本发明涉及一种用于静电放电测试的检测组件，尤指一种包含有由至少一绝缘材料所组成的绝缘段的检测组件。
背景技术：
一般而言，人体或机械都可能累积大量静电荷，并在瞬间形成大量电荷放电，进而破坏电路元件，而为了确保电路元件的电气性能符合预期，而不受静电破坏，均需要先模拟上述电荷放电的静电放电(electrostaticdischarge；esd)测试，以如4000伏特、8000伏特的静电放电电压，在极短时间(例如10ns)内将静电荷迅速释放，进而在受测元件上造成急速的单一脉冲，并随后量测此受测元件是否受损，藉以淘汰无法耐受静电放电的元件。
其中，请参阅图1，图1显示本发明先前技术的用于静电放电测试的检测组件的侧视图，如图1所示，在进行上述静电放电测试的过程中，会利用两个用于静电放电测试的检测组件pa1(以下简称检测组件pa1，图中仅标示一个)对受测元件进行测试，而检测组件pa1包含一探针连接元件pa11、一探针pa12与一组件本体pa13，探针连接元件pa11的表面为导体，并具有导接部pa111与连接部pa112，而导接部pa111连接探针pa12。组件本体pa13是连接于连接部pa112，并具有一本体端部pa131、一轴承pa132、一开短路开关pa133以及一本体底部pa134。而本体底部pa134连结于探针连接元件pa11，且探针pa12的末端彼此相距一第一距离d1，而本体端部pa131与连接部pa112之间相距一第二距离d2，轴承pa132与本体底部pa134的上端部相距一第三距离d3，开短路开关pa133之间相距一第四距离d4。
其中，进行静电放电测试时会给予静电放电电压，若第一距离d1大于第二距离d2、第三距离d3与第四距离d4时，会造成第一距离d1处的阻抗较第二距离d2处的阻抗为大，使得静电放电电压的电荷会朝阻抗较小的第二距离d2处移动而破坏组件本体pa13，进而造成测试成本的提高，因此现有技术仍具有改善的空间。
技术实现要素：
有鉴于现有静电放电测试的检测组件普遍具有静电放电电压会回冲至组件本体而造成测试成本增加的问题。缘此，本发明主要目的是提供一种检测组件，其主要是于探针连接元件中增设绝缘段，藉以透过绝缘段防止放电电压回冲至组件本体。
基于上述目的，本发明所采用的主要技术手段是提供一种用于静电放电测试的检测组件，连接一金属探针对一待测物进行一静电放电电压的测试，并包含一探针连接元件与一组件本体。探针连接元件包含一导接段以及一绝缘段，导接段用以接收静电放电电压，并连接该金属探针。绝缘段连结于导接段，绝缘段由至少一绝缘材料所组成，其中绝缘段的长度与绝缘材料的介电强度的乘积大于静电放电电压。组件本体连结于探针连接元件。
其中，上述用于静电放电测试的检测组件的附属技术手段的较佳实施例中，绝缘段的长度与静电放电电压成正比，探针连接元件更包含一缓冲段，缓冲段连结于绝缘段与组件本体之间，缓冲段的长度与静电放电电压成反比，且缓冲段以一锁合方式或一粘着方式连结于绝缘段。此外，导接段与绝缘段的厚度相同，而绝缘段以一锁合方式或一粘着方式连结于导接段，探针连接元件为一连接臂。另外，绝缘材料的介电强度大于20kv/mm，而待测物为一发光二极体晶粒。
通过本发明所采用的用于静电放电测试的检测组件的主要技术手段后，由于绝缘段的长度与绝缘材料的介电强度的乘积大于静电放电电压，因而在两探针的距离较大时，可有效地防止静电放电电压回冲至组件本体，因而可有效降低测试的成本。
本发明所采用的具体实施例，将藉由以下的实施例及说明书附图作进一步的说明。
附图说明
图1是显示本发明先前技术的用于静电放电测试的检测组件的侧视图；
图2是显示本发明第一较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的立体示意图；
图3是显示本发明第一较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的侧视图；以及
图4是显示本发明第二较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的侧视图。
符号说明：
pa1用于静电放电测试之检测组件
a11探针连接元件
a111导接部
pa112连接部
pa12探针
pa13组件本体
pa131本体端部
pa132轴承
pa133开短路开关
pa134本体底部
1用于静电放电测试之检测组件
11、11a探针连接元件
111、111a导接段
112、112a绝缘段
113缓冲段
12组件本体
121本体底板
2金属探针
3待测物
d1第一距离
d2第二距离
d3第三距离
d4第四距离
l1、l2、l1a长度
w1、w2厚度
具体实施方式
由于本发明所提供的用于静电放电测试的检测组件中，其组合实施方式不胜枚举，故在此不再一一赘述，仅列举两较佳实施例加以具体说明。
请一并参阅图2以及图3，图2是显示本发明第一较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的立体示意图，图3是显示本发明第一较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的侧视图，如图所示，本发明较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件1(以下简称检测组件1)连接一金属探针2对一待测物3进行一静电放电电压的测试，其中，金属探针2为现有技术，不再赘述，而待测物3为一发光二极体(light-emittingdiode；led)晶粒，但其他实施例中不限于此。
检测组件1包含一探针连接元件11与一组件本体12。探针连接元件11为一连接臂而呈长条型的结构，并包含一导接段111、一绝缘段112以及一缓冲段113，导接段111连接金属探针2，并连接传输线以接收一静电放电装置(图未示，为现有技术，不再赘述)所传送出的静电放电电压。其中导接段111连接金属探针2的方法例如可为夹持或嵌设于导接段111中，但不限于此。
绝缘段112以一锁合方式或一粘着方式连结于导接段111，锁合方式例如可透过螺丝进行锁合，而粘着方式则可利用现有的粘着剂来实现。此外，绝缘段112由至少一绝缘材料所组成，且绝缘材料为现有的塑胶等非金属的材料，其中绝缘段112的长度l1与绝缘材料的介电强度的乘积是大于静电放电电压，而一般来说，绝缘材料的介电强度是大于20kv/mm，且绝缘段112的长度l1与静电放电电压成正比，意即静电放电电压愈大，则所需的长度l1即愈长，绝缘段112与导接段111的厚度是相同而皆为厚度w1，也就是说，在厚度为某一定值的情况下，可依据静电放电电压调整绝缘段112的长度l1。
一般来说，若在静电放电电压未很大时，可保留出缓冲段113，缓冲段113连结于绝缘段112与组件本体12之间，其中缓冲段113的长度l2与静电放电电压成反比，而缓冲段113可呈阶梯状而同时包含有厚度w1与厚度w2的部分，也可仅指与绝缘段112相同厚度w1的部分，或是同时包含厚度w2减去厚度w1的部分。另外，缓冲段113也可以一锁合方式或一粘着方式连结于绝缘段112，此两种方式均与上述绝缘段112连结于导接段111的连结方式相同，不再赘述。
组件本体12连结于探针连接元件11，本发明较佳实施例中，是透过组件本体12所包含的本体底板121连结于探针连接元件11的缓冲段113，而本体底板121的厚度也可为厚度w1，但并不限于此。
具体来说，一般探针连接元件11会有固定的长度，而上述绝缘段112与缓冲段113的制成方式中，例如是依据静电放电电压运算出适合的长度l1后，保留导接段11并将图1的探针连接元件pa11的中间段部份裁切掉长度l1，而剩余未裁切的部份即为缓冲段113，接着将为长度l1的绝缘段112透过锁合方式或粘着方式连结于导接段111与缓冲段113之间，藉以防止静电放电电压回冲至组件本体12(例如回冲至图1中所示的开短路开关pa133)。
请参阅图4，图4系显示本发明第二较佳实施例的用于静电放电测试的检测组件的侧视图。如图4所示，与第一较佳实施例不同的地方在于探针连接元件11a的部分，当静电放电电压很大时，所需的绝缘段112a的长度l1a即需要较大，因此在第二较佳实施例中，仅只有绝缘段112a而不具有缓冲段，且导接段111a仍保留而与绝缘段112a相连结，其余均与第一较佳实施例相同，不再赘述。
综合以上所述，本发明的主要精神在于将探针连接元件中设有绝缘段，以透过绝缘段而防止静电放电电压经探针连接元件回冲至组件本体，因此在采用了本发明所提供的用于静电放电测试的检测组件后，可有效地大幅降低测试成本。
藉由以上较佳具体实施例的详述，是希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所揭露的较佳具体实施例来对本发明的范畴加以限制。相反地，其目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明所欲申请的权利要求书的范畴内。