件W容置于于检测机构A的测盘A1的容槽A11中被测盘A1进行搬送及受测盘A1上方的检测仪器A3检测，当电子元件W被检测出其料码归类为单数时，将该电子元件W由一第一排出管A4排出至第一分配装置D’的分配头D7’，在电子元件W尚未经分配头D7’排进预定分配管D9’前，第一驱动件D2’驱动第一嵌轮D63’旋转以连动皮带D65’绕转，使带动第三固定座D67’在第三滑轨D66’上作间歇性位移，并载动分配头D7’以间歇性直线运动作面对操作者左、右水平直线的第一方向位移，并贴靠在分配座D8’上方平面排列布设的各分配管D9’上方端口D91’上缘作左、右水平直线位移，同时第二驱动件D5’也使驱动臂D52’驱动连动臂D53’使该滑座D6’在第一滑轨D3’、第二滑轨D4’上以间歇性直线运动作面对操作者前、后水平直线的第二方向位移，以连动分配头D7’作前、后位移，而由该左、右水平直线位移配合前、后的水平直线位移将分配头D7’选择性的移动到预定的分配管D9’上方端口D91’，以令第一排出管A4中的电子元件W经分配头D7’被卸放至预定的分配管D9’再自挠性管B5落下至第一收集区B预定的第一类料盒B1被收集；而当电子元件W被检测出其料码归类为双数时，将该电子元件W由一第二排出管A5排出经第二分配装置E’至第二收集区C被收集，因第二分配装置E’、第二收集区C与第一分配装置D’、第一收集区B的机构相同，实施方式相同于上述，在此不多加赘述，且电子元件W由测盘A1排出至第一收集区B的移动路径长度等于排出至第二收集区C的移动路径长度。

本发明实施例的电子元件分类方法及装置，依电子元件W检测后被归类的料号，将单数料号的电子元件W，借由第一排出管A4排出至第一分配装置D，经水平位移与上下弧形摆移或以第一方向与第二方向水平位移的移动路径，最后落下至第一收集区B的预定的第一类料盒B1被收集；而双数料号的电子元件W，借由第二排出管A5与第二分配装置E，经水平位移与上下弧形摆移或以第一方向与第二方向水平位移的移动路径，最后落下至第二收集区C的预定的第二类料盒C1被收集；因第一收集区B与第二收集区C分别收集单数与双数料号的电子元件W，第一类料盒B1与第二类料盒C1总数相等，且电子元件W由测盘A1至第一收集区B或第二收集区C的路径长度相等，可降低电子元件W单一集中使用于第一排出管A4或第二排出管A5的比例，请参阅图11，因电子元件W均匀分配至第一收集区B与第二收集区C，故测盘A1排出的四种逻辑会趋向各25％的比例分配，这意谓着可节省时间的﹝无；无﹞情形比例提升，将可有效提高电子元件W整体分类的速度。

惟以上所述者，仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即大凡依本发明申请专利范围及发明说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。