技术总结
本实用新型公开了一种控温的半导体电学特性测试样品架，属于样品架领域，包括主底座，主底座的上端固定连接有保护壳体和照度计，保护壳体的上端固定连接有第一蓄电池，保护壳体固定连接有LED可调光，保护壳体的内下侧设有第二蓄电池，第二蓄电池与主底座固定连接，第二蓄电池的右端电性连接有半导体放置盒，半导体放置盒的右端电性连接有电线，电线的上端电性连接有高压钠灯，半导体放置盒的上端开凿有半导体放置凹槽，半导体放置盒的上端固定连接有一对拉伸弹簧，拉板的上端开凿有螺纹通孔，螺纹通孔内端螺纹连接有螺纹杆，可以有效的测量半导体在不同光照强度下的导电性能，方便技术人员的实验研究，非常具有实用性。
技术研发人员：祝老二
受保护的技术使用者：温州盛淼工业设计有限公司
技术研发日：2018.05.31
技术公布日：2018.12.07