技术特征：
1.一种用于检测高频信号的探头，其特征在于，包括：同轴线，其中的内导体通过绝缘体被外导体同轴地包围；以及连接导体，其沿平行于所述同轴线的端面的单轴方向延伸且在所述内导体与所述外导体之间电连接。2.根据权利要求1所述的探头，其特征在于，所述连接导体的形状为关于平行于所述单轴方向的中心轴对称。3.根据权利要求1或2所述的探头，其特征在于，所述连接导体位于所述同轴线的端面上。4.根据权利要求3所述的探头，其特征在于，所述连接导体包括：设置在所述连接导体所在的所述端面上的主体部；以及从所述主体部弯折出且设置在所述同轴线的侧面上的弯折部。5.根据权利要求1至4中任一项所述的探头，其特征在于，所述连接导体的表面与所述同轴线的端面在同一平面上。6.根据权利要求1至5中任一项所述的探头，其特征在于，还包括覆盖所述同轴线的端面的保护膜，其中，所述端面包括所述连接导体。7.一种包括多个根据权利要求1至6中任一项所述的探头的阵列探头，其特征在于，所述多个探头排列在直线上、平面上或曲面上。8.一种探测器，其特征在于，包括：根据权利要求1至6中任一项所述的探头；电压传感器，用于检测施加于所述探头的内导体和外导体之间的电压；以及电流传感器，用于检测通过所述探头的连接导体感应到的电流。9.一种用于检测高频信号的方法，其特征在于，包括：将根据权利要求1至6中任一项所述的探头的端面设置在待检测设备的附近；使用电压传感器检测施加于所述探头的内导体和外导体之间的电压；以及使用电流传感器检测通过所述探头的连接导体感应到的电流。
技术总结
一种用于近场测量的非接触、非谐振型定向探头(1)，其可测量宽带中高频率的天线属性，包括：同轴线(2)，其中的内导体(2a)通过绝缘体(2b)同轴地被外导体(2c)包围；以及连接导体(3)，其沿平行于所述同轴线(2)的端面的单轴方向延伸且在所述内导体(2a)与所述外导体(2c)之间电连接。特别地，所述连接导体(3)将与所述单轴方向关于所述连接导体(3)相交的方向上的电场进行时间偏移，从而通过检测施加于所述内导体(2a)与所述外导体(2c)之间的电压，可以检测所述单轴方向上的电场分量，通过检测通过所述连接导体(3)感应到的电流，可以检测出与所述单轴方向相交的方向上的磁场分量。述单轴方向相交的方向上的磁场分量。述单轴方向相交的方向上的磁场分量。
技术研发人员：荒井正巳 新井宏之
受保护的技术使用者：横浜国立大学
技术研发日：2018.11.21
技术公布日：2021/9/14