本发明涉及谷物水分测量技术领域，特别涉及一种电阻值水分分析仪的误差修整方法。
背景技术：
谷物含水率是特定谷物中包含的水分与重量的比值，是影响谷物品质的一个重要因素。实际应用中，谷物含水率可以决定了谷物贮藏的安全性，也同样谷物加工工艺与流通过程需要用到。例如在谷物的加工过程需要进行干燥，干燥是要达到减少谷物中水分含量的目的，通常是采用同热风或者直接对谷物进行加热，以降低谷物的含水率，但是干燥到什么程度可以停止，需要由获得的谷物含水率进行决定。从而，在对谷物的加工过程中可以不影响谷物营养成分及品质。
现有的电阻式谷物水分测量装置和方法采用电压法测量谷物电阻，但由于谷物电阻很大，特别在谷物含水量较低时，使得测量信号弱、信噪比低、不利于信号传输，且谷物所处环境对谷物含水率的影响并没有考虑进去，就会导致测量结果不真实、不准确。
可见现有的在线电阻式谷物水分测量装置不能准确的获得谷物的含水率。
技术实现要素：
本发明所要解决的技术问题是提供一种电阻值水分分析仪的误差修整方法，通过在目标水分值中设置水分值的修正值，通过修正值获得修正后的水分值，以进一步提高水分值的测量结果。
为实现上述目的，本发明提供以下的技术方案：一种电阻值水分分析仪的误差修整方法，应用于水分分析仪的主控器，所述方法包括步骤：
接收目标参数值中的第一水分修订值；
接收水分测量请求，控制电机转动碾压待检测谷物，并获得所述待检测谷物的水分值；
根据所述第一水分修订值和所述水分值，获得目标水分值。
可选的，所述方法还包括：
对所述待检测谷物所在环境温度进行温度检测，获得温度值；
根据所述温度值，设定第二水分修订值；
所述根据所述第一水分修订值和所述水分值，获得目标水分值，包括：
根据所述第一水分修订值、第二水分值和所述水分值，获得目标水分值。
可选的，所述方法还包括：
将所述目标水分值发送至显示设备，以通过所述显示设备对所述待检测谷物的所述目标水分值进行显示，供用户查看。
可选的，所述对所述待检测谷物所在环境温度进行温度检测，获得温度值，包括：
利用温度传感器，对所述待检测谷物所在环境温度进行温度检测，获得温度值。
可选的，所述根据所述第一水分修订值、第二水分值和所述水分值，获得目标水分值，包括：
如果所述温度值高于预设温度值，则会根据所述温度值和所述预设温度值的所组成的水分修正公式，获得目标水分值；
所述修正公式具体表达为：
m＝m水分值-p1*(t1-t2)-p2
其中，所述m为修正后的所述目标水分值，m水分值为所述水分值，p1为预设的参数值，t1所述温度值，t2为预设参数值，p2为第一水分修订值；
如果所述温度值低于预设温度值，则会根据所述温度值和所述预设温度值的所组成的水分修正公式，获得目标水分值；
所述修正公式具体表达为：
m＝m水分值+p1*(t2-t1)+p2
其中，所述m为修正后的所述目标水分值，m水分值为所述水分值，p1为预设的参数值，t1所述温度值，t2为预设参数值，p2为第一水分修订值。
与现有技术相比，本发明的一种电阻值水分分析仪的误差修整方法具有以下有益效果：
(1)、本发明的一种电阻值水分分析仪的误差修整方法，本发明采用主控器接收控制面板发送过来的第一水分修订值，通过人为的设置水分修正值，能够测量环境修正测量结果，进一步提高测量结果的准确性；
(2)、本发明的一种电阻值水分分析仪的误差修整方法，通过第一修正值进一步结合通过测量温度差和实际温度带来的第二修正值，进一步提高测量结果的准确性。
附图说明
图1是本发明的一种电阻值水分分析仪的误差修整方法的流程示意图；
具体实施方式
为使发明的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中及实施例，对本发明技术方案进行进一步详细说明。但是应该理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明技术方案，并不用于限制本发明技术方案的范围。
参见图1，图1是本发明的一种电阻值水分分析仪的误差修整方法的流程示意图，其特征在于，应用于水分分析仪的主控器，所述方法包括步骤：
s101，接收目标参数值中的第一水分修订值；
需要说明的是，可以通过人机交互界面上的触控面板或者按键选定待检测谷物类别，示例性的，可以选择的谷物类型为玉米、小麦、大豆等等。根据选择的类型，示例性的，为大豆，设定与测量大豆相关的目标参数，设置完毕后点击开始按键为发送水分测量的命令，本发明实施例中用于执行电阻式水分分析仪的检测方法的模块或者设备接收到命令以后控制电机的旋转，例如通过控制电机正转将待检测谷物放入待检测区域，以备进行接下来的检测工作。
此外，目标参数还可以包括水分设定为根据选择的谷物类型以及需要将谷物烘干所达到的水分值进行设定，示例性的，对大豆的烘干，需要达到的水分值为不大于12％即可，当水分值达到12％时，即为对大豆停止进行烘干的条件。可以理解的是，当继续进行水分烘干的话可能会影响大豆进一步的工艺处理效果，且能够避免长时间对大豆进行烘干造成的资源浪费。
本发明实施例中，可以在目标参数值中包含第一修订值，用于对水分值进行修正，示例性的，可以根据实际应用中对谷物的需求、或者设备的差异性、以及设备所运行的环境等因素进行设定。例如，设定第一修订值为+1.2％,表示在所获得的测量结果上增加0.12的水分值；例如，设定第一修订值为-1.2％,表示在所获得的测量结果上减掉0.12的水分值；本发明实施例中的修订值的大小仅仅是示例性的，不构成对本发明实施例的具体限定。
s102，接收水分测量请求，控制电机转动碾压待检测谷物，并获得所述待检测谷物的水分值；
可以理解的是，在通过电机将待检测谷物放入待检测区域以后，还可以通过电机控制碾压轮对待检测谷物进行碾压，在碾压过程中水分传感器可以直接测量检测区域中不同检测点的谷物的水分值，可以理解的是，通过直接获得的方式获得谷物水分值比较片面，因为获得的是局部的水分值，且获得的方式不够准确，所以本发明实施例中，可以将水分传感器安装在水分仪的两个碾压轮之间，以用来碾压待测谷物，并通过该碾压轮在碾压过程中获得的数值，实时对水分的采集，获得采集数据。
可以理解的是，电机的碾压轮在碾压的过程中能够获得实时变化的电流值，另外由物理学知识可以得到，当谷物的电阻值为已知时，即可得到流经谷物的电压值(电压值为电阻值与电流值的乘积)。
示例性的，具体的电压值和目标水分值的关系如下：
其中，所述f(z)为所述电压值，pn根据所述待检测谷物的检测环境设定的变量，z为谷物的目标水分值。那么在知道pn的情况下即可得到水分值。
示例性的，得得到的电压值为0.45v，在预设的pn的情况下，得到水分值为12.15％。
s103，根据所述第一水分修订值和所述水分值，获得目标水分值。
本发明实施例中，假设设定第一修订值为+1.2％，得到的水分值为12.15％，那么最终的目标水分值为12.15％++1.2％＝13.35％。
可选的，所述方法还包括：
s104，对所述待检测谷物所在环境温度进行温度检测，获得温度值；
s105，根据所述温度值，设定第二水分修订值；
本发明实施例中，进行温度检测可以通过温度传感器进行，具体的温度传感器连接电路可以为：传感器连接通过反向放大器与主控芯片，即单片机相连，将得到的温度数据发送至单片机。单片机根据温度值设定第二修正值，具体的，单片机中可以预先存储有第二修正值的计算公式，在获得温度值之后即可获得第二修正值。
示例性的，通过试验研究，电阻与水分的关系受到温度的影响，在常温-10～40℃的条件下，温度每升高1℃对电阻值的影响相当于其水分含量增加0.1％，即0.1％(湿度)/℃，因此本发明采用温度补偿处理实现水分的精准测量。可以一次设置温度与待检测谷物测量结果的补偿函数。
具体的s104可以在s101和s102之前也可以在s101和s102之后，或者与s101和s102同时进行，本发明实施例不做具体限定。
所述s103具体为s103a：根据所述第一水分修订值、第二水分值和所述水分值，获得目标水分值。
进一步地，所述方法还包括：将所述目标水分值发送至显示设备，以通过所述显示设备对所述待检测谷物的所述目标水分值进行显示，供用户查看。
本发明实施例中，所述对所述待检测谷物所在环境温度进行温度检测，获得温度值，包括：
利用温度传感器，对所述待检测谷物所在环境温度进行温度检测，获得温度值。
在本发明的一个实施方式中，所述根据所述第一水分修订值、第二水分值和所述水分值，获得目标水分值，包括：
在本发明的另一个实施方式中，如果所述温度值高于预设温度值，则会根据所述温度值和所述预设温度值的所组成的水分修正公式，获得目标水分值；
所述修正公式具体表达为：
m＝m水分值-p1*(t1-t2)-p2
其中，所述m为修正后的所述目标水分值，m水分值为所述水分值，p1为预设的参数值，t1所述温度值，t2为预设参数值，p2为第一水分修订值；
如果所述温度值低于预设温度值，则会根据所述温度值和所述预设温度值的所组成的水分修正公式，获得目标水分值；
所述修正公式具体表达为：
m＝m水分值+p1*(t2-t1)+p2
其中，所述m为修正后的所述目标水分值，m水分值为所述水分值，p1为预设的参数值，t1所述温度值，t2为预设参数值，p2为第一水分修订值。
应用本发明实施例，可以根据第一修正值和第二修正值，对水分值进行修订，最终得到目标水分值，通过这一过程可以有效的减少周围环境以及不可控因素对水分值造成的测量偏差，通过人为的设定或者预先存储在单片机中的公式计算得到修正值，最终得到目标水分值。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。