1.超高分辨micro-CT分辨率测试方法,其特征在于：包括模体制作，获取分辨率，检测分析，
所述模体制作包括以下步骤：
步骤a1，根据micro-CT图像的视野大小，加工合适尺寸的低密度吸收材料，
步骤a2，在低密度吸收材料的表面包裹一层超薄金箔，构成模体；
所述获取分辨率包括以下步骤：
步骤b1，将模体垂直放入micro-CT系统中，
步骤b2，在横断面方向，以超薄金箔包裹在泡沫上的截面形状，对模体进行扫描，得到重建图像，
步骤b3，在重建图像中，对超薄金箔进行厚度方向的剖析图分析，与剖析图的半峰宽相对应的，为图像的分辨率；
所述检测分析为，对重建图像进行叠加后平均，获取曲线，最终曲线不同的部位对应的分辨率数值。
2.根据权利要求1所述的超高分辨micro-CT分辨率测试方法，其特征在于：所述检测分析包括以下步骤：
步骤c1，在重建图像的圆周的若干部位，选择超薄金箔厚度方向的切线，画出剖析图，
步骤c2，将剖析图的最高点对齐，选择其中的一段，根据最高点进行左右对称，
步骤c3，对剖析图进行叠加后平均，得到至少一条曲线，
步骤c4，对平均后剖析图进行高斯拟合，
步骤c5，将高斯拟合后的曲线两端扩展到0，
步骤c6，进行FFT转换，得到MTF曲线，
步骤c7，对MTF曲线进行归一化，且最高值为1，
步骤c8，得到的MTF曲线的横坐标，截至频率对应的分辨率为，1/2*(1/重建像素大小)。
3.根据权利要求1所述的超高分辨micro-CT分辨率测试方法，其特征在于：所述步骤c2中，选择其中的一段的长度为超薄金箔厚度的3倍以上。
4.根据权利要求1所述的超高分辨micro-CT分辨率测试方法，其特征在于：所述低密度吸收材料为，吸收泡沫。
5.超高分辨micro-CT分辨率测试装置，包括有装置本体，其特征在于：所述装置本体的一端设置有容纳腔，所述容纳腔上设置有吸收泡沫，所述吸收泡沫上包裹有测试层，所述测试层为超薄金箔。
6.根据权利要求3所述的超高分辨micro-CT分辨率测试装置，其特征在于：所述超薄金箔的厚度为小于等于10um。