一种芯片防震强度检测装置的制作方法

1.本实用新型提供一种芯片防震强度检测装置，属于芯片强度检测技术领域。


背景技术：

2.随着科技的发展，收集、平板电脑等已经变成生活中的必需品，组成这些电子元器件的最重要的零件之一就是芯片，芯片在生产完成后并不能马上投入使用，需要经过严格的检测，经检测合格的芯片才能被投入市场。在传统的检测中，芯片检测需要人工进行逐一检测，然后将不良品挑拣出，效率低，定位不准确，出错率高而且需要大量人工成本。少数工厂采用集成电路来检测芯片，但测试设备价格昂贵，且测试时间长，测试成本高，一个设备只能检测一块芯片，而且检测多为静态检测，适用范围狭窄，所以需要一种在震动环境下对芯片的检测装置。


技术实现要素：

3.本实用新型为了解决上述问题，提供的一种芯片防震强度检测装置。为了解决上述问题，提供的技术方案为：一种芯片防震强度检测装置，包括装置主体，所述装置主体内设有空腔，所述空腔内壁一侧设有电机一，所述电机一输出端设有传动杆，所述传动杆远离电机一的一端设有凸轮，所述空腔与电机一同侧内壁且位于电机一上方设有电动液压杆，所述电动液压杆活动端设有控制台，所述控制台下侧面设有若干检测机械臂，所述检测机械臂包括与控制台下侧面固定连接的轴承一，所述轴承一下侧面设有传动块一，所述传动块一下侧面铰接设有连接块，所述连接块下侧面铰接设有传动块二，所述传动块二下侧面设有弹簧一，所述弹簧一另一端对称设有电极探针，所述空腔内位于检测机械臂和凸轮之间设有震动平台，所述震动平台包括与空腔内壁滑动连接的凸台，所述凸台与凸轮相互接触，所述凸台镶嵌设有电机二，所述电机二输出端延伸出凸台的一端设有连杆一，所述连杆一活动端铰接设有连杆二，所述凸台一侧设有凹槽，所述凹槽内滑动设有支撑柱，所述支撑柱与连杆二铰接连接，所述支撑柱上方且高于凸台设有测试台，所述测试台上侧面对应检测机械臂设有若干芯片槽，所述芯片槽两侧对称设有测试孔，所述测试孔与电极探针电性连接。
4.本实用新型的优点在于：
5.本实用新型结构精巧，不仅可以同时检测多块芯片，还能测试在极端环境下芯片能否正常工作，检测更加严格，增加了芯片的合格率，提高了检测效率。
6.进一步地，所述空腔内底面设有若干支撑杆，所述支撑杆上设有轴承二，所述轴承二与传动杆固定连接，所述传动杆位于凸轮两侧设有限位板，所述限位板与凸轮相互接触，所述传动杆另一端与空腔内壁转动连接，给传动杆提供进一步地支撑，延长使用寿命。
7.进一步地，所述凸台靠近空腔内壁的两侧面均设有滑轮，减小凸台与装置主体的摩擦。
8.进一步地，所述支撑柱两侧对称设有弹簧二，所述弹簧二与凹槽固定连接。
9.进一步地，所述测试台下侧面设有车轮，所述车轮与凸台相互接触，提供给测试台一定的支撑力。
10.进一步地，所述凸台位于车轮两侧设有挡板，避免车轮滑出凸台。
11.进一步地，所述空腔上侧面远离电动液压杆的一侧设有滑槽，所述控制台的一侧延伸进滑槽内与滑槽滑动连接，限定控制台的滑动，提高稳定性。
12.进一步地，所述装置主体位于电机一下侧铰接设有门板，便于日后检修。
附图说明
13.图1是本实用新型一种芯片防震强度检测装置的结构示意图。
14.图2是本实用新型一种芯片防震强度检测装置的测试台的俯视图。
15.图3是本实用新型一种芯片防震强度检测装置的检测机械臂的结构示意图。
16.图4是本实用新型一种芯片防震强度检测装置的凸轮的侧视图。
17.如图所示：
18.1、装置主体，2、空腔，3、电机一，4、传动杆，5、凸轮，6、电动液压杆，7、控制台，8、检测机械臂，9、轴承一，10、传动块一，11、连接块，12、传动块二，13、弹簧一，14、电极探针，15、凸台，16、电机二，17、连杆一，18、连杆二，19、凹槽，20、支撑柱，21、测试台，22、芯片槽，23、测试孔，24、支撑杆，25、轴承二，26、限位板，27、滑轮，28、弹簧二，29、车轮，30、挡板，31、滑槽，32、门板。
具体实施方式
19.下面结合附图对本实用新型作进一步说明。
20.根据所有附图所示：
21.一种芯片防震强度检测装置，包括装置主体1，所述装置主体1内设有空腔2，所述空腔2内壁一侧设有电机一3，所述电机一3输出端设有传动杆4，所述传动杆4远离电机一3的一端设有凸轮5，所述空腔2与电机一3同侧内壁且位于电机一3上方设有电动液压杆6，所述电动液压杆6活动端设有控制台7，所述控制台7下侧面设有若干检测机械臂8，所述检测机械臂8包括与控制台7下侧面固定连接的轴承一9，所述轴承一9下侧面设有传动块一10，所述传动块一10下侧面铰接设有连接块11，所述连接块11下侧面铰接设有传动块二12，所述传动块二12下侧面设有弹簧一13，所述弹簧一13另一端对称设有电极探针14，所述空腔2内位于检测机械臂8和凸轮5之间设有震动平台，所述震动平台包括与空腔2内壁滑动连接的凸台15，所述凸台15与凸轮5相互接触，所述凸台15镶嵌设有电机二16，所述电机二16输出端延伸出凸台15的一端设有连杆一17，所述连杆一17活动端铰接设有连杆二18，所述凸台15一侧设有凹槽19，所述凹槽19内滑动设有支撑柱20，所述支撑柱20与连杆二18铰接连接，所述支撑柱20上方且高于凸台15设有测试台21，所述测试台21上侧面对应检测机械臂8设有若干芯片槽22，所述芯片槽22两侧对称设有测试孔23，所述测试孔23与电极探针14电性连接。
22.进一步地，所述空腔2内底面设有若干支撑杆24，所述支撑杆24上设有轴承二25，所述轴承二25与传动杆4固定连接，所述传动杆4位于凸轮5两侧设有限位板26，所述限位板26与凸轮5相互接触，所述传动杆4另一端与空腔2内壁转动连接，给传动杆4提供进一步地
支撑，延长使用寿命。
23.进一步地，所述凸台15靠近空腔2内壁的两侧面均设有滑轮27，减小凸台15与装置主体1的摩擦。
24.进一步地，所述支撑柱20两侧对称设有弹簧二28，所述弹簧二28与凹槽19固定连接。
25.进一步地，所述测试台21下侧面设有车轮29，所述车轮29与凸台15相互接触，提供给测试台21一定的支撑力。
26.进一步地，所述凸台15位于车轮29两侧设有挡板30，避免车轮29滑出凸台15。
27.进一步地，所述空腔2上侧面远离电动液压杆6的一侧设有滑槽31，所述控制台7的一侧延伸进滑槽31内与滑槽31滑动连接，限定控制台7的滑动，提高稳定性。
28.进一步地，所述装置主体1位于电机一3下侧铰接设有门板32，便于日后检修。
29.本实用新型在具体实施时：
30.将待检测的芯片放在测试台21上的芯片槽22内，控制电动液压杆6下降，将电极探针14与测试孔23对应插入接通电源，开始读取内部数据，电极一3和电机二16开始工作，电机一3带动传动杆4旋转带动凸轮5旋转，带动凸台15上下移动，电机二16旋转，带动连杆一17旋转，连杆一17带动连杆二18转动，连杆二18带动支撑柱20在凹槽19内来回滑动，从而实现上下左右方向的震动，由于检测机械臂8设计的弹簧一13、连接块11和轴承一9特殊连接关系，可以满足在检测时，电极探针14与测试孔23的相对静止，提高检测稳定性。
31.以上对本实用新型及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本实用新型的保护范围。