一种老化箱的制作方法

本发明涉及吸波研究技术领域，具体地，涉及一种老化箱。

背景技术：

在进行航天电子产品生产验收的过程，对所生产的航天电子产品进行电磁波老化测试是十分重要的检验测试步骤。现有技术中，通过将航天电子产品放置在开阔无人地带(因为航天电子产品所发射的电磁波频率、功率过高，会对人体造成电磁波伤害)，然后通过长时间地开启航天电子产品，并对航天电子产品进行各个相应工作波段的工作测试。在预定的验收老化时间内，如果航天电子产品能够持续正常工作，则说明该航天电子产品在长时间的工作过程中的老化程度符合产品质量验收要求，属于合格产品。但是，如果航天电子产品在工作过程中无法承受老化而导致无法正常工作,则说明该航天电子产品不符合产品质量验收要求，无法达到抵抗老化的预期效果，属于不合格产品。

但是，现有技术中只能通过将航天电子产品放置在开阔无人地带进行测试，满足这样条件要求的选址比较少有，造成测试选址困难，延误对航天电子产品的测试，影响正常生产。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种老化箱，旨在解决现有技术中测试航天电子产品所需的开阔无人地带选址困难的问题。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：提供一种老化箱，包括：多个吸波模块，各吸波模块包括安装板和多个吸波尖锥构件，各吸波尖锥构件包括座体和设置在座体上的吸波锥体，座体连接在安装板上，相邻两个吸波锥体之间相互对齐且相互接触,每个吸波尖锥构件开设有内腔，内腔连通座体和吸波锥体，且内腔由座体处与外部连通；多个支撑框架，各支撑框架上安装有多个吸波模块而形成吸波板，多个吸波模块依次相接地设置，多个吸波板围合形成密闭的吸波箱体；同一个支撑框架上，相邻两个吸波模块之间，其中一个吸波模块的吸波尖锥构件与相邻的另一个吸波模块的吸波尖锥构件相连设置；同一个支撑框架上的各吸波尖锥构件均朝向同一方向延伸。

可选地，吸波箱体为正方体箱体或长方体箱体，吸波箱体的其中一个侧面的吸波板可拆卸地设置，该吸波板作为侧门结构与其余五个吸波板组成的开口框架共同形成密闭的吸波箱体。

可选地，作为侧门结构的吸波板竖直设置，且该吸波板的底侧设置有多个第一车轮。

可选地，老化箱还包括两个相互平行设置的轨道，且两个轨道平行于开口框架的底部的两侧边延伸，多个第一车轮对应地分别设置在两个轨道上。

可选地，老化箱还包括两个相互平行设置的轨道，两个轨道固定设置在地面上，开口框架的底部设置有多个第二车轮，多个第一车轮与多个第二车轮均对应地分别设置在两个轨道上。

可选地，座体和吸波锥体连接固定且两者之间形成两个相对的安装槽，安装板上设置有平行设置的多个连接轨，座体位于相邻两个连接轨形成的容置空间内，且连接轨的卡接部延伸进安装槽内。

可选地，安装板与座体之间涂抹有弹性形变层。

可选地，安装板与座体之间嵌设有用于使卡接部抵紧安装槽槽壁的弹压片。

可选地，座体与吸波锥体之间一体成型。

可选地，座体的横截面形状为矩形，座体的相邻两侧边上设置有凸棱，座体的与凸棱相对的两侧边开有容纳槽，相邻两个吸波尖锥构件之间的凸棱与相应的容纳槽相配合。

本发明中，该老化箱通过应用在吸波尖锥构件中开设空腔而减轻重量，从而方便工作人员进行组装工作，在组装形成吸波箱体之后，工作人员将航天电子产品放置在吸波箱体内部进行测试，从而将航天电子产品所发射的电磁波通过吸波箱体上分布的吸波尖锥构件进行吸波消耗，使航天电子产品所发射的电磁波无法伤害人体健康，使航天电子产品在老化箱中进行持续的老化测试，无需再选择开阔无人地带对航天电子产品进行老化测试，解决了对航天电子产品进行老化测试选址困难的问题。

附图说明

图1是本发明中形成的吸波板的结构示意图；

图2是本发明的老化箱的第一实施例的结构示意图；

图3是本发明的老化箱的第二实施例的结构示意图；

图4是其中一种吸波模块的结构示意图；

图5是图4中A处放大结构示意图；

图6是图4中安装板的结构示意图；

图7是图4中吸波尖锥构件的第一视角的立体结构示意图；

图8是图4中吸波尖锥构件的第二视角的立体结构示意图；

图9是另外一种吸波模块的结构示意图；

图10是图9中吸波尖锥构件的结构示意图；

图11是图9中相邻两个吸波尖锥构件的配合结构示意图；

图12是图9中吸波尖锥构件和安装板之间的装配结构示意图；

图13是图12中弹压片的结构示意图；

图14是吸波模块的实施例的吸波尖锥构件的材料反射率曲线。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者间接连接至该另一个元件上。

还需要说明的是，第一实施例中的左、右、上、下等方位用语，仅是互为相对概念或是以产品的正常使用状态为参考的，而不应该认为是具有限制性的。

如图1和图2所示，本发明第一实施例的老化箱包括多个吸波模块100和多个支撑框架200，各吸波模块100包括安装板10和多个吸波尖锥构件20，各吸波尖锥构件20包括座体21和设置在座体21上的吸波锥体22，座体21连接在安装板10上，相邻两个吸波锥体22之间相互对齐且相互接触,每个吸波尖锥构件20开设有内腔202，内腔202连通座体21和吸波锥体22，且内腔202由座体21处与外部连通，各支撑框架200上安装有多个吸波模块100而形成吸波板，多个吸波模块100依次相接地设置，多个吸波板围合形成密闭的吸波箱体，同一个支撑框架200上，相邻两个吸波模块100之间，其中一个吸波模块100的吸波尖锥构件20与相邻的另一个吸波模块100的吸波尖锥构件20相连设置，且同一个支撑框架200上的各吸波尖锥构件20均朝向同一方向延伸。

通过将各个吸波尖锥构件20按照矩形阵列地分布在安装板10上形成能够灵活搬运、组装的吸波模块100，然后将多个吸波模块100拼接在支撑框架200上形成吸波板，如此便能够通过将所形成的多块吸波板进行围合设置，从而装配形成一吸波箱体，为了方便工作人员进行组装工作，因而在吸波尖锥构件20中开设内腔202以减轻所成型的吸波尖锥构件20的重量，从而方便工作人员进行装配，在对航天电子产品进行测试的过程中，将航天电子产品放置在吸波箱体内部，当航天电子产品启动而发出强烈的电磁波，然后通过吸波箱体上布置的吸波尖锥构件20进行吸波，使得航天电子产品所发出的电磁波被吸波箱体所隔离，使航天电子产品所发射的电磁波无法伤害人体健康，使航天电子产品在老化箱中进行持续的老化测试，无需再选择开阔无人地带对航天电子产品进行老化测试，解决了对航天电子产品进行老化测试选址困难的问题。

在第一实施例中，吸波箱体优选为正方体箱体或长方体箱体，吸波箱体中的其中一个侧面的吸波板可拆卸地设置，该吸波板作为侧门结构与其余五个吸波板组成的开口框架共同形成密闭的吸波箱体。在工作人员对航天电子产品进行老化测试过程中，通过将侧门结构的吸波板拆卸开，然后将航天电子产品放进吸波箱体内部，再将侧门结构的吸波板将开口框架的开口密封住之后，便可对航天电子产品进行老化测试。当然，吸波箱体也可以是其他形状的立体结构。

第一实施例的各个吸波尖锥结构20的吸波锥体22均为四棱锥体，这样，相邻两个吸波锥体22之间的相对面形成对电磁波的有效反射面，在不断反射电磁波同时也在不断吸收消耗电磁波能量，达到吸波消能的目的。

如图4至图8所示，其为本发明提供的其中一种吸波模块。在对吸波尖锥构件20与安装板10进行连接的过程中，由于座体21和吸波锥体22连接固定且两者之间形成两个相对的安装槽201，安装板10上设置有平行设置的多个连接轨11，座体21位于相邻两个连接轨11形成的容置空间内，且连接轨11的卡接部110延伸进安装槽201内。这样，使得吸波尖锥构件20装配在在安装板10上，并且同连接轨11与安装槽201之间形成定位，因而不会造成吸波尖锥构件20错位连接在安装板10上。

在第一实施例中，为了保证座体21的底部与安装板10之间的导热性，以及进一步加强座体21与安装板10之间的连接强度，因此，安装板10与座体21之间涂抹有弹性形变层(未图示)。优选地，弹性形变层为硅橡胶层，硅橡胶层由于具有形变弹性，在吸波尖锥结构20安装在安装板10上之后，硅橡胶层能够使吸波尖锥结构20与安装板10卡接部110抵接紧密，从而在搬运组装完成的吸波模块过程中，吸波尖锥结构20之间、以及吸波尖锥结构20与安装板10之间不会发生碰撞而使得吸波模块损坏而失效或导致吸波效果不理想。优选地，第一实施例选用GD414-C硅橡胶对安装板10和座体21的底部之间进行填充涂抹形成硅橡胶层。

在制造第一实施例的吸波锥体22的过程中，第一实施例应用烧结工艺进行制造，采用耐高温和低放气性的SiC吸波材料经1000℃以上高温烧结，并且座体21与吸波锥体22之间一体成型而成。

如图9至图13所示，其为本发明提供的另外一种吸波模块。在吸波模块中，吸波尖锥构件20与前一种提供的吸波模块的吸波尖锥构件20相比较，该吸波尖锥构件20所装配的吸波箱体存在以下不同之处。座体21的横截面形状为矩形，座体21的相邻两侧边上设置有凸棱121，座体21的与凸棱121相对的两侧边开有容纳槽122，相邻两个吸波尖锥结构20之间的凸棱121与相应的容纳槽122相配合。当各个吸波尖锥结构20安装在安装板10上相互配合形成吸波模块之后，由于相邻连个吸波尖锥结构20之间的凸棱121与相应的容纳槽122相配合而将相邻两个吸波尖锥结构20之间的缝隙填充阻隔，使得电磁波无法从相邻两个吸波尖锥结构20之间穿过而不会产生漏波情形，因而能够将电磁波能量更加彻底地吸收消耗掉，有效提高了吸波效率。

在第一实施例的老化箱应用第二种吸波尖锥构件20所装配的吸波箱体，安装板10与座体21之间设置有嵌设有用于使卡接部110抵紧安装槽201槽壁的弹压片3。如图12和图13所示，该弹压片3包括连接片31和弹压脚32，并且连接片31与弹压脚32为一体成型制造，且弹压片3由金属弹性材料制造，当然也可以是其他弹性材料。在该弹压片3中，两个弹压脚32平行且与连接片31的两端垂直连接。在将吸波尖锥结构20安装在安装板10上过程中，座体21的底部与弹压脚32相抵接，连接片31支撑在安装板10上，从而借助产生的弹力使得卡接部110抵紧安装槽201的槽壁，如此便能够将吸波尖锥结构20稳定地组装在安装板10上，从而在工作人员搬运组装完成的吸波模块过程中，吸波尖锥结构20之间、以及吸波尖锥结构20与安装板10之间不会发生碰撞而使得吸波模块损坏而失效或导致吸波效果不理想。

除上述结构不同之外，第二种吸波尖锥构件20所装配的吸波箱体与第一种吸波尖锥构件20所装配的吸波箱体的其余结构均相同，因而在此不再赘述。

如图3所示，本发明还提供了第二实施例的老化箱。在第二实施例中，与第一实施例的老化箱相比较，第二实施例的老化箱具有以下不同之处。作为侧门结构的吸波板竖直设置，并且通过设置多个加强肋以稳定该吸波板结构，并且该吸波板的底侧设置有多个第一车轮301，这样工作人员即可推动该吸波板形成的侧门结构，在将航天电子产品安装在老化箱内部空间的过程中比较便利。进一步地，老化箱还包括两个相互平行设置的轨道303，且两个轨道303平行于开口框架的底部的两侧边延伸，多个第一车轮301对应地分别设置在两个轨道303上，如此，工作人员只要顺着轨道303对侧门结构的吸波板进行推移，即可准确地将开口框架的靠口封堵住，然后将该吸波板与其余吸波板进行密封连接完成，即可对航天电子产品进行老化测试。由于对航天电子产品的测试工作在固定的测试车间中进行，因而老化箱的放置位置也相对固定，此时，可以将两个轨道303固定设置在地面上，并且开口框架的底部设置有多个第二车轮302，多个第一车轮301与多个第二车轮302均对应地分别设置在两个轨道303上，这样，工作人员即可对侧门结构的吸波板进行移动或者对开口框架进行移动，从而实现双向移动安装。除上述结构不同之外，第二实施例的其余结构均与第一实施例相同，在此不再赘述。

吸波锥体22的电磁波反射率采用GJB2038A-2011《雷达吸波材料反射率测试方法》中RAM弓形测试法进行测试，即将发射天线与接收天线对称地置于圆弧上，圆弧所在平面与吸波材料所在的平面互相垂直。由发射天线对吸波材料产生激励，其反射信号被接收天线拾取，再用理想的导电板取代吸波材料，测得其反射信号，最后将前后两种情况下的反射信号相比较。通过将发射天线置于圆弧上不同的位置来改变入射角，与此同时接收天线亦做相应的移动。在微波暗室内，天线装置在弓形框上，实现自由空间的RAM反射率测量。测试时将吸波模块拼装成150*150的标准模块，将模块放置在样板支架上进行测试，测试结果详见图14。要求吸波锥体22清洁无粉末，结构强度高。

以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。