集成电路高温老化测试装置的制作方法

本实用新型涉及电子电路领域，具体涉及一种集成电路高温老化测试装置。

背景技术：

随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越精细，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中产生的缺陷可能也会随之放大。对于一个合格的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性，电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。目前，国内外普遍采用高温老化工艺来提高电子产品的稳定性和可靠性，通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能够经得起时间的考验。

集成电路芯片在进行批量生产之前，一般都要经过老化测试以保证品质，传统的老化测试板通常为多工位老化pcb板，每个工位上设有专用芯片插座，将待测试芯片的管脚引入老化pcb板，对多个待测试芯片进行高温高压带电的老化试验。

然而，被测芯片的种类繁多，其封装型式以及引脚的排列不同，故针对不同类型的被测芯片，需要订制不同的老化测试板。目前老化测试板的设计制造成本较高，带来了很高的测试成本，对于那些单价较低且测试线路简单的产品较难接受。此外，订制老化测试板的前期准备时间较长，加长了测试周期，降低了测试效率。

技术实现要素：

针对上述现有技术的缺点或不足，本实用新型提供了一种集成电路高温老化测试装置，在保证测试准确性的前提下，能够适用于多种类型的集成电路芯片进行老化试验，从而有效地节约测试成本，降低测试周期。

本实用新型通过以下技术方案实现：

一种集成电路高温老化测试装置，包括上位机、监控模块、电源管理模块、通用模块和专用模块，其中，

所述上位机与监控模块连接，用于与监控模块通信；

所述监控模块分别与上位机、电源管理模块连接，用于根据上位机命令执行相应的操作，并监控待测试芯片的io信号；

所述电源管理模块分别与监控模块、通用模块连接，用于通用模块的供电；

所述通用模块分别与电源管理模块、专用模块连接，用于配置待测试芯片的通用电路；

所述专用模块与通用模块连接，用于配置待测试芯片的必要外围电路。

具体的，通用模块上包括多个通道，每个通道上包括多个专用工位，所述专用工位用于放置所述专用模块。

具体的，不同通道所对应的待测试芯片不同或相同。

具体的，同一通道所对应的待测试芯片相同。

具体的，所述监控模块进一步监控通用模块的供电电压。

具体的，所述测试装置还包括与监控模块连接的存储器，所述存储器用于存储待测试芯片的测试信息。

本实用新型提供的集成电路高温老化测试装置将现有老化pcb板分化为通用模块和专用模块，通用模块用于配置通用电路，适用于多种不同封装产品的通用测试，重复利用率高；专用模块用于配置必要外围电路，更换不同类型的测试芯片时仅需更换专用模块，不需再根据不同封装型式的产品订制专用的老化板，并节省成本；通过多通道多专用工位同时进行多芯片测试，实现大批量测试，缩短测试时间，降低了测试周期。

附图说明

附图1为本实用新型提供的集成电路高温老化测试装置的电路模块构造图。

附图2为本实用新型提供的通用模块的平面电路构造图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供了一种集成电路高温老化测试装置，如图1所示，包括上位机、监控模块、电源管理模块、通用模块和专用模块，其中，

所述上位机与监控模块连接，用于与监控模块通信；

所述监控模块分别与上位机、电源管理模块连接，用于根据上位机命令执行相应的操作，并监控待测试芯片的io信号；

所述电源管理模块分别与监控模块、通用模块连接，用于通用模块的供电；

所述通用模块分别与电源管理模块、专用模块连接，用于配置待测试芯片的通用电路；

所述专用模块与通用模块连接，用于配置待测试芯片的必要外围电路。

上述通用模块上包括多个通道，每个通道上包括多个专用工位，所述专用工位用于放置所述专用模块。参照图2，其示出了通用模块上的n个通道与每个通道上的多个专用工位，不同通道所对应的待测试芯片不同或相同，且同一通道所对应的待测试芯片相同或不同。

作为上述通道和专用工位的一种示例，不同通道所对应的待测试芯片相同，且同一通道所对应的待测试芯片相同。例如，第一通道上的多个专用工位中，每一个专用工位所放置的待测试芯片相同，其他通道上的多个专用工位中，每一个专用工位所放置的待测试芯片相同，且第一通道上的待测试芯片与其他通道上的待测试芯片相同。该示例下的不同通道、不同专用工位的待测试芯片相同，因此电源管理模块供给各个通道的电压一致，该示例可应用于大规模、同类型的待测试芯片的高温老化测试工作。

作为上述通道和专用工位的一种示例，不同通道所对应的待测试芯片不同，且同一通道所对应的待测试芯片相同。例如，第一通道上的多个专用工位中，每一个专用工位所放置的待测试芯片相同，其他通道上的多个专用工位中，每一个专用工位所放置的待测试芯片相同，且第一通道上的待测试芯片与其他通道上的待测试芯片互不相同，或者，第一通道上的待测试芯片与某些其他通道上的待测试芯片互不相同，而与其他另一些通道上的待测试芯片互不相同。该示例下的同一通道的待测试芯片相同、不同通道的待测试芯片不同，因此电源管理模块供给各个通道的电压不一，需要对不同电压需求的通道做进一步电压管理，该示例可应用于大规模、不同类型的待测试芯片的高温老化测试工作。

上述监控模块监控待测试芯片的io信号，电源管理模块通过通用模块供电激励各通道的各个专用工位上的待测试芯片引脚，监控模块捕捉io信号，根据结果判断该芯片工作状态是否正常。

在上述根据芯片引脚反应结果判断时，可能存在因电源管理模块或通用模块的故障原因，导致待测试芯片工作状态失常。因此，上述监控模块进一步监控通用模块的供电电压，以此准确区别芯片问题和其他电路问题，提高芯片测试的准确率。

在本实用新型上述提供的测试装置中，还包括与监控模块连接的存储器，该存储器用于存储待测试芯片的测试信息，包括且不限于待测试芯片老化时间、io信号等关键参数，方便测试人员查看，且有利于后期跟踪。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。