一种触摸屏大片测试装置的制作方法

本实用新型涉及触摸屏测试的技术领域，尤其涉及一种触摸屏大片测试装置。

背景技术：

目前触摸屏生产时需要进行导电性能测试，传统的测试装置是采用万用表测试触摸屏，并且是两只手持着万用表的两根表笔测试触摸屏的，这样测试效率非常低，测试出的结果一般不准确，而且人工劳动强度大，还有这种测试装置不稳定，会导致触摸屏功能片激光蚀刻或银浆印批量性异常，大大影响了触摸屏的生产质量。

技术实现要素：

本实用新型针对现有技术存在之缺失，提供一种触摸屏大片测试装置，其能提高测试效率，使触摸屏测试时可以检测出更准确的结果。

为实现上述目的，本实用新型采用如下的技术方案：

一种触摸屏大片测试装置，其包括用于放置触摸屏大片的测试平台、设于测试平台上的测试架、设于测试架上的测试组件和用于显示测试结果的显示器，所述测试架包括设于测试平台上的两块支撑板和设于两块支撑板上端的安装板，所述测试组件包括压板、压板安装座和控制压板上下活动的手柄，所述压板安装座固定安装于安装板上，所述手柄活动安装于压板安装座上端，所述压板下表面设有用于测试触摸屏大片的探针模组，所述压板上表面设有向上伸出的导柱，所述压板安装座下端设有与导柱适配的套孔，所述导柱自下往上穿过套孔与手柄活动连接，所述显示器与压板下表面的探针模组电连接。

作为一种优选方案，所述安装板上设有对压板活动进行导向的两根导杆，所述压板上设有与两根导杆对应的两个通孔。

作为一种优选方案，所述测试组件还包括连接件，所述连接件的一端与导柱活动连接，另一端与手柄活动连接。

作为一种优选方案，所述显示器为电脑。

使用过程如下：把触摸屏大片放到测试平台上，使待测触摸屏位于压板正下方，接着拉动手柄使压板往下活动，使压板下表面的探针模组压于待测触摸屏表面上，这样显示器就会显示出结果，然后拨动手柄使压板往上活动，使下一个待测触摸屏位于压板正下方，接着对下一个待测触摸屏进行测试。

本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，通过在压板下表面设置探针模组，只需拉动手柄使压板的探针模组压于触摸屏表面就能测试出结果，无需用两只手持着万用表的两根表笔测试待测触摸屏，这样提高了测试效率，而且可以检测出更准确的结果，也可以快速的对触摸屏大片进行逐个测试，大大降低了人工劳动强度；另外还可以防止激光蚀刻或银浆丝印批量性异常，大大提高了触摸屏的生产质量。

为更清楚地阐述本实用新型的结构特征、技术手段及其所达到的具体目的和功能，下面结合附图与具体实施例来对本实用新型作进一步详细说明：

附图说明

图1是触摸屏大片的结构示意图；

图2是本实用新型之实施例的组装结构图；

图3是图2中A处的放大示意图；

图4是本实用新型之实施例的另一视角的结构示意图。

附图标识说明：

10、测试平台 11、支撑板

12、安装板 20、压板安装座

21、手柄 22、连接件

23、压板 24、导柱

25、套孔 26、导杆

27、通孔 28、探针模组

30、触摸屏大片 31、触摸屏

40显示器

具体实施方式

如图1-4所示，一种触摸屏大片测试装置，其包括用于放置触摸屏大片30的测试平台10、设于测试平台10上的测试架、设于测试架上的测试组件和用于显示测试结果的显示器40，所述测试架包括设于测试平台10上的两块支撑板11和设于两块支撑板11上端的安装板12，所述测试组件包括压板23、压板安装座20和控制压板23上下活动的手柄21，所述压板安装座20固定安装于安装板12上，所述手柄21活动安装于压板安装座20上端，所述压板23下表面设有用于测试触摸屏大片30的探针模组28，所述压板23上表面设有向上伸出的导柱24，所述压板安装座20下端设有与导柱24适配的套孔25，所述导柱24自下往上穿过套孔25与手柄21活动连接，所述安装板12上设有对压板23活动进行导向的两根导杆26，所述压板23上设有与两根导杆26对应的两个通孔27，所述显示器40与压板23下表面的探针模组28电连接，所述显示器40为电脑，所述测试组件还包括连接件22，所述连接件22的一端与导柱24活动连接，另一端与手柄21活动连接。

使用过程如下：把触摸屏大片30放到测试平台10上，使待测触摸屏31位于压板23正下方，接着拉动手柄21使压板23往下活动，使压板23下表面的探针模组28压于待测触摸屏31表面上，这样显示器40就会显示出结果，然后拨动手柄21使压板23往上活动，使下一个待测触摸屏31位于压板23正下方，接着对下一个待测触摸屏31进行测试。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，故凡是依据本实用新型的技术实际对以上实施例所作的任何修改、等同替换、改进等，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。