技术特征：
1.一种用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，包括：定位工装，所述定位工装用于固定待测光学晶体；靶盘，所述靶盘与所述定位工装间隔设置，所述靶盘朝向待测光学晶体反射面的表面上设置有多个标记圈，多个所述标记圈同心设置；光源，所述光源设置在所述定位工装及靶盘之间并用于朝向待测光学晶体反射面发射光线。2.根据权利要求1所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述角度检验装置还包括有三轴调节滑台，所述三轴调节滑台固定连接所述定位工装。3.根据权利要求2所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述角度检验装置还包括有底座，固定设置在所述底座上的滑台支撑柱，所述三轴调节滑台固定连接在所述滑台支撑柱上。4.根据权利要求3所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述底座上固定连接有光源支柱，所述光源固定连接在所述光源支柱上；所述底座上固定连接有靶立柱，所述靶盘固定设置在所述靶立柱上；所述光源的中心与所述靶盘的中心位于竖直方向的同一高度。5.根据权利要求2所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述定位工装包括固定板，固定设置在固定板上的凸台，开设在所述凸台上的安装孔，所述待测光学晶体卡嵌在所述安装孔中。6.根据权利要求5所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述安装孔包括第一安装孔，所述第一安装孔的内壁上固定设置有定位软套，所述定位软套内设置有定位筋。7.根据权利要求6所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述安装孔还包括第二安装孔，所述凸台上开设有避空槽，所述避空槽连通所述第二安装孔的孔口。8.根据权利要求7所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述第二安装孔设置有多个，多个所述第二安装孔的直径大小不相等。9.根据权利要求5所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述固定板上开设有通孔，所述通孔用于穿设螺钉与所述三轴调节滑台固定连接。