技术总结
本发明公开了一种压电半导体多场耦合断裂失效实验研究方法，包括制作压电半导体标准试样并在压电半导体标准试样上预制裂纹；机械应力场、电流场、高电压场及其耦合场加载实施方法；在机械应力场、电流场、高电压场及其耦合场加载条件下进行压电半导体标准试样的断裂韧性实验；通过改变预制裂纹长度研究不同裂纹长度条件下，上述各物理场及其耦合场加载时压电半导体材料的断裂失效特性；在得到大量实验数据情况下，根据实验数据拟合上述各物理场加载环境下压电半导体材料的断裂失效机理并归纳压电半导体材料的断裂失效数理模型，从断裂损伤的角度研究多场条件下压电半导体材料的失效，对提高压电半导体器件的设计质量具有十分重要的科学依据和实用价值。
技术研发人员：秦国帅;赵明皞;范翠英;张鑫
受保护的技术使用者：郑州大学
文档号码：201610816172
技术研发日：2016.09.12
技术公布日：2017.02.22