一种地质勘探测量设备的制作方法

文档序号:17768124发布日期:2019-05-28 17:44阅读:366来源:国知局
一种地质勘探测量设备的制作方法

本实用新型涉及地质勘探领域,具体涉及一种地质勘探测量设备。



背景技术:

地质勘探是通过各种手段、方法对地质进行勘查、探测,确定合适的持力层,根据持力层的地基承载力,确定基础类型,计算基础参数的调查研究活动。测量装置是为了取得目标物某些属性值而进行衡量所需要的第三方标准,故测量装置一般都具有刻度,容积等单位。在地质勘探领域中,垂直角度的测量比较常用,目前,垂直角度测量操作大多通过垂直尺进行,现有技术的垂直尺、功能单一,使用不方便。



技术实现要素:

本实用新型的目的是为解决上述不足,提供一种地质勘探测量设备。

本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的:

一种地质勘探测量设备,包括底座、立柱、定位圆柱销、千分表和表座夹头,底座紧贴在待测物底面,底座左端设置有立柱,立柱上部安装有表座夹头,千分表一端连接表座夹头,另一端连接在待测物上,定位圆柱销固定在千分表正下方的底座上的凹槽口边。

底座表面均匀加工出数条凹槽,使被测件与底座相贴合表面所附着的毛刺、灰尘等异物可以刮到凹槽中,使两接触面能紧密切合。

立柱镶入底座的孔中,尺寸为25×250mm,材质选择SLD热处理到58~62HRC。

底座选择SLD热处理到58~62HRC。

本实用新型具有如下有益的效果:

本实用新型设计合理,使用方便,利用了精密平面磨床能够保证零件平行度精度的特点,使千分表在相对固定位置,侦测两平行平面相对于同一垂直面倾斜角度,通过千分表两次读数差值,计算出这两平行平面与同一垂直面的垂直度误差。

附图说明

图1为本实用新型的侧视结构示意图;

图2为本实用新型的复式结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明:

如图1和图2所示,一种地质勘探测量设备,包括底座1、立柱2、定位圆柱销4、千分表5和表座夹头6,底座1紧贴在待测物3底面,底座1左端设置有立柱2,立柱2上部安装有表座夹头6,千分表5一端连接表座夹头6,另一端连接在待测物3上,定位圆柱销4固定在千分表5正下方的底座上的凹槽口边。

底座表面均匀加工出数条凹槽,使被测件与底座相贴合表面所附着的毛刺、灰尘等异物可以刮到凹槽中,使两接触面能紧密切合。

立柱镶入底座的孔中,尺寸为25×250mm,材质选择SLD热处理到58~62HRC。

底座选择SLD热处理到58~62HRC。

底座:承载待测量零件、治具立柱等部件的支撑件。因其上表面要完全贴合待测量零件的基准面,所以要求该表面平面度误差越小越好。同时表面均匀加工出数条凹槽,目的是测量时通过滑动被测

量零件,使被测件与底座相贴合表面所附着的毛刺、灰尘等异物可以刮到凹槽中,使两接触面能紧密切合。材质选择SLD热处理到58~62HRC以提高耐磨性。

立柱:镶入底座的孔中,支撑千分表及其表座夹头。本立柱设计尺寸为25×250mm,材质选择SLD热处理到58~62HRC。

表座夹头:用于连接立柱与千分表,可根据被测零件高度上下滑动,并锁紧固定在立柱的合适高度,另一端能够使所连接的千分表上下摆动做微量调整并能够在某一角度锁定。

定位圆柱销:固定在千分表正下方的治具底座上的凹槽口边,定位圆柱销与被测平面接触点应为圆柱销截面最大直径点,要高于但尽量接近治具底座上表面。

使用方法:将待测量零件依照常规方法精密研磨,先保证3组对应平面的相互平行度≤0.002mm,各棱边去毛刺,用无尘纸浸湿酒精清洁各表面至干净无污物。将待测量零件的下面放在测量治具底座上,左侧面向千分表表头,来回推动零件,使其下面与底座上表面紧密贴合同时左侧面下方靠紧定位圆柱销外形全长,调整表座夹头,使千分表表头尽可能接触待测零件左侧面上方且表头轴线与左侧面夹角<30°,千分表指针显示预压半圈左右的行程确认表头夹头各螺钉锁紧,确保千分表预设位置固定不动。将待测零件沿下面与治具底座上表面向外侧方向滑动(此过程千分表指针复位),然后在确保待测零件下面与治具底座上表面完全贴合的情况下,推动待测零件使其左侧面下方完全靠紧定位圆柱销外形全长确保千分表预设位置固定不动,轻轻滑退待测零件,旋转180°后,测量待测零件右侧面,依旧以待测零件下面为基准,重复上面步骤动作得出待测零件右侧面千分表指针读数,上一步千分表读数(0.050mm)减去上上一步千分表

读数(0.042mm) ,差值的一半的绝对值就是以待测量零件下面

为基准,左侧面和右侧面的垂直度误差值,并且可以依据前后两次千分表指针位置,判定出被测量面的倾斜方向,是面向还是背向千分表方向倾斜。

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