自动分析装置的制作方法

本发明涉及进行生化分析的自动分析装置的技术。此外，本发明涉及自动分析装置的容器设置机构、盖板或探针保护器等相关的技术。

背景技术：

在临床检查用的自动分析装置中具有如下生化分析功能：基于光学测定对血液、尿液等生物体试料(有时也被称为检体、样本等)中的成分进行分析。在该自动分析装置中，包括以包含检体、试剂的吸引和喷出在内的动作(有时也记载作分配、取样)为目的的机构。该机构包含探针(有时也被称为喷嘴等)、可动臂。探针的动作被控制使其在水平方向、垂直方向上移动。自动分析装置作为容器设置机构具有例如被旋转驱动的检体盘、试剂盘、反应槽机构的盘。对检体盘设置有检体容器。进行分配动作时，规定的探针(检体喷嘴)从检体盘的对象的检体容器中吸引检体，将该检体喷出至反应槽机构的盘的反应容器内。出于微量分配等目的，探针具有前端细尖的形状。

在自动分析装置的分配动作时，若用户即操作者的手指等与探针的前端部相接触，则可能受伤、感染，还可能由于前端部的污染而对分析产生影响。自动分析装置中，为了在分配动作时确保操作者的安全性等，需要采取措施以降低操作者的身体与探针的前端部接触的风险。作为一种措施，列举有安装探针保护器、盖板等机构。探针保护器是设置于盘的一部分、探针的轨道周边的结构物。探针保护器的主要目的是进行防护，从而在分配动作时限制操作者的身体进入探针的轨道并提醒，使其与探针的前端部不接触。

作为所述自动分析装置和探针保护器等涉及的现有技术例，列举有日本专利特开2006-284609号公报(专利文献1)、日本专利特开2014-149238号公报(专利文献2)。专利文献1中，记载有在自动分析装置中设有检体手触防止板的内容、以及以下内容。操作者用手按住检体手触防止板后，检体手触防止板边旋转边从样本盘上避开，在检测到该避让的情况下，使样本探针不进行移动动作。专利文献2中记载有如下内容：即，即使在操作者的手等被夹在了探针保护器和检体容器架设机构之间时，也能使手等不会受到进一步的压迫，停止检体取样机构和检体容器架设机构的动作。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2006－284609号公报

专利文献2：日本专利特开2014－149238号公报

技术实现要素：

发明所要解决的技术问题

上述自动分析装置中，从确保安全性等的观点来看，要求安装探针保护器。现有技术例的自动分析装置中，在通常动作时以安装了探针保护器的状态进行包含分配动作的分析动作。然而，操作者有时出于对容器进行操作等目的而会拆卸探针保护器。例如，有时会发生希望紧急进行分析的检体(有时被记载为紧急检体)。在该情况下，操作者有时会进行将该检体的容器追加设置于检体盘中空闲的部位的操作。在检体盘上探针保护器覆盖遮挡的区域中尤其难以设置检体容器。因此，操作者有时会拆卸探针保护器后将检体容器设置于该区域。像这样，存在有在自动分析装置的动作中期望进行容器的操作这样的需求。现有技术例的设有探针保护器的自动分析装置中，虽然满足了确保安全性的方面，但对于动作中的容器的操作而言，则无法进行或是难以进行。即，在用户的便利性、操作的容易性这一方面存在问题。

此外，在现有技术例的自动分析装置中，作为安装结构例，在分析动作中拆卸探针保护器时，使包含探针动作的分析动作停止。因此，针对此时处于分析中的检体使其在中途结束，无法获得分析结果。即，在整体的分析效率的方面也存在问题。

本发明的目的是提供一种技术，涉及上述自动分析装置，在具备探针保护器的情况下确保操作者的安全性，并且能实现容器操作的方便性、容易性，能提高整体的分析效率。

解决技术问题所采用的技术方案

本发明中代表性的实施方式涉及自动分析装置，其特征在于具有如下所示的结构。

一实施方式的自动分析装置包括：检体容器设置机构，该检体容器设置机构设置有收纳了检体的检体容器；试剂容器设置机构，该试剂容器设置机构设置有收纳了试剂的试剂容器；反应容器设置机构，该反应容器设置机构设置有收纳所述检体和所述试剂的反应液的反应容器；检体分配机构，该检体分配机构包含用于进行分配动作的探针，该探针从所述检体容器设置机构的所述检体容器吸引所述检体并喷出至所述反应容器设置机构的所述反应容器；试剂分配机构，该试剂分配机构包含用于进行试剂分配动作的试剂探针，该试剂探针从所述试剂容器设置机构的所述试剂容器吸引所述试剂并喷出至所述反应容器设置机构的所述反应容器；光度计，该光度计对所述反应容器设置机构的所述反应容器的所述检体进行光学测定；计算机，该计算机基于所述光学测定的信号进行分析处理；控制部，该控制部对包含所述分配动作的分析动作进行控制；探针保护器，该探针保护器相对于包含所述检体容器设置机构的分配位置在内的一部分区域可由操作者进行安装和拆卸，在所述探针的轨道周边具有保护壁；固定部和插入部，该固定部和插入部相对于所述一部分区域设于所述探针保护器；以及第一机构和第二机构，在所述探针保护器被安装或拆卸的情况下，该第一机构检测所述固定部的状态，该第二机构检测所述插入部的状态，在所述探针保护器被拆卸时，检测到所述固定部的非固定状态时使所述分配动作转移至停止状态，检测到所述插入部的非插入状态时切断对所述分配动作涉及的机构提供驱动电力，在所述探针保护器被安装时，检测到所述插入部的插入状态时对所述分配动作涉及的机构提供驱动电力，检测到所述固定部的固定状态时使所述分配动作转移至执行状态。

发明效果

根据本发明中代表性的实施方式，涉及所述自动分析装置的技术，具备探针保护器的情况下确保操作者的安全性，并且能实现容器操作的方便性、容易性，能提高整体的分析效率。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式1的自动分析装置的整体结构的图。

图2是表示实施方式1中，包含检体盘、探针保护器以及检体分配机构的部分的结构的立体图。

图3是表示实施方式1中探针保护器的结构的俯视图。

图4是表示实施方式1中探针保护器的结构的立体图。

图5是表示实施方式1中探针保护器相对于检体盘的配置例的概要的平面图。

图6是表示实施方式1中的特征涉及的机构以及电路的模块结构的图。

图7是表示实施方式1中包含动作、处理以及操作者的操作的流程的图。

图8是表示实施方式1中的特征涉及的机构以及电路的时刻图。

图9是实施方式1中第一机构涉及的探针保护器在螺钉紧固状态下的侧面的立体图。

图10是实施方式1中第一机构涉及的探针保护器在螺钉松动状态下的侧面的立体图。

图11是实施方式1中第二机构涉及的探针保护器在突起的非插入状态下的侧视图。

图12是实施方式1中第二机构涉及的探针保护器在突起的非插入状态下的立体图。

图13是实施方式1中第二机构涉及的探针保护器在突起的插入状态下的侧视图。

图14是实施方式1中第二机构涉及的探针保护器在突起的插入状态下的立体图。

图15是表示本发明的实施方式2的自动分析装置的特征涉及的机构以及电路的模块结构的图。

图16是实施方式2中第三机构涉及的探针保护器锁止机构在非锁止状态下的立体图。

图17是实施方式2中第三机构涉及的探针保护器锁止机构在锁止状态下的立体图。

具体实施方式

下面，基于附图对本发明的实施方式进行详细说明。此外，在用于说明实施方式的所有附图中，对于相同部分原则上标注相同的标号，并省略其重复说明。

[问题等]

对所述的自动分析装置的问题等进行补充说明。作为现有技术例，与实施方式相对的比较例的自动分析装置中，包括检体盘、检体分配机构、探针保护器等。该自动分析装置在通常动作时以安装了探针保护器的状态进行包含分配动作在内的分析动作，以确保安全性。在分析动作中操作者想要拆卸探针保护器的情况下，该自动分析装置进行如下所述的应对动作。自动分析装置检测到探针保护器被拆卸的状态，基于计算机进行的控制，停止分析动作。即，检体盘的旋转、检体分配机构的探针移动等动作停止。操作者在该状态下，可进行将紧急检体等的检体容器追加设置于检体盘中空闲的部位的操作。该操作之后，使其成为操作者安装了探针保护器的状态。自动分析装置以该状态开始分析动作。从而对紧急检体进行分析。

然而，该自动分析装置中，将探针保护器拆卸时，例如在计算机的控制中产生某种故障、处理延迟等情况下，难免有可能使动作未能立刻停止。在动作未停止的情况下，无法确保安全性。即，在现有技术例的自动分析装置中，针对用于实现可靠的动作停止的安装结构存在有改善余地。

此外，该自动分析装置中，在拆卸了探针保护器时，使装置整体的分析动作停止。因此，在拆卸了探针保护器的时刻，处于分析中的检体成为中途结束、分析未完成的状态，可能导致无法获得分析结果且检体受损。即，在现有技术例的自动分析装置中，在整体的分析效率这一方面存在改善余地。

现有技术例的自动分析装置中，在盘式的容器设置机构即检体盘中，在其一部分区域安装有探针保护器。为了在出现了紧急检体的情况下立刻进行分析，列举有将该检体容器设置于拆卸了探针保护器的区域中空闲的部位(即靠近分配位置的容器设置部)。此外，在对检体容器进行追加、更换设置的情况下，作为其它方法也可以设置于未被探针保护器覆盖遮挡的区域中空闲的部位(即远离分配位置的容器设置部)。通常，在自动分析装置的正面附近，可由用户对容器进行操作。然而，在该情况下，需要等待直到已有的检体容器的检体分析结束，无法立刻进行分析。在期望追加设置多个检体容器的情况下，检体盘上未被探针保护器覆盖的区域中几乎没有空闲部位时，只能将检体容器设置于拆卸了探针保护器的区域。

(实施方式1)

利用图1～图14，对本发明的实施方式1的自动分析装置进行说明。实施方式1的自动分析装置中，对包含机构、电路等的安装结构进行了改进，使得在分配动作时利用探针保护器确保安全性，并且在操作者拆卸探针保护器进行容器操作时也能进行应对。实施方式1的自动分析装置中，不经由计算机的处理、换言之经由规定的电路、机构而直接使分配动作涉及的装置一部分的动作可靠的停止。从而，即使在计算机的控制中发生故障、处理延迟等，也能可靠地停止分配动作。该自动分析装置中，在拆卸了探针保护器的情况下，基于检测并不是使装置整体的分析动作停止，而是仅使分配动作涉及的所需一部分动作停止。从而，此时处于分析中的检体能继续进行分析动作直到分析完成，从而能获得分析结果。由此能提高整体的分析效率。

实施方式1的自动分析装置包括：设置有检体容器的检体容器设置机构的检体盘；设置有试剂容器的试剂容器设置机构的试剂盘；设置有反应容器的反应容器设置机构的盘；包含从检体盘的检体容器吸引检体并喷出至反应容器的探针在内的检体分配机构；从试剂盘的试剂容器吸引试剂并喷出至反应容器的试剂分配机构；对反应容器内的检体进行光学测定的光度计；基于光学测定的信号进行分析处理的计算机；对各容器设置机构、各分配机构等的动作进行控制的控制部；以及作为用户的操作者的用户接口部。

自动分析装置还具有安装于检体容器设置机构的检体盘的一部分附近的探针保护器。探针保护器具有包含保护壁的形状，使其将包含检体盘上的分配位置的、检体分配机构的探针轨道周围的一部分包围。通过保护壁来限制用户的手指等进入探针的轨道。探针保护器具有固定用的螺钉(固定部)、定位及插入用的突起(插入部)，以作为可由操作者在检体容器设置机构的探针保护器安装机构的规定位置进行安装及拆卸的结构物。探针保护器安装机构具有对应的螺钉孔以及突起孔。

实施方式1的自动分析装置中，在将探针保护器拆卸时、安装时，以两个阶段检测探针保护器的状态(后述的图6、图8)。作为探针保护器的状态，有螺钉(固定部)的状态和突起(插入部)的状态。自动分析装置包含检测螺钉的松动状态/紧固状态的传感器作为第一机构，包含根据突起的插入状态/非插入状态进行切换的开关作为第二机构。传感器与计算机相连。开关被连接在电源部和驱动部之间。开关是构成联锁机构的要素。联锁机构是在突起的非插入状态时切断驱动电力使得无法对分配动作所涉及的装置的一部分进行驱动的机构。

实施方式1的自动分析装置中，在将探针保护器拆卸时，基于第一机构的螺钉状态涉及的第一检测，检测到螺钉的松动状态时，通过计算机使分配动作停止，对操作者输出警报。这时，自动分析装置以规定的转移时间继续进行检体的分配动作，完成分析。自动分析装置中，之后基于第二机构的突起状态涉及的第二检测，检测到突起的非插入状态时，不经由计算机、即经由开关等的电路直接切断对分配动作涉及的驱动部进行的供电。

[自动分析装置(1)]

图1示出了实施方式1的自动分析装置的整体的结构。图1中将从垂直方向上观察自动分析装置的主要的壳体时的简要平面图、和主要的结构要素的功能模块结构一并示出。此外示出x方向、y方向、z方向作为说明上的方向。x方向、y方向是构成水平面的垂直的两个方向，z方向是垂直方向。图1中，x方向与从装置正面观察的横向对应，y方向与装置的深度方向对应，z方向与装置的高度方向对应。

实施方式1的自动分析装置在壳体中包括：作为检体容器设置机构的检体盘1、2；作为反应容器设置机构的反应槽机构3；以及作为试剂容器设置机构和试剂保冷机构的试剂盘4、5。特别是有时具备两个检体盘1、2，两个试剂盘4、5，但不限于此。该自动分析装置在检体盘1、2和反应槽机构3之间的位置具备检体分配机构6。检体分配机构6具备可动臂31、探针32(后述的图2等)。该自动分析装置在试剂盘4、5和反应槽机构3之间的位置具备作为试剂分配机构的试剂移液机构9、10和搅拌机构34a、34b。该自动分析装置在反应槽机构3的附近具备光度计8、光源35和反应容器清洗机构7。

该自动分析装置在检体盘1上的一部分区域(后述的图5等)、即供检体分配机构6的探针32进入的区域中，经由探针保护器安装机构安装有探针保护器(后述的图3等)。探针保护器24在检体分配机构6的探针32进行动作时限制用户的手指等进入以使其不与探针接触来进行防护。

实施方式1的自动分析装置如图所示，对所述壳体的各机构连接有控制系统、信号处理系统等各功能的模块。自动分析装置包括控制基板100、计算机16、输入装置30、打印机19、储存介质20、显示装置18、电源部110、接口电路15、检体分配控制部11、试剂分配控制部13、14、清洗水泵12以及log转换a/d转换器17等。这些各部分通过总线、电缆、lan等相互连接。自动分析装置除此之外还具备电动机等驱动部。

控制基板100由lsi基板等构成，控制自动分析装置整体的动作。控制基板100通过接口电路15、计算机16以及各机构的控制部控制各机构。例如，计算机16基于来自控制基板100的控制信号向检体分配控制部11等的各部分提供指令信号。例如，检体分配控制部11依照来自计算机16的指令信号，对检体分配机构6等机构的动作进行驱动控制。

自动分析装置的控制结构可不限于此。例如，控制基板100和计算机16可以构成为一体。检体分配控制部11等每个机构的控制部可以分别由lsi基板等构成，也可以将多个控制部合并由一个lsi基板等构成。

计算机16由pc等构成，具备cpu、rom、ram等，进行软件程序处理。计算机16基于来自控制基板100的控制信号，进行各机构的控制处理、分析处理等信息处理。计算机16基于反应容器21的光学测定的信号，进行与每个检体的分析项目对应的分析处理，输出分析结果信息。计算机16通过输入装置30和显示装置18的显示画面，接收用户进行的输入操作。计算机16通过显示装置18提供成为针对用户的图形用户界面的显示画面。显示画面中显示有用于进行指示等输入操作的按钮等的信息、检体的信息、分析所涉及的设定信息、分析结果信息等。计算机16从打印机19印刷输出分析结果信息等。计算机16将各种信息储存于内部的储存器或储存介质20。储存介质20例如由硬盘或储存卡等构成，也可以由外部的服务器等构成。也可以作为经由通信网对自动分析装置连接有服务器等的系统。作为由计算机16进行处理的各种信息，例如包含各显示画面信息、分析参数(分析项目)、分析委托内容信息、校准结果信息、分析结果信息等。

检体分配控制部11与检体盘1、2、检体分配机构6、反应槽机构3等相连。检体分配控制部11具备开关44、传感器26等(后述的图2、图6等)。试剂分配控制部13与试剂盘4、试剂移液机构9、反应槽机构3等相连。试剂分配控制部14与试剂盘5、试剂移液机构10、反应槽机构3等相连。清洗水泵12与反应容器清洗机构7相连。log转换a/d转换器17与光度计8相连。这些各部分通过接口电路15与控制基板100、计算机16相连。

检体盘1、2中，在圆周上具有多个容器设置部22a(后述的图5)。容器设置部22a是可架设检体容器22来设置的部分。根据用户的操作，可在空闲的各容器设置部22a设置检体容器22。试剂盘4、5中，在圆周上具有多个容器设置部，可在各容器设置部设置试剂容器23。反应槽机构3中，在盘的圆周上具有多个容器设置部，可在各容器设置部设置反应容器21。这些各种盘被旋转驱动，从而进行移动使得各容器设置部的位置在圆周上重复间歇的旋转和静止。

在检体容器22储存有血液、尿等生物体样本作为检体。在试剂容器23储存有与由自动分析装置分析而获得的分析项目相对应的各种试剂(试剂液)。通过分配动作中的喷出动作在反应容器21储存有检体和试剂，通过搅拌机构34a、34b被搅拌，生成混合液即反应液。反应容器21由透光性材料构成，维持在规定的温度(例如37度)。反应槽机构3内的流体通过恒温维持装置来进行温度调整。

检体分配机构6在检体的分配动作时，可动臂31被旋转驱动，使得探针32以圆弧的轨道(图示的虚线)旋转移动，定位至检体盘1、2上的分配位置(图5的分配位置p1)。分配位置p1是检体吸引位置，是从圆周上的检体容器22吸引检体的位置。探针32在检体吸引位置从检体容器22吸引规定量的检体。该探针32通过旋转移动定位至反应槽机构3的盘上的分配位置(也被称为检体喷出位置、检体接收位置)。该探针32在检体喷出位置向反应容器21内喷出检体。

大致相同地，在试剂的分配动作时，试剂移液机构9、10的可动臂被旋转驱动，从而试剂探针(也被称为移液喷嘴)以圆弧的轨道(图示的虚线)旋转移动，定位至试剂盘4、5上的分配位置(试剂吸引位置)。与分析项目对应的试剂容器23被移动至该分配位置。试剂探针在试剂吸引位置从试剂容器23中吸引规定量的试剂。该试剂探针通过旋转移动定位至反应槽机构3的盘上的分配位置(也被称为试剂喷出位置、检体接收位置)。该试剂探针在试剂喷出位置向反应容器21内喷出试剂。

在与反应槽机构3的盘与试剂盘4和试剂移液机构9靠近的规定位置，本例中为反应槽机构3的盘的一部分位置上配置有搅拌机构34a。搅拌机构34a对通过分配而储存在反应容器21内的检体和试剂的混合液进行搅拌来促进反应。对于搅拌机构34b也同样。搅拌后的反应容器21在盘上被旋转驱动，使其通过被光源35和光度计8所包夹的测光位置。

配置于反应槽机构3的盘附近的光源35和光度计8是构成光检测系统(光学测定部)的要素。光源35例如由激光元件等构成，配置于反应槽机构3的盘的中心部附近。来自光源35的光被照射至测光位置的反应容器21。光度计8被配置在反应槽机构3的盘外周的外侧，隔着盘的测光位置与光源35相对的位置。光度计8是多波长光度计，基于来自光源35的光，检测通过了反应容器21的通过光或散射光。各反应容器21在反应槽机构3的盘上旋转的过程中通过测光位置的时刻，由光度计8进行光学测定。

log转换a/d转换器17与光度计8相连。由光度计8对每个检体(反应液)进行检测并测定得到的信号、例如散射光的模拟信号被输入至log转换a/d转换器17。log转换a/d转换器17对该信号进行log转换(对数转换)以及模拟/数字转换等。log转换将信号转换为与光量成正比的数值。转换后的信号(测定信号)通过接口电路15被发送至计算机16。该信号例如被暂时储存至计算机16的储存器或储存介质20。在计算机16利用该信号进行与每个检体的分析项目对应的分析处理。计算机16例如利用该信号的转换后的数值，基于校准曲线计算浓度数据。校准曲线是基于对每个检查项目所指定的分析法预先测定出的。

计算机16将分析结果信息储存至储存器或储存介质20，对用户进行输出。计算机16将分析结果信息显示于显示装置18的显示画面，由打印机19进行印刷输出。分析结果信息例如包含与各检查项目对应的每个分析项目的成分浓度数据。操作者能确认包含每个检体的分析结果在内的分析结果信息。

反应容器清洗机构7被配置于反应槽机构3的盘的附近。光学测定中使用完成的反应容器21通过反应容器清洗机构7将内部清洗，从而能重复使用。

[自动分析装置(2)]

图1的自动分析装置中，对控制系统、信号处理系统的概要进行说明。自动分析装置在进行包含分配动作的分析动作时，基于来自控制基板100的控制，从计算机16向检体分配控制部11、试剂分配控制部13、14等各部分发送指令信号。由此，从各部分进行各机构的驱动控制。即，进行检体盘1、2、试剂盘4、5、反应槽机构3的盘的旋转动作(即各容器的间歇旋转动作)、检体分配机构、试剂移液机构9的探针的移动动作。由此，控制检体的分配动作以及试剂的分配动作。分配动作包含吸引动作和喷出动作。计算机16对分配动作进行控制，并且对反应槽机构3的盘的旋转动作、搅拌动作、光度计8进行的测光动作、清洗动作等进行控制。自动分析装置基于规定的流程控制，控制各种动作。自动分析装置基于多个各检体的信息管理，控制每个检体的分析动作。

对于分析动作的概要如下所述。操作者在进行分析前，预先向自动分析装置输入、设定分析所必须的各种信息(后述的图7的步骤s1)。设定完成的情况下可省略。操作者利用计算机16、输入装置30以及显示装置18等进行设定、指示输入。这时，计算机16在显示装置18的显示画面显示操作功能画面等。在该画面中，接收可由自动分析装置利用的各功能涉及的指示、设定等的输入操作。在该画面中，例如包含每种功能的按钮、可选择的项目的按钮等。该画面可以由多个画面构成。操作者在该画面中设定进行检体分析所需的信息。操作者例如登录每个检体以及检体容器22的信息。此外，操作者对每个检体选择与所委托的检查项目对应的分析项目，输入分析参数。分析项目是可由自动分析装置分析的多个项目。

自动分析装置针对每个各盘的容器设置部还具备掌握容器有无设置、id的机构。该机构能利用公知的光学读取装置、近距离无线通信装置来实现。自动分析装置利用该机构掌握每个检体的状态，进行信息管理。自动分析装置例如将每个检体容器22中收纳的检体与患者信息进行关联，利用检体id(或容器id)等进行管理。自动分析装置例如针对与每个盘上的位置对应的容器设置部掌握容器有无设置，将容器设置部的id、和所设置的容器的id进行关联来登录。设定于自动分析装置的信息被储存至内部的储存器、储存介质20并保存。

上述机构例如利用rfid系统等来实现。例如，以rfid标签等方式对检体容器22赋予记载有所储存的检体涉及的信息等的标签。例如，设于检体盘1的读取装置对设置于各容器设置部的检体容器22的标签的信息进行读取。自动分析装置基于该读取，掌握检体盘1的各容器设置部的位置上检体容器22的状态。

操作者在显示画面上确认每个检体的信息、分析结果信息。操作者还能在显示画面上确认分析的进度情况、后述警报信息等。操作者在显示画面上输入分析开始的指示。

自动分析装置基于操作者的设定以及指示，执行分析动作。自动分析装置对各检体的检体容器22，控制所指定的分析项目以及分析参数所对应的分析动作和分析处理。该分析动作包含上述检体的分配动作、与分析项目等对应的试剂的分配动作、光学测定动作、计算机16的分析处理。自动分析装置基于分析指示，进行用于进行检体的分配动作、试剂的分配动作的准备(图7的步骤s1)。作为检体的分配动作的准备，包含检体盘1、2的准备以及检体分配机构6的准备。该准备例如包含将检体分配机构6的探针32移动至规定的位置等。

自动分析装置在准备后执行检体的分配动作等作为通常动作(图7的步骤s3)。自动分析装置首先在检体的分配动作中，通过检体分配机构6的探针32进行旋转动作而被定位至例如检体盘1上的分配位置。该探针32下降，从对象的检体容器22内吸引检体，之后上升。该探针32通过旋转动作被定位至反应槽机构3的盘的检体喷出位置。该探针32下降，向对象的反应容器21内喷出检体，之后上升。该反应容器21通过旋转移动停止在试剂接收位置。在试剂的分配动作中，例如使试剂移液机构9的探针通过旋转动作定位至试剂盘4的分配位置。该探针下降，从对象的试剂容器23内吸引试剂，之后上升。该探针通过旋转动作被定位至反应槽机构3的盘的试剂接收位置。该探针下降，向反应容器21内喷出试剂，之后上升。

在上述中，将检体和试剂的分配顺序设为检体先进行，但不限于此，也可以使试剂先进行。之后，该反应容器21通过搅拌机构34a、34b而搅拌来生成反应液。该反应容器21的反应液在通过测光位置的时刻由光度计8进行测定。之后，如上所述，由计算机16基于测定信号进行分析处理，输出分析结果信息。

[硬件]

利用图2，对自动分析装置的硬件的外观、机构进行说明。图2作为自动分析装置的一部分，示出了从检体分配机构6侧观察到检体盘1、探针保护器24以及检体分配机构6等的情况下的立体图。如图所示，在检体盘1的圆周部的一部分附近，设有探针保护器安装机构28。探针保护器24被安装于探针保护器安装机构28。探针保护器24被支承在探针保护器安装机构28上，由螺钉25等固定，从而被固定至检体盘1的规定位置。探针保护器24覆盖遮挡了检体盘1的上表面的一部分区域。

检体分配机构6具有可动臂31、探针32、转轴33等。检体分配机构6与电动机39等驱动部相连。电动机39包含可动臂驱动用电动机、检体盘驱动用电动机等。转轴33沿z方向延伸，在其下方设有电动机39。转轴33的上端与沿水平方向延伸的可动臂31的一端相连。可动臂31的另一端与向z方向的下方延伸的探针32相连。探针32是用于进行检体的吸引和喷出的检体喷嘴。可动臂31基于来自电动机39的驱动，相对于转轴33沿z方向上下移动，以转轴33为中心旋转。随着可动臂31的移动，探针32进行移动。以虚线的箭头表示探针32的轨道。探针32不与探针保护器24接触。

检体分配控制部11通过电动机39等的驱动，对检体分配机构6的可动臂31和探针32的旋转、上下移动进行控制，对探针32的吸引、喷出的时刻、压力等进行控制。

探针32的轨道的附近成为探针保护器24的保护区域(图3的切口部24b)，在该保护区域的周围设有保护壁27(图3的保护壁27a、27b)在图示的探针保护器24的保护壁27的左边设有螺钉25等。螺钉25是探针保护器固定用螺钉，是用于将探针保护器24相对于探针保护器安装机构28进行固定的零件。在螺钉25的左右侧有突起45(图4等)。图示的状态中突起45被插入探针保护器安装机构28，因此观察不到。突起45是探针保护器定位和插入用的突起(换言之是插入棒)，是将探针保护器25安装至探针保护器安装机构28时用于定位和插入的零件。

探针保护器安装机构28中，在螺钉25的下方设有包含传感器26、遮挡板42等在内的螺钉状态检测机构的安装部分(后述的图9等)。探针保护器安装机构28中，在突起45的下方设有联锁机构29、开关44等的安装部分(后述的图11等)。

传感器26是螺钉状态检测传感器。传感器26与遮挡板42共同作用，检测螺钉25的状态。遮挡板42根据螺钉25的状态移动，从而切换传感器26的状态。联锁机构29是根据突起45的状态，控制向电动机39等驱动部供电的机构，包含开关44。开关44根据突起45的状态切换导通状态和截止状态。

[探针保护器]

利用图3、图4，对探针保护器24的结构进行说明。图3是表示从z方向的正上方观察探针保护器24的x-y平面的上表面图。图4示出与图3对应的立体图。探针保护器24在探针32进行动作时，对包含探针32的轨道的保护区域进行防护，使得操作者的身体与探针32等的接触所导致的受伤、感染等的风险减低。探针保护器24的材质可以是树脂，也可以是金属。探针保护器24在水平面的x方向和y方向上进行覆盖遮挡，使得操作者的手指等无法进入作为检体盘1的一部分区域的包含探针32的轨道在内的区域。此外，探针保护器24在z方向上进行覆盖遮挡，使得操作者的手指等无法进入到作为检体盘1的一部分区域的检体容器22和分配位置的区域。

图3和图4中，探针保护器24主要在平板部24a形成保护壁27、切口部24b等。平板部24a具有与检体盘1的一部分区域对应的形状。探针保护器24在与检体盘1的外周对应的一边上设有螺钉25以及两个一组的突起45(45a、45b)。在探针保护器安装机构28侧设有与螺钉25对应的螺钉孔51(图9、图12等)。在探针保护器安装机构28侧设有与突起45对应的突起孔52(图11等)。在一个突起45a的下方设有联锁机构29，但也可以不限于此。

在包含探针32的轨道的区域设有切口部24b，与保护区域对应。在切口部24b的保护区域周围的一部分设有保护壁27(27a、27b)。保护壁27是用于遮挡手指等进入检体分配机构6的探针32等的结构物。保护壁27在z方向上包含竖立的壁状构件，包含与探针32的轨道大致平行的保护壁27a、和与探针32的轨道大致垂直的保护壁27b。在操作者的基准位置(装置正面)与探针32之间配置有保护壁27，从而遮挡手指等进入保护区域。保护壁27的形状是一个例子，只要是能对保护区域进行保护的形状即可。

检体分配机构6进行动作时，探针32的前端部以虚线的箭头所示的圆弧轨道进行旋转移动，同时通过保护壁27的附近的切口部24b内，定位至分配位置(图5的分配位置p1)。此外，探针32的前端部沿z方向向下移动从而通过切口部24b，进入位于分配位置的检体容器22。从而，能由探针32进行检体的吸引。

[检体盘以及探针保护器]

图5简要示出了探针保护器24等相对于检体盘1的上表面(x-y平面)的一部分的配置例。本例中，检体盘1为双重的圆周部，具有外周部1a和内周部1b，其分别在圆周方向上设有多个容器设置部22a。以圆表示容器设置部22a，示出有无设置检体容器22的例子。操作者可在各容器设置部22a插入检体容器22进行架设从而进行设置。图5中将形状等简化，使容器设置部22a设得较少来进行图示，实际上可以如图2所述那样设有多个。检体容器22的形状可以不限于圆形剖面。

本例中，将探针保护器24配置成使得检体盘1的外周部1a中、从操作者的基准位置(装置正面)观察到图示的右上方四分之一的圆弧部分被覆盖。也可不限于这样的探针保护器24的形状、配置例。对于其它检体盘2、试剂盘4、5，也同样可以是应用了探针保护器的方式。

在外周部1a中的一个部位具有分配位置p1。分配位置p1是将探针32定位的检体吸引位置。通过检体盘1的间歇旋转驱动，各容器设置部22a的位置(绝对位置)沿圆周方向间歇旋转移动。

操作者可恰当地进行将检体容器22设置于检体盘1的各个容器设置部22a的操作。尤其，在期望将检体容器22设置于被探针保护器24所覆盖遮挡的区域的容器设置部22a的情况下，操作者拆卸探针保护器24。

[机构以及电路]

图6是表示实施方式1的自动分析装置的特征涉及的机构以及电路等的模块结构。图6中示出了用于实现与探针保护器24的状态对应的分配动作的控制的机构和电路。图6中，主要示出了检体盘1、探针保护器24、检体分配机构6、分别与所述三个机构相连的检体分配控制部11、电源部110、控制基板100、计算机16以及显示装置18。检体分配控制部11及电源部110等大致分为具有第一机构201、第二机构202。检体分配控制部11具有电动机39、开关44、脉冲电动机驱动电路36、传感器26、波形整形电路37、输入控制电路41。电源部110包含向各部分提供直流(dc)电的dc电源40和dc熔断器38。dc电源40例如提供dc24v的dc电力。

第一机构201是进行探针保护器24的状态所涉及的第一检测以及与之对应的控制的机构，包含螺钉状态检测机构60。在第一机构201中，波形整形电路37、输入控制电路41与包含传感器26的螺钉状态检测机构60相连。输入控制电路41经由省略图示的接口电路15与控制基板100、计算机16相连。

螺钉状态检测机构60利用传感器26及遮挡板42检测探针保护器24的螺钉25的状态。螺钉状态检测机构60作为螺钉25的状态对紧固状态和松动状态的至少两个状态进行区别检测。传感器26对表示螺钉25的紧固状态/松动状态的检测信号进行输出。将螺钉25相对于螺钉孔51正确紧固的状态定义为紧固状态，将螺钉25松动了一定程度以上的状态定义为松动状态。检测信号径波形整形电路37整形后，通过输入控制电路41被传输至计算机16。

计算机16根据螺钉25的状态，进行分配动作涉及的一部分装置的动作停止控制以及警报输出。计算机16在从传感器26接收到表示螺钉25的松动状态的检测信号时，执行控制使分配动作涉及的检体盘1、检体分配机构6等的动作转移至停止状态。与此同时，计算机16对操作者输出用于传达螺钉25的松动状态、即探针保护器24的非安装状态的警报。例如，在显示装置18的显示画面显示警报信息，输出警报音频。

第二机构202是进行探针保护器24的状态所涉及的第二检测以及与之对应的控制的机构，包含联锁机构29。第二机构202是利用联锁机构29等，根据突起45的状态对向分配动作涉及的电动机39等驱动部提供/阻断电力的状态进行控制的机构。第二机构202在突起45为非插入状态时，不经由计算机16而直接阻断对电动机39的电力，从而使检体分配机构6等的驱动成为无法进行的状态。

第二机构202中，脉冲电动机驱动电路36经由开关44与电动机39相连。脉冲电动机驱动电路36与电源部110的dc熔断器38和dc电源40相连。联锁机构29包含开关44、板43等(图11等)。联锁机构29根据突起45的状态切换开关44的导通状态和截止状态。作为突起45的状态，至少区别为插入状态和非插入状态这两种。插入装置定义为是突起45被正确地插入突起孔52的状态。非插入状态是插入状态以外的状态，是突起45被插入突起孔52之前的状态、未完全插入的状态。

来自dc电源40的dc电力被提供至脉冲电动机驱动电路36。基于dc电力，从脉冲电动机驱动电路36输出驱动电力，通过该驱动电力驱动电动机39。在脉冲电动机驱动电路36和电动机39之间的电力线上设有开关44。在开关44为导通状态时，是电路的闭路状态，成为对电动机39提供驱动电力的通电状态。在开关44为截止状态时，是电路的开路状态，成为对电动机39不提供驱动电力的阻断状态。在电动机39的通电状态下，对电动机39施加励磁，能由电动机39对检体分配机构6的可动臂3等进行驱动。从而，可动臂31、探针32等可进行动作。同样地，能由电动机39驱动检体盘1等进行动作。此外，输入控制电路41经由脉冲电动机驱动电路36与电动机39相连，可对电动机39进行控制用的输入输出(io)。

通常，在探针保护器24的安装状态下，进行包含分配动作的分析动作。在该状态下，为了使操作者进行检体容器22的追加设置作业等，有时需要拆卸探针保护器24。在拆卸了探针保护器24的情况下，如下所述，基于两阶段的检测进行两阶段的控制。首先，利用第一机构201检测螺钉25的松动状态作为第一检测(图8的时刻t1)。这时，由第一机构201的传感器26向计算机16发出通知，由计算机16进行分配动作停止控制和警报输出。计算机16向检体分配控制部11发送指令信号，使其转移至分配动作停止状态(停止采样)。检体分配控制部11依照来自计算机16的指令信号，停止分配动作。同时，计算机16对操作者输出表示探针保护器24为非安装状态的意思的警报，进行注意提醒、引导。

接着，利用第二机构202检测突起45的非插入状态作为第二检测(图8的时刻t2)。这时，由于开关44成为截止状态，因此联锁机构29进行工作成为导通状态。该状态下，包含脉冲电动机驱动电路36和电动机39之间的电力线的电路成为开路状态，阻断提供至电动机39的驱动电力。从而，电动机39的励磁被切断，成为由电动机39对检体分配机构6、检体盘1等的驱动无法进行的状态。

自动分析装置在探针保护器24为非安装状态时，不是使装置整体的分析动作停止，而是使分配动作涉及的一部分装置的动作停止。通过第一检测使装置状态转移至停止状态，之后通过第二检测停止驱动。被停止的分配动作是操作者对容器进行操作和介入的动作。通过使分配动作停止，使操作者对容器的操作变得容易。

实施方式1的自动分析装置具有上述的机构和电路的设计。从而，在通常运行时能利用探针保护器24确保安全性等。与此同时，在由操作者拆卸探针保护器24的状态下，也可进行检体容器22的追加设置等操作。在拆卸了探针保护器24的情况下，基于利用了第一机构201和第二机构202的两阶段的检测，控制分配动作的停止。由此，实现了可靠的动作停止。在拆卸时，停止分配动作，使其它部分的动作继续进行。在拆卸时针对处于分析中的检体、例如在刚要将螺钉25松动之前由探针32从分配位置的检体容器22所吸引出的检体，使其继续进行动作(吸引、喷出、光学测定等)直到分析完成。因此，不损坏该检体，不丢失分析数据，可获得分析结果信息。即，能提供整体分析效率较高的自动分析装置。

此外，计算机16进行的分配动作停止控制和警报输出这两个控制几乎同时、严密来说是以极短时间依次进行。也可以为利用控制基板100执行该控制的方式。检测、控制时的路径也可不限于图6。

[流程]

图7是表示在实施方式1的自动分析装置中包含分配动作涉及的部分的整体的动作、处理，以及包含操作者的操作的流程。图7是具有步骤s0～s9。下面按步骤顺序进行说明。

(s0)

如上所述，操作者预先对自动分析装置登录检体的信息，进行分析项目的设定等。操作者以设定完成的状态对自动分析装置输入分析指示。

(s1)

自动分析装置基于分析指示进行检体、试剂的分配动作的准备。即，进行分配动作涉及的检体盘1、2、检体分配机构6、反应槽机构3等部分的准备动作。作为准备动作，例如使电动机39呈通电状态从而处于施加了励磁的状态。

s1中，由操作者进行准备的操作。操作者对检体盘1、2的空闲部分的容器设置部22a设置检体容器22，进行配置确认。自动分析装置掌握设置于检体盘1上的检体容器22，如上所述，对检体、检体容器22、位置等进行关联并登录信息。

在s1时，探针保护器24处于安装状态或非安装状态中的某一个。通常运行时，预先使探针保护器24相对于探针保护器安装机构28处于安装状态。在安装状态下，螺钉25为紧固状态，突起45为插入状态。另一方面，操作者可能在任意时刻拆卸探针保护器24，进行对检体盘1追加检体容器22的操作。在该情况下，使探针保护器24相对于探针保护器安装机构28处于非安装状态。在非安装状态下，至少螺钉25为松动状态，突起45为插入状态或非插入状态。

(s2)

接着，s2中利用图6的第一机构201，检测探针保护器24的螺钉25的状态。传感器26对螺钉25的紧固状态/松动状态进行检测。计算机16基于来自传感器26的检测信号，判断螺钉25是被正确紧固的紧固状态、还是除此之外的松动状态。换言之，s2中确认探针保护器24是安装状态还是非安装状态。计算机26在图8中也进行示出，在检测信号的值为0的截止状态时，识别为是螺钉25的紧固状态，在值为1的导通状态时，识别为是螺钉25的松动状态。在判断为是螺钉25呈紧固状态(安装状态)的情况下前进至s3，在判断为是螺钉25呈松动状态(非安装状态)的情况下前进至s4。

(s3)

s3中，如上所述，计算机16作为通常动作控制各部分来进行包含分配动作的分析动作。即，进行检体的分配动作、试剂的分配动作、测光动作、分析处理、分析结果信息输出等。

(s4)

另一方面，s4中，计算机16利用图6的第一机构201执行分配动作涉及的一部分装置的动作停止控制。计算机16向检体分配控制部11发送指令信号，从而使自动分析装置的状态转移至分配动作停止。检体分配控制部11依照指令信号，停止检体分配机构6、检体盘1等的动作。从而，检体盘1等的旋转停止，探针32等的移动停止。如图8所示，在期间t1内，使分配动作以规定的转移时间ts从执行状态转移至停止状态。

(s5)

接着，s5中，计算机16输出警报，该警报用于向用户传达螺钉25为松动状态、即探针保护器24未被正确安装的状态。计算机16在显示装置18的显示画面显示警报信息，输出警报音频。作为警报信息的例子，在显示画面显示有“探针保护器的螺钉松动。请拧紧。”等信息。警报可以是显示或音频的一种，也可以是其它方法。s4和s5几乎同时执行。

(s6)

s6中，计算机16为了使操作者进行操作、输入操作而待机。操作者根据s5的警报，能确认螺钉25的松动状态、即探针保护器24的非安装状态。操作者根据目的、需要，使螺钉25紧固，使探针保护器24为安装状态。通常，操作者基于s5的警报，为了使探针保护器24成为正确的安装状态而在使突起45为插入状态下进行拧紧螺钉25的操作。或者，操作者在非安装状态下也能进行检体容器22的追加设置操作等。在该情况下，操作者在操作后使突起45为插入状态，通过拧紧螺钉25，使探针保护器24为安装状态。

(s7)

s7中，利用图6的第二机构202，与探针保护器24的突起45的状态所对应的电力阻断控制不经由计算机16而自动进行。即，在突起45为非插入状态时，开关44为截止状态，联锁机构29为导通状态，阻断提供至电动机39的驱动电力，停止分配动作所涉及的驱动。在突起45为插入状态时，开关44为导通状态，联锁机构29为截止状态，向电动机39提供驱动电力，成为可进行分配动作所涉及的驱动的状态。

(s8)

s8中，计算机16基于来自传感器26的检测信号，确认螺钉25是否从松动状态变化为紧固状态(即安装状态)。在螺钉25变为紧固状态时前进至s9。

(s9)

s9中，计算机16解除(停止)s5的警报输出，为了使分析动作再开始而返回s1。从s1开始重复相同的步骤。该流程中，通过操作者拧紧螺钉25从而自动解除警报输出，使动作再开始。

作为变形例，在s6时，计算机16可以在显示画面显示例如警报解除按钮。也可以利用专用的硬件按钮。操作者通过按下警报解除按钮，能将警报输出解除(停止)。在该情况下，计算机16进行待机直到螺钉25成为紧固状态。

作为变形例，也可以在s9中解除了警报输出之后，计算机16在显示画面显示用于使动作再开始的重置按钮。操作者在使动作再开始时，按下该重置按钮。计算机16在该重置按钮被按下之后，返回s1使动作再开始。

[时刻图]

图8是表示实施方式1的自动分析装置的特征涉及的部分的时刻图。图8中示出了将横轴作为时间，在纵向上示出的各机构、电路的状态的变化。在纵向上，从上开始依次示出了探针保护器24、突起45、开关44、联锁机构29、电动机39、螺钉25、传感器26、分配动作以及后述的探针保护器锁止机构80的各状态。此外，对于探针保护器锁止机构80，其在实施方式2中使用。图8中，作为状态转移的例子，示出了如下情况：即，与探针保护器24从安装状态变化为非安装状态相对应，从通常动作状态变化为动作停止状态；还示出了与探针保护器24从非安装状态变化为安装状态相对应，从动作停止状态变化为通常动作状态。

在操作者进行探针保护器24的拆卸操作时，必然在松开螺钉25之后拔起突起45。因此，作为时间上的顺序，先进行利用了第一机构201的第一检测，之后进行利用了第二机构202的第二检测。反之，在操作者进行探针保护器24的安装操作时，必然在插入突起45后拧紧螺钉25。因此，作为时间上的顺序，先进行利用了第二机构202的第二检测，之后进行利用了第一机构201的第一检测。

作为整体的流程如下所述。首先，最初到时刻t1为止为通常状态，是探针保护器24的安装状态，是螺钉25为紧固状态且突起45为插入状态。该状态下包含分配动作的分析动作正在执行中。在该状态下，例如操作者想要进行紧急检体的追加设置操作时，操作者拆卸探针保护器24。这时，操作者在时刻t1松开螺钉25，在时刻t2拔起突起45。

在时刻t1螺钉25被松开，从而螺钉25从紧固状态变为松动状态。第一机构201的螺钉状态检测机构60的传感器26检测螺钉25的松动状态作为导通状态(值1)。表示松动状态的检测信号被传输至计算机16。计算机16基于该检测信号如上所述执行分配动作停止控制和警报输出。计算机16向检体分配控制部11发送指令信号，使其停止分配动作。检体分配控制部11依照指令信号，停止检体分配机构6、检体盘1的动作。

接着，在时刻t2，操作者将探针保护器24上抬使突起45从突起孔52中拔起，从而突起45从插入状态变为非插入状态。第二机构202的开关44根据该非插入状态从导通状态被切换至截止状态。根据开关44的截止状态，联锁机构29从截止状态变为导通状态。该状态下，阻断提供至电动机39的驱动电力，切断电动机39的励磁。由此，停止对检体分配机构6、检体盘1的驱动，成为不可驱动状态。

在实施方式1的自动分析装置中，像这样通过在控制上进行两阶段的检测，设有从时刻t1到时刻t2为止的动作时间滞后(时间差)的期间t1。操作者松开螺钉25后拔起突起45的操作需要花费一定程度的时间，因此存在期间t1。在期间t1内，包含规定的转移时间ts。转移时间ts是为了使装置状态从分配动作的执行状态转移至停止状态所需的时间。本例中，转移时间ts从时刻t1到时刻t5为止，比期间t1要短。在转移时间ts内，使在时刻t1处于分析中的检体分析完成。

时刻t2之后自动分析装置为动作停止状态，探针保护器24为非安装状态，输出警报。在该动作停止状态下，操作者确认警报，使探针保护器24成为正确安装的状态、或在进行检体容器22的追加设置操作等之后使探针保护器24为安装状态。例如，操作者在检体盘1上拆卸了探针保护器24的区域的空闲位置的容器设置部22a追加设置紧急检体的检体容器22。操作者在该操作后，将探针保护器24再次安装至规定的位置。这时，首先在时刻t3将突起45插入突起孔52，之后在时刻t4拧紧螺钉25。

在时刻t3，突起45从非插入状态变为插入状态。随之，第二机构202的开关44从截止状态切换为导通状态。根据开关44的导通状态，联锁机构28变为截止状态。由此，再次开始向电动机39提供驱动电力而成为通电状态，成为对电动机39施加有励磁的状态。由此，成为检体分配机构6、检体盘1可驱动的状态。

接着，在时刻t4，螺钉25从松动状态变为紧固状态。即，探针保护器24变为安装状态。第一机构201的传感器26检测螺钉25的紧固状态作为截止状态(值0)。表示该紧固状态的检测信号被传输至计算机16。计算机16根据该检测信号，使分配动作再开始。计算机16向检体分配控制部11发送指令信号，使分配动作再开始。检体分配控制部11依照该指令信号，使分配动作再开始。

像这样，从时刻t3到时刻t4为止，设有动作时间滞后的期间t2。操作者插入突起45拧紧螺钉25的操作需要花费一定程度的时间，因此存在期间t2。在时刻t4之后，具有规定的再开始时间(重置时间)tr。在该再开始时间tr中，装置状态从动作停止状态转移至再开始状态。

在比较例的自动分析装置中，根据探针保护器的拆卸的检测，进行使装置整体的动作紧急停止的控制。然而，在该情况下，存在无法可靠地停止的情况、出错的情况。与此相对，实施方式1的自动分析装置中，在探针保护器24的拆卸时，根据两阶段的检测和控制，可靠地使分配动作停止，而不会出现紧急停止、出错。

[第一机构]

利用图9、图10，对第一机构201涉及的检测探针保护器24的螺钉25的状态的螺钉状态检测机构60的详细内容进行说明。

图9是表示大致从侧面观察探针保护器24、探针保护器安装机构28以及螺钉状态检测机构60等的立体图。图9的状态中，探针保护器24的螺钉25为紧固状态(即探针保护器24的安装状态)，遮光板42为非遮光状态，传感器26的受光部为被透射有光线的截止状态。

螺钉25相对于以探针保护器安装机构28的虚线所示的螺钉孔51被拧紧。探针保护器安装机构28中，在突起45a(图9中观察不到)的下方固定有联锁机构29的平板部29a，在螺钉25的下方固定有联锁机构29的平板部29b。平板部29a大致被配置于x-z平面，平板部29b大致被配置于y-z平面。在平板部29b的内侧(相对于检体盘1为外侧)设有传感器26、遮光板42等。在平板部29b的下侧的一处固定有传感器26。传感器26是具有发光部和受光部(检测部)的一般的光传感器。传感器26对来自发光部(图9的状态中被遮光板42遮挡观察不到)的光被投射至受光部的状态、和被遮光板42遮挡了该光的状态进行区别来检测。将投射状态定义为截止状态、将遮光状态定义为导通状态。

平板部29b中，在螺钉25和螺钉孔51的下侧可动地连接有遮光板42。遮光板42例如具有图示的弯折形状，具有作为转轴的部分(转轴部)、和从该转轴向传感器26延伸的部分(遮挡部)。遮光板42的旋转部根据螺钉25的状态进行接触并旋转。从而，遮光板42改变姿势。遮光板42的遮挡部的前端根据遮光板42的旋转状态，到达遮挡传感器26的受光部的位置。

在图9的螺钉25的紧固状态下，通过使螺钉25的下端按住遮光板42的转轴部，从而遮光板42转动，成为图示的倾斜的状态。在该状态下，遮光板42的遮挡部的下端到达与传感器26的发光部和受光部远离的位置。传感器26是由受光部接收来自发光部的光的投射状态。传感器26将该投射状态检测为截止状态，输出检测信号。

图10以同样的立体图示出探针保护器24的螺钉25为松动状态(即探针保护器24的非安装状态)，遮光板42为遮光状态，传感器26为导通状态的情况。在图10的螺钉25的松动状态下，通过使螺钉25的下端不按压遮光板42的转轴部，从而遮光板42成为图示的直立的状态。由此，遮光板42的遮挡部的下端到达传感器26的发光部和受光部之间的位置。传感器26是从发光部照射至受光部的光被遮挡的状态。传感器26将该遮光状态检测为导通状态，输出检测信号。

如上所述，传感器26根据遮光板42的遮光/非遮光的状态，检测螺钉25的松动状态(开路状态)/紧固状态(闭路状态)。在将图9的紧固状态的螺钉25松开时，遮挡板42以箭头所示的方向移动，成为图10的松动状态，传感器26变为导通状态。在将图10的松动状态的螺钉25拧紧时，遮挡板42以箭头所示的方向移动，成为图9的紧固状态，传感器26变为截止状态。

[第二机构]

利用图11～图14，对第二机构202涉及的检测探针保护器24的突起45的状态并控制驱动电力的联锁机构29等进行说明。

图11是表示从y方向观察到的x-z平面中的探针保护器24、探针保护器安装机构28以及联锁机构29等的侧视图。图11的状态中，探针保护器24为非安装状态，突起45为相对于探针保护器安装机构28的突起孔52的非插入状态。图12示出与图11对应的立体图。尤其是示出了在操作者从上方安装探针保护器24时，将突起45插入突起孔52时的状态。

探针保护器安装机构28主要具有平面部28a。平板部28a被配置于水平面(x-y平面)，设有用于插入突起45的突起孔52。突起孔52具有与突起45的形状(例如圆形剖面)对应的槽。突起孔52从平板部28a向下突出规定的长度。突起45的长度大于突起孔52的长度。

在平板部28a的下侧固定有构成联锁机构29的平板部29a。平板部29a中，在突起孔52的附近连接有板43。如箭头所示，板43可绕作为转轴的连接部旋转。板43与开关44成组进行作用，构成突起状态检测机构70。

图11及图12的突起45的非插入状态下，突起45的下端位于图示的位置，与板43不接触。板43的旋转移动的前端仅与开关44相接，没有由板43按下开关44而成为截止状态。

开关44是用于切换联锁机构29的状态的物理开关。开关44对未由板43按下的截止状态、和由板43按下的导通状态进行切换。图11中，由于开关44成为截止状态，因此联锁机构29进行工作成为导通状态。

图13以同样的侧面图示出了探针保护器24为安装状态，突起45为相对于探针保护器安装机构28的突起孔52的插入状态。图14示出与图13对应的立体图。图13和图14的突起45的插入状态下，突起45的下端位于图示的位置，与板43接触，突起45的下端向下按住板43。从而，板43的前端向开关44旋转移动，为由板43按住开关44的导通状态。图13中，由于开关44成为导通状态，因此联锁机构29不进行工作成为截止状态。

如上所述，开关44和联锁机构29根据突起45的插入状态/非插入状态来进行切换。在图13的插入状态下将突起45向上方拔起时，板43向箭头所示的方向移动，成为图11的非插入状态，开关44变为截止状态，联锁机构29变为导通状态。在图11的非插入状态下将突起45向下方插入时，板43向箭头所示的方向移动，成为图13的插入状态，开关44变为导通状态，联锁机构29变为截止状态。

作为第二机构202涉及的变形例，可以省略板43，形成突起部45直接按下开关44的机构。

[效果等]

如上所述，根据实施方式1的自动分析装置，在具备探针保护器24的情况下确保操作者的安全性，并且能实现检体容器22的操作的方便性、容易性，能提高整体的分析效率。在通常的分配动作时，通过探针保护器24进行防护，使操作者的手指与探针32不接触。在操作者拆卸探针保护器24时，基于两阶段的检测可靠地停止分配动作。在该停止状态下，可进行紧急检体等的容器的追加设置操作等，操作者进行的容器的操作所涉及的方便性、容易性较高。基于两阶段的检测，使一部分装置停止，因此能提供不损坏处于分析中的检体、整体的分析效率良好的自动分析装置。

在实施方式1的自动分析装置中，操作者希望拆卸探针保护器24时，检测螺钉25的状态作为第一检测，检测突起45的状态作为第二检测。在实施方式1的自动分析装置中，基于第一检测进行计算机16的控制，基于第二检测直接进行驱动电力的控制。在与两阶段的检测对应的动作时间滞后的期间，顺畅地进行分配动作停止控制。第二机构202由于电力阻断而停止驱动之前，能通过第一机构201识别操作者正要拆卸探针保护器24。

探针保护器24的固定单元的适用可不限于螺钉25及螺钉孔51。安装有与该固定单元对应的传感器等。此外，探针保护器24的插入单元的适用可不限于突起45和突起孔52。安装有与该插入单元对应的开关等。

(实施方式2)

利用图15～图17及图8，对本发明的实施方式2的自动分析装置进行说明。实施方式2的自动分析装置的基本结构与实施方式1相同。以下，对实施方式2的自动分析装置中与实施方式1不同的结构部分进行说明。

[机构以及电路]

图15是表示实施方式2的自动分析装置的特征涉及的机构以及电路等的模块结构。实施方式2的自动分析装置除了实施方式1的结构要素之外，还具备探针保护器锁止机构80等作为第三机构203。检体分配控制部11中，除了所述第一机构201、第二机构202还具备构成第三机构203的探针保护器锁止机构80等。探针保护器锁止机构80是根据分配动作的状态进行锁止使得探针保护器24无法拆卸、移动等的机构。探针保护器锁止机构80在分配动作的执行中，使探针保护器24成为锁止状态，在分配动作的停止中使探针保护器24成为非锁止状态。探针保护器锁止机构80具备螺线管(电磁体)81。螺线管81与输入控制电路41相连。可由计算机16等经由输入控制电路41对螺线管81的励磁状态进行控制。

如上所述，计算机16基于第一机构201的第一检测控制分配动作向停止转移(图8的期间t1)。从而，自动分析装置的状态从分配动作的执行状态变为停止状态(图8的转移时间ts)。这时，在实施方式2中，进一步由计算机16进行控制，使得螺线管81的状态从施加励磁的状态(后述的图17)切换至未施加励磁的状态(后述的图16)。将螺线管81的施加励磁的状态(励磁导通状态)定义为探针保护器锁止机构80的锁止状态，将螺线管81的未施加励磁的状态(励磁截止状态)定义为探针保护器锁止机构80的非锁止状态。

如图8所示，通常运行时，在分配动作的执行中探针保护器锁止机构80为锁止状态。此外，从时刻t1起向动作停止开始转移，在转移时间ts中探针保护器锁止机构80也维持锁止状态。因此，在该转移时间ts中操作者想要拆卸探针保护器24时，由于为锁止状态而无法拆卸。在时刻t5，转移时间ts结束成为分配动作的停止状态时，计算机16控制螺线管81的状态，使探针保护器锁止机构80切换至非锁止状态。从而，在时刻t5之后的时刻t2，操作者能拔起突起45来拆卸探针保护器24。

[第三机构]

利用图16、图17，对第三机构203涉及的探针保护器锁止机构80等进行说明。图16是表示探针保护器锁止机构80的非锁止状态下的立体图。图17是表示探针保护器锁止机构80的锁止状态下的立体图。图16及图17中，示出了大致从侧面观察探针保护器24、探针保护器安装机构28以及探针保护器锁止机构80的部分。

图16中，实施方式2中，在探针保护器安装机构28的平板部28a的下侧、实施方式1的联锁机构29的x方向上的前侧空闲的空间部分还设有探针保护器锁止机构80。在突起45(尤其是突起45a)的下方配置构成探针保护器锁止机构80的螺线管81、金属板82等。

在螺线管81的上方配置金属板82。金属板82如图所示具有例如多个平板被弯折而成的形状，可根据螺线管81的励磁状态沿规定的方向(本例中为x方向的左右)平行移动。金属板82在z方向的上端具有沿水平面延伸的部分(上端部)，在其上端部的前端具有切口部(换言之为凹部)。与此对应地，在突起部45的下端部具有与金属板82的切口部对应的形状的小径部(直径相对较小的部分)。

图16的非锁止状态下，分配动作为停止状态，螺线管81被控制为励磁截止状态。在螺线管81为励磁截止状态时，金属板82如图所示到达相对于x方向为右侧的位置。在该状态下，金属板82的前端部的切口部与突起45的下端部的小径部未嵌合。因此，突起45为可上下移动的非锁止状态。

在图17的锁止状态下，分配动作为执行状态，螺线管81被控制为励磁导通状态。基于来自所述脉冲电动机驱动电路36的供电，对螺线管81施加励磁。在螺线管81为励磁导通状态时，金属板82如图所示到达相对于x方向为左侧的位置。在该状态下，金属板82的前端部的切口部与突起45的下端部的小径部嵌合。因此，突起45为不可上下移动的锁止状态。

从通常的分配动作时，通过所述的分配动作停止控制转移至停止状态(图8的时刻t5)。在该情况下，基于来自计算机16的控制，螺线管81的状态从励磁导通状态切换至励磁截止状态。在该情况下，从图17的锁止状态切换至图16的非锁止状态。这时，金属板82如图17的箭头所示沿x方向向右移动。从而，成为金属板82不固定突起45的状态。在该非锁止状态下，操作者能拔起突起45拆卸探针保护器24(图8的时刻t2)。在从分配动作的停止状态通过动作再开始恢复至通常的执行状态时，基于来自计算机16的控制，螺线管81的状态从励磁截止状态切换至励磁导通状态。在该情况下，从图16的非锁止状态切换至图17的锁止状态。这时，金属板82如图16的箭头所示沿x方向向左移动。从而，成为金属板82固定突起45的状态。在该锁止状态下，操作者无法拔起突起45来拆卸探针保护器24。

[效果等]

如上所述，根据实施方式2，除了实施方式1的效果之外，还能在动作时间滞后期间向分配动作停止的转移结束之前，防止操作者拆卸探针保护器24。即，能更可靠地实现分配动作停止。

以上基于实施方式对本发明具体进行说明，本发明不限于所述的实施方式，在不脱离其主旨的范围内可进行各种变更。

标号说明

1、2检体盘，

3反应槽机构，

6检体分配机构，

11检体分配控制部，

16计算机，

18显示装置，

22检体容器，

22a容器设置部，

24探针保护器，

25螺钉，

26传感器，

28探针保护器安装机构，

29联锁机构，

31可动臂，

32探针，

33转轴，

37波形整形电路，

36脉冲电动机驱动电路，

38dc熔断器，

39电动机，

40dc电源，

41输入控制电路，

44开关，

45突起，

60螺钉状态检测机构，

100控制基板，

110电源部，

201第一机构，

202第二机构。