一种异常处理方法及模块与流程

本发明涉及自动控制技术领域，特别涉及一种异常处理方法及模块。

背景技术：

随着经济的发展，人们对电子产品的可靠性要求越来越高。高可靠性的电子产品通常具有长的使用寿命，能够给使用者提供高的性价比。在半导体行业中，完成半导体芯片的生产之后，通常会对半导体芯片进行许多功能测试，以识别并挑选出坏片，只有通过测试的合格芯片才可以销售使用。芯片测试系统在对芯片进行测试时，常采用测试箱进行测试，一个测试箱对应一个测试功能，测试完成后，各测试箱会将测试结果进行反馈。

然而，在对芯片进行测试时，很可能出现一个测试箱异常，导致芯片测试系统无法对芯片完成全项功能测试的情况，此时则需要技术人员人工对该测试系统中的多个测试箱重新调整，较为费事费力，且降低了芯片测试效率。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种异常处理方法及模块，当有操作箱发生异常时，工件操作系统能够自动地重新配置各操作箱的操作功能，以确保工件操作系统能够完成全项功能操作。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种异常处理方法，应用于包含多个功能操作组的工件操作系统，各功能操作组对应于一种功能项操作且各功能操作组包含至少一操作箱，异常处理方法包含以下步骤：当一个操作箱发生异常时，判断异常操作箱所在的功能操作组是否仅包含异常操 作箱；若仅包含异常操作箱，则判断工件操作系统中是否存在满足预设条件的功能操作组；预设条件为功能操作组包含多个操作箱；若存在满足预设条件的功能操作组，则从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱，其中，所述选择的操作箱的数目小于所述功能操作组中包含的操作箱的数目；将选择的操作箱划分至异常操作箱所在的功能操作组。

本发明的实施方式还提供了一种异常处理模块，包含：应用于包含多个功能操作组的工件操作系统，各功能操作组对应于一种功能项操作，异常处理模块包含：数目判断单元、操作箱选择单元以及组别划分单元；当一个操作箱发生异常时，数目判断单元用于判断异常操作箱所在的功能操作组是否仅包含异常操作箱；若是，数目判断单元还用于判断是否存在满足预设条件的功能操作组；预设条件为功能操作组包含多个操作箱；操作箱选择单元用于从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱，其中，选择的操作箱的数目小于功能操作组中包含的操作箱的数目；组别划分单元用于将选择的操作箱划分至异常操作箱所在的功能操作组。

本发明实施方式相对于现有技术而言，当一个操作箱发生异常时，判断异常操作箱所在的功能操作组是否仅包含异常操作箱；若仅包含异常操作箱，则判断工件操作系统中是否存在满足预设条件的功能操作组；预设条件为功能操作组包含多个操作箱；若存在满足预设条件的功能操作组，则从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱；将选择的操作箱划分至异常操作箱所在的功能操作组。通过这种方式，当有一个功能操作组的操作箱出现异常，而使得工件操作系统无法完成全项功能操作时，工件操作系统的异常处理模块会自动对该情况进行处理，及时的利用其它功能操作组中的正常操作箱顶替该异常操作箱。即，工件操作系统具有自我调节、修复的功能，能够自动地重新配置各操作箱的操作功能，以确保工件操作系统能够完成全项功能操作。

另外，当满足预设条件的功能操作组数目为多个时，则比较各功能操作组对应的功能项操作时长，并获取功能项操作时长较短的功能操作组；然后进入从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱的步骤。其中，各功能操作组对应的功能项操作时长为各功能操作组中的各操作箱进行一次功能项操作所需时间，从而尽量的平衡各功能操作组的操作效率，使得各功能操作组之间能够尽可能地连贯性工作，以提高工件操作系统的整体效率。

另外，当满足预设条件的功能操作组数目为多个时，则根据各功能操作组对应的功能项操作时长与各功能操作组包含的操作箱数目，计算各功能操作组在其对应的功能项操作时长中的工件操作数目；比较各功能操作组在其对应的功能项操作时长中的工件操作数目，并获取工件操作数目较多的功能操作组；进入从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱的步骤，从而尽量的平衡各功能操作组的操作效率，使得各功能操作组之间能够尽可能地连贯性工作，以提高工件操作系统的整体效率。

另外，将选择的操作箱划分至异常操作箱所在的功能操作组的步骤，包含以下子步骤：将异常操作箱对应的功能项操作的操作程序下载至选择的操作箱；控制选择的操作箱安装操作程序。即，对从其它功能操作组中所选择出的正常操作箱重新分配功能，从而确保了工件操作系统能够完成全项功能操作。

另外，从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱的步骤，包含以下子步骤：计算功能操作组包含的各操作箱与异常操作箱之间的机械手移动路径；选择与异常操作箱之间的机械手移动路径较短的操作箱。通过这种方式，尽可能的缩短了机械手从上一个操作箱抓取待测物件至所选择的操作箱时的移动路径，从而尽可能的减小了对操作效率的影响。

附图说明

图1是根据本发明第一实施方式中的一种异常处理方法的流程图；

图2是根据本发明第二实施方式中的一种异常处理方法的流程图；

图3是根据本发明第三实施方式中的一种异常处理方法的流程图；

图4是根据本发明第四实施方式中的一种异常处理模块的方框图；

图5是根据本发明第五实施方式中的一种异常处理模块的方框图；

图6是根据本发明第六实施方式中的一种异常处理模块的方框图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。

本发明的第一实施方式涉及一种异常处理方法，应用于包含多个功能操作组的工件操作系统，各功能操作组对应于一种功能项操作且各功能操作组包含至少一操作站其其中，本实施方式对应用的具体场景不作任何限制，即该工件操作系统可以为测试系统(例如测试电子元件或电子设备)、锁附系统(例如自动锁螺丝)、码垛系统等等可以适用的任意场景。

本实施方式以工件测试为例进行说明；即，本实施方式中的工件操作系统为工件的测试系统，该测试系统包含多个功能测试组(相当于多个功能操作组)，各功能测试组对应于一种功能项测试且各功能测试组包含至少一测试箱(相当于多个功能操作站)。测试系统还可以包含主控设备及机械手，主控设备连接于各功能测试组及机械手。其中，工件例如为手机芯片，然并 不限于此。。

本实施方式的异常处理方法的具体流程如图1所示。

步骤101，检测到一个测试箱发生异常。

具体的说，各测试箱与主控设备建立通信连接，各测试箱将其当前的工作状态发送至主控设备，主控设备对接收到的各工作状态进行检测，判断是否检测到某个测试箱所发送的工作状态异常。若是，则判定该测试箱异常；否则，判定测试系统中无设备异常。

步骤102，判断异常测试箱所在的功能测试组是否仅包含异常测试箱。若是，则执行步骤103，否则结束。

具体的说，主控设备中预先存有各功能测试组与测试箱的对应关系，该对应关系可以以表格的形式存在，如“功能测试组—测试箱对照表”。主控设备通过查表的方式，获得异常测试箱所在的功能测试组，并根据查询到的功能测试组获取该功能测试组中的正常的测试箱的数目，通过判断该功能测试组中的正常的测试箱的数目是否为0的方式，判断异常测试箱所在的功能测试组是否仅包含异常测试箱。若是，判定结果为是；否则，判定结果为否。

步骤103，判断测试系统中是否存在满足预设条件的功能测试组。若是，则执行步骤104，否则结束。

具体的说，预设条件为功能测试组包含多个测试箱，主控设备依照“功能测试组—测试箱对照表”中的功能测试组的排列顺序，查询各功能测试组中的测试箱的数目，判断是否存在某个功能测试组中所包含的测试箱的数目大于或等于2，从而判断是否有某个功能测试组包含有多个测试箱。若是，则判定测试系统中存在满足预设条件的功能测试组；否则，判定测试系统中不存在满足预设条件的功能测试组。其中，预设条件可以由用户预先设置并保存在主控设备中。

步骤104，从功能测试组中包含的多个测试箱中选择至少一个测试箱。

其中，主控设备所选择的测试箱的数目小于功能测试组中所包含的测试箱的数目。

具体的说，主控设备选择功能测试组的方式可以是：主控设备依照“功能测试组—测试箱对照表”中的功能测试组的排列顺序进行查询，当查询到满足预设条件的功能测试组时，则将该功能测试组作为待选择的测试箱所在的测试组。

本实施方式中，主控设备选择至少一个测试箱时，还对功能测试组包含的各测试箱与异常测试箱之间的机械手移动路径进行计算，选择与异常测试箱之间的机械手移动路径较短的测试箱，从而尽可能的缩短了机械手从上一个测试箱抓取待测物件至所选择的测试箱时的移动路径，从而尽可能的减小了对测试效率的影响。当然，在实际操作时，主控设备也可以对测试箱进行随机选择，仅以此举例为限，在此不做任何限制。

步骤105，将选择的测试箱划分至异常测试箱所在的功能测试组。

其中，步骤105包含子步骤1051以及子步骤1052.

子步骤1051，将异常测试箱对应的功能项测试的测试程序下载至选择的测试箱。

具体的说，主控设备预先存有功能项测试与测试程序的对应关系，例如以功能项测试—测试程序对照表的形式表示。主控设备通过查询功能测试组—测试箱对照表，获取异常测试箱所在的功能测试组，从而根据功能测试组的功能项测试获取异常测试箱的功能项测试，再通过查询功能项测试—测试程序对照表的方式，获取功能项测试所对应的测试程序，从而能够将异常测试箱对应的功能项测试的测试程序发送至所选择的测试箱。

子步骤1052，控制选择的测试箱安装测试程序。

具体的说，主控设备控制选择的测试箱安装测试程序(可以直接覆盖原来的测试程序；或者，先将原来的测试程序卸载掉在安装下载的测试程序)，以使得所选择的测试箱具备异常测试箱的测试功能，从而使得所选择的测试箱能够代替异常测试箱进行工作，使得测试系统能够完成对芯片的全项功能测试。

不难看出，本实施方式中，当有一个功能测试组的测试箱出现异常，而使得测试系统无法完成全项功能测试时，测试系统的异常处理模块会自动对该情况进行处理，及时的利用其它功能测试组中的正常测试箱顶替该异常测试箱。即，测试系统具有自我调节、修复的功能，能够自动地重新配置各测试箱的测试功能，以确保测试系统能够完成全项功能测试。

本发明的第二实施方式涉及一种异常处理方法，具体流程如图2所示。第二实施方式在第一实施方式的基础上加以改进，主要改进之处在于：在本发明第二实施方式的技术方案中，在满足预设条件且功能项测试时长较短的功能测试组中进行测试箱的选择，从而尽量的平衡各功能测试组的测试效率，使得各功能测试组之间能够尽可能地连贯性工作，以提高测试系统的整体效率。

本实施方式中的步骤201至步骤203与第一实施方式中的步骤101至步骤103大致相同，步骤206至步骤207与第一实施方式中的步骤104至步骤105大致相同，为避免重复，在此不再赘述。

步骤204，判断满足预设条件的功能测试组是否为多个。若是，则执行步骤205，否则执行步骤206。

具体的说，主控设备通过查询“功能测试组—测试箱对照表”的方式，查询各功能测试组中所包含的测试箱，并对处于同一功能测试组的测试箱的数目进行统计。当所统计的数目大于或等于2时，则认为该功能测试组满足预设条件。然后，对满足预设条件的功能测试组的数目进行统计，判断满足 预设条件的功能测试组的数目是否大于1。若是，则判定满足预设条件的功能测试组为多个。

步骤205，比较各功能测试组对应的功能测试时长，获取功能项测试时长较短的功能测试组。

具体的说，在主控设备中预先存有功能测试时长与功能测试组的对应关系，该对应关系可以以表格的形式存在，如“功能测试组—功能测试时长对照表”。主控设备通过查表的方式获取满足预设条件的各功能测试组对应的功能测试时长，并将获取的各功能测试时长进行比较，获取功能项测试时长较短的功能测试组；即步骤205中所述的功能测试组为功能项测试时长较短的功能测试组。

不难看出，本实施方式中，主控设备选择功能项测试时长较短的功能测试组，在该功能测试箱中选择一个或者多个测试箱来替换异常测试箱，从而避免了由于功能测试组测试箱的缺少，所造成的该功能测试组的功能测试项时长拉长导致的芯片检测的堆积的问题。

本发明的第三实施方式涉及一种异常处理方法，具体流程如图3所示。第三实施方式与第二实施方式大致相同，主要区别之处在于：在第二实施方式的技术方案中，在满足预设条件且功能项测试时长较短的功能测试组中进行测试箱的选择。而在本发明第三实施方式中，测试系统根据各功能测试组对应的功能项测试时长与各功能测试组包含的测试箱数目，计算各功能测试组在其对应的功能项测试时长中的工件测试数目，获取工件测试数目较多的功能测试组，从而尽量的平衡各功能测试组的测试效率，使得各功能测试组之间能够尽可能地连贯性工作，以提高测试系统的整体效率。

其中，本实施方式中的步骤301至步骤304与第二实施方式中的步骤201至步骤204大致相同，步骤307至步骤308与第二实施方式中的步骤206至步骤207大致相同，为避免重复，在此不再赘述。

步骤305，计算各功能测试组在其对应的功能项测试时长中的工件测试数目。

如，当一个功能测试组对应的功能项测试时长为30s(即每个测试箱完成该测试项目所需要的功能测试时长为30s)，该功能测试组中包含有三个测试箱，则该功能测试组在其对应的功能项测试时长30s中的工件测试数目为3个。

步骤306，获取工件测试数目较多的功能测试组。

不难看出，本实施方式中，测试系统选择包含测试箱最多的功能测试组，在该功能测试箱中选择一个或者多个测试箱来替换异常测试箱，从而尽量的避免了由于使用其它功能测试组中的正常的测试箱顶替异常测试箱，所导致的芯片测试效率降低的情况。

上面各种方法的步骤划分，只是为了描述清楚，实现时可以合并为一个步骤或者对某些步骤进行拆分，分解为多个步骤，只要包含相同的逻辑关系，都在本专利的保护范围内；对算法中或者流程中添加无关紧要的修改或者引入无关紧要的设计，但不改变其算法和流程的核心设计都在该专利的保护范围内。

本发明第四实施方式涉及一种异常处理模块，如图4所示，应用于包含多个功能测试组的测试系统，各功能测试组对应于一种功能项测试，异常处理模块包含：数目判断单元、测试箱选择单元以及组别划分单元。

当一个测试箱发生异常时，数目判断单元用于判断异常测试箱所在的功能测试组是否仅包含异常测试箱；若是，数目判断单元还用于判断是否存在满足预设条件的功能测试组；预设条件为功能测试组包含多个测试箱；

测试箱选择单元用于从功能测试组包含的多个测试箱中选择至少一个测试箱；其中，选择的测试箱的数目小于功能测试组中包含的测试箱的数目；组别划分单元用于将选择的测试箱划分至异常测试箱所在的功能测试组。

其中，组别划分单元包含下载子单元与安装子单元。下载子单元用于将异常测试箱对应的功能项测试的测试程序下载至选择的测试箱；安装子单元用于控制选择的测试箱安装测试程序。测试箱选择单元包含计算子单元与选择子单元。计算子单元用于计算功能测试组包含的各测试箱与异常测试箱之间的机械手移动路径；选择子单元用于选择与异常测试箱之间的机械手移动路径较短的测试箱。

不难发现，本实施方式为与第一实施方式相对应的系统实施例，本实施方式可与第一实施方式互相配合实施。第一实施方式中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第一实施方式中。

值得一提的是，本实施方式中所涉及到的各模块均为逻辑模块，在实际应用中，一个逻辑单元可以是一个物理单元，也可以是一个物理单元的一部分，还可以以多个物理单元的组合实现。此外，为了突出本发明的创新部分，本实施方式中并没有将与解决本发明所提出的技术问题关系不太密切的单元引入，但这并不表明本实施方式中不存在其它的单元。

本发明第五实施方式涉及一种异常处理模块，如图5所示。第五实施方式在第四实施方式的基础上加以改进，主要改进之处在于：异常处理模块还包含功能测试组获取单元；数目判断单元还用于判断满足预设条件的功能测试组数目是否为多个；功能测试组获取单元用于比较各功能测试组对应的功能项测试时长，并获取功能项测试时长较短的功能测试组；其中，各功能测试组对应的功能项测试时长为各功能测试组中的各测试箱进行一次功能项测试所需时间。

本发明第六实施方式涉及一种异常处理模块，如图6所示。第六实施方式在第四实施方式的基础上加以改进，主要改进之处在于：异常处理模块还包含工件测试数目计算单元与功能测试组获取单元；数目判断单元还用于判 断满足预设条件的功能测试组数目是否为多个；工件测试数目计算单元用于根据各功能测试组对应的功能项测试时长与各功能测试组包含的测试箱数目，计算各功能测试组在其对应的功能项测试时长中的工件测试数目；功能测试组获取单元用于比较各功能测试组在其对应的功能项测试时长中的工件测试数目，并获取工件测试数目较多的功能测试组。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。