1.一种基于具有测试并实时反馈IC电气特性的测试装置的测试方法，所属测试装置包括MCU控制器，第一低压差线性稳压器模块(LDO1)、第二低压差线性稳压器模块(LDO2)、输入保护电路、LCD显示模块、按键模块、电源档位电路模块、电源干扰电路模块、过流保护电路模块、待测IC模块，其特征在于：包括以下步骤：
(1)将待测IC连接至测试装置，给测试装置上电；
(2)设置电流门限值，启动过流保护测试，设置超过300mA电流就切断给IC供电，在整个测试过程中，实时监控工作电流，超过设定电流切断供电，在监控电流过程中，通过MCU控制器使能第二线性低压差线性稳压器模块LDO2，第二线性低压差线性稳压器模块LDO2和IC电源之间串联一个电流采样电阻，通过精密放大电路对采样电阻两端电压差进行放大，再利用比较器进行比较，超过阈值电压，输出高电平信号给MCU控制器，通过MCU控制器关掉第二线性低压差线性稳压器模块LDO2使能，切断IC供电；
(3)设置电源档位，进行工作电压范围测试，利用MCU控制器三个GPIO口和CD74HC4051编码器给IC配置8个不同档位(S1～S8)的电压，通过MCU控制，按照从小到大的档位顺序逐渐输出给IC的工作电压，通过监控IC在各输入电压情况下的工作参数自动测试IC正常工作电压的范围；
(4)控制电源干扰电路模块，进行抗干扰测试，使用开关芯片和可调电阻，通过MCU控制器输出PWM波形，使开关不停的开、断，利用开关特性，在电源上叠加产生一个不规则波形，波形幅度通过可调电阻进行调节，按键开关调节PWM频率和占空比，然后再监控IC在此电源干扰情况下的各项参数；
(5)输出测试结果，测试反馈信息通过监控整个测试工程中待测IC的工作情况反馈给MCU控制器，MCU控制器判断当前结果是否通过并加以显示，并通过MCU控制器自带的ADC模块实施监控IC当前电压，并显示在LCD显示模块。