一种带引脚的电子元件测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子元件测试机械技术领域，具体而言，涉及一种带引脚的电子元件测试系统。
【背景技术】
[0002]随着社会发展，越来越多的领域正在实现智能化，而其中最基础也是很重要的部分就是电子元件，电子元件的生产目前的测试是通过人工完成，需要操作人员使用测试机逐个对电子元件进行测试，测试多次才能完成对该电子元件的测试，造成电子元件的生产效率低，人工劳动强度大，生产成本高。
【发明内容】
[0003]针对上述现有技术中存在的问题，本发明提供一种带引脚的电子元件测试系统，该测试系统自动完成测试、省时省力、降低生产成本。
[0004]为实现上述目的，本发明提供如下技术方案:
[0005]一种带引脚的电子元件测试系统，包括机架、轨道、传动机构和至少2个测试机构，所述轨道固定连接在机架上，所述传动机构设于轨道的一侧，所述传动机构包括传动板、第一气缸和第二气缸，所述传动板位于所述轨道上方，所述传动板的一侧与第一气缸固定连接，所述传动板的另一侧设有至少2个缺口，所述缺口的形状与电子元件的形状相配合，相邻的所述缺口间距为d，所述第一气缸通过滑轨与机架连接，所述滑轨与传动板平行，所述第二气缸与第一气缸的伸缩方向垂直，所述第二气缸的伸缩杆与第一气缸固定连接，所述第二气缸与机架固定连接，所述测试机构包括测试机、探针组和第三气缸，所述探针组固定连接在固定板上，所述探针组包括至少2根探针，所述第三气缸与所述固定板固定连接，所述探针组与测试机连接，所述第三气缸固定连接在所述机架上，所述探针组与所述缺口相对，所述测试机构对称排列在所述轨道的两侧，所述电子元件的引脚分别位于所述轨道的两侧。
[0006]进一步，所述探针组为2组，2组所述探针组的距离为d。
[0007]进一步，所述测试系统还包括打标机，所述打标机固定连接在机架上，所述打标机与所述缺口相对，沿电子元件的传动方向，所述测试机构和所述打标机依次排列。
[0008]进一步，所述轨道包括上料端和下料端，所述测试系统还包括上料板和第四气缸，所述上料板倾斜设置，所述上料板与所述机架固定连接，所述上料板的一端与上料端固定连接，所述传动板靠近所述上料端的一端设有上料爪，所述上料爪和相邻缺口的距离为山所述第四气缸固定连接于机架上，所述第四气缸的伸缩杆垂直于所述轨道和电子元件的引脚，所述第四气缸的伸缩杆位于所述轨道的上方，所述第四气缸的伸缩杆阻挡由所述上料板滑下的电子元件，使电子元件与最近的缺口距离为d。
[0009]进一步，所述上料爪包括3根圆锥体，3根所述圆锥体固定连接在传动板上，3根所述圆锥体沿传动板平行排列，所述圆锥体位于所述轨道的下方，所述圆锥体的顶端朝向所述轨道。
[0010]进一步，所述测试系统还包括第五气缸，所述第五气缸与所述机架固定连接，所述第五气缸的伸缩杆垂直于所述轨道，所述第五气缸的伸缩杆平行于电子元件的引脚，所述第五气缸的伸缩杆与电子元件的头部相对，所述第五气缸位于所述上料端上方。
[0011]进一步，所述测试系统还包括第六气缸，所述第六气缸垂直于所述轨道，所述第六气缸位于所述测试机构和打标机之间，所述轨道包括独立块，所述独立块与所述第六气缸的伸缩杆固定连接。
[0012]进一步，所述测试机构为4个，沿电子元件的传动方向依次排列为:2个测试机构、第六气缸、打标机和2个测试机构依次排列。
[0013]进一步，所述测试系统还包括控制系统，所述测试机构、第六气缸和打标机分别与所述控制系统连接。
[0014]进一步，所述轨道的下料端上方设有毛刷。
[0015]本发明的有益效果如下:
[0016]1、传动机构和测试机构相配合，逐个完成对带引脚的电子元件的测试，不需人工操控测试机，节省劳动力，降低生产成本；
[0017]2、上料板、第四气缸和第五气缸的设置，实现了上料的自动化和有序化，无需人工将电子元件放至缺口处，省时省力；
[0018]3、第六气缸与独立块相配合，使不合格产品到达独立块之前，独立块被第六气缸拉出，造成轨道断开，不合格的电子元件被传动机构带动至独立块处时，从轨道上落下，实现自动排料；
[0019]4、打标机对测试合格的电子元件打标，自动进行，不需要人工操作；
[0020]5、根据对电子元件的要求，可以设置2-4次测试，提高测试的准确性；
[0021]6、轨道下料端的毛刷可以扫除电子元件头部的灰尘，节省了人工清理的工序。
【附图说明】
[0022]图1为本发明的整体结构示意图；
[0023]图2为本发明的机架上表面局部细节图；
[0024]图3为本发明的传动机构示意图；
[0025]图4为本发明的测试机构示意图；
[0026]图5为本发明的上料端局部细节图；
[0027]图6为本发明的第六气缸和独立块的结构示意图。
[0028]图中:1 一机架，2—轨道，21—独立块，3—传动机构，31—传动板，32—第一气缸，33一滑轨，34一缺口，35一传动板，36一上料爪，37一圆维体，41一测试机构，42—测试机构，43—测试机构，44一测试机构，45—探针组，451—探针，46—第三气缸，47—固定板，5—打标机，6一第六气缸，7一上料板，71 一第四气缸，72一第五气缸，8一收料盒，9一电子兀件，91 一电子兀件，92 一电子兀件，93 一引脚，11 一毛刷。
【具体实施方式】
[0029]为了使本领域的人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合本发明的附图，对本发明的技术方案进行清楚、完整的描述，基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的其它类同实施例，都应当属于本申请保护的范围。
[0030]实施例一:
[0031]如图1和图2所示，一种带引脚93的电子元件测试系统，包括机架1、轨道2、传动机构3、测试机构41、测试机构42、测试机构43、测试机构44、打标机5、第六气缸6、上料板7、收料盒8和控制系统，，轨道2为直线形，固定连接在机架1上，传动机构3设于轨道2的一侧，沿电子元件9的传动方向依次排列为:2个测试机构4、第六气缸6、打标机5、2个测试机构4和第六气缸6依次排列。打标机5固定连接在机架1上，打标机5与缺口 34相对，打标机5与电子元件9的头部位于同一平面，通过打标机5对电子元件9的头部打标。测试机构4、第六气缸6和打标机5分别与控制系统连接。轨道2的下料端上方设有毛刷11，对测试和打标之后得电子元件9进行清理灰尘，毛刷11为圆形，由马达带动其转动。
[0032]如图3所不，传动机构3包括传动板31、第一气缸32和第二气缸，传动板31位于轨道2上方，传动板31的一侧与第一气缸32固定连接，传动板31的另一侧设有多个缺口34，缺口 34的形状与电子元件9的形状相配合，缺口为“U”形，至少可将电子元件9的头部的一半容纳在缺口 34内，并且电子元件9在缺口 34内不能沿传动方向晃动，相邻的缺口 34间距为d，第一气缸32通过滑轨33与机架1连接，滑轨33与传动板31平行，第一气缸32沿滑轨33滑动，第二气缸(图中未示出)与第一气缸32的伸缩方向垂直，第二气缸的伸缩杆与第一气缸32固定连接，第二气缸与机架1固定连接。第一气缸32和第二气缸配合，使传动板31的运动轨迹为矩形。
[0033]如图4所示，测试机构41、测试机构42、测试机构43或测试机构44包括测试机(图中未示出)、探针组45和第三气缸46，探针组45固定连接在固定板47上，每一组探针组45包括4根探针451，探针组45的个数和每一组探针组45包含的探针451个数根据电子元件9的引脚93数目确定，本实施例以4个引脚93的电子元件9为例进行说明，电子元件9跨在轨道2上，轨道2的两侧各有2个引脚93，测试机构41、测试机构42、测试机构43或测试机构44中各有2个探针与1个引脚93相对，第三气缸46与固定板47固定连接，探针组45与测试机连接，第三气缸46固定连接在机架1上，测试机构41和测试机构42对称排列在轨道2的两侧，测试机构43和测试机构44对称排列在轨道2的两侧，在进行测试时，传动板31将电子元件9运送至测试机构41和测试机构42所对的位置，