一种用于实验室扫描测距的辅助装置的制作方法

1.本发明涉及扫描领域，具体为一种用于实验室扫描测距的辅助装置。


背景技术：

2.扫描测距是通过发射器从起始位置移动到最终位置，并且放射器将位置上传给计算系统，计算系统将通过公式测出距离，但是，测量的物品有很多种类，有规则和不规则的，实验人员自己测量占用太多的时间并且数据也不准确，本发明阐述的一种用于实验室扫描测距的辅助装置，能够解决上述问题。


技术实现要素：

3.为解决上述问题，本例设计了一种用于实验室扫描测距的辅助装置，本例的一种用于实验室扫描测距的辅助装置，包括底板，所述底板上设有高度调节装置，所述底板上侧设有处理箱体，所述处理箱体内设有处理腔，所述处理腔内后侧设有单点扫描测距装置，所述单点扫描测距装置包括与所述处理腔右侧内壁转动连接且延伸至所述处理腔外侧的第一螺杆，所述第一螺杆上螺纹连接有位于所述处理腔内的第一螺母，所述第一螺母上固定设有第一板，所述第一板内滑动设有移动块，所述第一螺杆下侧设有与所述处理腔后侧内壁转动连接的转动杆，所述转动杆上螺纹连接有第二螺母，所述第二螺母上固定设有第一板，所述第一板上固定设有第一限位槽，所述第一限位槽内滑动设有滑块，所述滑块与所述移动块之间通过连接轴固定连接，所述连接轴下侧设有与所述滑块固定连接的套筒，所述套筒上固定设有第一放射器，所述第一放射器根据所述第一螺母与所述第一螺杆之间的螺纹连接实现x轴的测距，所述第一放射器根据所述转动杆与所述第二螺母之间的螺纹连接实现y轴的测距工作，所示处理腔内前侧设有双点扫描测距装置，所述双点扫描测距装置包括与所述处理腔上侧内壁内固定连接的环形板，所述环形板内设有与所述环形板同心圆且延伸至所述处理腔外侧的传递杆，所述传递杆上固定设有与所述环形板同一水平面的卡板，所述传递杆上固定设有位于所述处理腔内的固定箱体，所述固定箱体内设有固定腔，所述固定腔内壁设有关于所述传递杆前后对称且延伸至所述处理腔内的l型杆，所述l型杆上固定设有位于所述处理腔内的第二放射器，所述l型杆上固定设有位于所述固定腔内的锻造锥齿轮，所述固定腔下侧内壁上转动设有延伸至所述处理腔内的传递轴，所述传递轴上固定设有与所述锻造锥齿轮啮合连接的圆柱锥齿轮，所述圆柱锥齿轮与所述固定腔下侧内壁之间通过拉伸弹簧连接，所述第二放射器根据所述锻造锥齿轮与所述圆柱锥齿轮之间的啮合连接实现双点测量工作。
4.其中，所述第一放射器与外界的控制计算系统通过电线连接，所述处理腔内壁上固定设有关于所述传递杆左右对称的两个感应器。
5.其中，所述高度调节装置包括与所述底板固定连接且关于所述传递杆左右对称的两个竖直壁，所述竖直壁上转动设有旋转轴，所述旋转轴上固定设有第一铰接杆，所述第一铰接杆上铰接有第二铰接杆，所述第一铰接杆靠近关于所述传递杆对称中心一侧设有与所
述旋转轴固定连接的铸造锥齿轮，所述铸造锥齿轮前侧设有与所述底板延伸壁转动连接且关于所述传递杆左右对称的两个传动杆，所述传动杆上固定设有第三铰接杆，所述第三铰接杆上铰接有第四铰接杆，所述第三铰接杆后侧设有与所述传动杆固定连接且与所述铸造锥齿轮啮合连接的烧结锥齿轮，所述第四铰接杆与所述第二铰接杆共同铰接一个连接板，所述连接板与所述处理腔外侧端面固定连接且与所述感应器同一高度。
6.其中，所述单点扫描测距装置包括与所述处理腔左侧内壁固定连接的支撑臂，所述支撑臂上转动设有转动轴，所述转动轴与所述套筒之间通过连接杆铰接，所述第一螺杆上固定设有位于所述处理腔外侧的圆盘，所述第二螺母前侧设有与所述转动杆固定连接的圆柱齿轮，所述处理腔右侧内壁滑动设有延伸至所述处理腔外侧且与所述圆柱齿轮啮合连接的齿条。
7.其中，所述双点扫描测距装置包括与所述传递轴固定连接且位于所述处理腔内的第一锥齿轮，所述处理腔右侧内壁上转动设有延伸至所述处理腔外侧的旋转杆，所述旋转杆上固定设有与所述第一锥齿轮啮合连接的第二锥齿轮，所述旋转杆上固定设有位于所述处理腔外侧的转盘，所述环形板上固定设有u型块，所述u型块上滑动设有与所述卡板相抵连接的尖嘴块，所述尖嘴块与所述环形板之间通过压缩弹簧连接。
8.本发明的有益效果是：本发明是能通过红外线的扫描并且上传外界的计算系统通过计算公式进行测距，该设备分成了规则物品的测距和不规则的物品测距，测距的种类多，并且测距的数据准确，减少一些实验室人员的测量工作，常规的测量仪器或者测量方式无法实现的都可以通过这个仪器测出，操作步骤也很简单，易上手。
附图说明
9.为了更清楚地说明发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
10.下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
11.图1是本发明的整体结构示意图；图2是图1中a
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a的结构示意图；图3是图2中b
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b的结构示意图；图4是图1中c
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c的结构示意图；图5是图3中d
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d的结构示意图。
具体实施方式
12.下面结合图1
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5对本发明进行详细说明，其中，为叙述方便，现对下文所说的方位规定如下：下文所说的上下左右前后方向与图1本身投影关系的上下左右前后方向一致。
13.本发明所述的一种用于实验室扫描测距的辅助装置，包括底板11，所述底板11上设有高度调节装置901，所述底板11上侧设有处理箱体35，所述处理箱体35内设有处理腔36，所述处理腔36内后侧设有单点扫描测距装置902，所述单点扫描测距装置902包括与所述处理腔36右侧内壁转动连接且延伸至所述处理腔36外侧的第一螺杆25，所述第一螺杆25
上螺纹连接有位于所述处理腔36内的第一螺母26，所述第一螺母26上固定设有第一板41，所述第一板41内滑动设有移动块43，所述第一螺杆25下侧设有与所述处理腔36后侧内壁转动连接的转动杆33，所述转动杆33上螺纹连接有第二螺母45，所述第二螺母45上固定设有第一板23，所述第一板23上固定设有第一限位槽24，所述第一限位槽24内滑动设有滑块28，所述滑块28与所述移动块43之间通过连接轴44固定连接，所述连接轴44下侧设有与所述滑块28固定连接的套筒29，所述套筒29上固定设有第一放射器30，所述第一放射器30根据所述第一螺母26与所述第一螺杆25之间的螺纹连接实现x轴的测距，所述第一放射器30根据所述转动杆33与所述第二螺母45之间的螺纹连接实现y轴的测距工作，所示处理腔36内前侧设有双点扫描测距装置903，所述双点扫描测距装置903包括与所述处理腔36上侧内壁内固定连接的环形板51，所述环形板51内设有与所述环形板51同心圆且延伸至所述处理腔36外侧的传递杆61，所述传递杆61上固定设有与所述环形板51同一水平面的卡板68，所述传递杆61上固定设有位于所述处理腔36内的固定箱体48，所述固定箱体48内设有固定腔54，所述固定腔54内壁设有关于所述传递杆61前后对称且延伸至所述处理腔36内的l型杆49，所述l型杆49上固定设有位于所述处理腔36内的第二放射器52，所述l型杆49上固定设有位于所述固定腔54内的锻造锥齿轮53，所述固定腔54下侧内壁上转动设有延伸至所述处理腔36内的传递轴57，所述传递轴57上固定设有与所述锻造锥齿轮53啮合连接的圆柱锥齿轮56，所述圆柱锥齿轮56与所述固定腔54下侧内壁之间通过拉伸弹簧55连接，所述第二放射器52根据所述锻造锥齿轮53与所述圆柱锥齿轮56之间的啮合连接实现双点测量工作。
14.有益地，所述第一放射器30与外界的控制计算系统通过电线19连接，所述处理腔36内壁上固定设有关于所述传递杆61左右对称的两个感应器69，所述感应器69能感应测量出与所述底板11之间的距离并且精准传输计算系统。
15.根据实施例，以下对高度调节装置901进行详细说明，所述高度调节装置901包括与所述底板11固定连接且关于所述传递杆61左右对称的两个竖直壁12，所述竖直壁12上转动设有旋转轴13，所述旋转轴13上固定设有第一铰接杆64，所述第一铰接杆64上铰接有第二铰接杆63，所述第一铰接杆64靠近关于所述传递杆61对称中心一侧设有与所述旋转轴13固定连接的铸造锥齿轮15，所述铸造锥齿轮15前侧设有与所述底板11延伸壁转动连接且关于所述传递杆61左右对称的两个传动杆70，所述传动杆70上固定设有第三铰接杆17，所述第三铰接杆17上铰接有第四铰接杆18，所述第三铰接杆17后侧设有与所述传动杆70固定连接且与所述铸造锥齿轮15啮合连接的烧结锥齿轮14，所述第四铰接杆18与所述第二铰接杆63共同铰接一个连接板16，所述连接板16与所述处理腔36外侧端面固定连接且与所述感应器69同一高度，所述连接板16根据所述烧结锥齿轮14与所述铸造锥齿轮15之间的啮合连接实现扫描测距的高度调节工作。
16.根据实施例，以下对单点扫描测距装置902进行详细说明，所述单点扫描测距装置902包括与所述处理腔36左侧内壁固定连接的支撑臂22，所述支撑臂22上转动设有转动轴20，所述转动轴20与所述套筒29之间通过连接杆21铰接，所述第一螺杆25上固定设有位于所述处理腔36外侧的圆盘31，所述第二螺母45前侧设有与所述转动杆33固定连接的圆柱齿轮32，所述处理腔36右侧内壁滑动设有延伸至所述处理腔36外侧且与所述圆柱齿轮32啮合连接的齿条34，所述圆盘31的旋转以及所述齿条34的移动都是来控制单点扫描测距装置。
17.根据实施例，以下对双点扫描测距装置903进行详细说明，所述双点扫描测距装置
903包括与所述传递轴57固定连接且位于所述处理腔36内的第一锥齿轮58，所述处理腔36右侧内壁上转动设有延伸至所述处理腔36外侧的旋转杆47，所述旋转杆47上固定设有与所述第一锥齿轮58啮合连接的第二锥齿轮59，所述旋转杆47上固定设有位于所述处理腔36外侧的转盘46，所述环形板51上固定设有u型块65，所述u型块65上滑动设有与所述卡板68相抵连接的尖嘴块67，所述尖嘴块67与所述环形板51之间通过压缩弹簧66连接，所述第二放射器52根据所述卡板68与所述尖嘴块67之间相抵连接实现不同方位的测距工作。
18.以下结合图1至图5对本文中的一种用于实验室扫描测距的辅助装置的使用步骤进行详细说明：初始时，第一螺母26位于第一螺杆25的最右侧位置，第二螺母45位于转动杆33的最下侧位置，第二放射器52保持竖直状态，拉伸弹簧55没有弹性势能，尖嘴块67卡住卡板68旋转，连接板16位于最下侧位置。
19.设备工作时，使用单点扫描测距时，将物件放置底板11上，现在的第一放射器30对准物件的一固定点，人为旋转圆盘31，圆盘31旋转带动第一螺杆25旋转，第一螺杆25旋转带动第一螺母26左移，第一螺母26左移带动第一板41左移，第一板41左移带动第二限位槽42左移。第二限位槽42左移带动移动块43左移，移动块43左移带动连接轴44左移，连接轴44左移带动滑块28左移，滑块28左移带动套筒29左移，套筒29左移带动第一放射器30左移，之后人为将齿条34左移，齿条34左移带动圆柱齿轮32正视顺时针旋转，圆柱齿轮32正视顺时针旋转带动转动杆33旋转，转动杆33旋转带动第二螺母45后移，第二螺母45后移带动第一板23后移，第一板23后移带动第一限位槽24后移，第一限位槽24后移带动滑块28后移，滑块28后移带动套筒29后移，套筒29后移带动第一放射器30后移，第一放射器30后移到实验人员指定位置，这样外界的计算系统就能测算出第一放射器30从起始位置到达终点位置的距离，这单点测距是适用于表面粗糙，并且起始点容易寻找，物件的外观是规则，当遇到需要测量外观不规则且表面无法用常规测量器选中，起始点也比较模糊的物件，使用双点扫描测距时，将物品放置底板11上并且人为旋转转盘46,转盘46旋转带动旋转杆47旋转，旋转杆47旋转带动第二锥齿轮59旋转，第二锥齿轮59旋转带动第一锥齿轮58旋转，第一锥齿轮58旋转带动传递轴57旋转，传递轴57旋转带动圆柱锥齿轮56旋转，圆柱锥齿轮56旋转带动左侧的锻造锥齿轮53顺时针旋转，左侧的锻造锥齿轮53顺时针旋转带动左侧的l型杆49顺时针旋转，左侧的l型杆49顺时针旋转带动左侧的第二放射器52顺时针，圆柱锥齿轮56旋转带动右侧的锻造锥齿轮53逆时针旋转，右侧的锻造锥齿轮53逆时针旋转带动右侧的l型杆49逆时针旋转，右侧的l型杆49逆时针旋转带动右侧的第二放射器52逆时针旋转，这样两个第二放射器52分别旋转同一样的弧度，但是旋转的方向不一样，这样就能准确的测出不规则的物件数据，人为旋转旋钮60，旋钮60旋转带动传递杆61旋转，传递杆61旋转带动卡板68旋转，尖嘴块67的存在确保了卡板68的旋转方向只能是一个方向，也确保了减少测量时的误差，双点测距装置可以随意找起始点，通过一次次调节第二放射器52旋转的幅度，从起始点开始一个个环形向远离起始点移动，这样能确定出不规则的各个边界的距离，当不规则的物品过大时，设备的常规高度无法测量出，实验人员旋转传动杆70,传动杆70旋转带动烧结锥齿轮14旋转，烧结锥齿轮14旋转带动铸造锥齿轮15旋转，铸造锥齿轮15旋转带动第一铰接杆64旋转，第一铰接杆64旋转带动第二铰接杆63左视逆时针旋转，传动杆70旋转带动第三铰接杆17旋转，第三铰接杆17旋转带动第四铰接杆18旋转，第四铰接杆18正视顺时针旋
转，第四铰接杆18与第二铰接杆63配合将连接板16上移，连接板16上移带动处理箱体35上移，这样双点测距的范围就变的很大，方便测量过大的不规则物品，这里的烧结锥齿轮14与铸造锥齿轮15之间的摩擦力大于处理箱体35的重量，能保持整个设备的停止状态，单点测距需要人为反向旋转圆盘31和反向移动齿条34，这样就能复位，双点测距装置在拉伸弹簧55的作用下复位。
20.本发明的有益效果是：本发明是能通过红外线的扫描并且上传外界的计算系统通过计算公式进行测距，该设备分成了规则物品的测距和不规则的物品测距，测距的种类多，并且测距的数据准确，减少一些实验室人员的测量工作，常规的测量仪器或者测量方式无法实现的都可以通过这个仪器测出，操作步骤也很简单，易上手。
21.上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本发明内容并加以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围内。