本实用新型涉及电子器件测试技术领域，尤其涉及一种电子器件恒温测试装置。
背景技术：
为了确保电子器件的抗老化性能，在出厂前均需要进行恒温测试，现有的恒温测试大都采用简单的恒温箱进行，而现有的恒温箱虽然可以在一定范围内实现恒温控制，但是，由于其加热源较为集中，只能用于小批量电子器件的恒温测试，对于大批量电子器件的测试则容易出现局部高温或者局部低温的情况，影响测试精度，因此，开发设计一种能够适用于大批量电子器件恒温测试的装置是本领域急需解决的问题。
技术实现要素：
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种电子器件恒温测试装置，将恒温箱分割成上箱体和下箱体，同时将上箱体和下箱体分割成左右两个空间，安装在上箱体和下箱体内的暖风机出口相反设置，左侧风扇和右侧风扇的安装方向也相反，在四个空间内构成可以循环的恒温热流，避免局部出现高温或者低温的情况，确保测试精度。
为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案是：一种电子器件恒温测试装置，包括框架、上箱体、下箱体、上部暖风机、下部暖风机、左侧风扇和右侧风扇，所述框架为采用角钢焊接的长方体框架，长方体框架内采用隔板分割成上箱体和下箱体，所述上箱体和下箱体中部均使用竖向隔板分割成左右两个空间，上箱体的竖向隔板和下箱体的竖向隔板中部分别安装上部暖风机和下部暖风机，所述上部暖风机的出风口向左安装，所述下部暖风机的出风口向右安装，左侧风扇和右侧风扇分别安装在隔板两端，左侧风扇出风口向下安装，右侧风扇出风口向上安装。
所述上部暖风机和下部暖风据均为超导PTC暖风机。
所述框架下部安装三对万向轮。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于：将恒温箱分割成上箱体和下箱体，同时将上箱体和下箱体分割成左右两个空间，安装在上箱体和下箱体内的暖风机出口相反设置，左侧风扇和右侧风扇的安装方向也相反，在四个空间内构成可以循环的恒温热流，避免局部出现高温或者低温的情况，确保测试精度。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图；
其中：1、右侧风扇；2、下部暖风机；3、下箱体4、上箱体；5、框架。
具体实施方式
下面结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似推广，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。
如图1所示，本实用新型公开了一种电子器件恒温测试装置，包括框架5、上箱体4、下箱体3、上部暖风机、下部暖风机2、左侧风扇和右侧风扇1，所述框架5为采用角钢焊接的长方体框架5，长方体框架5内采用隔板分割成上箱体4和下箱体3，所述上箱体4和下箱体3中部均使用竖向隔板分割成左右两个空间，上箱体4的竖向隔板和下箱体3的竖向隔板中部分别安装上部暖风机和下部暖风机2，所述上部暖风机的出风口向左安装，所述下部暖风机2的出风口向右安装，左侧风扇和右侧风扇1分别安装在隔板两端，左侧风扇出风口向下安装，右侧风扇1出风口向上安装；所述上部暖风机和下部暖风据均为超导PTC暖风机；所述框架5下部安装三对万向轮，三对万向轮分别安装在框架下部两端和中部，其目的是便于装置移动。
在具体应用过程中，本实用新型通过将恒温箱分割成上箱体和下箱体，同时将上箱体和下箱体分割成左右两个空间，安装在上箱体和下箱体内的暖风机出口相反设置，左侧风扇和右侧风扇的安装方向也相反，在四个空间内构成可以循环的恒温热流，避免局部出现高温或者低温的情况，确保测试精度。