技术总结
本实用新型涉及电子测试技术领域，尤其是一种精密测试探针。它包括由纵向截面形状呈横置的“U”形的第一弯曲部和/或纵向截面形状呈“S”形的第二弯曲部连续衔接而成的弹性缓冲部、由弹性缓冲部的顶端沿纵向方向向上作弯折后形成的检测端部及由弹性缓冲部的底端沿纵向方向向下作弯折后形成的接触端部。本实用新型采用一体式伸缩结构体，其端面与被测物体之间的接触可采用面接触或多点接触，可有效避免探针与被测物体之间出现强力的硬性接触，以保证被测物体不会受到损伤；同时，探针可直接装配于测试治具上进行使用，不但无需繁琐的装配操作，而且加工方便快捷，有利于减少测试治具的组成部件的数量，有效降低测试探针的使用及维护成本。
技术研发人员：王雪峰
受保护的技术使用者：健坤精密科技（深圳）有限公司
文档号码：201720979839
技术研发日：2017.08.04
技术公布日：2018.02.06