技术总结
本实用新型公开了一种PIN‑FET光接收组件自动测试系统，包括光电测控平台、测控模块、被测器件适配器和上位机；所述光电测控平台为插件式机箱，为插接的各功能模块提供总线通讯和工作电源；所述光电测控平台通过USB电缆或无线传输接口与上位机实现数据通讯；所述测控模块与所述光电测控平台插接后组成所述PIN‑FET光接收组件自动测试系统的主机，所述主机通过通用或专用的光缆与电缆与所述被测器件适配器进行信号连接，实现对所述被测器件适配器的自动测试。基于光电测控平台实现PIN‑FET器件参数测试，将不同的单参数测量设备功能重新进行规划和整合，并实现为插件式模块，采用统一的通信接口和通讯协议，能够灵活的扩展硬件，方便快捷的建立测试程序。
技术研发人员：魏铁钧;陈雪姝;
受保护的技术使用者：北京浦丹光电股份有限公司;
文档号码：201620427946
技术研发日：2016.05.11
技术公布日：2016.09.21