技术特征：
技术总结
本发明涉及一种光电耦合器低频噪声测试夹具，属于电子器件检测设备，包括底座；设置在所述底座内的电路板，所述电路板上设置有安装被测光电耦合器的定位管座，并且所述电路上设置有测试光电耦合器的测试电路；以及设置在所述底座上的屏蔽结构，所述屏蔽结构为所述电路板提供一个屏蔽测试电路的干扰信号和外部干扰信号的空间。本发明能够在测试过程中屏蔽干扰信号，提高测试结果的准确性。
技术研发人员：何黎;陈芳;孔舒
受保护的技术使用者：武汉格物芯科技有限公司
技术研发日：2019.06.18
技术公布日：2019.10.22