平行多工测试系统及测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试系统及测试方法，特别涉及一种具有平行多工能力的测试系统及测试方法。
【背景技术】
[0002]测试仪器的价格居高不下的一个主要原因是传统测试仪器架构具专属的特性。每一个测试仪器制造商都有数个测试仪器架构，不仅在厂商如爱德万(Advantest)、泰瑞达(Teradyne)以及安捷伦(Agilent)之间均不相容，同时在同一厂商如爱德万所推出的T3300、T5500、以及T6600系列之间也不相容。由于彼此不相容，每一种测试仪器需要有自己专属的硬件与软件组件，而这些专属的硬件与软件组件并无法用于其他测试仪器上。此夕卜，将一个测试程序由一个测试仪器移植至另一个，以及开发协力厂商解决方案，需要花很大的功夫，即使协力厂商解决方案是为一个平台所开发，它也不能移植或重新使用在另一平台上，而从一个平台转译至另一平台的流程通常很复杂也容易出错，必须付出更多的努力、时间，也使得测试成本增加。
【发明内容】
[0003]本发明实施例提供一种平行多工测试系统，用于以N个测试信号透过N个测试通道对N个隔离箱内的N个受测装置进行测试，平行多工测试系统包括中央处理单元与N个功能测试模块，其中N为大于I的正整数。中央处理单元根据一固件来判断N个受测装置中尚未测试的项目并且传送至少一指示信号以进行测试。N个功能测试模块电性连接中央处理单元，N个功能测试模块根据指示信号来与相对应的受测装置进行对应的功能测试，每一个功能测试模块具有不同的测试功能。在测试周期的一时间槽(time slot)，平行多工测试系统根据固件寻找相对应的N个功能测试模块对N个受测装置进行对应的功能测试，以使全部的受测装置同时透过不同的测试通道来进行不同的功能测试，其中N为大于I的正整数。在测试周期的另一时间槽，中央处理单元根据固件来判断N个受测装置中尚未测试的项目并且传送指示信号至对应的N个功能测试模块，以发出测试信号经过测试通道来测试对应的受测装置。
[0004]在本发明其中一个实施例中，平行多工测试系统包括射频分配器、射频测试模块、影音测试模块、电荷耦合元件、红外线遥控模块与控制器。射频测试模块包括向量信号分析器与向量信号产生器。射频测试模块电性连接中央处理单元，射频测试模块根据指示信号来决定是否与相对应的受测装置进行射频功能测试，其中射频测试模块透过射频分配器来进行射频功能测试，并且射频测试模块包括向量信号分析器与向量信号产生器。影音测试模块电性连接中央处理单元，影音测试模块根据指示信号来决定是否与相对应的受测装置进行影音功能测试，其中影音测试模块透过高清晰度多媒体介面切换器来进行影音功能测试。控制器电性连接中央处理单元，控制器根据指示信号来决定是否与相对应的受测装置进行光学功能测试，其中控制器透过电荷耦合元件与红外线遥控模块来进行光学功能测试。当在测试周期，射频测试模块、影音测试模块与控制器根据指示信号来平行多工地对多个受测装置进行射频功能测试、影音功能测试与光学功能测试。
[0005]在本发明其中一个实施例中，向量信号分析器电性连接射频切换器，用以分析对应的受测装置的发送器所传送的测试信号，并且向量信号产生器电性连接射频切换器，用以产生射频信号且传送至对应的受测装置的接收器。
[0006]在本发明其中一个实施例中，在测试周期的时间槽，射频测试模块、影音测试模块与控制器根据指示信号分别透过其对应的测试通道来同时与相对应的受测装置进行功能测试。
[0007]在本发明其中一个实施例中，平行多工测试系统还包括射频切换器与射频多工器。射频切换器电性连接向量信号分析器、向量信号产生器与中央处理单元。射频多工器电性连接射频切换器与中央处理单元，射频多工器根据指示信号来决定与相对应的受测装置进行射频功能测试。当射频切换器根据指示信号来决定与相对应的受测装置的发送器进行射频功能测试时，则平行多工测试系统透过射频分配器、射频多工器、射频切换器与向量信号分析器来对受测装置的发送器进行射频信号分析。当该射频切换器根据该指示信号来决定与相对应的受测装置的接收器进行射频功能测试时，则平行多工测试系统透过射频分配器、射频多工器、射频切换器与向量信号产生器来对受测装置的接收器进行射频信号分析。
[0008]本发明实施例提供一种用于平行多工测试系统的平行多工测试方法，平行多工测试系统以N个测试信号透过N个测试通道对N个隔离箱内的N个受测装置进行测试，平行多工测试系统包括中央处理单元与N个功能测试模块，多个功能测试模块电性连接中央处理单元，其中多个功能测试模块中的每一个具有不同的测试功能并且N为大于I的正整数，平行多工测试方法包括:透过中央处理单元，根据固件来判断受测装置中尚未测试的项目并且传送至少一指示信号以进行测试；透过N个功能测试模块，根据指示信号来与相对应的受测装置进行对应的功能测试，每一个功能测试模块具有不同的测试功能；在测试周期的一时间槽，平行多工测试系统根据固件寻找相对应的功能测试模块对受测装置进行对应的功能测试，以使全部的受测装置同时透过不同的测试通道来进行不同的功能测试，其中N为大于I的正整数；以及在测试周期的另一时间槽，中央处理单元根据固件来判断受测装置中尚未测试的项目并且传送指示信号至对应的功能测试模块，以发出测试信号经过测试通道来测试对应的受测装置。
[0009]综上所述，本发明实施例所提出的平行多工测试系统及方法，能够整合多个测试功能于单一机台以减少机台数量，进而节省生产测试成本、测试时间、人力。
[0010]为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，但是此等说明与附图仅系用来说明本发明，而非对本发明的权利范围作任何的限制。
【附图说明】
[0011]图1为根据本发明例示性实施例所绘示的平行多工测试系统的区块示意图。
[0012]图2为根据本发明实施例的图1的平行多工测试系统的平行测试的示意图。
[0013]图3为根据本发明另一实施例所绘示的平行多工测试系统的区块示意图。
[0014]图4为根据本发明实施例的图3的平行多工测试系统的平行测试的示意图。
[0015]图5为根据本发明实施例的平行多工测试方法的流程图。
[0016]其中，附图标记说明如下:
[0017]100:平行多工测试系统
[0018]112:中央处理单元
[0019]114_1?114_N:功能测试模块
[0020]120_1、120_2、120_3、120_4 ?120_N:受测装置
[0021]300:平行多工测试系统
[0022]311:中央处理单元
[0023]312:射频多工器
[0024]313:射频切换器
[0025]314:射频测试模块
[0026]3141:向量信号分析器
[0027]3142:向量信号产生器
[0028]315:影音测试模块
[0029]316:控制器
[0030]320_1、320_2:射频分配器
[0031]330:HDMI 切换器
[0032]340:信号转换器
[0033]350:电荷稱合元件
[0034]360:红外线遥控模块
[0035]CH_1、CH_2、CH_3、CH_4 ?CH_N:测试通道
[0036]IS:指示信号
[0037]S_l、S_2、S_3、S_4 ?S_N:测试信号
[0038]Tl:测试周期
[0039]t_ll ?t_lN:时间槽
[0040]S510、S520、S530、S540:步骤
【具体实施方式】
[0041]在下文将参看附图更充分地描述各种例示性实施例，在附图中展示一些例示性实施例。然而，本发明概念可能以许多不同形式来体现，且不应解释为限于本文中所阐述的例示性实施例。确切而言，提供此等例示性实施例使得本发明将为详尽且完整，且将向本领域的技术人员充分传达本发明概念的范畴。在诸附图中，可为了清楚而夸示层及区的大小及相对大小。类似数字始终指示类似元件。
[0042]应理解，虽然本文中可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种元件，但此等元件不应受此等术语限制。此等术语乃用以区分一元件与另一元件。因此，下文论述的第一元件可称为第二元件而不偏离本发明概念的教示。如本文中所使用，术语“及/或”包括相关联的列出项目中的任一者及一或多者的所有组合。
[0043]〔平行多工测试系统的实施例〕
[0044]一般来说，于测试机台进行待测装置(Device Under Test，简称DUT)例如移动装置的测试时，会以隔离箱作为测试设备与待测移动装置的间的介面，该隔离箱会将来自测试机台的各种测试信号传递至待测移动装置的介面，并将待测移动装置对测试信号的反应传回至测试设备，而可得知该移动装置所被测试的各项功能是否良好。
[0045]请参照图1，图1为根据本发明例示性实施例所绘示的平行多工测试系统的区块示意图。如图1所示，在本实施例中，平行多工测试系统100可以例如是移动装置的测试设备，并且平行多工测试系统100用于以N个测试信号S_1?S_N来透过N个测试通道CH_1?CH_N来测试N个隔离箱(图1未绘示)内的N个受测装置(Device UnderTest, DUT) 120_1?120_N，其中N为大于I的正整数。平行多工测试系统100包括中央处理单元112与N个功能测试模块114_1?114_N。N个功能测试模块114_1?114_N分别电性连接至中央处理单元112。
[0046]关于中央处理单元112，中央处理单元112根据一