支撑装置及测量装置的制作方法

本实用新型涉及深度测量技术领域，具体而言，涉及一种支撑装置及测量装置。

背景技术：

使用深度尺可以对某些设备内部的深度进行测量，例如可以使用深度尺对尺寸较大的机箱内部的深度进行测量。在使用深度尺对这些尺寸较大的设备进行深度测量时，由于深度尺没有可依靠的结构，需要通过人工托举深度尺完成度测量，导致测量得到的数据会存在很大的误差。甚至在有些特定场合下，由于人工托举的操作难度极大，可能无法完成深度测量。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型提供了一种支撑装置和测量装置，可以实现对深度尺的支撑，完成对待测设备的深度测量。

本实用新型提供的技术方案如下：

一种支撑装置，用于与深度尺配合测量待测设备的深度，所述深度尺包括尺头和尺身，该支撑装置包括：

用于支撑所述尺头的第一支架；其中：

所述第一支架包括架体和第一支撑块，所述架体上开设有可穿过所述尺身的通槽，所述第一支撑块可活动连接在所述架体上并可沿所述通槽滑动，所述第一支撑块用于承托所述尺头。

进一步的，所述第一支撑块包括分别设置在所述架体两侧的前支撑块和后支撑块，所述前支撑块和后支撑块通过第一可调锁紧机构连接。

进一步的，所述第一支架两端开设有多个与所述待测设备上固定连接的固定连接部；

所述固定连接部包括设置在所述架体两端的多个条形开孔，以通过所述条形开孔调节所述第一支架与所述待测设备的固定位置。

进一步的，所述第一支架还包括设置在所述架体上的锁定机构，该锁定机构位于所述第一支撑块承托所述深度尺的一侧，该锁定机构用于与所述第一支撑块配合，将所述尺头固定在所述第一支撑块和所述锁定机构之间。

进一步的，该支撑装置还包括与所述第一支架配合，用于支撑所述尺身的第二支架；所述第二支架包括支撑杆和第二支撑块，所述第二支撑块可滑动设置在所述支撑杆上。

进一步的，所述支撑杆包括第一支撑柱和第二支撑柱，第一支撑柱和第二支撑柱通过调节螺杆连接，该调节螺杆用于调节第一支撑柱和第二支撑柱之间的相对距离以调整整个支撑杆的高度。

进一步的，所述第二支撑块包括滑块以及固定连接在该滑块上的尺身支撑架，所述滑块的一侧设置有用于容纳所述尺身支撑架的容置部以固定所述尺身支撑架；

所述第二支撑块还包括锁紧件，所述锁紧件位于所述滑块靠近所述尺身支撑架的一端，将所述尺身支撑架锁紧固定在滑块与锁紧件之间。

进一步的，所述第二支撑块一侧开设有螺纹孔，所述螺纹孔用于设置第二可调锁紧机构，以通过所述第二可调锁紧机构使所述第二支撑块在所述支撑杆上活动或固定。

进一步的，所述支撑杆一端设置有用于吸附在所述待测设备的表面的磁性底座。

本实用新型还提供了一种测量装置，包括上述深度尺和支撑装置。

本申请实施例提供的支撑装置可以实现对深度尺的支撑，在进行深度测量时，第一支架固定在待测设备一侧，深度尺可以放置在第一支架上，通过调整第一支撑块的位置可以适配对待测设备不同位置的深度测量。使用该支撑装置无需人工托举深度尺，可以为深度尺的测量提供固定的基准平面。该支撑装置结构简单，装配简便，使用方便，可以适应如机箱等设备不同位置的深度测量。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种支撑装置与深度尺配合的示意图。

图2为本实用新型实施例提供的一种支撑装置的爆炸示意图。

图3为本实用新型实施例提供的一种支撑装置的装配示意图。

图4为本实用新型实施例提供的一种支撑装置的侧视示意图。

图5为现有技术中使用深度尺测量待测设备深度的示意图。

图6为本实用新型实施例提供的另一种支撑装置的示意图。

图7为本实用新型实施例提供的另一种支撑装置与待测设备的组合示意图。

图8为本实用新型实施例提供的另一种支撑装置与深度尺的组合示意图。

图9为本实用新型实施例提供的另一种支撑装置中第二支架的示意图。

图10为本实用新型实施例提供的另一种支撑装置中第二支撑块的示意图。

图标：101-第一支架；200-深度尺；201-尺头；202-尺身；300-待测设备；110-架体；111-通槽；120-第一支撑块；121-前支撑块；122-后支撑块；130-第一可调锁紧机构；140-固定连接部；141-条形开孔；142-螺钉；150-锁定机构；102-第二支架；210-支撑杆；211-第一支撑柱；212-第二支撑柱；213-调节螺杆；220-第二支撑块；221-滑块；222-尺身支撑架；223-锁紧件；230-第二可调锁紧机构；240-磁性底座。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本实用新型的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

本申请实施例提供了一种支撑装置，如图1至图3所示，该支撑装置用于与深度尺200配合测量待测设备300的深度，所述深度尺200包括尺头201和尺身202，该支撑装置包括第一支架101。

第一支架101用于支撑所述尺头201，所述第一支架101包括架体110和第一支撑块120，所述架体110上开设有可穿过所述尺身202的通槽111，所述第一支撑块120可活动连接在所述架体110上并可沿所述通槽111滑动，所述第一支撑块120用于承托所述尺头201。

本申请实施例中的深度尺200可以通过目测读数或电子读数测量待测设备300的深度。待测设备300可以为机箱或其他设备。以机箱为例，在实际使用中，可以利用深度尺200测量机箱中预设位置的深度数据。使用深度尺200进行测量时，需要先确定一基准平面，可以将深度尺200的尺头201固定，尺头201靠近待测设备300的一侧即为基准平面。在测量大尺寸机箱内的深度时，如果待测位置靠近机箱的侧壁，深度尺200的尺头201可以抵靠在机箱的侧壁上，以机箱的侧壁作为支撑点以确定基准平面。如图5所示，在测量机箱中间位置的深度时，若只使用深度尺200而不使用所述支撑装置，深度尺200的尺头201就没有可以抵靠的支撑点，无法提供固定的基准平面，只能通过人工进行尺头201的固定，会带来一定的误差。

第一支架101中架体110的尺寸可以根据待测设备300的尺寸确定。例如，在进行大尺寸机箱的深度测量时，架体110的高度可以大于或等于机箱开口一侧的高度。架体110可以固定在机箱开口的一侧，根据待测位置调整第一支撑块120的位置，第一支撑块120即可固定在通槽111的某一位置。深度尺200的尺身202可以穿过通槽111，使尺身202的一端抵靠在待测位置。深度尺200的尺头201可以放置在第一支撑块120上，尺头201靠近待测设备300的一侧抵靠在架体110上。由第一支架101形成对深度尺200的支撑，架体110与深度尺200接触的一面即可作为深度测量的基准平面，进而可以完成对待测设备300上待测位置的深度测量。

在本申请实施例中，架体110的形状可以为长方体，架体110上开设的通槽111的长度可以根据待测设备300的测量需要确定，通槽111的宽度可以根据深度尺200的尺寸确定，以允许深度尺200的尺身202穿过。第一支撑块120与通槽111的连接方式可以为滑动连接，也可以是其他的连接形式。

在一种具体实施方式中，再如图2至图4所示，所述第一支撑块120包括分别设置在所述架体110两侧的前支撑块121和后支撑块122。所述前支撑块121和后支撑块122通过第一可调锁紧机构130连接。通过第一可调锁紧机构130可以调节前支撑块121和后支撑块122之间连接的紧密程度。在需要调整第一支撑块120在通槽111中的位置时，通过第一可调锁紧机构130将前支撑块121和后支撑块122之间的连接调松，而后将前支撑块121和后支撑块122调整到需要的位置，再通过第一可调锁紧机构130，将前支撑块121和后支撑块122之间的连接调紧，使前支撑块121和后支撑块122固定在通槽111两侧。可以理解的是，第一可调锁紧机构130可以为蝶形螺钉，前支撑块121和后支撑块122上可以分别开设与蝶形螺钉匹配的螺孔，或者前支撑块121上可以开设通孔，后支撑块上开设与蝶形螺钉匹配的螺孔。通过握持蝶形螺钉的两翼旋转，即可实现前支撑块121和后支撑块122的松紧调节。

在一种具体实施方式中，再如图3所示，所述第一支架101两端开设有多个与所述待测设备300固定连接的固定连接部140。通过固定连接部140可以将第一支架101与待测设备300固定连接，为待测设备300的深度测量提供更稳定的支撑。详细的，待测设备300可以为机箱，机箱开口一侧的侧板上可以设置多个固定孔，固定连接部140可以包括设置在架体110两端的多个条形开孔141以及多个螺钉142，条形开孔141的开设位置可以与固定孔相匹配，使用螺钉142穿过条形开孔141与固定孔连接，实现第一支架101和机箱的连接。通过设置条形开孔141可以调节第一支架101在机箱上的连接位置，以适应不同尺寸的机箱或机箱上不同位置设置的固定孔。

在另一种具体实施方式中，如图6所示，该所述第一支架101还包括设置在所述架体110上的锁定机构150。该锁定机构150位于所述第一支撑块120承托所述深度尺200的一侧，该锁定机构150用于与所述第一支撑块120配合，将所述尺头201固定在所述第一支撑块120和所述锁定机构150之间。锁定机构150的结构可以和第一支撑块120的结构相同或不同，该锁定机构150在采用与第一支撑块120相同的结构时，可以通过先确定第一支撑块120的位置，将第一支撑块120的位置固定，再将深度尺200的尺头201放置在第一支撑块120上。然后调整锁定机构150的位置并固定，将尺头201夹持在锁定机构150和第一支撑块120之间。通过第一支撑块120和锁定机构150的相互配合实现对深度尺200的夹持固定。

在一种具体实施方式中，如图7和图8所示，本实施例提供的支撑装置还包括与所述第一支架101配合，用于支撑所述尺身202的第二支架102。所述第二支架102包括支撑杆210和第二支撑块220，所述第二支撑块220可滑动设置在所述支撑杆210上。

在使用第一支架101对深度尺200进行支撑时，尺头201可以放置在第一支撑块120上，从而实现对待测设备300的深度测量，但此时由于只有尺头201处于被支撑的状态，可能出现支撑不稳的情况。通过设置第二支架102，可以与第一支架101配合形成对深度尺200的稳定支撑。第二支架102的长度可以根据待测设备300内部的尺寸确定，通过设置在支撑杆210上的第二支撑块220形成对尺身202的支撑。

在进行待测设备300的深度测量时，例如在进行机箱的深度测量过程中，可以根据待测位置确定第二支架102的设置位置，将第二支架102设置在机箱内部，再调节第二支撑块220的位置并固定。同时将第一支架101固定在机箱开口一侧，使第一支架101的设置位置与第二支架102的位置相配合。深度尺200的尺身202穿过第一支架101架体110上的通槽111，搁置在第二支架102的第二支撑块220上。然后，再调节深度尺200的位置，使深度尺200尺身202的一端抵靠在机箱内待测位置处。然后，再调节第一支撑块120在通槽111内的位置，使深度尺200的测量状态处于水平状态。在进行第一支撑块120的调节时，可以通过滑动第一支撑块120，寻找深度尺200的尺头201可以与第一支撑块120无缝隙贴合的位置，即确定第一支撑块120的位置。然后，使用第一可调锁紧机构130将第一支撑块120的位置固定，使用深度尺200进行预设位置深度的测量。在进行深度测量时，深度尺200得到的深度数据为待测设备300的深度和第一支架101的厚度之和。使用读取得到的深度数据减去第一支架101的厚度即可得到待测设备300的深度。

在一种具体实施方式中，如图9所示，所述支撑杆210可以包括第一支撑柱211和第二支撑柱212。第一支撑柱211和第二支撑柱212通过调节螺杆213连接，该调节螺杆213用于调节第一支撑柱211和第二支撑柱212之间的相对距离以调整整个支撑杆210的高度。为了适应不同尺寸的待测设备300，可以通过调节螺杆213调节两个支撑柱的距离使支撑杆210具有不同的长度。由于第二支架102需要安装在待测设备300内部，在进行安装之前，支撑杆210的高度需要小于待测设备300内部的高度，以便可以顺利放入待测设备300内。在将支撑杆210放入待测设备300内时，先通过该调节螺杆213调节第一支撑柱211和第二支撑柱212之间的距离，使支撑杆210的长度小于待测设备300内部高度。将支撑杆210放置在预设位置后，通过旋转第一支撑柱211或第二支撑柱212，使支撑杆210的长度变长，进一步使第二支架102可以稳定的抵靠并固定在待测设备300内部，为深度尺200提供支撑。调节螺栓可以采用双阳螺杆，第一支撑柱211和第二支撑柱212上开设有与双阳螺杆匹配的螺孔。

在一种具体实施方式中，如图9和图10所示，所述第二支撑块220包括滑块221以及固定连接在该滑块221上的尺身支撑架222，所述滑块221的一侧设置有用于容纳所述尺身支撑架222的容置部以固定所述尺身支撑架222。滑块221的形状可以根据实际需要确定，滑块221上可以开设通孔使滑块221能在支撑杆210上滑动，通孔的形状可以与支撑杆210的截面形状相匹配。同时，第二支撑块220一侧可以开设有另一通孔，该通孔用于设置第二可调锁紧机构230，以通过所述第二可调锁紧机构230使所述第二支撑块220在所述支撑杆210上活动或固定。第二可调锁紧机构230可以采用蝶形螺钉，通过旋转蝶形螺钉旋紧或旋送来控制滑块221的位置。尺身支撑架222可以采用Z型支架，尺身202可以放置在该尺身支撑架222上。尺身支撑架222的两端都可以用于放置深度尺200的尺身202，以在不调整第二支架102位置的情况下，扩大深度尺200的测量范围。同时尺身支撑架222的两端可以互为备份，在一端出现损坏时，另一端仍然可以实现对深度尺200的尺身202的支撑。

所述第二支撑块220还可以包括锁紧件223，所述锁紧件223位于所述滑块221靠近尺身支撑架222的一端，用于将尺身支撑架222锁紧固定在滑块221与锁紧件223之间。滑块221上的容置部可以为与尺身支撑架222匹配的凹槽，锁紧件223可以将尺身支撑架222通过螺钉固定在滑块221上。在锁紧件223的固定作用下，尺身支撑架222可以在滑块221上的凹槽内沿凹槽的延伸方向活动，在不调整第二支架102位置的情况下，尺身支撑架222的活动范围更大，支撑范围也更大。

为了方便支撑杆210的放置，在一种具体实施方式中，再如图8所示，所述支撑杆210一端还可以设置有用于吸附在所述待测设备300的表面的磁性底座240。相应地，机箱等设备可以采用铁板、钢板或其他铁磁性材料制成，使得磁性底座240可以通过磁力吸附在机箱内部，以使第二支架102稳定的固定在待测设备300内部。

综上所述，本申请实施例提供的支撑装置可以实现对深度尺200的支撑，在进行深度测量时，深度尺200可以放置在第一支架101上，通过调整第一支撑块120的位置可以适配对待测设备300不同位置的深度测量。无需人工托举深度尺200，为深度尺200的测量提供固定的基准平面。支撑装置结构简单，装配简便，使用方便，可以适应如机箱等设备的深度测量。

本申请实施例还提供了一种测量装置，包括上面所述的深度尺200和支撑装置。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。