技术总结
本发明关于一种翘曲力测量装置，用于检测光学膜片，该测量装置包括：测量平台，其用于放置于待检测的该光学膜片；第一连接杆，其设置于该测量平台上；测力传感器，其设置于该第一连接杆的端部；以及升降机构，该升降机构连接并驱动该第一连接杆以第一速度朝向该测量平台移动，使得该测力传感器接触该光学膜片的翘曲部，以测量该光学膜片的该翘曲部的翘曲力。本发明可以更加准确的判断光学膜片当前的翘曲范围，提高检测的精确程度，进而使得产品分级更加准确及合理。
技术研发人员：孙盛军
受保护的技术使用者：明基材料有限公司
文档号码：201610727752
技术研发日：2016.08.26
技术公布日：2017.02.15