一种获取led光源器件变色失效源头的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及半导体发光二极管(LED)技术领域，具体涉及一种获取LED光源器件变色失效源头的方法及装置。
【背景技术】
[0002]LED (Light Emitting D1de)是一种固态半导体器件，可将电能转换为光能。具有耗电量小、聚光效果好、反应速度快、可控性强、能承受高冲击力、使用寿命长、环保等优点。LED正逐步替代传统光源，成为第四代光源。
[0003]对于LED光源，封装支架或基板对光源的可靠性影响较大。一般的，支架厂商会在支架或基板功能区设置镀层。镀层，能增加芯片与支架的连接强度，减少光损失，增加出光亮度，抗腐蚀等功能。当前，绝大多数的LED光源采用的支架或基板功能区的镀层都是银或银镍合金。
[0004]伴随着LED支架镀层的广泛应用，LED光源的变色失效问题也突显出来。镀层的硫化、氯化和溴化问题就首当其冲。所谓的硫化是支架或基板镀层里面的银与接触到的硫发生反应形成硫化银的过程，同理，氯化就是银反应成了氯化银，溴化就是银反应成了溴化银。含银的镀层是发生硫化、氯化或溴化的最主要的因素。光源功能区变色失效，反射率变低造成光通量下降，使LED光源的发光效率变低，同时出现色温漂移。功能区的银层变成银化合物后，金球与功能区的接触力下降，易死灯，降低了产品的可靠性和使用寿命，甚至直接出现死灯。
[0005]然而，LED光源发生变色失效的原因较多，然而，LED光源发生变色失效的源头较多，电源、PCB板、绝缘包装塑料、阻燃剂物料、锡膏助焊剂、油墨、橡胶手套、干燥柜密封圈等物料中可能含有使光源发生变色失效的有害物质。在LED光源和灯具的生产、存储、老化、使用的每个环节中，这些都有可能导致光源发生变色失效。在众多的变色失效源头中，只有准确地辨认出导致LED光源发生变色失效的真正源头，才能从根本上避免LED光源发生变色失效。
【发明内容】
[0006]本发明针对现有中无法快速分析出LED光源变色失效而提供了一种获取LED光源器件变色失效源头的方法及装置，能够实现对LED光源器件中的源头进行定位分析。
[0007]本发明提供了一种获取LED光源器件变色失效源头的方法，包括如下步骤:
[0008]获取LED光源器件上LED光源变色区域中变色斑点中的斑点元素及变色失效结果成分；
[0009]对LED光源器件上的灯具零部件采用X射线能谱仪对零部件中的元素进行分析，基于斑点元素确定可导致LED光源变色的灯具零部件；
[0010]对确定可导致LED光源变色的灯具零部件与含银验证材料一体置于密封腔体内进行零部件失效反应；
[0011]判断每一零部件所对应的失效反应中的结果是否与LED光源的色变区域的变色失效结果相一致，如果判断所述灯具零部件所对应的失效反应中的结果与LED光源的色变区域的变色失效结果相一致，则确定所述灯具零部件为导致LED光源的源头。
[0012]所述获取LED光源器件上LED光源变色区域中变色斑点中的斑点元素及变色失效结果成分包括:
[0013]获取LED光源的变色区域；
[0014]检测所述变色区域是否存在变色斑点；
[0015]若所述变色区域存在变色斑点，则提取变色区域的变色色斑；
[0016]采用X射线能谱仪对变色色斑的斑点元素进行分析；
[0017]基于X射线能谱仪输出斑点元素中的结果成分。
[0018]所述判断所述变色区域是否存在变色斑点包括:
[0019]基于高倍显微镜获得放大后的所述变色区域的图像；
[0020]基于所述放大的所述变色区域的图像判断所述变色区域是否存在变色斑点。
[0021]所述对确定可导致LED光源变色的零部件与含银验证材料一体置于密封腔体内进行零部件失效反应包括:
[0022]获取可造成LED光源变色的灯具零部件；
[0023]将含银验证材料与可造成LED光源变色的灯具零部件置于同一密封腔体；
[0024]模拟LED光源的工作条件，获取变色失效后的含银验证材料。
[0025]所述将含银验证材料与可造成LED光源变色的灯具零部件置于同一密封腔体包括:
[0026]将每一可造成LED光源变色的灯具零部件编号；
[0027]将每个LED光源器件的零部件放置于不同密封腔体；
[0028]将密封腔体编号与灯具零部件编号一致；
[0029]每个密封腔体内都放置相同材质的含银验证材料；
[0030]所述模拟LED光源的工作条件，获取变色失效后的含银验证材料包括:
[0031]模拟LED光源的工作条件，定期获取含银材料的颜色及形貌的输出结果；
[0032]在确定含银验证材料发生变色失效后，提取变色失效的含银验证材料。
[0033]所述判断每一零部件所对应的失效反应中的结果是否与LED光源的色变区域的变色失效结果相一致步骤具体为:
[0034]获取含银验证材料的变色区域；
[0035]检测所述含银验证材料的变色区域是否存在变色斑点；
[0036]若所述含银验证材料的变色区域存在变色斑点，则提取含银验证材料的变色区域的变色色斑；
[0037]采用X射线能谱仪对含银验证材料的变色色斑的斑点元素进行分析；
[0038]基于X射线能谱仪输出含银验证材料的斑点元素中的结果成分；
[0039]将所述含银验证材料的斑点元素中的结果成分与LED光源变色区域中变色斑点中的变色失效结果成分进行比对分析。
[0040]所述检测所述含银验证材料的变色区域是否存在变色斑点包括:
[0041]基于高倍显微镜获得放大后的所述变色区域的图像；
[0042]基于所述放大的所述变色区域的图像判断所述变色区域是否存在变色斑点。
[0043]所述含银验证材料为:含镀银层的LED支架、银键合线或银合金键合线。
[0044]相应的，本发明还提供了一种获取LED光源器件变色失效源头的装置，其特征在于，所述装置包括:
[0045]LED光源变色分析模块，用于获取LED光源器件上LED光源变色区域中变色斑点中的斑点元素及变色失效结果成分；
[0046]LED灯具零部件分析模块，用于对LED光源器件上的灯具零部件采用X射线能谱仪对零部件中的元素进行分析，基于斑点元素确定可导致LED光源变色的灯具零部件；
[0047]灯具零部件失效反应模块，用于对确定可导致LED光源变色的灯具零部件与含银验证材料一体置于密封腔体内进行零部件失效反应；
[0048]变色失效源头分析模块，用于判断每一零部件所对应的失效反应中的结果是否与LED光源的色变区域的变色失效结果相一致，如果判断所述灯具零部件所对应的失效反应中的结果与LED光源的色变区域的变色失效结果相一致，则确定所述灯具零部件为导致LED光源的源头。
[0049]通过实施本发明，能够快速检测LED灯光源发生变色失效的源头，首先通过检测变色区域的变色失效类型，其次通过对灯具零部件的元素分析，得到可能造成光源失效的源头，再验证可能造成光源失效的源头对光源实际上的影响，达到快速获得LED光源变色失效源头的目的。
【附图说明】
[0050]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0051]图1是本发明实施例中的获取LED光源器件变色失效源头的方法流程图；
[0052]图2是本发明实施例