1.一种半导体vref基准值测试设备，包括固定底座(1)，其特征在于：所述固定底座(1)的上方设置有控制台(2)，所述控制台(2)的外表面设置有数值显示屏(10)，所述数值显示屏(10)的一侧设置有控制按键(8)，所述数值显示屏(10)的另一侧设置有第一调节旋钮(6)，所述第一调节旋钮(6)的一侧设置有第二调节旋钮(7)，所述第二调节旋钮(7)的上方设置有电源开关(9)，所述控制台(2)的上方设置有第一检测台(3)，所述第一检测台(3)的一侧设置有第二检测台(5)，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)的一侧均设置有外接放电孔(4)，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)的另一侧均设置有移动轨杆(11)，且移动轨杆(11)有两个，所述移动轨杆(11)的上方设置有控制滑块(12)，且控制滑块(12)有两个，所述控制滑块(12)的一侧设置有支撑轴(14)，所述支撑轴(14)的下方设置有调节轨道(20)，所述调节轨道(20)的下方设置有第一检测探针(18)，所述第一检测探针(18)的一侧设置有第二检测探针(19)，所述移动轨杆(11)的下方设置有元件检测槽(13)，所述元件检测槽(13)的内部设置有夹具横杆(15)，所述夹具横杆(15)的上方设置有元件固定块(17)，所述元件固定块(17)的外侧设置有元件夹板(16)，且元件夹板(16)有四个。
2.根据权利要求1所述的一种半导体vref基准值测试设备，其特征在于：所述控制台(2)与固定底座(1)通过螺栓连接，所述控制台(2)与第一检测台(3)和第二检测台(5)固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种半导体vref基准值测试设备，其特征在于：所述第一检测台(3)和第二检测台(5)与移动轨杆(11)通过卡槽连接，所述移动轨杆(11)与控制滑块(12)通过滑槽滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体vref基准值测试设备，其特征在于：所述控制滑块(12)与支撑轴(14)焊接连接，所述支撑轴(14)与调节轨道(20)通过螺栓连接。
5.根据权利要求1所述的一种半导体vref基准值测试设备，其特征在于：所述夹具横杆(15)与第一检测台(3)和第二检测台(5)焊接连接，所述夹具横杆(15)与元件固定块(17)通过支架连接。
6.根据权利要求1所述的一种半导体vref基准值测试设备，其特征在于：所述元件固定块(17)与元件夹板(16)通过滑槽滑动连接，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)与外接放电孔(4)固定连接。