1.一种继电器综合参数测试系统的吸合释放时间校准装置，它包括单刀双投开关（1），其特征在于：单刀双投开关（1）的转换端B引出到接线端A；单刀双投开关（1）的D端引出到第一NPN型晶体三极管（2）的基极；单刀双投开关（1）的C端引出到第二NPN型晶体三极管（3）的基极，第一NPN型晶体三极管（2）的集电极引出到接线端E；第二NPN型晶体三极管（3）的集电极引出到接线端F；第一NPN型晶体三极管（2）的发射极引出到接地端GND；第二NPN型晶体三极管（3）的发射极引出到接地端GND。
2.根据权利要求1所述的一种继电器综合参数测试系统的吸合释放时间校准装置，其特征在于：所述接线端A、E和F均为BNC接头。
3.根据权利要求1所述的一种继电器综合参数测试系统的吸合释放时间校准装置，其特征在于：继电器综合参数测试系统线圈电源端的正端与函数或任意波形发生器的外触发输入端相连；继电器综合参数测试系统的常开端与校准装置的F端相连；继电器综合参数测试系统的常闭端与校准装置的E端相连；函数或任意波形发生器的输出端与校准装置的A端相连。
4.根据权利要求1所述的一种继电器综合参数测试系统的吸合释放时间校准装置，其特征在于：函数或任意波形发生器的内部晶振用外接参考频标代替。