1.一种大电流硅堆外观检测装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的上端固定连接有工作台(3)，所述工作台(3)内开设有空腔，所述空腔内转动连接有转轴(4)，所述转轴(4)上固定连接有支撑板(5)，所述空腔内设有驱动机构，且驱动机构与支撑板(5)连接，所述支撑板(5)的上端竖直对称固定连接有支杆(6)，且两个支杆(6)延伸至工作台(3)的上方，所述工作台(3)的上端固定连接有支撑块(14)，所述支撑块(14)的上端固定连接有放置板(9)，两个所述支杆(6)靠近放置板(9)的一侧均设有检测器(8)。
2.根据权利要求1所述的一种大电流硅堆外观检测装置，其特征在于，所述驱动机构包括固定在空腔内底部的电机(10)，所述电机(10)的驱动端固定连接有驱动杆(12)，且驱动杆(12)远离电机(10)的一端转动连接在空腔的内侧壁上，所述驱动杆(12)上固定连接有锥齿轮(13)，所述支撑板(5)的下方开设有斜齿纹，且锥齿轮(13)与支撑板(5)的下端啮合。
3.根据权利要求1所述的一种大电流硅堆外观检测装置，其特征在于，每个所述支杆(6)靠近支撑块(14)的一侧均对称固定连接有两个气缸(7)，且每个检测器(8)固定在同一个支杆(6)上的两个气缸(7)的驱动端。
4.根据权利要求1所述的一种大电流硅堆外观检测装置，其特征在于，所述工作台(3)的上端环绕开设有移动槽，且两个支杆(6)均位于移动槽内并与移动槽滑动连接。
5.根据权利要求1所述的一种大电流硅堆外观检测装置，其特征在于，所述空腔的内底部上固定连接有稳定块(11)，且稳定块(11)套设在驱动杆(12)上并与驱动杆(12)转动连接。
6.根据权利要求1所述的一种大电流硅堆外观检测装置，其特征在于，所述底座(1)的下端对称固定连接有多个支脚(2)。