一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法

1.本发明涉及温度测量技术领域，尤其是涉及一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法。


背景技术：

2.对于工业熔盐电解质，尤其工业铝电解质，初晶温度是非常重要的物理性质，初晶温度的准确测试能更好的指导如熔盐储能材料的生产和铝电解生产过程控制。
3.目前，已有技术实现了工业铝电解质该种熔盐电解质初晶温度的测试技术，现有技术中主要包括有以下几种测试初晶温度的方法。
4.第一种：化学分析法，这类方法是用过化学分析获得电解质的化学成分，通过大量的分析数据建立的初晶温度经验公式来推算电解质的初晶温度，且不同的电解体系需要建立各自不同的推算公式，同时，该方法依赖于化学成分的测定，工作量大，测定时间长，难于适应工业需求。
5.第二种：步冷曲线法，先使电解质熔解，然后缓慢逐步降温，同时在降温过程中采集温度信息。步冷曲线逐渐降温的过程不易控制，测试误差较大，测试效率低，数据重现性不好。
6.综上，申请人发现目前现有技术中至少存在以下不足：
7.一方面，上述方法普遍存在测试效率低的问题，难以适用于工业高效生产要求；另一方面，现有技术基本都是测试工业铝电解质质熔盐体系的初晶温度，由于测试方法局限性不能测试其它工业熔盐电解质体系；且每次只能测试一个样品，不能进行批量快速测试，不能满足工业生产要求。


技术实现要素：

8.本发明的目的在于提供一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法，以解决现有技术中存在的现有测试初晶温度的方法测试时间长，误差较大的技术问题；本发明提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。
9.为实现上述目的，本发明提供了以下技术方案：
10.本发明提供的一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置，其特征在于，包括加热装置、具有测温感应元件的测温探头、驱动组件和测试终端，其中：
11.所述加热装置内存在有n个样品池，并用于对所述样品池加热，n≥1；
12.所述测温探头具有两个以上，所述驱动组件与所有所述测温探头驱动连接，用于带动所有所述测温探头在竖直方向可移动的设置，所述测温探头能下降至插入对应所述熔盐电解质内的位置，用于实时采集所述熔盐电解质在升温过程中的温度信息；
13.所述测试终端与所有所述测温感应元件电连接，用于根据所述测温感应元件实时采集的温度信息确定所述熔盐电解质的初晶温度。
14.优选的，所述加热装置包括加热炉和发热部，其中：
15.所有所述发热部均位于所述加热炉内，所有所述发热部在所有所述样品池的周向间隔分布；
16.所述加热炉的内壁和/或底部上均设置有保温结构。
17.优选的，所述加热装置还包括有真空反应罐，所有所述样品池均位于所述真空反应罐内，所有所述发热部围绕所述真空反应罐设置，并在所述真空反应罐的周向间隔分布。
18.优选的，所述真空反应罐包括罐体和盖体，其中：
19.所述盖体能密封盖合于所述罐体的上口，所有所述测温探头穿过所述盖体并固定于所述盖体上，所述驱动组件与所述盖体驱动连接，用于带动所述盖体和所有所述测温探头升降运动。
20.优选的，所述驱动组件包括驱动设备和连接架，其中：
21.所述连接架的一端与所述测温探头固定连接，所述驱动设备可转动的设置，并与所述连接架的另一端传动连接，用于带动所述连接架升降；
22.或者，所述驱动设备在竖直方向上可伸缩的设置，所述连接架的另一端与所述驱动设备的伸缩端连接。
23.优选的，所述驱动组件还包括有支架和螺杆，其中：
24.所述支架上设置有竖直布置的导轨，所述驱动设备的输出端与所述螺杆传动连接，所述螺杆和所述导轨均穿过所述连接架的另一端，所述连接架与所述螺杆螺纹连接，并与所述导轨滑动连接；所述驱动装置正转或反转时能够分别带动所述螺杆正转或反转，进而带动所述连接架沿所述导轨上下滑动。
25.优选的，所述测试终端包括控制装置，所述控制装置包括：
26.数据校正模块，用于将所述测温感应元件在升温过程中实时采集的温度信息进行校正，使相邻时刻的温度变化趋势增大；
27.数据计算模块，用于对校正后的相邻时刻的温度数据求导测算，确定所述熔盐电解质的相态变化拐点；从该相态变化拐点倒推计算，得到初晶温度。
28.优选的，所述测试终端包括：
29.控制模块，与所述加热装置和所述驱动组件电连接，用于控制所述装置开启或停止加热，并用于控制所述驱动组件带动所述测温探头移动。
30.优选的，所述测试终端包括：
31.显示屏；
32.数据显示模块，用于将计算得出的所述初晶温度的电信号转换为数字信号显示在所述显示屏上。
33.本发明还提供了一种基于上述工业熔盐电解质初晶温度测试装置的测试方法，所述测试方法包括：
34.使所述加热装置在预设阈值范围内加热；
35.控制所述测温探头插入至所述熔盐电解质内的预设深度；
36.控制所述测温感应元件实时采集所述熔盐电解质在升温过程中的温度信息，并将所采集到的温度信息发送至所述测试终端；
37.所述测试终端将所述测温感应元件在升温过程中实时采集的温度信息进行校正，使相邻时刻的温度变化趋势增大；对校正后的相邻时刻的温度数据求导测算，确定所述熔
盐电解质的相态变化拐点；从该相态变化拐点倒推计算至校正前的温度数据，得到初晶温度。
38.本发明提供的工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法，与现有技术相比，具有如下有益效果：加热装置内具有n个样品池，可以同时对同类电解质的n个样品的初晶温度进行测试；且驱动组件可以带动测温探头在竖直方向可移动，使测温探头下降至插入对应熔盐电解质内的位置，无需测试人员手动插入测温探头，使用方便；测试终端能够在熔盐电解质在升温过程中的实时采集温度信息，并确定熔盐电解质的初晶温度，测试初晶温度的过程更快、更精确，无需缓慢降温。上述测试装置及测试方法能够在测试熔盐冶炼企业尤其电解铝企业中快速、批量、准确的熔盐电解质初晶温度。
附图说明
39.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
40.图1是本发明工业熔盐电解质初晶温度测试装置的整体结构示意图；
41.图2是加热炉除去外壳后的结构示意图；
42.图3是加热炉的轴向剖面结构示意图；
43.图4是本发明测试终端内控制装置的原理示意图；
44.图5是本发明工业熔盐电解质初晶温度测试方法的流程示意图。
45.图中100、底板；1、加热炉；11、发热部；12、真空反应罐；121、罐体；122、盖体；2、样品池；31、螺杆；32、导轨；33、支架；34、电机；4、测温探头；41、测温感应元件；5、连接架；6、测试终端；60、控制装置；61、数据校正模块；62、数据计算模块；63、数据显示模块；64、显示屏。
具体实施方式
46.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本发明的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本发明所保护的范围。
47.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“长度”、“宽度”、“高度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“侧”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
48.现有工业生产中，通常采用步冷曲线法：先使电解质熔解，然后缓慢逐步降温，同时在降温过程中采集温度信息，将测量结果绘制在温度
‑‑
时间坐标上，即可得到冷却曲线，当冷却到某一温度时，在冷却曲线上出现水平线段，刚出现这一水平线段所对应的温度，就是初晶温度。步冷曲线逐渐降温的过程不易控制，测试误差较大，且需要逐渐降温，测试效
率低，数据重现性不好。
49.针对上述问题，本发明实施例提供了一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法，能够在测试熔盐冶炼企业尤其电解铝企业中快速、批量、准确的熔盐电解质初晶温度。
50.下面结合图1-图5对本发明提供的技术方案进行更为详细的阐述。
51.实施例一
52.如图1-图5，本实施例提供了一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置，包括加热装置、具有测温感应元件41的测温探头4、驱动组件和测试终端6，其中：
53.加热装置内存在有n个样品池2，并用于对样品池2加热，n≥1；
54.测温探头4具有两个以上，驱动组件与所有测温探头4驱动连接，用于带动所有测温探头4在竖直方向可移动的设置，测温探头4能下降至插入对应熔盐电解质内的位置，用于实时采集熔盐电解质在升温过程中的温度信息；
55.测试终端6与所有测温感应元件41电连接，用于根据测温感应元件41实时采集的温度信息确定熔盐电解质的初晶温度。
56.其中，上述测试装置整体位于底板100上，底板100可以安装于车体等可移动的装置上，使得整个测试装置可移动的设置，方便工业上使用。
57.本实施例提供了一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置，加热装置内具有n个样品池2，可以同时对同类电解质的n个样品的初晶温度进行测试；且驱动组件可以带动测温探头4在竖直方向可移动，使测温探头4下降至插入对应熔盐电解质内的位置，可将测温探头4的下端插入至熔盐电解质内5-20cm的深度；无需测试人员手动插入测温探头4，使用方便；测试终端6能够在熔盐电解质在升温过程中的实时采集温度信息，并确定熔盐电解质的初晶温度，测试初晶温度的过程更快、更精确，无需缓慢降温。上述测试装置及测试方法能够在测试熔盐冶炼企业尤其电解铝企业中快速、批量、准确的熔盐电解质初晶温度。
58.作为可选地实施方式，参见图1-图3所示，本实施例的加热装置包括加热炉1和发热部11，其中：所有发热部11均位于加热炉1内，所有发热部11在所有样品池2的周向间隔分布。
59.上述发热部11可以为碳棒，碳棒与电源连接，便于导电发热。发热部11在所有样品池2的周向上间隔分布，能够对所有的样品池2均匀加热，使样品池2均匀升温，防止样品池2受热不均，影响测试效果。
60.参见图2所示，加热炉1的内壁和/或底部上均设置有保温结构。上述保温结构可以为保温棉或保温绝热毡，防止加热炉1内的温度流失，对加热炉1的内部起到保温的作用。
61.为了进一步保证测试的准确性，作为可选地实施方式，参见图2、图3所示，加热装置还包括有真空反应罐12，所有样品池2均位于真空反应罐12内，所有发热部11围绕真空反应罐12设置，并在真空反应罐12的周向间隔分布。
62.参见图3所示，真空反应罐12的底部设置有孔位，该孔位通过管道与抽真空装置连通，使真空反应罐12内始终保持真空环境。
63.将上述样品池2置于真空反应罐12内，能够防止样品池2及内部的熔盐电解质变质，保证所测得的熔盐电解质的初晶温度更精确。
64.作为可选地实施方式，参见图2和图3所示，上述真空反应罐12包括罐体121和盖体
122，其中：盖体122能密封盖合于罐体121的上口，所有测温探头4穿过盖体122并固定于盖体122上，驱动组件与盖体122驱动连接，用于带动盖体122和所有测温探头4升降运动。
65.测温探头4与盖体122之间密封接触，测温探头4上的设置有保护套，保护套材质可以是不锈钢、刚玉、陶瓷、石墨、铁、四氟乙烯等无机金属、无机非金属和有机材料等等。驱动组件通过带动盖体122移动，进而带动盖体122上的测温探头4移动，使盖体122密封盖合于罐体121上的同时将测温探头4插入至样品池2内熔盐电解质的既定深度。
66.本实施例提供了一种驱动组件的具体实施方式，作为图中一种未示出的实施方式，驱动组件包括驱动设备和连接架5，其中：连接架5的一端与测温探头4固定连接，驱动设备在竖直方向上可伸缩的设置，连接架5的另一端与驱动设备的伸缩端连接。驱动装置为伸缩气缸，伸缩气缸的伸缩端与连接架5固定连接，通过伸缩气缸的伸缩运动，带动连接架5及测温探头4升降运动。
67.本实施例还提供了另一种驱动组件的具体实施方式，参见图1所示，本实施例的驱动组件包括驱动设备和连接架5，其中：连接架5的一端与测温探头4固定连接，具体的，连接架5的一端与真空反应罐12的盖体122固定连接，驱动设备可转动的设置，具体的，驱动设备可以为电机34，电机34固定在底板100上，并与连接架5的另一端传动连接，用于带动连接架5升降。
68.具体的，参见图1所示，上述驱动组件还包括有支架33和螺杆31，其中：支架33上设置有竖直布置的导轨32，电机34的输出端与螺杆31传动连接，螺杆31和导轨32均穿过连接架5的另一端，连接架5与螺杆31螺纹连接，并与导轨32滑动连接；电机正转或反转时能够分别带动螺杆31正转或反转，进而带动连接架5沿导轨32上下滑动。
69.参见图1，支架33竖直固定于底板上，且螺杆31的端部与支架33转动连接，电机34固定于底板上，且电机34的输出轴与螺杆31的下端驱动连接，电机34正转时能够带动螺杆31正转，由于导轨32穿过连接架5限制连接架5随导轨32转动，这样，连接架5在竖直方向上能够向下移动，从而将盖体122盖合在真空反应罐12的罐体121上，同时将测温探头4插入至样品池2内的预定深度。电机34反转时能够带动螺杆31反转，由于导轨32穿过连接架5限制连接架5随导轨32转动，这样，连接架5在竖直方向上能够向上移动，将盖体122从罐体121上打开，将测温探头4从样品池2内取出。
70.或者，可以替代的，上述螺杆31还可以采用齿轮、传送皮带、传送链条等结构代替，如电机的输出轴上啮合有第一齿轮，传送皮带或传送链条在该第一齿轮和另一齿轮上啮合传动，并在竖直方向上移动，连接架5与传送皮带或传送链条相连接，进而实现连接架5的上下运动。
71.上述驱动组件的结构使用方便，无需测试人员手动将测温探头4插入至样品池2内，无需手动盖合真空反应罐的盖体。
72.如上所述，现有工业生产中，通常采用步冷曲线法：先使电解质熔解，然后缓慢逐步降温，同时在降温过程中采集温度信息，将测量结果绘制在温度
‑‑
时间坐标上，即可得到冷却曲线，当冷却到某一温度时，在冷却曲线上出现水平线段，刚出现这一水平线段所对应的温度，就是初晶温度。步冷曲线逐渐降温的过程不易控制，测试误差较大，且需要逐渐降温，测试效率低，数据重现性不好。
73.现有技术中的工业生产中之所以均使用步冷曲线法，是因为熔盐电解质在降温析
出时，是缓慢进行的，便于观察是否有晶体析出，且便于在缓慢降温的过程中采集数据，通过绘制的温度
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时间，从曲线的水平段上获得对应熔盐电解质的初晶温度。如果能够在熔盐电解质的升温过程中测试其初晶温度，测试效率是更高的，原因在于无需逐步降温，降低了测试时间，提高了测试效率。
74.但是现有技术中难以在熔盐电解质的升温过程中测试其初晶温度。其原因在于，熔盐电解质熔化的过程是瞬时完成的，在很短时间内全部完成熔化，因此，熔盐电解质的熔化过程的时间跨度极短，测试人员很难在极短的时间内实时测量熔盐电解质的温度，即使能够测量熔盐电解质的温度，但是测得的温度变化率很小，很难从温度
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时间曲线上测定熔盐电解质的发生相变的温度拐点。
75.本实施例中针对现有技术中的难点，测温探头4的测温感应元件41在升温过程中将实时测得的温度数据传递至测试终端6后，测试终端6能够确定处熔盐电解质的初晶温度。
76.作为可选地实施方式，参见图4所示，本实施例的测试终端6包括控制装置，控制装置60包括：
77.数据校正模块61，用于将测温感应元件41在升温过程中实时采集的温度信息进行校正，使相邻时刻的温度变化趋势增大；
78.数据校正模块61，用于对校正后的相邻时刻的温度数据求导测算，确定熔盐电解质的相态变化拐点；从该相态变化拐点倒推计算，得到初晶温度。
79.参见图4，测温探头4的测温感应元件41在升温过程中将实时测得的温度数据传递至数据校正模块61，数据校正模块61，对上述温度信息代入校正公式中进行校正，使校正后相邻适合的温度数值变化趋势增大；由此解决了在熔盐电解质熔化过程中温度变化率很小的问题。
80.数据校正模块61将校正后的数据发送至数据计算模块62，数据校正模块61用于对校正后的相邻时刻的温度数据求导测算，即计算温度
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时间曲线中相邻时刻的曲线斜率，从而得出熔盐电解质的相态变化拐点；针对熔盐电解质发生相变时，即斜率(导数)的正负符号发生变化时，从该相态变化拐点倒推计算，将校正后的数据代入至校正公式中，倒推出的温度数值，即为对应熔盐电解质的初晶温度。
81.上述测试终端6中的控制装置60，利用数据校正模块61和数据计算模块62，在不改变原始温度信息整体变化趋势的前提下，将相邻时刻的温度数值之间的变化率增大，即将温度数据代入校正公式中，使温度数据变化趋势更明显，这样更容易获得相态变化的拐点，从而倒推出初晶温度。
82.其中，上述校正公式由多组利用化学分析法(电解质经验公式)计算得到的数据经验总结得来。并将将纯净物的的初晶温度代入上述校正公式中进行了验证。上述测试终端6中的控制装置，实现可在升温过程中测得熔盐电解质的初晶温度，无需逐步降温，减少了测试时间，且同时能够对同类熔盐电解质的多个样品的初晶温度进行测试，提高了测试效率。
83.将上述测得的初晶温度代入至电解质经验公式中，根据电解质中不同化学成分的含量多少，利用经验公式计算得到的初晶温度进行比较，结果在合理的误差范围内。其中，上述电解质经验公式为本领域内的成熟技术，需要先测算出各种化学成分的含量，只适合应用于实验室中，不适合应用于工业生产上在此，随上述经验公式不做具体赘述。
84.作为可选地实施方式，测试终端6包括：
85.控制模块，与加热装置和驱动组件电连接，用于控制装置开启或停止加热，并用于控制驱动组件带动测温探头4移动。
86.上述控制模块用于控制加热炉1的加热温度范围，并控制驱动组件的运动，使用方便。
87.作为可选地实施方式，本实施例的测试终端6还包括：
88.显示屏64；数据显示模块63，用于将计算得出的初晶温度的电信号转换为数字信号显示在显示屏64上；方便使用者直接从显示屏64上读取对应熔盐电解质的初晶温度。使用者也可以通过显示屏64对样品初晶温度测试的过程参数进行设定。
89.实施例二
90.本实施例提供了一种基于上述工业熔盐电解质初晶温度测试装置的测试方法，参见图5，测试方法包括：
91.步骤s10：使加热装置在预设阈值范围内加热；
92.步骤s20：控制测温探头4插入至熔盐电解质内的预设深度；
93.步骤s30：控制测温感应元件41实时采集熔盐电解质在升温过程中的温度信息，并将所采集到的温度信息发送至测试终端6；
94.步骤s40：测试终端6将测温感应元件41在升温过程中实时采集的温度信息进行校正，使相邻时刻的温度变化趋势增大；
95.步骤s50：对校正后的相邻时刻的温度数据求导测算，确定熔盐电解质的相态变化拐点；
96.步骤s60：从该相态变化拐点倒推计算至校正前的温度数据，得到初晶温度。
97.步骤s70：多次测试，对所取得的数值进行比较，取最小数值对应的温度数据为所测工业熔盐电解质的初晶温度。
98.具体的，可通过数据校正模块61，将测温感应元件41在升温过程中实时采集的温度信息进行校正，使相邻时刻的温度变化趋势增大；通过数据计算模块62，用于对校正后的相邻时刻的温度数据求导测算，确定熔盐电解质的相态变化拐点；从该相态变化拐点倒推计算，得到初晶温度。
99.上述方法的原理在上述实施例一种已经说明，在此不做具体赘述。
100.本实施例的测试方法能够在测试熔盐冶炼企业尤其电解铝企业中快速、批量、准确的熔盐电解质初晶温度。
101.本实施例的工业熔盐电解质初晶温度测试装置的测试方法，在测试时：
102.首先将n(n≧1)个待测工业熔盐电解质放入样品池2中，然后在真空的环境下，驱动组件使测温探头4伸入到待测熔盐电解质中至预定深度，预定深度为5-20cm；控制加热炉1升温至熔盐电解质熔化成熔体状态，在升温过程中测温感应元件41实时采集温度数据，温度数据传至数据校正模块61，通过数据计算模块62对数据进行模拟计算得到熔盐电解质的初晶温度，并将所得初晶温度通过数据显示模块63显示出来。在测试结束后，测试控制系统控制样品加热系统降温至室温，关闭真空系统，驱动组件将测温探头4移出待测熔盐电解质，打开样品加热系统，取出测试后样品，等待下次测试开始。
103.下面提供了几种不同类的熔盐电解质的测试过程：
104.第一种：
105.使用某电解铝厂400ka电解槽内铝电解质进行测试，首先将4个待测工业铝电解质放入加热炉1的样品池2中，然后在真空的环境下，驱动组件将测温探头4伸入到待测样品中至10cm处，控制装置开始设定加热炉1的加热温度为25℃-1000℃，控制升温至1000℃熔盐电解质熔化成熔体状态，在升温过程中测温感应元件41采集温度数据，温度数据传至数据校正模块61、数据计算模块62，数据计算模块62对校正后的数据进行模拟计算得到4个工业铝电解质样品的初晶温度分别为921.5℃、918.3℃、923.4℃、920.7℃，并将所得初晶温度通过数据显示模块63显示出来。在测试结束后，控制装置控制样品加热炉1降温至室温，关闭真空系统，驱动组件将测温探头4移出待测熔盐电解质，打开样品加热系统，取出测试后样品，等待下次测试开始。
106.第二种：
107.使用某电解铝厂500ka电解槽内铝电解质进行测试，首先将10个待测工业铝电解质放入加热炉1的样品池2中，然后在真空的环境下，驱动组件将测温探头4伸入到待测样品中至10cm处，控制装置开始设定加热炉1的加热温度为25℃-1000℃，控制升温至1000℃熔盐电解质熔化成熔体状态，在升温过程中测温感应元件41采集温度数据，温度数据传至数据校正模块61、数据计算模块62，数据计算模块62对校正后的数据进行模拟计算得到4个工业铝电解质样品的初晶温度分别为：912.4℃、915.6℃、913.6℃、910.9℃、911.2℃、912.7℃、917.1℃、909.8℃、908.5℃、915.5℃，并将所得初晶温度通过数据显示模块63显示出来。在测试结束后，控制装置控制样品加热炉1降温至室温，关闭真空系统，驱动组件将测温探头4移出待测熔盐电解质，打开样品加热系统，取出测试后样品，等待下次测试开始。
108.第三种：
109.使用某研究机构氯化物工业电解质进行测试，首先将5个待测工业电解质放入加热炉1的样品池2中，然后在真空的环境下，驱动组件将测温探头4伸入到待测样品中至20cm处，控制装置开始设定加热炉1的加热温度为25℃-850℃，控制升温至850℃熔盐电解质熔化成熔体状态，在升温过程中测温感应元件41采集温度数据，温度数据传至数据校正模块61、数据计算模块62，数据计算模块62对校正后的数据进行模拟计算得到5个工业铝电解质样品的初晶温度分别为：734.7c、731.5℃、729.9℃、735.4℃、734.1℃，并将所得初晶温度通过数据显示模块63显示出来。在测试结束后，控制装置控制样品加热炉1降温至室温，关闭真空系统，驱动组件将测温探头4移出待测熔盐电解质，打开样品加热系统，取出测试后样品，等待下次测试开始。
110.第四种：
111.使用某熔盐电池公司硫酸盐工业电解质进行测试，首先将5个待测工业电解质放入加热炉1的样品池2中，然后在真空的环境下，驱动组件将测温探头4伸入到待测样品中至15cm处，控制装置开始设定加热炉1的加热温度为25℃～750℃，控制升温至750℃熔盐电解质熔化成熔体状态，在升温过程中测温感应元件41采集温度数据，温度数据传至数据校正模块61、数据计算模块62，数据计算模块62对校正后的数据进行模拟计算得到5个工业铝电解质样品的初晶温度分别为：614.2c、611.5℃、609.8℃、612.4℃、610.9℃，并将所得初晶温度通过数据显示模块63显示出来。在测试结束后，控制装置控制样品加热炉1降温至室温，关闭真空系统，驱动组件将测温探头4移出待测熔盐电解质，打开样品加热系统，取出测
试后样品，等待下次测试开始。
112.上述工业熔盐电解质初晶温度测试装置的测试方法，能对不同工业熔盐体系进行大量快速及准确的测试。
113.在本说明书的描述，具体特征、结构或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
114.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
115.以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。