r>2. 根据权利要求1所述的方法，包括： _计算在所述无损蛋的蛋壳中产生的张应力，例如在预定负载下的张应力；和 -确定所述蛋壳的弹性； 其中优选地，张应力的计算结果和弹性的测量结果都被用于评价所述抗裂性。
3. 根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于所述蛋壳的所述弹性的所述确定用机 械手段执行。
4. 根据权利要求1-3的任一项所述的方法，其特征在于所述蛋壳的所述弹性的所述确 定用光学手段执行。
5. 根据权利要求4所述的方法，其中使用光学手段包括利用散射技术和/或计算机视 觉。
6. 根据权利要求4或5所述的方法，其中所述使用光学手段包括表面布里渊散射。
7. 根据权利要求4至6的任一项所述的方法，其特征在于所述弹性以非接触的方式确 定。
8. 根据前述权利要求的任一项所述的方法，其中所述计算张应力包括测量所述蛋壳的 外壳厚度和曲率。
9. 根据前述权利要求的任一项所述的方法，其中所述确定无损蛋的抗裂性包括裂缝存 在确定和/或抗张强度和/或破裂的可能性。
10. 根据前述权利要求的任一项所述的方法，其中所述张应力的所述计算包括有限元 分析，所述有限元分析包括几何表示和局部应力评估。
11. 根据前述权利要求的任一项所述的方法，其中所述确定无损蛋的抗裂性是在线执 行的。
12. 根据前述权利要求的任一项所述的方法，其中在所述无损蛋的蛋壳中产生的所述 张应力和所述蛋壳的所述弹性被用作强度指数以评价无损蛋的抗裂性。
13. -种用于非破坏性地检查蛋的装置，特别用于预测无损蛋的抗裂性，所述装置包 括： -检测器，用于确定所述蛋壳的外壳厚度和/或曲率和/或所述蛋壳的弹性，其中所述 检测器提供至少一蛋壳特性； -中央处理单元，用于根据该蛋壳特性确定在蛋壳中产生的张应力，并确定所述蛋壳的 所述弹性，其中所述张应力和弹性中的至少一者，优选两者，被用作无损蛋的抗裂性的预测 值。
14. 根据权利要求13所述的装置，其中在所述无损蛋的蛋壳中产生的所述张应力与所 述蛋壳的所述弹性的比被确定。
15. 根据权利要求12或13中的任一项所述的装置，其中所述检测器包括摄像机和/或 光源和/或激光源和/或放射源。
16. -种用于对蛋进行分选的方法，其中根据权利要求1-12中的任一项所述的方法被 用于在该分选期间确定所述无损蛋的抗裂性。
17. -种用于对蛋进行分选的装置，其中根据权利要求13-15中的任一项所述的装置 被用于在该分选期间确定所述蛋的蛋壳的状态。
18. -种所述无损蛋的蛋壳中产生的张应力与所述蛋壳的弹性的比的用途，所述比作 为强度指数用来评价无损蛋的抗裂性。
19. 一种用于确定在无损蛋的蛋壳中产生的张应力的非破坏性方法，例如根据前述权 利要求1-12中的任一项所述的方法，其中所述张应力被用作所述蛋壳的状态的预测值。
20. 根据权利要求19所述的方法，其中所述确定包括测量所述蛋壳的外壳厚度和曲 率。
21. 根据权利要求19或20中的任一项所述的方法，其中所述确定包括测量所述蛋壳的 弹性。
22. 根据前述权利要求19-21中的任一项所述的方法，其特征在于所述蛋壳的所述弹 性使用机械手段确定。
23. 根据权利要求19-21中的任一项所述的方法，其特征在于所述蛋壳的所述弹性使 用光学手段确定。
24. 根据权利要求23所述的方法，其中使用光学手段包括利用散射和/或反射技术和 /或计算机视觉和/或热成像。
25. 根据权利要求23或24中的任一项所述的方法，其中所述光学手段包括表面布里渊 散射或e射线测量或X射线测量。
26. 根据权利要求22-25中的任一项所述的方法，其特征在于所述弹性以非接触的方 式确定。
27. 根据前述权利要求21-26中的任一项所述的方法，其中蛋壳的所述状态包括裂缝 存在确定和/或抗张强度和/或破裂的可能性。
28. 根据前述权利要求19-27中的任一项所述的方法，其中所述确定包括有限元分析， 所述有限元分析包括几何表示和局部应力评估。
29. 根据前述权利要求19-28中的任一项所述的方法，其中所述确定是在线执行的。
30. -种用于非破坏性地检查蛋的装置，例如根据权利要求13-15、17中的任一项所述 的装置，特别用于预测无损蛋壳的状态，所述装置包括： -检测器，用于确定所述蛋壳的外壳厚度和/或曲率和/或所述蛋壳的弹性，其中所述 检测器提供至少一蛋壳特性； -中央处理单元，用于根据该蛋壳特性确定在蛋壳中产生的张应力，其中所述张应力被 用作所述蛋壳的状态的预测值。
31. 根据权利要求30所述的装置，其中所述检测器包括摄像机和/或激光源和/或放 射源和/或光源。
32. -种用于对蛋进行分选的方法，其中根据权利要求19-29中的任一项所述的方法 被用于在该分选期间确定所述蛋的蛋壳的状态。
33. -种用于对蛋进行分选的装置，其中根据权利要求30或31中的任一项所述的装置 被用于在该分选期间确定所述蛋的蛋壳的状态。
34. -种无损蛋的蛋壳的张应力的用途，所述张应力以非破坏性的方式用作所述蛋壳 的状态的预测值。
35. -种用于确定蛋壳的厚度的方法，其中所述蛋壳为无损蛋的蛋壳，其中所述厚度通 过测量所述蛋壳的弹性或在所述蛋壳中产生的张应力来确定，其中所述确定以非破坏性并 且非接触的方式执行。
36. 根据权利要求35所述的方法，其特征在于所述蛋壳的所述弹性用光学手段确定。
37. 根据权利要求36所述的方法，其中使用光学手段包括利用散射和/或反射技术和 /或计算机视觉和/或热成像。
38. 根据权利要求36或37中的任一项所述的方法，其中所述光学手段包括表面布里渊 散射和/或e射线测量和/或X射线测量。
39. 根据前述权利要求35-38中的任一项所述的方法，其中所述确定厚度包括有限元 分析，所述有限元分析包括几何表示和局部应力评估。
40. 根据前述权利要求35-39中的任一项所述的方法，进一步包括确定所述蛋壳的曲 率。
41. 根据权利要求40所述的方法，其中所述蛋壳的所述曲率以非接触的方式测量。
42. 根据权利要求41所述的方法，其中所述非接触的方式包括计算机视觉和/或光学 手段。
43. 根据前述权利要求35-42中的任一项所述的方法，其中确定蛋壳的所述弹性包括 确定外壳弹性矩阵式（shell matrix modus of elasticity) 〇
44. 根据前述权利要求35-43中的任一项所述的方法，其中所述确定是在线执行的。
45. -种用于非破坏地并且非接触地测量无损蛋的蛋壳的厚度的装置，所述装置包 括： -检测器，用于测量所述蛋壳的曲率和/或所述蛋壳的弹性和/或在所述蛋壳中产生的 抗张强度，其中所述检测器提供至少一蛋壳特性； -中央处理单元，用于根据该蛋壳特性确定所述蛋壳的厚度。
46. 根据权利要求45所述的装置，其中所述检测器包括摄像机和/或光源和/或激光 源和/或放射源。
47. -种用于对蛋进行分选的方法，其中根据权利要求35-44中的任一项所述的方法 被用于在该分选期间确定所述蛋的蛋壳的厚度。
48. -种用于对蛋进行分选的装置，其中根据权利要求45或46中的任一项所述的装置 被用于在该分选期间确定所述蛋的蛋壳的厚度。
49. 一种蛋壳的弹性或在无损蛋的蛋壳中产生的抗张强度的用途，用于以非破坏性并 且非接触的方式测量所述蛋壳的厚度。
【专利摘要】一种用于确定无损蛋的抗裂性的非破坏性方法，其中所述确定包括以下步骤a)和b)中的至少一个：-a)确定在所述无损蛋的蛋壳中产生的张应力，例如在预定负载下的张应力；-b)确定所述蛋壳的弹性；其中优选地，步骤a)和/或步骤b)的结果被用于评价所述抗裂性。
【IPC分类】G01N33-08, G01N3-00
【公开号】CN104737013
【申请号】CN201380054322
【发明人】巴特·德·凯泰拉尔, 克特林·佩里亚努
【申请人】天主教鲁汶大学
【公开日】2015年6月24日
【申请日】2013年9月4日
【公告号】EP2893341A1, US20150226654, WO2014037402A1