探针检测装置的制作方法

本实用新型是有关一种检测装置，特别是指一种对电子组件进行检测的探针检测装置。

背景技术：

为了确保电子产品出厂的质量，电子组件于制造、组装及出厂前，会因各制程步骤间无法避免的原因产生缺陷，为维持质量的稳定性，需针对所生产的电子组件进行缺陷检测，并根据检测的结果分析造成这些缺陷的原因以进一步掌握，进而达到提升电子组件制程良率以及可靠度的目的。

进行待测的电子组件的电性检测时，电子组件会连接至量测装置，以将驱动信号产生的回馈信号传送至量测的装置。以四线式量测来说，需在每一待测物的两端各接触二支探针，共四支探针，目前四端点感测是以个别独立的四个线轨来带动四个探针，以连接待测物进行量测，实际使用时，所述量测装置是透过一连接单元装设于进行检测的机台上，以带动探针作动进行检测，而所述连接单元装设有一致动器带动探针，且所述致动器的一侧设置有一弹性组件(如：弹簧)，使所述致动器的电磁吸附及松放，通过所述弹性组件的压缩及回复，进行上下位移而使所述测片向外凸伸或回缩位移。

目前虽可透过所述弹性组件的压迫力，进行电性检测，但一段时间后所述弹性组件易有弹性疲乏的困扰，而改变所述弹性组件的反应时间，如此恐将影响业者的生产程序，且大幅降低了所述量测装置的效率，同时更将间接影响电性量测的结果，造成准确率的疑虑。

上述缺点都显现现有电子组件在进行检测过程所衍生的种种问题，因此，如何提高电子组件的检测效率及生产质量，为各方所面临与重视的课题，因此现有技术确实有待提出更佳解决方案的必要性。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型的目的，是提供一种探针检测装置，包含一固定单元、二个致动器，及一探针单元。

所述固定单元包括一底座，及一与所述底座连接的摆动臂，所述二个致动器设置于所述底座与所述摆动臂间，所述探针单元包括一与所述摆动臂连接的探针座，及多个设置于所述探针座上的探针，所述摆动臂受所述二个致动器的作动顶撑以连动所述探针座，使多个探针上下往复位移，以对一电子组件进行检测。

本实用新型的另一技术手段，是在于上述的底座具有一本体，及一位于所述本体中心处并与所述摆动臂连接的中心臂。

本实用新型的又一技术手段，是在于上述的摆动臂具有一靠近所述探针座的第一端，及一远离所述探针座的第二端，所述二个致动器是分设于所述第一端、第二端上。

本实用新型的再一技术手段，是在于上述的探针座具有一靠近所述摆动臂的凹设的联接部，用以与所述摆动臂固接在一起。

本实用新型的另一技术手段，是在于上述的致动器为一电磁阀，且所述电磁阀的输出电压为6v。

本实用新型的又一技术手段，是在于上述的二个致动器的吸附力量相同，且所述二个致动器为交错作动。

本实用新型的再一技术手段，是在于上述的探针单元还包括一与所述底座一侧连接的探针架，所述多个探针会自所述探针架向外凸伸，以触抵所述电子组件进行检测作业。

本实用新型的另一目的，是提供一种探针检测装置，包含一固定单元、二个致动器，及一探针单元。

所述固定单元包括一底座，及一与所述底座连接的摆动臂，所述二个致动器设置于所述底座与所述摆动臂间，其中，所述二个致动器的吸附力量相同，而所述二个致动器为交错作动，所述探针单元包括一与所述摆动臂连接的探针座，及多个设置于所述探针座上的探针，所述摆动臂受所述二个致动器的作动向外顶撑，连动所述探针座使多个探针上下往复位移，以对一电子组件进行检测。

本实用新型的有益功效在于，通过所述摆动臂的第一端、第二端如同跷跷板般轮流上、下顶翘的往复摆动，以对所述电子组件进行电性检测，除了得以优化利用弹簧作为带动探针所衍生的弹性疲乏的困扰外，且所述二个致动器的吸附力量相同，所以不会因接触不良而影响量测结果，而可提升检测的准确性，再者，位于所述第一端、第二端上的二个致动器可瞬间放电的特性，更可加快检测效率与提升市场竞争力。

附图说明

图1是一侧视示意图，说明本实用新型探针检测装置的较佳实施例；

图2是一侧视示意图，说明上述较佳实施例于一检测位置的态样；

图3是一侧视示意图，说明上述较佳实施例于一回缩位置的态样。

附图标记说明：

1-固定单元；11-底座；111-本体；112-中心臂；12-摆动臂；121-第一端；122-第二端；2-致动器；3-探针单元；31-探针座；311-联接部；32-探针；33-探针架；a-检测位置；b-回缩位置；c-电子组件。

具体实施方式

有关本实用新型的相关申请专利特色与技术内容，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。

参阅图1，为本实用新型探针检测装置的较佳实施例，其包含一固定单元1、二个致动器2，及一探针单元3，于此所述探针检测装置是装设于检测机台的下表面，以对一电子组件c进行电性检测，而所述电子组件c会自图1所标示的箭头方向输送到所述探针单元3上方。

所述固定单元1包括一底座11，及一与所述底座11连接的摆动臂12，其中，所述底座11具有一本体111，及一位于所述本体111中心处并与所述摆动臂12连接的中心臂112，而所述摆动臂12具有一第一端121，及一相反的第二端122。

所述二个致动器2设置于所述底座11与所述摆动臂12间，且所述二个致动器2是分设于所述第一端121、第二端122上。再者，所述致动器2为一电磁阀，且所述电磁阀的输出电压为6v，所述二个致动器2的吸附力量相同，且所述二个致动器2为一吸一放的交错作动。

所述探针单元3包括一与所述摆动臂12连接的探针座31，及多个设置于所述探针座31上的探针32，所述摆动臂12受所述二个致动器2的作动顶撑以连动所述探针座31，使多个探针32上下往复位移，以对所述电子组件c进行检测。

其中，所述摆动臂12的第一端121是靠近所述探针座31设置，而所述摆动臂12的第二端122则是远离所述探针座31设置。

进一步地，所述探针座31具有一靠近所述摆动臂12的第一端121凹设的联接部311，用以与所述摆动臂12的第一端121固接在一起。

另外，所述探针单元3还包括一与所述底座11的本体111一侧连接的探针架33，所述多个探针32会自所述探针架33向外凸伸，以触抵所述电子组件c进行检测作业。

配合参阅图2、3，实际实施时，所述多个探针32可相对所述探针架33在一检测位置a及一回缩位置b间移动，当所述多个探针32位于所述检测位置a时，位于所述第一端121上的致动器2作动，同时吸附所述摆动臂12的第一端121向上顶翘，进而连动与所述第一端121连接的探针座31向上顶翘，以令设置于所述探针座31上的探针32向上凸伸，而检测位于所述探针32上的电子组件c。

反之，当所述多个探针位于所述回缩位置b时，位于所述第一端121上的致动器2不作动，改由位于所述第二端122上的致动器2作动，以吸附所述摆动臂12的第二端122向上顶翘，进而连动与所述第一端121连接的探针座31向下复位，以令设置于所述探针座31上的探针32向下回缩，即为完成所述探针32上的电子组件c的检测。

通过所述摆动臂12的第一端121、第二端122在所述检测位置a及所述回缩位置b间移动，如同跷跷板般轮流上、下顶翘的往复摆动，以对所述电子组件c进行电性检测，透过本实用新型的设计除了得以优化现有利用弹簧作为带动探针所衍生的弹性疲乏的困扰外，且所述二个致动器2的吸附力量相同，所以不会因接触不良而影响量测结果，而可提升检测准确性。再者，利用位于所述第一端121、第二端122上的二个致动器2可瞬间放电的特性，更可加快检测效率，进而提升设备于市场上的竞争力。

综上所述，本实用新型探针检测装置，通过所述固定单元1、所述二个致动器2，及所述探针单元3间相互设置，多个探针32可相对所述探针架33于所述检测位置a及所述回缩位置b间移动，且所述二个致动器2互为交错作动，以连动所述摆动臂12的第一端121、第二端122如同跷跷板般轮流上、下顶翘的往复摆动，将得以加快检测效率，进而提升所述电子组件c的生产良率及市场竞争力，故确实可以达成本实用新型的目的。

惟以上所述者，仅为本实用新型的较佳实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施的范围，即大凡依本实用新型权利要求及实用新型说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本实用新型专利涵盖的范围内。