一种激光测距装置的制作方法

技术特征：

1.一种基于前沿时刻鉴别技术的激光测距装置，其特征在于，所述激光测距装置包括：

光电转换电路，用于将所接收的激光信号转换为第一电信号；

放大电路，电性耦接至所述光电转换电路，用于将所述第一电信号进行放大处理，并输出第二电信号，所述第二电信号依次具有一前沿期间以及一后沿期间；

第一阈值比较器，电性耦接至所述放大电路，用于将所述第二电信号前沿的电压值与一第一阈值电压进行实时比较，得到一第一触发信号；

第二阈值比较器，电性耦接至所述放大电路，用于将所述第二电信号前沿的电压值与一第二阈值电压进行实时比较，得到一第二触发信号，该第二阈值电压大于该第一阈值电压；

计时电路，电性耦接至所述第一阈值比较器和所述第二阈值比较器，用于获取与所述第一触发信号和所述第二触发信号相对应的第一时刻和第二时刻；以及

处理器，用于接收并处理所述第一时刻和所述第二时刻，并根据所述第二时刻与所述第一时刻获得所述激光信号的波形斜率，从而利用所述波形斜率对激光测距值进行补偿。

2.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述处理器还根据所述第二时刻和所述第一时刻获得起始时刻，从而利用所述起始时刻和所述波形斜率对所述激光测距值进行补偿。

3.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述光电转换电路为光探测器件，所述光探测器件为光电二极管(PIN)、雪崩式光电二极管(APD)或光电倍增管(PMT)。

4.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述放大电路为跨阻放大器或差分放大器。

5.根据权利要求1或4所述的激光测距装置，其特征在于，所述放大电路为单级放大器或多个级联的放大器。

6.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，当所述第二电信号前沿上的某点的电压值升至所述第一阈值电压时，所述第一阈值比较器输出所述第一触发信号；当所述第二电信号前沿的某点的电压值升至所述第二阈值电压时，所述第二阈值比较器输出所述第二触发信号。

7.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述第一阈值电压以及所述第二阈值电压由单一电压源通过电阻分压产生。

8.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述第一阈值电压和所述第二阈值电压分别由不同电压源单独产生。

9.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述第一阈值比较器和所述第二阈值比较器集成于同一控制芯片，且所述第一阈值电压和所述第二阈值电压为所述控制芯片的内部参考电压。

10.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述激光测距装置还包括两个D触发器，分别设置于所述第一阈值比较器与所述处理器之间及所述第二阈值比较器与所述处理器之间。

11.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述激光测距装置还包括第三阈值比较器，电性耦接至所述放大电路，用于将所述第二电信号前沿的电压值与一第三阈值电压进行实时比较，得到一第三触发信号，

所述处理器用于接收所述第一时刻、所述第二时刻以及与所述第三触发信号相对应的第三时刻，并利用所述第一时刻、所述第二时刻和所述第三时刻进行曲线拟合获得所述激光信号的所述波形斜率。

12.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述处理器为数字信号处理器、微控制单元、现场可编程门阵列或复杂可编程逻辑器件，并且该处理器内置对激光测距值进行补偿和计算目标物体反射率的固件。