光学模组的测试方法、装置、计算机设备、系统和介质与流程

本申请涉及光学模组测试技术领域，特别是涉及一种光学模组的测试方法、装置、计算机设备、系统和存储介质。

背景技术：

随着摄影技术的发展，出现了3d摄影技术，3d摄影技术通过采用光学模组对物体进行拍摄，可得到物体的三维图像，现有的光学模组例如tof(timeofflight，飞行时间)模组或者深度相机模组就可以在拍摄时，获取物体的景深图。

然而，目前的光学模组在生产出厂之前，需要先进行一系列的测试以保障其性能，避免在使用的过程中出现拍摄效果差等问题，而传统的测试方案往往都是通过单个主机连接单个冶具进行测试，在测试过程中主机先开机，然后通过与冶具例如测试板连接，当待测试的光学模组进入到测试工位之后，再与测试板连接，通过操作主机上的测试软件来完成对待测试光学模组的测试，整个测试过程操作繁琐，测试效率低。

技术实现要素：

基于此，有必要针对传统的光学模组测试效率低的技术问题，提供一种能够提高测试效率的光学模组的测试方法、装置、计算机设备、系统和存储介质。

一种光学模组的测试方法，该方法包括步骤：

获取测试组件的数据信息，根据数据信息生成相应路数的测试线程；

获取各个拨码开关的标识信息，根据标识信息，将各个拨码开关、各路测试线程以及测试组件建立对应关系；

接收测试线程的调用信号，根据对应关系控制拨码开关导通，该拨码开关与调用的测试线程相对应，以使得与调用的测试线程所对应的测试组件连接的待测光学模组进行测试。

上述方法，通过将生成的每一路测试线程分别与拨码开关以及测试组件建立一一对应的关系进行绑定，使得对待测光学模组进行测试时，可以直接通过相应的测试线程来测试与对应的测试组件相连接的待测光学模组，提高了光学模组的测试效率。

在其中一个实施例中，获取测试组件的数据信息，根据数据信息生成相应路数的测试线程之前，还包括步骤：判断是否有待测光学模组与测试组件中的预设测试端口连接；若是，则进入获取测试组件的数据信息，根据数据信息生成相应路数的测试线程的步骤。

预设测试端口为硬件接口，当有待测光学模组连接测试组件之后，测试组件发送相应的感应信号至主机，当主机接收到感应信号之后，就能够开始进行测试，实现测试过程的自动化，减少人工操作。

在其中一个实施例中，获取测试组件的数据信息，根据数据信息生成相应路数的测试线程，具体包括步骤：获取与预设测试端口连接的待测光学模组的数量，将待测光学模组的数量作为测试组件的数据信息；根据数据信息生成对应路数的测试线程。

主机在得到待测光学模组的数量之后，就能够根据待测光学模组的数量生成对应路数的测试线程，使得每一组待测光学模组都具有一路测试线程来进行测试，提高测试效率。

在其中一个实施例中，接收测试线程的调用信号，根据对应关系控制拨码开关导通，所述拨码开关与调用的测试线程对应，以使得与调用的测试线程所对应的测试组件对连接的待测光学模组进行测试，具体包括步骤：根据对应关系，发送测试启动指令至与调用的测试线程所对应的测试组件；其中，测试启动指令用于控制测试组件对待测光学模组进行测试。

在主机接收到测试线程的调用信号之后，根据对应关系，每一个拨码开关都对应连接有一个测试组件，主机生成相应的测试启动指令，经过拨码开关发送至对应连接的测试组件来控制测试组件启动测试，有效的对测试过程进行控制，提高测试过程的安全性。

在其中一个实施例中，接收测试线程的调用信号，根据对应关系所述拨码开关导通，该拨码开关与调用的测试线程相对应，以使得与调用的测试线程所对应的测试组件对连接的待测光学模组进行测试之后，还包括步骤：获取测试组件对连接的待测光学模组进行测试得到的测试结果，并控制导通的拨码开关断开。

当待测光学模组完成测试之后，主机获得测试结果，再将与测试组件连接的拨码开关断开，避免重复的对待测光学模组进行测试，提高测试效率。

在其中一个实施例中，获取测试组件对连接的待测光学模组进行测试得到的测试结果，并控制导通的拨码开关断开之后，还包括步骤：对测试结果进行分析，得到分析结果，并将分析结果输出至显示界面以进行显示。

主机通过对测试结果进行分析之后，将分析结果进行显示，方便工作人员能够直观的了解到各组已经完成测试的光学模组的状态。

一种光学模组的测试装置，该装置包括：

数据信息获取模块，用于获取测试组件的数据信息，根据数据信息生成相应路数的测试线程；

关系建立模块，用于获取各个拨码开关的标识信息，根据该标识信息，将各个拨码开关、各路测试线程以及测试组件建立一一对应关系；

测试模块，用于接收测试线程的调用信号，根据对应关系控制拨码开关导通，该拨码开关与调用的测试线程相对应，以使得与调用的测试线程所对应的测试组件连接的待测光学模组进行测试。

上述装置，通过将生成的每一路测试线程分别与拨码开关以及测试组件建立一一对应的关系进行绑定，使得对待测光学模组进行测试时，可以直接通过相应的测试线程来测试与对应的测试组件连接的待测光学模组，提高了光学模组的测试效率。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述方法步骤。

一种光学模组的测试系统，包括两个或两个以上的拨码开关、两个或两个以上的测试组件以及上述的计算机设备，计算机设备与各个拨码开关连接，各个拨码开关分别连接有对应的测试组件。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述方法步骤。

附图说明

图1为一个实施例中光学模组的测试方法的流程示意图；

图2为另一个实施例中光学模组的测试方法的流程示意图；

图3为一个实施例中光学模组的测试装置的结构框图；

图4为另一个实施例中光学模组的测试装置的结构框图；

图5为一个实施例中光学模组的测试系统的系统框图；

图6为另一个实施例中光学模组的测试系统的系统框图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

在一个实施例中，如图1所示，提供了一种光学模组的测试方法，包括步骤：s200、获取测试组件的数据信息，根据数据信息生成相应路数的测试线程。

具体的，测试组件是用于对待测光学模组进行测试的装置，测试组件包括有测试软件以及测试硬件，主机通过发送相关的指令给测试组件，控制测试组件对待测光学模组进行相应的项目测试。其中，测试组件的数据信息可以是测试组件自身的标识(例如出厂编号)，主机能够连接有多个测试组件，主机通过获取每一个测试组件的标识，以此来确定连接有多少个测试组件，主机在确定连接的测试组件的数量之后，来生成对应路数的测试线程，从而使得每一个测试组件都能够有一路测试线程，主机可以通过每一路测试线程来控制每一个测试组件，使得每一个测试组件对与其连接的待测光学模组进行测试。

s300、获取各个拨码开关的标识信息，根据标识信息，将各个拨码开关、各路测试线程以及测试组件建立对应关系。

具体的，拨码开关是设置与主机与测试组件之间的，即主机与每一个测试组件之间分别通过一个拨码开关连接。为了能够进行区分，各个拨码开关都具有相应的标识信息(例如数字编号)，主机可以采集到各个拨码开关的标识信息，从而将每一个拨码开关与每一个测试组件以及每一路测试线程建立一一对应的关系，即主机连接有多个拨码开关，每一个拨码开关又分别连接有一个测试组件，主机需要通过每一路测试线程发送相应的指令至对应的一个测试组件，故需要建立一一对应的关系，从而避免在测试过程中，测试线程不对应而发生混淆的情况。

s400、接收测试线程的调用信号，根据对应关系控制拨码开关导通，拨码开关与调用的测试线程相对应，以使得与调用的测试线程所对应的测试组件对连接的待测光学模组进行测试。

具体的，对应关系是指每一路测试线程都有对应的一个拨码开关以及一个测试组件，当某一路测试线程被调用时，就可以根据对应关系来找到对应的拨码开关以及测试组件。主机接收测试线程的调用信号的方式具有多种，例如可以是工作人员通过主机的交互界面输入调用信号，即主机在显示屏幕上显示所有的测试线程，工作人员通过选择其中的一路或多路测试线程来产生调用信号。其中，待测光学模组可以是tof(timeofflight,飞行时间)模组，当有测试线程被调用时，此时主机就可以通过被调用的测试线程来控制对应的拨码开关导通，从而发送指令至对应的测试组件，使得该测试组件开始测试连接的待测光学模组。

上述方法，通过将主机生成的每一路测试线程分别与一个拨码开关以及一个测试组件建立一一对应的关系，使得在对光学模组进行测试的过程中，不会使得各个测试线程发生混乱，保证了每一路测试线程能够准确的控制对应的测试组件来进行测试，提高了测试的准确性，同时工作人员只需要通过输入测试线程调用信号即可对实现同时对多个待测光学模组进行测试，减少了测试过程中的接线连接过程，提高了测试效率。

在一个实施例中，如图2所示，步骤s200之前包括步骤：

s100、判断是否有待测光学模组与测试组件中的预设测试端口连接；若是，则进入步骤s200。其中，测试组件包括测试板以及测试工位，测试板上能够存储测试软件来对待测光学模组进行测试(例如可以是精度测试软件或者温度补偿标定测试软件等等)，测试工位上可以放置待测光学模组，当需要进行测试时，待测光学模组放置在测试工位中，与测试板的预设测试端口连接。可以理解，在测试板没有连接待测光学模组时，测试板处于待机状态，等待主机发送的指令，当待测光学模组进入到测试工位，与测试板连接之后，测试板会产生相应的感应信号并发送至主机，主机根据该感应信号判断待测光学模组与测试板之间完成了连接，从而进入到测试步骤。

预设测试端口为硬件接口，当有待测光学模组连接测试组件之后，测试组件发送相应的感应信号至主机，当主机接收到感应信号之后，就能够开始进行测试，实现测试过程的自动化，减少人工操作。

在一个实施例中，如图2所示，步骤s400之后，还包括步骤：

s500、获取测试组件对连接的待测光学模组进行测试得到的测试结果，并控制导通的拨码开关断开。其中，当主机的一路测试线程被调用，并控制对应的测试组件完成了对与其连接的待测光学模组的测试之后，此时该测试组件会将得到的测试结果反馈给主机，主机在接收到测试结果之后，后续不会再对该待测光学模组进行测试了，即控制与该测试组件连接的拨码开关断开，使得主机与该测试组件之间断开连接。需要说明的是，在控制拨码开关的断开的步骤中，可以通过辅助的控制装置来进行控制，即主机发送断开信号至控制装置，以使得控制装置控制拨码开关断开。测试组件的测试结果根据使用的测试软件的不同，能够得到不同的测试结果，例如当使用的是精度测试软件对待测光学模组进行测试时，得到的是该待测光学模组的精度测量结果。

当待测光学模组完成测试之后，主机获得测试结果，再将与测试组件连接的拨码开关断开，避免重复的对待测光学模组进行测试，提高测试效率。

在一个实施例中，如图2所示，步骤s500之后，还包括步骤：

s600、对测试结果进行分析，得到分析结果，并将分析结果输出至显示界面以进行显示。其中，测试结果可以是待测光学模组镜头的脏污测试结果，例如测试组件通过脏污测试软件对待测光学模组的镜头进行脏污测试，得到了包含多副图像的测试结果，测试组件将该测试结果发送至主机之后，主机对这些图像进行分析，例如确定图像中脏污点的位置、数量等等，作为分析结果，然后通过主机的交互界面显示出来。需要说明的是，测试组件在对待测光学模组进行测试时，也可以将该待测光学模组的身份标识信息采集出来，并发送给主机，方便在同时对多个待测光学模组进行测试时，主机能够进行区分。

主机通过对测试结果进行分析之后，将分析结果进行显示，方便工作人员能够直观的了解到各组已经完成测试的光学模组的状态。

在一个实施例中，步骤s200具体包括步骤：获取与预设测试端口连接的待测光学模组的数量，将待测光学模组的数量作为测试组件的数据信息；根据测试组件的数据信息生成对应路数的测试线程。当每一组待测光学模组与一个测试组件连接时，每一组测试组件就会相应的产生一个感应信号，主机通过获取感应信号的数量即可得到待测光学模组的数量。进一步的，在其它实施例中，主机也可以是通过测试组件来获取所有待测光学模组的身份标识，以此来确定待测光学模组的数量。

主机在得到待测光学模组的数量之后，就能够根据待测光学模组的数量生成对应路数的测试线程，使得每一组待测光学模组都具有一路测试线程来进行测试，提高测试效率。

在一个实施例中，步骤s400具体包括步骤：根据对应关系，发送测试启动指令至与调用的测试线程所对应的测试组件。其中，测试启动指令用于控制测试组件对待测光学模组进行测试。具体的，主机在接收到测试线程调用信号之后，根据在步骤s300中建立的对应关系，查找到被调用的测试线程对应的拨码开关以及对应的测试组件，然后生成测试启动指令，通过对应的拨码开关，将测试启动指令输送至对应的测试组件，以控制对应的测试组件来进行测试。

在主机接收到测试线程的调用信号之后，根据对应关系，每一个拨码开关都对应连接有一个测试组件，主机生成相应的测试启动指令，经过拨码开关发送至对应连接的测试组件来控制测试组件启动测试，有效的对测试过程进行控制，提高测试过程的安全性。

应该理解的是，虽然图1以及图2的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1以及图2中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图3所示，提供了一种光学模组的测试装置，该装置包括：

数据信息获取模块200用于获取测试组件的数据信息，根据测试组件的数据信息生成相应路数的测试线程。

关系建立模块300用于获取各个拨码开关的标识信息，根据标识信息，将各个拨码开关、各路测试线程以及测试组件建立一一对应关系。

测试模块400用于接收测试线程的调用信号，根据对应关系控制调用的测试线程所对应的拨码开关导通，以使得调用的测试线程对对应测试组件连接的待测光学模组进行测试。

上述装置，通过将主机生成的每一路测试线程分别与一个拨码开关以及一个测试组件建立一一对应的关系，使得在对光学模组进行测试的过程中，不会使得各个测试线程发生混乱，保证了每一路测试线程能够准确的控制对应的测试组件来进行测试，提高了测试的准确性，同时工作人员只需要通过输入测试线程调用信号即可对实现同时对多个待测光学模组进行测试，减少了测试过程中的接线连接过程，提高了测试效率。

在一个实施例中，如图4所示，该装置还包括判断模块100，用于在数据信息获取模块200获取测试组件的数据信息，根据测试组件的数据信息生成相应路数的测试线程之前，判断是否有待测光学模组与测试组件中的预设测试端口连接；若是，则转至数据信息获取模块200获取测试组件的数据信息，根据测试组件的数据信息生成相应路数的测试线程。

在一个实施例中，如图4所示，该装置还包括结果获取模块500，用于在测试模块400接收测试线程的调用信号，根据对应关系控制调用的测试线程所对应的拨码开关导通，以使得调用的测试线程对对应测试组件连接的待测光学模组进行测试之后，获取测试组件对连接的待测光学模组进行测试得到的测试结果，并控制导通的拨码开关断开。

在一个实施例中，如图4所示，该装置还包括分析模块600，用于在结果获取模块500获取测试组件对连接的待测光学模组进行测试得到的测试结果，并控制导通的拨码开关断开之后，对测试结果进行分析，得到分析结果，并将分析结果输出至显示界面以进行显示。

在一个实施例中，数据信息获取模块200具体包括数量获取模块，用于获取与预设测试端口连接的待测光学模组的数量，将待测光学模组的数量作为测试组件的数据信息；根据测试组件的数据信息生成对应路数的测试线程。

在一个实施例中，测试模块400具体包括指令发送模块，用于根据对应关系，发送测试启动指令至调用的测试线程所对应的测试组件；其中，测试启动指令用于控制测试组件对待测光学模组进行测试。

关于光学模组的测试装置的具体限定可以参见上文中对于光学模组的测试方法的限定，在此不再赘述。上述光学模组的测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述方法步骤。其中，该计算机设备可以是主机，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种光学模组的测试方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

在一个实施例中，如图5所示，提供了一种光学模组的测试系统，该系统包括两个或两个以上的拨码开关、两个或两个以上的测试组件以及上述的计算机设备，计算机设备与各个拨码开关连接，各个拨码开关分别连接有对应的测试组件。具体的，以图5为例，其中包括主机(可以理解为计算机设备)，四个拨码开关(拨码开关00、拨码开关01、拨码开关02以及拨码开关03)，四个测试组件(测试组件00、测试组件01、测试组件02以及测试组件03)，每一个测试组件都连接有一个待测光学模组(待测光学模组00、待测光学模组01、待测光学模组02、待测光学模组03)。其中，根据待测光学模组的数量，主机中生成四路测试线程，具体的测试流程包括工作人员先在主机上进行操作，输入测试线程的调用信号(例如调用测试线程00)，此时主机控制拨码开关00导通，然后将测试启动指令输出至测试组件00，测试组件00开始测试，根据其自身存储的测试软件来对待测光学模组00进行测试，例如通过精度测试软件或者脏污测试软件等等来测试待测光学模组00。具体的测试过程包括当测试组件00调用精度测试软件时，可以控制待测光学模组00在不同的距离下进行图像拍摄，得到不同距离下的拍摄图像等等，对光学模组进行测试的过程可以是现有技术，在此不做过多的赘述。

上述系统，通过将主机生成的每一路测试线程分别与一个拨码开关以及一个测试组件建立一一对应的关系，使得在对光学模组进行测试的过程中，不会使得各个测试线程发生混乱，保证了每一路测试线程能够准确的控制对应的测试组件来进行测试，提高了测试的准确性，同时工作人员只需要通过输入测试线程调用信号即可对实现同时对多个待测光学模组进行测试，减少了测试过程中的接线连接过程，提高了测试效率。

在一个实施例中，如图6所示，测试组件包括测试板以及测试工位，测试板中存储相应的测试软件，测试工位用于放置待测光学模组，当需要开始测试时，待测光学模组进入到测试工位，与测试板通过预设测试端口连接，以使得测试板根据存储的相应测试软件来对待测光学模组进行测试。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述方法步骤。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。