参考面标准器及锥形物体的测量方法与流程

本发明涉及一种测量方法，具体的说，是涉及一种参考面标准器及锥形物体的测量方法。

背景技术：

在外部测量的情况下，它涉及在由距离(3)限定的测量平面中对锥形塞规(1)直径(2)的精确测量。

在内部测量的情况下，它涉及在由距离(6)限定的测量平面中对锥形环规(4)直径(5)的精确测量。图3是带垂直扫描方向的已知的二位扫描测量机。结构包括：(7)带计算机控制执行器的垂直轴与用于垂直位置双面探针(8)的线性电子位移传感器；(9)带计算机控制执行器的水平轴与用于水平位置双面探针(8)的线性电子位移传感器；(10)用于设置扫描量规左右侧的测量力的系统；(11)扫描臂；(12)用于支持精确可重复夹具以及可更换量规支撑的底座；(13)用于测量扫描臂的旋转角位置的电子探针；当探针(8)的水平位置跟随测量对象的轮廓扫描时垂直轴(7)被致动。因为在实际操作中，圆锥形量规中圆锥形部分到参考平面的过渡是圆的或倒角的，上述二维扫描测量机的参考平面位置不能被确定。请看图25中带圆角的两个轮廓。为了准确地确定参考平面，本发明提及的直接参考面标准器或是已知的间接参考面标准器是必需的。

已知的二维扫描测量机也开发了带水平扫描方向的版本。用于确定锥形量规测量平面的方法适用于带垂直扫描方向以及带水平扫描方向两种版本。

锥形螺纹量规与光面锥形量规存在同样的问题。因此，为了清楚起见，先描述光面锥形量规。

在图4，当手柄向上时，一个锥形塞规(1)的最小端被放置在具有精确校准厚度(15)的可选平行板的上表面(18)。平行板被放置在经过精确研磨的夹具支撑(12)的参考平面(14)上侧。

锥形塞规(1)的中心线在探针(8)可以移动通过机器的平面中很好地对中。探针(8)的左针尖(17)对右锥形表面线进行扫描，左针尖(17)的二维坐标以高速保存在计算机中。随后，在图5，左锥形表面线将被将被探针右针尖(16)扫描。

如图6，为了能够在一个坐标系统中变换左右轮廓，需要精确知道探针针尖(16)和(17)相对于参考平面(14)的垂直坐标(19)和(20)。

由于生产的误差，坐标(19)有可能与坐标(20)不同。为了能够精确地确定坐标(19)和(20)，会使用一个参考面标准器。参考面标准器具有带着两根非常精确研磨的圆柱形针(22)和(23)的保持器(21)，如图7。

保持器(21)被放置在机器的参考平面(14)上，这样的设计是为了使圆柱形针(22)和(23)相对于参考平面(14)精确地平行定位，并且每个圆柱形针具有朝向参考平面(14)精确校准的距离A(24)和B(25)。

在参考面校准过程中，首先圆柱形针(22)的轮廓会被探针针尖(16)扫描。当针尖(16)移动到中心高度B(25),针尖(16)的垂直坐标等于B(25).随后在图8，圆柱形针(23)的轮廓会被探针针尖(17)扫描。当针尖(17)移动到中心高度A(24),针尖(17)的垂直坐标等于A(24).

现在可以在一个坐标系统中相对于平面(18)以及量规(1)的正面变换左右轮廓。如果现在量规(1)的测量平面被距离(26)定义，直径(2)可以被计算，如图9。

然而，如果测量平面的直径(2)没有一个被定义的到参考平面(14)的距离，而是相对于量规的背面(27)或背面的凹槽被定义，则会出现问题，如图10。

解决方案是首先将量规(1)放置在面板(30)上，并用高度计(29)测量高度或槽到表面的距离(28)，如图11和12。

量规(1)的测量平面与量规小端/面侧的距离可以通过距离(28)与(27)的差来计算：距离(28)–距离(27)。

在以与图9相同的方式在机器上放置和扫描量规(1)后，可以用(28)-(27)的值来代替距离(26)进行计算。

此方法的缺点是需要在面板上使用额外的高度计，由此影响测量不确定度。

另一个缺点是测量有时会涉及非常大和重的量规，100千克或更多，这需要测量技术人员投入大量额外的时间和精力。还有一个缺点是带有突起的直径塞规，如带有用于研磨机研磨的定心轴的塞规，不能使用上述任何一种方法确定。

技术实现要素：

针对上述现有技术中的不足，本发明提供一种方便、快捷，提高测量精度和测量效率的锥形物体的测量方法。

本发明所采取的技术方案是：

一种参考面标准器，包括：保持器；圆柱形针；保持器内设置有用于固定保持器的磁体；保持器下表面设置有一个支撑表面；

圆柱形针安装在保持器中并与支撑平面平行；

圆柱形针的中心具有一个被校准过的到支撑表面平面的距离。

一种使用权利要求所述参考面标准器测量锥形塞规直径的测量方法，其特征在于包括如下步骤：

将锥形塞规居中放置于二位扫描测量机上；

锥形塞规的直径的测量平面相对于锥形塞规的背面被定义；

锥形塞规的背面，即锥形塞规的上端面左右两侧分别设置有保持器；

保持器的支撑表面通过磁体固定在锥形塞规的背面；

探针左针尖在右圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定量规的背面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针左针尖对量规的右锥形表面线扫描；

确定直径数值；

探针右针尖在左圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定量规的背面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针右针尖对锥形塞规的左锥形表面线扫描；

确定直径数值。

一种使用参考面标准器测量锥形塞规直径的测量方法，包括如下步骤：

将锥形塞规设置在具有研磨定心轴和二维扫描测量机上，锥形塞规被对中夹在下定心点与上定心点之间；

锥形塞规的下端面是参考平面，参考平面到测量平面的距离被限定；

左右两个直接参考面标准器被固定在量规的这个参考平面上；

锥形塞规的下端面左右两侧分别设置有保持器；

保持器的支撑表面通过磁体固定在锥形塞规的下端面；

探针左针尖在右圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形塞规的下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针左针尖对量规的右锥形表面线扫描；

确定直径数值；

探针右针尖在左圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形塞规的下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针右针尖对锥形塞规的左锥形表面线扫描；

确定直径数值。

一种使用参考面标准器测量锥形塞规直径的测量方法，包括如下步骤：

将锥形塞规设置在具有研磨定心轴和二维扫描测量机上，锥形塞规被对中夹在下定心点与上定心点之间；

锥形塞规的上端面是参考平面，参考平面到测量平面的距离被限定；

左右两个直接参考面标准器被固定在量规的这个参考平面上；

锥形塞规的上端面左右两侧分别设置有保持器；

保持器的支撑表面通过磁体固定在锥形塞规的上端面；

探针左针尖在右圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形塞规的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针左针尖对锥形塞规的右锥形表面线扫描；

确定直径数值；

探针右针尖在左圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形塞规的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针右针尖对锥形塞规的左锥形表面线扫描；

确定直径数值。

一种使用参考面标准器测量锥形螺纹塞规中径，小径和大径的测量方法，包括如下步骤：

具有研磨定心轴和的锥形螺纹塞规被夹紧在二维扫描测量机上；

测量平面与锥形螺纹塞规的上端面距离被定义；

测量平面是与锥形螺纹塞规的上端面距离的位置；

两个直接参考面标准器被固定在量规的参考平面上；

锥形螺纹塞规的上端面左右两侧分别设置有保持器；

保持器的支撑表面通过磁体固定在锥形塞规的上端面；

探针左针尖在右圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形螺纹塞规的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针左针尖对锥形螺纹塞规的右锥形表面线扫描；

计算测量平面中，中径，小径和大径数值；

探针右针尖在左圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形螺纹塞规的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针右针尖对锥形螺纹塞规的左锥形表面线扫描；

计算测量平面中，中径，小径和大径数值。

一种使用参考面标准器测量锥形螺纹塞规中径，小径和大径的测量方法，包括如下步骤：

参考平面在槽上并具有研磨定心轴和的锥形螺纹塞规被夹紧在二维扫描测量机上；

测量平面从槽的顶侧，在距离上被定义；

测量平面与槽的顶侧为距离；

两个直接参考面标准器被固定在量规在槽上侧的参考平面，即槽的下端面；槽的下端面为参考面；

两个直接参考面标准器被固定在量规的参考平面上；

锥形螺纹塞规的槽的下端面左右两侧分别设置有保持器；

保持器的支撑表面通过磁体固定在锥形螺纹塞规的槽的下端面；

探针左针尖在右圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形螺纹塞规的槽的下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针左针尖对锥形螺纹塞规的右锥形表面线扫描；

确定测量平面中，中径，小径和大径数值；

探针右针尖在左圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形螺纹塞规的槽的下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹塞规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针右针尖对锥形螺纹塞规的左锥形表面线扫描；

确定测量平面中，中径，小径和大径数值。

一种使用参考面标准器测量锥形螺纹环规中径，小径和大径的测量方法，包括如下步骤：

锥形螺纹环规被夹紧在二维扫描测量机平行板的支撑平面上；

测量平面从顶侧，在距离上被定义；

锥形螺纹环规与测量平面的距离通过距离确定；

两个直接参考面标准器被固定在锥形螺纹环规的参考平面上；

锥形螺纹环规的上端面左右两侧分别设置有保持器；

保持器的支撑表面通过磁体固定在锥形螺纹环规的上端面；

探针左针尖在右圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形螺纹环规的上下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹环规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针左针尖对锥形螺纹环规的右锥形表面线扫描；

确定测量平面中，中径，小径和大径数值；

探针右针尖在左圆柱形针的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖到参考平面的垂直距离已知，从而确定锥形螺纹环规的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹环规的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径被距离定义的位置上；

探针右针尖对锥形螺纹塞规的左锥形表面线扫描；

确定测量平面中，中径，小径和大径数值。

本发明相对现有技术的有益效果：

本发明锥形物体的测量方法，用于快速精确地确定在锥形量规与类似物体，光面或螺纹，内部或外部中心线上的测量平面的轴向位置。根据本发明直接参考面标准器附接在待测锥形量规参考平面上，使用已知的二维扫描测量机在该测量平面中精确测量光面锥形量规的直径以及螺纹锥形量规的大径，小径与中径。

附图说明

图1-17是现有技术测量的光面锥形量规的直径以及螺纹锥形量规的大径、小径与中径的结构示意图；

图18是本发明锥形物体的测量方法的参考面标准器的结构示意图；

图19-21是本发明第一测量实施例的结构示意图；图22-25是本发明第二测量实施例本的结构示意图；

图26是本发明第三测量实施例的结构示意图；

图27是本发明第四测量实施例的结构示意图；

图28是本发明第四测量实施例的结构示意图；

图29是本发明第五测量实施例的结构示意图；

图30是本发明第六测量实施例的结构示意图；

图31是本发明第七测量实施例的结构示意图。

具体实施方式

以下参照附图及实施例对本发明进行详细的说明：

附图18可知，一种参考面标准器，包括：保持器34；圆柱形针35；保持器34内设置有用于固定保持器34的磁体36；保持器34下表面设置有一个支撑表面38；

支撑表面38被精确地磨平并且具有参考平面的功能。

圆柱形针35安装在保持器34中并与支撑平面38平行；

圆柱形针的中心具有一个被校准过的到支撑表面平面38的距离37；

每个直接参考面标准器具有唯一的校准距离37，对右标准器37R与左标准器37L之间进行区分；每个直接参考面标准器都会标记唯一的标识号码。

图19-21，一种测量锥形塞规直径的测量方法，包括如下步骤：

将锥形塞规101居中放置于二位扫描测量机上；

锥形塞规101的直径102的测量平面相对于锥形塞规101的背面被定义；

锥形塞规101的背面，即锥形塞规101的上端面左右两侧分别设置有保持器134；

保持器134的支撑表面38通过磁体136固定在锥形塞规101的背面；

探针108左针尖117在右圆柱形针135的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖117到参考平面138的垂直距离137R已知，从而确定量规101的背面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规101的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径102被距离103定义的位置上；

探针左针尖117对量规101的右锥形表面线扫描；

确定直径102数值；

探针108右针尖116在左圆柱形针135的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖116到参考平面138的垂直距离137L已知，从而确定量规101的背面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规101的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径102被距离103定义的位置上；

探针右针尖116对锥形塞规101的左锥形表面线扫描；

确定直径102数值。

直接参考面标准器的另一个优点是带有突起的锥形塞规，如带有研磨定心轴的塞规，其位置，测量平面以及直径都可以精确地确定。

图22-25，一种测量锥形塞规直径的测量方法，包括如下步骤：

将锥形塞规201设置在具有研磨定心轴239和240二维扫描测量机上，锥形塞规201被对中夹在下定心点243与上定心点242之间；

锥形塞规201的下端面是参考平面，参考平面到测量平面的距离203被限定；

左右两个直接参考面标准器被固定在量规的这个参考平面上；

锥形塞规201的下端面左右两侧分别设置有保持器234；

保持器234的支撑表面238通过磁体236固定在锥形塞规201的下端面；

探针208左针尖217在右圆柱形针235的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖217到参考平面238的垂直距离237R已知，从而确定锥形塞规201的下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规201的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径202被距离203定义的位置上；

探针左针尖217对量规201的右锥形表面线扫描；

确定直径202数值；

探针208右针尖216在左圆柱形针235的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖216到参考平面38的垂直距离237L已知，从而确定锥形塞规201的下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规201的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径202被距离203定义的位置上；

探针右针尖216对锥形塞规201的左锥形表面线扫描；

确定直径202数值。

附图26，一种测量锥形塞规直径的测量方法，包括如下步骤：

将锥形塞规301设置在具有研磨定心轴339和340二维扫描测量机上，锥形塞规301被对中夹在下定心点343与上定心点342之间；

锥形塞规301的上端面是参考平面，参考平面到测量平面的距离303被限定；

左右两个直接参考面标准器被固定在量规的这个参考平面上；

锥形塞规301的上端面左右两侧分别设置有保持器334；

保持器334的支撑表面338通过磁体336固定在锥形塞规301的上端面；

探针308左针尖317在右圆柱形针335的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖317到参考平面38的垂直距离337R已知，从而确定锥形塞规301的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规301的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径302被距离303定义的位置上；

探针左针尖317对锥形塞规301的右锥形表面线扫描；

确定直径302数值；

探针308右针尖316在左圆柱形针335的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖316到参考平面338的垂直距离337L已知，从而确定锥形塞规301的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形塞规301的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径302被距离303定义的位置上；

探针右针尖316对锥形塞规301的左锥形表面线扫描；

确定直径302数值。

图27展示了塞规401的参考面位于一个槽的上侧的情况。在这种情况下，直接参考面标准器被固定在参考平面上。

图28展示了环规401的参考面位于上侧的情况。在这种情况下，直接参考面标准器被固定在参考平面上侧。测量平面中的直径405以及到参考平面的距离406被确定。

以相同的方式，直接参考面标准器也可以应用于锥形螺纹环规和锥形螺纹塞规。

在图29中，一种测量锥形螺纹塞规中径，小径和大径的测量方法，其特征在于包括如下步骤：

具有研磨定心轴539和540的锥形螺纹塞规544被夹紧在二维扫描测量机上；

测量平面与锥形螺纹塞规544的上端面距离503被定义；

测量平面是与锥形螺纹塞规544的上端面距离503的位置；

两个直接参考面标准器被固定在量规(544)的参考平面上；

锥形螺纹塞规544的上端面左右两侧分别设置有保持器534；

保持器534的支撑表面538通过磁体536固定在锥形塞规501的上端面；

探针508左针尖517在右圆柱形针535的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖517到参考平面538的垂直距离537R已知，从而确定锥形螺纹塞规544的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹塞规544的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径502被距离503定义的位置上；

探针左针尖517对锥形螺纹塞规544的右锥形表面线扫描；

计算测量平面中，中径，小径和大径545数值；

探针508右针尖516在左圆柱形针535的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖516到参考平面38的垂直距离537L已知，从而确定锥形螺纹塞规544的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹塞规544的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径502被距离503定义的位置上；

探针右针尖516对锥形螺纹塞规544的左锥形表面线扫描；

计算测量平面中，中径，小径和大径545数值。

在图30中，一种测量锥形螺纹塞规中径，小径和大径的测量方法，包括如下步骤：

参考平面在槽上并具有研磨定心轴639和640的锥形螺纹塞规644被夹紧在二维扫描测量机上；

测量平面从槽的顶侧，在距离603上被定义；

测量平面与槽的顶侧为距离603；

两个直接参考面标准器被固定在量规(644)在槽上侧的参考平面，即槽的下端面；槽的下端面为参考面；

两个直接参考面标准器被固定在量规(644)的参考平面上；

锥形螺纹塞规644的槽的下端面左右两侧分别设置有保持器634；

保持器634的支撑表面638通过磁体636固定在锥形螺纹塞规644的槽的下端面；

探针608左针尖617在右圆柱形针635的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖617到参考平面638的垂直距离637R已知，从而确定锥形螺纹塞规644的槽的下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹塞规644的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径602被距离603定义的位置上；

探针左针尖617对锥形螺纹塞规644的右锥形表面线扫描；

确定测量平面中，中径，小径和大径645数值；

探针608右针尖616在左圆柱形针635的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖616到参考平面638的垂直距离637L已知，从而确定锥形螺纹塞规644的槽的下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹塞规644的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径602被距离603定义的位置上；

探针右针尖616对锥形螺纹塞规644的左锥形表面线扫描；

确定测量平面中，中径，小径和大径645数值。

在图31中，一种测量锥形螺纹环规中径，小径和大径的测量方法，包括如下步骤：

锥形螺纹环规746被夹紧在二维扫描测量机平行板的支撑平面718上；

测量平面从顶侧，在距离76上被定义；

锥形螺纹环规746与测量平面的距离通过距离76确定；

两个直接参考面标准器被固定在锥形螺纹环规746的参考平面上；

锥形螺纹环规746的上端面左右两侧分别设置有保持器734；

保持器734的支撑表面738通过磁体36固定在锥形螺纹环规746的上端面；

探针78左针尖717在右圆柱形针735的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖717到参考平面738的垂直距离737R已知，从而确定锥形螺纹环规746的上下端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹环规746的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径702被距离703定义的位置上；

探针左针尖717对锥形螺纹环规746的右锥形表面线扫描；

确定测量平面中，中径，小径和大径745数值；

探针708右针尖716在左圆柱形针735的垂直中心高度上进行扫描；

探针左针尖716到参考平面738的垂直距离737L已知，从而确定锥形螺纹环规746的上端面与测量平面的距离；

通过垂直坐标变换，现在右锥形表面线的轮廓与锥形螺纹环规746的参考平面相关；

在右锥形表面线扫描，测量平面处于直径702被距离703定义的位置上；

探针右针尖716对锥形螺纹塞规744的左锥形表面线扫描；

确定测量平面中，中径，小径和大径747数值。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明的结构作任何形式上的限制。凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本发明的技术方案范围内。