智能卡掉电保护的测试装置及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及智能卡领域，尤其涉及一种智能卡掉电保护的测试装置及方法。
【背景技术】
[0002]近年来，智能卡被广泛的应用于电信、金融、社会保障、交通、物联网等各个领域，有时智能卡中的数据需要频繁多次地变化更新，例如:公交卡，在使用智能卡的过程中，有可能发生智能卡掉电的情况，而智能卡的掉电保护功能体现了智能卡在数据变化过程中若发生掉电，智能卡对数据变化前的初始数据的保护能力。因此，这就对智能卡的掉电保护功能提出了较高的要求。实际使用中，为了了解智能卡的掉电保护功能，需要对智能卡的掉电保护功能进行测试。
[0003]在现有技术中，对智能卡掉电保护功能的测试方法是在读卡器与智能卡通信过程中，采用人工操作的方式，频繁使智能卡远离再进入到能够与读卡器通信的范围，这样通过使智能卡频繁离场再进场实现智能卡的频繁掉电再通电，最后使智能卡进场，通过读卡器读出智能卡中的数据并与初始的数据比对判断是否出现异常，若出现异常，则说明智能卡在掉电时数据遭到破坏，智能卡没有掉电保护功能，若没有出现异常，则说明智能卡具有掉电保护功能，以此实现对智能卡掉电保护功能的测试。
[0004]但是，这种方法对智能卡的掉电保护功能的测试完全取决于人工操作过程中智能卡的掉电时间，而由于采用的是人工操作的方式，因此智能卡的掉电时间基本上是随机的，这样一旦发现智能卡中的数据出现异常，很难进行分析和定位问题。而且，这种方法需要采用人工操作的方式频繁使智能卡离场和进场，因此，掉电保护的测试效率较低。
【发明内容】
[0005]本发明提供一种智能卡掉电保护的测试装置及方法，用以通过控制智能卡的掉电时间，方便分析和定位问题，同时提高掉电保护的测试效率。
[0006]本发明提供一种智能卡掉电保护的测试装置，所述装置设置在读卡器端，所述装置包括:
[0007]写操作模块，用于执行对所述智能卡的写操作；
[0008]掉电控制模块，用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中，控制所述读卡器掉电并重新上电；
[0009]比较模块，用于在所述读卡器重新上电后，执行对所述智能卡的读操作，将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。
[0010]本发明还提供一种智能卡掉电保护的测试方法，所述方法在读卡器端执行，所述方法包括:
[0011]执行对所述智能卡的写操作；
[0012]在所述执行对所述智能卡的写操作的过程中，控制所述读卡器掉电并重新上电；
[0013]在所述读卡器重新上电后，执行对所述智能卡的读操作，将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。
[0014]在本发明中，写操作模块执行对智能卡的写操作，掉电控制模块在写操作模块执行写操作的过程中，控制读卡器掉电并重新上电，比较模块在读卡器重新上电后，执行对智能卡的读操作，读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断智能卡是否具有掉电保护功能。因此，通过控制读卡器掉电并重新上电，使智能卡也掉电并重新上电，使得智能卡的掉电时间可控制，不再是人工操作使智能卡随机掉电，在出现异常时方便分析和定位问题，并且避免了人工频繁使智能卡离场和进场造成的掉电时间不可控，提高了掉电保护的测试效率。
【附图说明】
[0015]图1为本发明智能卡掉电保护的测试装置第一实施例的结构示意图；
[0016]图2为本发明智能卡掉电保护的测试装置第一实施例的工作过程示意图；
[0017]图3为本发明中智能卡掉电保护的测试装置第二实施例的结构示意图；
[0018]图4为本发明智能卡掉电保护的测试装置第二实施例的具体工作过程示意图；
[0019]图5为本发明智能卡掉电保护的测试装置第三实施例的结构示意图；
[0020]图6为本发明智能卡掉电保护的测试装置第三实施例的一种工作过程示意图；
[0021]图7为本发明智能卡掉电保护的测试装置第三实施例的另一种工作过程示意图；
[0022]图8为mifare卡中的存储结构。
【具体实施方式】
[0023]下面结合说明书附图和【具体实施方式】对本发明作进一步的描述。
[0024]如图1所示，为本发明智能卡掉电保护的测试装置第一实施例的结构示意图，该装置布置在读卡器端，具体可以包括:写操作模块11、掉电控制模块12和比较模块13，掉电控制模块12与写操作模块11连接，比较模块13与掉电控制模块12连接。
[0025]在本实施例中，写操作模块11用于执行对智能卡的写操作；掉电控制模块12用于在上述写操作模块11执行写操作的过程中，控制读卡器掉电并重新上电，读卡器掉电，则智能卡掉电，读卡器重新上电，则智能卡也重新上电；比较模块13用于在读卡器重新上电后，执行对智能卡的读操作，将读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断智能卡是否具有掉电保护功能，若读取的数据与智能卡中保存的初始数据一致，则判定智能卡具有掉电保护功能，若读取的数据与智能卡中保存的初始数据不一致，则判定智能卡没有掉电保护功能。
[0026]本实施例的工作过程如下:如图2所示，为本发明智能卡掉电保护的测试装置第一实施例的具体工作过程示意图，该示意图具体可以包括如下步骤:
[0027]步骤21、写操作模块11执行对智能卡的写操作；
[0028]步骤22、在写操作模块11执行写操作过程中，掉电控制模块12控制读卡器掉电并重新上电；
[0029]具体地，读卡器掉电，则智能卡也就掉电，同样，读卡器重新上电，则智能卡也重新上电；
[0030]步骤23、比较模块13在读卡器重新上电后，执行对智能卡的读操作，将读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，判断读取的数据与智能卡中保存的初始数据是否一致，若是则执行步骤24，否则执行步骤25 ;
[0031]根据比较结果可以判断智能卡是否具有掉电保护功能；
[0032]步骤24、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据一致时，判定智能卡具有掉电保护功能；
[0033]步骤25、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据不一致时，判定智能卡没有掉电保护功能。
[0034]在本实施例中，写操作模块11执行对智能卡的写操作，掉电控制模块12在写操作模块11执行写操作的过程中，控制读卡器掉电并重新上电，比较模块13在读卡器重新上电后，执行对智能卡的读操作，读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断智能卡是否具有掉电保护功能。因此，通过控制读卡器掉电并重新上电，使智能卡也掉电并重新上电，使得智能卡的掉电时间可控制，不再是人工操作使智能卡随机掉电，在出现异常时方便分析和定位问题，并且避免了人工频繁使智能卡离场和进场造成的掉电时间不可控，提高了掉电保护的测试效率。
[0035]如图3所示，为本发明中智能卡掉电保护的测试装置第二实施例的结构示意图，在上一实施例的基础上，掉电控制模块12具体可以包括第一设置单元31和第一掉电控制单元32，第一设置单元31与第一掉电控制单元32连接，第一掉电控制单元32与写操作模块11和比较模块13连接。其中，第一设置单元31用于设置读卡器的掉电时间和上电时间；第一掉电控制单元32用于在写操作模块11执行写操作的过程中，根据掉电时间控制读卡器掉电，根据上电时间控制读卡器重新上电。具体地，第一设置单元31可以根据写操作模块11在智能卡执行一次写操作的时间内选取一个时间段设置为读卡器的掉电时间，则读卡器在这个时间段内进行一次掉电，并且第一设置单元31设置上电时间为读卡器掉电后经过预定时间后的时间，这里的预定时间可以根据实际使用情况进行设定，用于表示读卡器断开与智能卡的通信后再恢复与智能卡的通信所经过的时间。因此，根据设置的掉电时间可以将对智能卡的掉电保护的测试确定到智能卡写操作过程中具体的某一个时间段上，根据具体测试需要可随意设置这个掉电的时间，执行掉电保护测试时，在对智能卡执行写操作的过程中使智能卡在设置好的掉电时间进行一次掉电，可以在出现异常时，快速找到出现异常的位置。
[0036]如图4所示，为本发明智能卡掉电保护的测试装置第二实施例的具体工作过程示意图，该示意图具体可以包括如下步骤:
[0037]步骤41、第一设置单元31设置读卡器的掉电时间和上电时间；
[0038]具体地，第一设置单元31可以根据写操作模块11在智能卡执行一次写操作的时间内选取一个时间段设置为读卡器的掉电时间，