用于样本分析仪的传送带的制作方法

1.本实用新型涉及医疗器械技术领域，特别涉及一种用于样本分析仪的传送带。


背景技术：

2.自动进样器是一种智能化、自动化的进样仪器，只需设置好进样参数、把待检测样品放入试管中，传送带就可以把样品自动运输到检测仪器内，即可完成自动进样过程。自动进样器可很大程度地减少人工操作，提高检测效率，在医学检测领域，得到了广泛的应用。
3.现有的自动进样设备需支持复检功能，实现试管架在传输带上来回反复运输，由于惯性作用，在正反向运输过程中，传送带与试管架容易发生相对滑动，使得检测仪器对样本试管定位不精准。


技术实现要素：

4.本技术提供一种用于样本分析仪的传送带，以解决现有技术中传送带与试管架容易发生相对滑动，使得检测仪器对样本试管定位不精准的技术问题。
5.为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种用于样本分析仪的传送带，其特征在于，所述用于样本分析仪的传送带包括：带体，用于承载并运送试管架或试管；
6.定位结构，设于所述带体，用于对承载于所述带体上的所述试管架或所述试管进行定位。
7.根据本实用新型一具体实施例，所述定位结构为凸起于所述带体外表面的挡块，所述挡块用于与所述试管架的端部止挡定位配合或者与所述试管架的底部滑动定位配合；或者
8.所述定位结构为凹陷于所述带体外表面的凹陷区，所述凹陷区用于收容所述试管架的底部或收容所述试管的底部。
9.根据本实用新型一具体实施例，所述带体与所述挡块为一体结构，所述带体和所述挡块为相同材料，所述带体包括第一层结构和第二层结构，所述第一层结构用于承载所述试管架或试管，所述挡块与所述第一层结构一体成型。根据本实用新型一具体实施例，所述挡块通过热熔方式与所述带体相连接，所述带体和所述挡块为相同材料或不同材料。
10.根据本实用新型一具体实施例，所述挡块通过螺钉或卡扣方式与所述带体相连接。
11.根据本实用新型一具体实施例，所述带体设有通孔或通槽，所述挡块设有螺孔，所述样本分析仪的传送带还包括螺钉，所述螺钉贯穿所述通孔或所述通槽并与所述螺孔相配合；或者所述样本分析仪的传送带还包括卡扣件，所述卡扣件贯穿所述通孔或所述通槽并与所述卡扣槽相配合。
12.根据本实用新型一具体实施例，所述带体呈环圈状，具有光滑内表面或齿形内表面。
13.根据本实用新型一具体实施例，所述挡块为多个，相邻两个所述挡块的间距与所述试管架的长度相对应以匹配接收一个所述试管架装入；或者
14.所述挡块为多个，相邻两个所述挡块之间形成有固定的第一间距和非固定的第二间距，所述第一间距与所述试管架的长度相对应以匹配接收一个所述试管架装入。
15.根据本实用新型一具体实施例，所述挡块与所述试管架的底部匹配嵌合进而对承载于所述带体上的所述试管架进行定位。
16.为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种样本分析仪，所述样本分析仪包括：
17.进样平台，用于装载试管架；
18.上述的样本分析仪的传送带，设于所述进样平台的侧边，用于接收所述进样平台上的所述试管架。
19.本技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，本实用新型提供的用于样本分析仪的传送带通过在传送带上设有定位结果，在传送带来回移动过程中，可防止传送带与试管架或试管发生相对滑动，起到准确定位试管架或试管的作用。
附图说明
20.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：
21.图1是本技术实施例提供的传送带的等距挡块结构示意图；
22.图2是本技术实施例提供的传送带的不等距挡块结构示意图；
23.图3是本技术实施例提供的进样机构的装载位结构示意图；
24.图4是本技术实施例提供的第一试管架的扫码位和取样位的结构示意图；
25.图5是本技术实施例提供的第二试管架的装载位的结构示意图；
26.图6是本技术实施例提供的进样机构的位置传感器的位置结构示意图；
27.图7是本技术实施例提供的进样机构的装载位和卸载位缓冲区的位置结构示意图；
28.图8是本技术实施例提供的进样机构的装载位缓冲区的位置结构示意图；
29.图9是本技术实施例提供的进样机构的卸载位缓冲区的位置结构示意图。
具体实施方式
30.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
31.需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
32.另外，若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
33.请参阅图1，本技术实施例提供一种用于样本分析仪的传送带，该用于样本分析仪的传送带10包括带体11和定位结构12。其中，带体11用于承载并运送试管架或试管20，定位结构12设于带体11的表面，用于对承载于带体11上的试管架或试管20进行定位，从而保证在带体11来回移动的过程中，防止带体11与试管架或试管20发生相对滑动，起到准确定位试管架或试管20的作用。
34.带体11呈环圈状，可为平皮带，具有光滑内表面。可选地，带体11也可为同步带，具有齿形内表面，其传动精度和传动效率较高。
35.定位结构12可为凸起于带体11外表面的挡块12，挡块12用于与试管架20的端部止挡定位配合或者与试管架20的底部滑动定位配合，进而对承载于带体11上的试管架20进行定位。当然，可选地，定位结构12也可为凹陷于带体11外表面的凹陷区，凹陷区用于收容试管架20的底部或收容试管20的底部。
36.挡块12可通过多种连接方式与带体11连接。优选地，带体11与挡块12为一体结构，带体11和挡块12为相同材料，通过冲压工艺一体成型加工而成。或者，带体11包括第一层结构和第二层结构，第一层结构用于承载试管架或试管20，挡块12与第一层结构一体成型。
37.可选地，挡块12通过热熔方式与带体11相连接，带体11和挡块12为相同材料或不同材料。
38.可选地，挡块12通过螺钉或卡扣方式与带体11相连接。在此实施例中，带体11设有通孔或通槽(图未示出)，挡块12设有螺孔(图未示出)，样本分析仪的传送带10还包括螺钉，螺钉贯穿带体11的通孔或通槽并与挡块12的螺孔相配合，使得带体11与挡块12固定连接。或者样本分析仪的传送带10还包括卡扣件(图未示出)，挡块12设有卡扣槽(图未示出)，卡扣件贯穿带体11的通孔或通槽并与挡块12的卡扣槽相配合，使得带体11与挡块12固定连接。
39.在本实施例中，挡块12的数量不做限制，可为多个。挡块12之间的距离可为多种设置，可选地，如图1所示，相邻两个挡块12的间距与试管架20的长度相对应以匹配接收一个试管架20装入，6个挡块12可划分成6个相同间距，两个挡块12的间距刚好与试管架20的长度相匹配。若挡块12呈等距分布，传送带10的长度＝(挡块12宽度+试管架20长度+预设间隙)
×
n，其中n为自然数。
40.可选地，如图2所示，相邻两个挡块12之间形成有固定的第一间距和非固定的第二间距，第一间距与试管架20的长度相对应以匹配接收一个试管架20装入，6个挡块12每两个相邻的挡块12之间可划分成5个固定的第一间距和5个非固定的第二间距，5个固定的第一间距刚好与试管架20的长度相匹配。若挡块12呈非等距分布，传送带10的长度＝(l1+2
×
l2+l3+l4)
×
n，其中，l1＝试管架长度，l2＝挡块宽度，l3＝挡块的间距，l4＝试管架与挡块的间距。此种方案通过相邻的挡块12之间形成的非固定的第二间距可满足相邻两组试管架20
同时在传送带10上运动，且对传送带10的长度设定提供更多选择。。区别于现有技术，本技术的用于样本分析仪的传送带10，通过在传送带10上设有定位结构12，在传送带10来回移动过程中，可防止传送带10与试管架或试管20发生相对滑动或碰撞，起到准确定位试管架或试管20的作用。
41.请一并参阅图3～图5，本技术提供一种进样机构，该进样机构包括传送带10和驱动器30。在本实施例中，传送带10为单条传送带，传送带10用于通过定位结构12在与装载位101对位时接收试管架20载入。驱动器30可为电机，电机转动从而驱动传送带10转动，从而带动试管架20从装载位101依次经过扫码位102、取样103、卸载位104，扫码位102用于设置扫码机构以对试管进行扫码识别，取样位103用于试管架20上的试管进行采样，卸载位104用于卸载试管架20。
42.其中，试管架包括第一试管架21和第二试管架22，当第一试管架21通过第一组定位结构12运载至取样位103或卸载位104时，若第二组定位结构12恰好与装载位101对位，则可直接接收第二试管架22载入。若第二组定位结构12与装载位101错位，则驱动器30在第一试管架21上的试管被取走时驱动传送带10回退预定距离，以使得第二组定位结构12与装载位101对位进而接收第二试管架22载入，并驱动传送带10前进预定距离完成复位进而接收试管被放回。
43.在本实施例中，多组试管架20在进样机构上有多种可能的情况。可选地，当第一试管架21通过第一组定位结构12运载至103取样位时，第二试管架22进入扫码位102。可选地，当第一试管架21通过第一组定位结构12运载至取样位103时，第二试管架22与扫码位102之间间隔预定距离。可选地，当第一试管架21通过第一组定位结构12运载至取样位103时，第二试管架22处于装载位101，此时第二组定位结构12恰好与装载位对位101，则可直接接收第二试管架22载入。当第一试管架21通过第一组定位结构12运载至卸载位104时，第二试管架22处于装载位101，使第二组定位结构12接收第二试管架22载入。
44.可选地，当第一试管架21通过第一组定位结构12运载至取样位103或卸载位104且第一试管架21上的试管被取走时，若第二组定位结构12与装载位101错位，则在第一试管架21上的试管被取走的预定时间内，驱动器30驱动传送带10进行回退。上述的预定时间可为：当试管运载至取样位103时，试管从第一试管架21上被拿取，需要进行加入试剂、混匀等一系列操作所花费的时间。在第一试管架21上的任一试管被取走的预定时间内均可实施，这里不做限制。优选的实施例为，在第一试管架21上末位的试管被取走的预定时间内，电机反向转动使得传送带10反向传动回退预定距离，使得第二组定位结构12与装载位101对位进而接收第二试管架22载入，并且电机正向转动使得传送带10正向传动前进预定距离，使得第二试管架22上的前两个试管在扫码位102完成扫码识别。比如，第一试管架试管个数为10个，在第10个试管被取走的10s内，电机反向转动使得传送带10回退5cm，此时第二组定位结构12与装载位101刚好对位上，第二试管架22被送入传送带10上，然后电机正向转动使得传送带10前进，使得第二试管架22上的多个试管进入扫码位完成扫码，例如，完成一个试管扫码需要前进2.5cm，那么刚好第二试管架22上的前面2个试管可完成扫码，此时刚好一共前进5cm，花费了10s时间，传送带10正好完成复位回到最初的位置，可刚好接收完成取样操作的第10个试管放回至第一试管架21上。
45.区别于现有技术，本技术的进样机构，通过单个传送带10实现试管架的来回运输，
且通过在第一试管架21的进样过程的任意时刻，对第二试管架22进行装载进样，具体可为通过有效地利用第一试管架21上的试管被取走的预定时间，完成传动带10回退预定距离以实现第二试管架22的对位进而接收第二试管架22载入，同时完成传送带10前进同样的预定距离完成复位操作进而接收被取走的试管放回，使得该进样机构各个工位的操作流程在时间上更加紧凑，且能有效地利用了中间的空挡时间实现了传送带10的往复运输，提高了进样速率，从而提高了设备整体的检测效率。本技术的进样机构，单个传送带10的设计使得结构更简单，成本降低，还可支持复检功能，当检测到第一试管架21上某个样本的检测数据为异常时，则控制传送带10回退进行复检，同时可实现对至少2排试管架同时进行运送且不影响整个进样机构的整体检测效率。
46.请参阅图6，进样机构还包括多个位置传感器40，多个位置传感器40用于识别挡块12的位置，从而可提高装载位101、扫码位102、取样103和卸载位104等位置的精度。多个位置传感器40可为光耦传感器或者行程开关，可分别设置在装载位101、扫码位102、取样103和卸载位104位置的挡块12处。
47.请一并参阅图7～图9，进样机构还包括缓冲区105，缓冲区105可设于带体11的任一端靠近装载位101或卸载位104的位置，也可在带体11的两端，分别靠近装载位101和卸载位104的位置均设置缓冲区105。缓冲区105用于支持带体11上承载有第一试管架21、第二试管架22整体回退或前进。缓冲区105的设置实现了第一试管架21和第二试管架22同时随着传送带10来回运动。
48.本技术提供一种样本分析仪，该样本分析仪包括装载机构、扫码机构、取样机构、卸载机构及上述的进样机构。装载机构设于装载位101处，用于装载试管架20。取样机构设于取样位102，即设于装载机构的下游，用于对试管架20上的试管进行取样。扫码机构设于扫码位102，即设于装载机构和取样机构之间，用于对试管进行逐一扫码识别。卸载机构设于卸载位104，即设于装载机构下游，用于卸载试管架20。该样本分析仪能实现自动化、智能化地完成装载、扫码、进样、取样、检测及卸载等功能。
49.综上所述，本领域技术人员容易理解，本技术提供的用于样本分析仪的传送带10，通过在传送带10上设有定位结构12，在传送带10来回移动过程中，可防止传送带10与试管架或试管20发生相对滑动，起到准确定位试管架或试管20的作用。本技术提供的进样机构，通过单个传送带10实现试管架的来回运输，且通过在第一试管架21的进样过程的任意时刻，对第二试管架22进行装载进样，具体可为通过有效地利用第一试管架21上的试管被取走的预定时间，完成传动带10回退预定距离以实现第二试管架22的对位进而接收第二试管架22载入，同时完成传送带10前进同样的预定距离完成复位操作进而接收被取走的试管放回，使得该进样机构各个工位的操作流程在时间上更加紧凑，且能有效地利用了中间的空挡时间实现了传送带10的往复运输，提高了进样速率，从而提高了设备整体的检测效率。本技术的进样机构，单个传送带10的设计使得结构更简单，成本降低，还可支持复检功能，当检测到第一试管架21上某个样本的检测数据为异常时，则控制传送带10回退进行复检，同时可实现对至少2排试管架同时进行运送且不影响整个进样机构的整体检测效率。
50.以上仅为本技术的实施方式，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本技术的专利保护范围内。