聚合层的折射率的 预计形式的优点，而且还允许通过聚合层中的物理相干模式、例如吸收模式所引起的频率 相关性的物理解释。
[0045] 按照另一方面，折射率的参数化包括描述谐振峰值的频率相关贡献（例如上述函 数/?力。频率相关贡献例如可表达为 ωρ2 / (ω〇2 - ω2 -?γω), 其中，ω=2 π /是角频率，ω ^是峰值频率，ω ρ是等离子体频率，γ是衰减系数，以及i 是虚数单位。在一具体示例中，峰值频率具有值ω。，其在THz范围之内或者处于比THz范 围要高的频率。在另一示例中，存在具有不同参数的上述形式的两个频率相关贡献，例如， 一个贡献具有THz范围之内的ω。，而一个具有高于或低于THz范围、例如在红外范围中的 ω 0°
[0046] 下面给出巧「乃的函数形式的其他具体示例，参见图4的描述。在这个示例的变 化中，也能够使用/^乃或者指示相应层的光学性质的另外某个参数的任何其他参数化。
[0047] 接下来更详细描述与所发射THz辐射信号和所接收（分析）THz辐射信号相关的 一些方面。本文中，THz辐射定义为0. 1-10 THz的范围中的频率的电磁辐射（即，包括具 有该频率的不可忽略信号分量）。所检测信号（例如所检测THz辐射的时域波形和/或频 域谱）又称作谐振信号。
[0048] 所发射/所接收THz辐射信号可以是连续信号、THz脉冲或者部分THz脉冲。本 文中，部分脉冲或者分波定义为所发射脉冲/波的部分--在幅度方面--反射或透射部 分。例如，与图3中的响应信号70的部分对应的线条的每个指示部分脉冲/分波。
[0049] 按照另一方面，通过分析响应信号的时域波形，或者通过分析响应信号的频域谱， 来得到涂敷参数。按照一个优选方面，通过分析响应信号的时域波形和频域谱，来得到涂敷 参数。
[0050] 接下来更详细描述与其他输入数据相关的一些方面。按照另一方面，传感器系统 还包括操作上耦合到处理单元的空气水分传感器和/或温度传感器，其中该方法还包括从 空气水分传感器得到环境空气水分值，从温度传感器得到温度值，以及将所得温度值和/ 或环境空气水分值输入处理单元。
[0051] 接下来更详细描述与传感器设备的几何布置相关的一些方面。按照一个方面，发 射器系统和检测器系统可设置在被涂覆主体的同一侧。这在被涂覆主体的基底对THz辐射 是反射的、例如机动车主体的金属基底的情况下是特别有利的。
[0052] -般来说，优选的是（但是不作要求），发射器系统和检测器系统设置成使得THz 辐射沿垂直其表面的方向照射被涂覆主体。例如，按照一个方面，传感器系统可包括作为分 束器的半透明THz反射器。分束器可相对被涂覆主体片以某个角度来设置，使得来自发射 器系统的光路以及到检测器系统的光路向/从基本上垂直于被涂覆主体的公共光路来引 导。因此，发射器系统和检测器系统分别设置用于发射和检测相对被涂覆主体具有正确入 射角的光线。
[0053] 其他布置也是可能的。例如，发射器系统和探测器系统能够设置在被涂覆主体的 相对侧，以用于执行透射测量。如果被涂覆主体的基底对THz辐射是至少部分透明的（例 如THz辐射的射束强度的至少0. 1%的透射），则这是特别有用的。
[0054] 接下来描述与表面粗糙度的检测相关的一些方面。这些方面优选地可适用于反射 测量的情况，其中发射器系统和检测器系统设置在被涂覆主体的同一侧。由相对于发射器 系统和被涂覆主体表面中的至少一个处于检测器系统的至少两个不同位置的检测器系统 (20)来检测多个响应信号。这可通过移动检测器系统、发射器系统和/或被涂覆主体来实 现。移动是使得检测器系统的位置的至少一个远离由发射器系统和被涂覆主体表面所限定 的直接光路。这个直接光路定义为来自发射器系统的辐射束按照几何光学定律（斯涅尔定 律）到达检测器系统的光路。
[0055] 远离光路的所检测信号的强度给出通过被涂覆主体的表面粗糙度所引起的漫反 射的指示。因此，多个所检测响应信号、特别是其强度的分析允许确定表面粗糙度。按照一 个优选方面，位置的至少一个处于直接光路上，而位置的至少另一个远离直接光路，以及表 面粗糙度从这些位置的响应信号的强度的比较来确定。
[0056] 本发明还针对用于执行本文所述方法的系统。按照一个方面，该传感器系统包括： 发射器系统（10)，用于将THz辐射发射到被涂覆主体；检测器系统（20)，用于检测来自被涂 覆主体的THz辐射；定位系统，用于相对于上涂料主体来定位发射器系统（10)和检测器系 统（20);以及处理单元（30)，操作上耦合到发射器系统（10)和检测器系统（20)。该传感 器系统配置用于通过按照本文所述的任何方面的方法来表征被涂覆主体。本文中，术语"配 置用于"包括为此目的而对处理单元进行配备和编程。为此，处理单元的存储器可配备有用 于使处理单元的处理器运行如本文所述的任何方面的方法的程序代码。
[0057] 附图和实施例的详细描述： 现在将详细参照各个实施例，在各附图中示出它们的一个或多个示例。各示例作为说 明来提供，而不是要作为限制。例如，作为一个实施例的一部分所示或所述的特征能够在任 何其它实施例上使用或者与其结合使用，以便产生又一个实施例。预计本公开包括这类修 改和变更。
[0058] 在附图的以下描述中，相同参考标号表示相同或相似组件。一般来说，仅描述相对 单独实施例的差异。除非另加说明，否则一个实施例中的一部分或方面的描述也适用于另 一个实施例中的对应部分或方面。
[0059] 图1是按照本发明的一实施例的传感器系统1的示意侧视图。传感器系统1具 有：发射器系统10,用于发射THz辐射；检测器系统20,用于检测THz辐射；以及处理单元 30,操作上耦合到发射器系统10和检测器系统20。另外，图1示出可选附加传感器26、例 如可选湿度测量装置和/或定位和/或存在传感器，例如以用于感测车体的存在和/或位 置。传感器26也可以在操作上耦合到处理单元30。本文中，"操作上耦合"包括耦合到相 应系统，例如耦合到用于触发THz辐射的发射的发射器系统以及耦合到用于接收指示响应 信号的测量数据的检测器系统的处理单元的接口。
[0060] 此外，被涂覆主体2设置成使得由发射器系统10和检测器系统20隔着一侧的发 射器和检测器系统10、20与另一侧的被涂覆主体2之间的气隙42面向被涂覆主体2。被涂 覆主体2具有基底2a和涂敷4。图1中，涂敷4具有两个层4a和4b。这个数量的层仅通 过说明示出，以及涂敷4可具有任何其他数量的层，例如一个层或三个层。按照一个优选方 面，所述方法和系统可用于具有至少两个层的多层涂敷。
[0061] 图1还示出从发射器系统10所发射的THz辐射信号60的路径。THz辐射信号 60(实线）穿过气隙42以及部分穿过被涂覆主体2,其上它与被涂覆主体相互作用。图1 中通过实线所示的THz辐射信号的一部分在基底2a的表面反射，并且经过气隙42又传播 到检测器系统20。在图1中通过虚线所示的辐射信号60的其他部分在被涂覆主体的各种 层界面部分反射，最终又传播到THz检测器系统20 (作为THz响应信号70)，并且在其中被 检测。除了这些反射之外，THz辐射的各个部分的传播速度受到其与被涂覆主体2的相互 作用影响（并且在此期间）。这样，所检测THz信号70携带与被涂覆主体2的（一个或多 个）层有关的详细信息。
[0062] 图3更详细示出THz辐射与被涂覆主体2的相互作用。在层4a、4b--与另一个 层或者与周围介质一一的各界面，THz辐射的一部分被反射，而一部分被透射。反射和透射 部分分别通过复合反射系数ru和复合透射系数t u来表达。在这里，下标ij表示层i与j 之间的边界，层4a通过i, j=2来表示，层4b通过i, j=3来表示，以及周围介质42通过i, j=l 来表示。在基底2的反射系数写作r34，即，下标j=4表示反射基底。