直流电阻测试仪的制作方法

本实用新型涉及直流电阻测试技术，尤其是涉及一种直流电阻测试仪。

背景技术：

变压器直流电阻是变压器制造中半成品、成品出厂试验、安装、大修、改变分接开关后、交接试验及电力部门预防性试验的必测项目。可以检查绕组接头的焊接质量和绕组有无匝间短路，可以检测电压分接开关的各个位置接触是否良好以及分接开关实际位置与指示位置是否相符，引出线是否有断裂，多股导线并绕是否有断股等情况。

但是，现有的直流电阻测试仪测试速度慢，且携带不便、测试复杂，不利于提高测试效率。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于克服上述技术不足，提出一种直流电阻测试仪，解决现有技术中直流电阻测试仪测试效率低下、携带不便的技术问题。

为达到上述技术目的，本实用新型的技术方案提供一种直流电阻测试仪，包括箱体、盖体及一内置于所述箱体内的测试仪本体，所述测试仪本体包括，

一嵌设于所述箱体开口端的控制面板，所述控制面板与所述箱体合围形成一安装腔体；

内置于所述安装腔体的测试模块，其包括一用于采集被测直流电阻的电流信号和电压信号的信号采集电路、一用于处理所述信号采集电路采集的信号的MCU处理单元、一用于形成恒定电流的恒定电流源电路、及一AC/DC转换电路，所述信号采集电路、恒定电流源电路、AC/DC转换电路均与所述MCU处理单元连接；

内置于所述安装腔体的打印机，所述打印机与所述MCU处理单元连接且其显示端突出于所述控制面板并与控制面板的上表面平齐；

均嵌设于所述控制面板上的电流输出接口、电压测试接口、液晶显示屏、电流表，所述电流表一端与所述电流输出接口连接、另一端与所述恒定电流源电路连接，所述信号采集电路与所述电流表和电压测试接口连接，所述液晶显示屏与所述MCU处理单元连接。

优选的，所述测试模块包括一设于所述MCU处理单元与所述恒定电流源电路之间的电流调节单元。

优选的，所述测试模块包括一用于断开所述电流调节单元和所述MCU处理单元之间的测试电流并对被测直流电阻进行放电的复位单元及一与所述复位单元相配合的报警单元，所述报警单元与所述MCU处理单元连接。

优选的，所述控制面板上还设置有一与所述AC/DC转换电路连接的电源接口。

优选的，所述控制面板上还设置有RS232接口和USB接口，所述RS232接口和USB接口均与所述MCU处理单元连接。

优选的，所述测试模块还包括一与所述MCU处理单元连接的万年历电路。

与现有技术相比，本实用新型一方面设置箱体和盖体，以便于直流电阻测试仪的携带，另一方面设置恒定电流源电路提供恒定电流，并通过信号采集电路获取被测直流电阻的电流信号和电压信号，并通过液晶显示屏显示出来，同时可通过打印机将测试数据打印出来，其有利于提高测试效率。

附图说明

图1是本实用新型的直流电阻测试仪的连接结构示意图；

图2是本实用新型的测试仪本体的连接框图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅图1、图2，本实用新型的实施例提供了一种直流电阻测试仪，包括箱体1、盖体2及一内置于所述箱体1内的测试仪本体3，所述测试仪本体3包括，

一嵌设于所述箱体1开口端的控制面板31，所述控制面板31与所述箱体1合围形成一安装腔体；

内置于所述安装腔体的测试模块32，其包括一用于采集被测直流电阻的电流信号和电压信号的信号采集电路321、一用于处理所述信号采集电路321采集的信号的MCU处理单元322、一用于形成恒定电流的恒定电流源电路323、及一AC/DC转换电路324，所述信号采集电路321、恒定电流源电路323、AC/DC转换电路324均与所述MCU处理单元322连接；

内置于所述安装腔体的打印机33，所述打印机33与所述MCU处理单元322连接且其显示端突出于所述控制面板31并与控制面板31的上表面平齐；

均嵌设于所述控制面板31上的电流输出接口34、电压测试接口35、液晶显示屏36、电流表37，所述电流表37一端与所述电流输出接口34连接、另一端与所述恒定电流源电路323连接，所述信号采集电路321与所述电流表37和电压测试接口35连接，所述液晶显示屏36与所述MCU处理单元322连接。

具体测量时，本实施例可采用单相测量法或助磁法测量将电流输出接口34、电压测试接口35通过测试线与被测直流电阻进行接线，通过信号采集电路321获取电流信号和电压信号，并将采集的电流信号和电压信号发送至MCU处理单元322进行处理，处理结果可通过液晶显示屏36显示出来、也可通过打印机33打印出来。

其中，所述测试模块32包括一设于所述MCU处理单元322与所述恒定电流源电路323之间的电流调节单元325，具体可将恒定电流源电路323设置成多个并联设置的多个恒定电流源分电路，每个恒定电流源分电路均与一设定的恒定电流相对应，即每个恒定电流源分电路均能够产生一相对应的恒定电流，例如2.5A、5A、10A、20A、50A等，电流调节单元325为与多个恒定电流源分电路一一对应的导通电路，可通过MCU处理单元322控制、选择电流调节单元325与其中一个恒定电流源分电路导通。

测试完毕后，为了便于安全放电，所述测试模块32包括一用于断开所述电流调节单元325和所述MCU处理单元322之间的测试电流并对被测直流电阻进行放电的复位单元326及一与所述复位单元326相配合的报警单元327，所述报警单元327与所述MCU处理单元322连接，具体的通过MCU处理单元322驱动复位单元326作用，进而将电流调节单元325与MCU处理单元322断开，并对被测直流电路进行放电，放电同时MCU处理单元322控制报警单元327报警，放电过程中，可通过电流表37观察放电，为了保证安全，应当在报警单元327停止报警且电流表37读数为零的10秒后拆掉测试线或进行重新测试。

而为了测试和数据储存的便利性，所述控制面板31上还设置有电源接口38、RS232接口39和USB接口30，电源接口38与所述AC/DC转换电路324连接，所述RS232接口39和USB接口30均与所述MCU处理单元322连接，测试时可通过电脑与RS232接口39连接或者通过U盘与USB接口30连接，进而将测试数据储存于电脑内或U盘内。

由于测试过程中，需要经常性的记录时间及与时间相对的数据，故本实施例所述测试模块32还包括一与所述MCU处理单元322连接的万年历电路328，并通过液晶显示屏36将万年历的时间、日期显示出来，以便于测试者记录。同时，打印机33打印或电脑、U盘储存时，可将测试数据与测试时间相对应的打印或存储起来。

相对应的，控制面板31上还设置有与MCU处理单元322连接的控制按钮311，控制按钮311为多个，且分别用于对电流调节单元325、复位单元326、万年历电路328进行控制调节。

与现有技术相比，本实用新型一方面设置箱体和盖体，以便于直流电阻测试仪的携带，另一方面设置恒定电流源电路提供恒定电流，并通过信号采集电路获取被测直流电阻的电流信号和电压信号，并通过液晶显示屏显示出来，同时可通过打印机将测试数据打印出来，其有利于提高测试效率。

以上所述本实用新型的具体实施方式，并不构成对本实用新型保护范围的限定。任何根据本实用新型的技术构思所做出的各种其他相应的改变与变形，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围内。