一种用于手机卡托检验的量具的制作方法

本实用新型属于尺寸校对工具，具体是一种用于手机卡托检验的量具。

背景技术：

手机卡托作为手机的组成部件，随着手机设计的不断推陈出新，手机卡托的结构设计也不断在改进，现在的手机卡托往往集成SIM卡和TF卡的装放功能。在生产过程中，对这类结构的手机卡托的尺寸检验以往是需要多工序去完成，并且，以往采用多套对应的量具分别检验以及多人工进行，测量检验费时费力，效率不够高，而且易出现人为因素造成的不良品。因此，合适的量具是提升工作效率的关键。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于，针对上述不足，提供一种用于手机卡托的尺寸规格进行检验，使用简便、能提升工作效率的量具。

为实现上述目的，本实用新型所提供的技术方案是：一种用于手机卡托检验的量具，包括基座、设于基座的顶端数量至少为一个的SIM卡槽通止规以及数量至少为一个的TF卡槽通止规，所述的TF卡槽通止规与SIM卡槽通止规之间的间距尺寸小于一点七毫米，所述的基座设有结构通孔。

本实用新型的另一优选方案，所述的SIM卡槽通止规呈凸台状,SIM卡槽通止规的顶端面设有用于手机卡托的SIM卡槽部分的内孔尺寸检验的SIM槽凸起。

本实用新型的另一优选方案，所述的TF卡槽通止规呈凸台状,包括高度基准测量基台、高度基准测量基台的顶端面设有用于手机卡托的TF卡槽部分的内框尺寸检验的TF槽凸起。

本实用新型的另一优选方案，所述的SIM卡槽通止规以及TF卡槽通止规的数量均为四个，均匀对称分布在所述的基座的顶端。

本实用新型的有益效果为：本实用新型设计精巧，结构简洁，使用简便。设有SIM卡槽通止规以及TF卡槽通止规；使用时，用于对手机卡托的SIM卡槽部分的内孔尺寸、TF卡槽部分的内框尺寸和TF卡槽部分的高度尺寸(0.432尺寸)进行检验。改变了以往检验工序中需三套量具、多人工参与的状况。本实用新型使用简便，相较以往所需要的三道检验工序节省为一道检验工序，在操作上只需一名人工参与，减小了劳动强度，提升了检验效率。特别适合手机卡托产品的检验使用。

下面结合附图与实施例，对本实用新型进一步说明。

附图说明

附图是用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制，在附图中。

图1是本实用新型的整体结构示意图。

图2是图1的另一结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的具体实施方式进行说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限制本实用新型。

本实用新型用于手机卡托的SIM卡槽部分以及TF卡槽部分的尺寸检验。参见图1，示出了本实用新型的结构构成。

参见图1和图2，本实施例提供的一种用于手机卡托检验的量具，包括基座1、设于基座1的顶端数量至少为一个的SIM卡槽通止规12以及数量至少为一个的TF卡槽通止规13，所述的TF卡槽通止规13与SIM卡槽通止规12之间的间距尺寸小于一点七毫米，所述的基座1设有结构通孔11。

优选的，本实施例的SIM卡槽通止规12以及TF卡槽通止规13的数量均为四个，均匀对称分布在所述的基座1的顶端。达到基座1的顶端面积利用最大化，工作时，能同时用于四个待检验的手机卡托的检验。

优选的，TF卡槽通止规13与SIM卡槽通止规12之间的间距尺寸为一点六三毫米。用于预设规格的手机卡托的检验。其它实施例中，所述的间距尺寸可为其它数值。

本实施例的SIM卡槽通止规12呈凸台状,SIM卡槽通止规12的顶端面设有用于手机卡托的SIM卡槽部分的内孔尺寸检验的SIM槽凸起121。

本实用新型的另一优选方案，所述的TF卡槽通止规13呈凸台状,包括高度基准测量基台131、高度基准测量基台131的顶端面设有用于手机卡托的TF卡槽部分的内框尺寸检验的TF槽凸起132。

本实用新型设计精巧，结构简洁，使用简便。使用时，用于同时对手机卡托的SIM卡槽部分的内孔尺寸、TF卡槽部分的内框尺寸和TF卡槽部分的高度尺寸(0.432尺寸)进行检验。改变了以往检验工序中需三套量具、多人工参与的状况。本实用新型使用简便，相较以往所需要的三道检验工序节省为一道检验工序，在操作上只需一名人工参与，减小了劳动强度，提升了检验效率。特别适合手机卡托产品的检验使用。

尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列应用，其完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限定特定的细节和这里示出与描述的图例。