示高强度辐射的结束并且同时是低强度辐射的开始，所述低强度辐射在图示的实施例的示例中等于零。低强度辐射继续直至在被指示为I的另一时间点处的高强度辐射的新开始为止。时间点#旨示光元件的测量的开始，其在高强度辐射时间段期间或者在低强度辐射时间段期间。时间点2指示针对高强度辐射的光元件的测量的结束，并且同时是针对各个光元件的高强度辐射测量的模拟值的存储的时间点，所述测量的模拟值等于值四。时间点4指示针对低强度辐射的光元件的测量的结束，并且同时是针对低强度辐射测量的模拟值的存储时间点，所述测量的模拟值在零辐射强度处等于寄生值Ei。时间点3指示处理从光元件获得的数据，即从总值四减去寄生值Et并且存储得到的值用于进一步的处理。
[0025]如图3a中所示，可以在每个周期中减去值Et和迮。在根据图3b的实施例中，在测量的开始处检测和存储寄生值E1，而在单独的周期期间仅总值拉被监视并且随后被与在测量的开始处检测的和存储的寄生值Et进行比较。当然，可以以适合的方式组合这些过程两者，例如可以总是在操作单元的操作的中断时检测寄生值E1，在其处执行监视，诸如在归因于纱破裂或者以空线筒替换满的线筒的纱纺织的中断时。
[0026]如在图2中针对传感器的一个光元件丛示出的那样，将来自光元件边的模拟信号载运通过电荷放大器迪到存储器单元■或者到存储器单元―，其连同电荷放大器迪互连到控制信号源迎，其确保它们与未图示的辐射源的同步。以此方式，确保了在存储器单元—中存储模拟值E1，其是归因于所有寄生影响在辐射源不放射辐射(低强度辐射值等于零)并且因此光元件不被照射的时间段期间生成的，而在存储器单元.中存储模拟值拉，其是由光元件在辐射源放射辐射并且因此光元件被照射的时间段期间生成的。因此，值扭包含由检测器的辐射源生成的信号以及由寄生影响生成的信号两者。信号扭和El被载运到差分构件迎的输入，在所述差分构件的输出处存在信号:
Fr = Fs - Ft，
其后续被模数转换器迎转换为信号En。为了确保同步，差分构件迎和模数转换器迎两者互连到控制信号源迎。
[0027]在以上所提及的解决方案中，所有光元件的模拟值被检测和存储，不论光元件是未被纱遮蔽、被纱部分遮蔽还是被纱完全遮蔽的事实。
[0028]为了获得正确结果，必须确保在其期间生成存储的信号的两个时间段具有相同长度。以类似方式，测量的开始的正确定时和同步以及在存储器单元中存储值的时间点是必需的。这是为什么也在相同半导体衬底上形成控制信号源的原因。控制信号源生成用于控制福射源的强度的信号，对测量的开始进行定时，确定电荷的积分(integrat1n)的时间段和单独的模拟值的测量的结束，对将值存储在存储器单元中进行同步，以及执行计算。
[0029]在当电荷的积分发生的时间段不同的情况下，必须将获得的值转换成与各个时间段的不同长度成比例。
[0030]在源的辐射的时间段I期间将值拉存储在存储器单元M立中，而在源关闭的时间段；!期间将值Ei存储在存储器单元—中，即在辐射强度等于零的时候。在差分构件迎后面是得到的模拟值Er。
[0031]参考符号列表
M光元件的照射的最大值 Ft光元件的照射的寄生值 Fs光元件的照射的总值 Fr光元件的照射的得到的值 Fp数字化的信号 T源发光的时间段 I高强度辐射的开始 2光元件的测量的开始
3光元件的测量的结束以及存储针对高强度的值
4光元件的测量的结束以及存储针对低强度的值
5处理从光元件获得的数据
6高强度辐射的结束
10传感器的光元件
20电荷放大器
310针对Fs的存储器单元
320针对Ft的存储器单元
40控制信号源
50差分构件
60模数转换器
【主权项】
1.一种用于借助于包括一行或两行单独的矩形形状光元件(10)的线性光传感器来监视在纱质量的光检测器中的纱或另一线性织物形成的质量的方法，所述光元件在它们的输出中提供与它们的照射程度成比例的模拟信号，所述方法的特征在于纱受到周期交替的低强度和高强度辐射的照射，由此在每个周期内，至少以高辐射强度监视和记录所有单独的光元件(10)的模拟信号，并且从针对每个单独的元件(10)的这些信号减去预先或在各个周期之内检测的在低辐射强度处的模拟信号的值，借助于其，得到的模拟信号免受所有寄生影响并且其大小仅取决于光检测器的辐射源的照射程度。
2.根据权利要求1的方法，其特征在于在低强度辐射处，光检测器的辐射源放射零辐射。
3.根据权利要求1的方法，其特征在于在相等的时间段期间监视单独的光元件(10)在高福射强度处的模拟信号。
4.根据权利要求1的方法，其特征在于在相等的时间段期间监视单独的光元件(10)在低福射强度处的模拟信号。
5.根据权利要求3或4的方法，其特征在于在与单独的光元件(10)在高辐射强度处的模拟信号相同长度的时间段期间监视单独的光元件(10)在低辐射强度处的模拟信号。
6.根据权利要求1的方法，其特征在于光传感器的辐射源的高强度和低强度辐射的周期交替具有的频率等于线性光传感器的评估频率的整数倍。
7.根据权利要求1的方法，其特征在于光检测器的辐射源的辐射强度根据供应到辐射源的电流的量改变。
8.根据权利要求7的方法，其特征在于辐射源由LED二极管组成。
9.一种包括传感器的线性光检测器，所述传感器具有在一行或两行中彼此相邻地布置的多个光元件(10)，用于通过借助于单个辐射源将纱的图像在垂直方向上投影到传感器的单独的光元件(10)上来监视在织物机器中的移动的纱或另一线性织物形成的参数，来执行根据前述权利要求中任一项的方法，所述线性光检测器的特征在于用于通过高强度和低强度辐射周期地照射传感器的单独的光元件(10)的辐射源以及评估在单独的光元件(10)的模拟信号之间的差异的模拟电路与控制信号源(40)耦合，它们在时间上相互同步。
10.根据权利要求9的线性光检测器，其特征在于至少控制信号源(40)、评估单独的光元件(10)的不同模拟信号的模拟电路以及传感器的单独的光元件(10)被布置在共同的半导体衬底上。
【专利摘要】本发明涉及用于监视纱的质量的方法和用于执行该方法的线性光检器。本发明涉及用于借助于包括一或两行单独矩形形状的光元件（10）的线性光传感器监视纱质量的光检测器中的纱或另一线性织物形成质量的方法，所述光元件在它们的输出中提供与它们的照射程度成比例的模拟信号。通过周期交替的低强度和高强度辐射照射纱，由此在每个周期内，至少以高辐射强度监视和记录所有单独光元件（10）的模拟信号，并从针对每个单独光元件（10）的这些信号减去预先或在各个周期期间检测的低辐射强度处的模拟信号值，借助于其得到的模拟信号免受所有寄生影响，其大小仅取决于光检测器辐射源的辐射程度。本发明还涉及用于执行该方法的线性光检测器。
【IPC分类】G01D21-00
【公开号】CN104713587
【申请号】CN201410774401
【发明人】考塞里克 P., 伯兰 Z.
【申请人】里特捷克有限公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2014年12月16日
【公告号】DE102014118461A1