旋光度以及折射率的测定装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种能够在同一条件下测定液体或固体的旋光度和折射率的旋光度 以及折射率的测定装置。
【背景技术】
[0002] 以往，已知对测定对象物的折射率进行测定，并将测定出的折射率换算成浓度 ((白利糖度：Brix)值）的方法。另一方面，在专利文献1、专利文献2以及非专利文献1中 记载了通过使偏光元件旋转等来对测定对象物的旋光度进行测定的方法。
[0003] 并且，例如为了计算表示全可溶性固形物所包含的蔗糖量的比率的纯糖率，需要 根据折射率求出的白利糖度值、由旋光计求出的旋转度这2个参数。
[0004] S卩，需要根据旋光度和白利糖度值这2个值求出第3参数。
[0005] 现有技术文献
[0006] 专利文献
[0007] 专利文献1 :日本特开2005-292028号公报
[0008] 专利文献2 :日本特开2009-085853号公报
[0009] 非专利文献
[0010] 非专利文献1 :若山俊隆，津嶋秀樹，中島吉則，大谷幸利，梅田倫弘："液晶旋光 計"，応用物理学会講演予稿集，1137 (2005).
【发明内容】
[0011] 发明要解决的课题
[0012] 但是，分别通过专用的测定机来测定测定对象物的折射率和旋光度。因此，为了根 据这2个值求出第3参数，必须将通过一个测定机得到的测定值输入到另一个测定机中等 来进行计算，是繁杂的。
[0013] 此外，无法在将测定对象物设定成同一测定条件的情况下同时测定各个值。
[0014] 并且，测定旋光度的以往的旋光计使用电动机等驱动机构而构成，因此是大型设 备，很难构成为小型且能够轻便地进行测定的设备。
[0015] 因此，本发明是鉴于上述实际情况而提出的，其目的是提供一种在同一测定条件 下能够同时测定测定对象物的旋光度和折射率，测定操作简便且容易构成为小型设备的旋 光度以及折射率的测定装置。
[0016] 用于解决课题的手段
[0017] 为了解决上述课题并达成上述目的，本发明的旋光度以及折射率的测定装置具有 以下的结构。
[0018] 〔结构 1〕
[0019] 特征在于，具备：试样室，其收纳测定对象物；旋光度测定部，其测定收纳在所述 试样室内的测定对象物的旋光度；以及折射率测定部，其测定与收纳在所述试样室内的测 定对象物的折射率对应的信息，试样室构成为使从一侧的外部入射的分析对象光在所收纳 的测定对象物内透射，使透射了该测定对象物的分析对象光向另一侧的外部出射，并且收 纳测定对象物的空间的壁部或底部的一部分由棱镜的一个面构成，旋光度测定部具有：光 源，其产生分析对象光；偏光调制部，其使该分析对象光进行偏光调制后向所述试样室入 射；强度检测部，其检测经过了所述试样室的分析对象光的光强度；以及旋光度运算部，其 根据由该强度检测部检测出的光强度信息来计算分析对象光的偏光特性要素，并计算所述 测定对象物的旋光度，折射率测定部具有：光源，其产生分析对象光，并使其向构成所述试 样室的壁部或底部的一部分的棱镜入射；位置检测部，其检测向所述棱镜入射，经由构成所 述试样室的壁部或底部的一部分的所述棱镜的一个面后从所述棱镜出射的分析对象光的 位置信息；以及折射率（浓度）运算部，其根据由该位置检测部检测出的与所述测定对象物 的折射率对应的位置信息来计算折射率或浓度。
[0020] 〔结构 2〕
[0021] 在具有结构1的旋光度以及折射率的测定装置中，特征在于，根据由旋光度运算 部计算出的旋光度、由折射率（浓度）运算部计算出的折射率或浓度来进行第3参数的计 算。
[0022] 〔结构 3〕
[0023] 在具有结构2的旋光度以及折射率的测定装置中，特征在于，折射率（浓度）运算 部计算白利糖度值，第3参数是测定对象物的纯糖率。
[0024] 发明效果
[0025] 在本发明的旋光度以及折射率的测定装置中，具有一个试样室、旋光度测定部、折 射率测定部，由此在同一条件下能够同时进行2值的测定，能够实现测定时间的缩短。即， 通过同时测定与旋光度以及折射率对应的信息，可以省去将一方的参数输入到另一测定器 中的工夫。
[0026] 因此，本发明的旋光度以及折射率的测定装置，例如在像纯糖率那样根据2个参 数导出第3参数时有用。
[0027] 并且，本发明的旋光度以及折射率的测定装置可以小型化，能够轻便地进行测定。
[0028]S卩，以往的旋光度测定装置，通过电动机使偏光元件旋转，或使用法拉第电池或 PEM等大型且复杂的偏光调制器，因此装置整体大型化，很难与现存的小型的折射率测定装 置成为一体的装置。
[0029]与此相对，在本发明的旋光度以及折射率的测定装置中，若作为偏光调制部使用 液晶元件，则能够排除电动机等驱动部，可以实现小型化。液晶元件的驱动也采用低电压且 低消耗功率。由此，能够与现存的小型的折射率测定装置一体化而成为旋光度以及折射率 的测定装置。
[0030] 此外，以往在液体样本的旋光度的测定中，使用决定了光路长度的观测管。使用观 测管的情况下，需要设置观测管的机构，因此对装置的小型化产生制约。此外，想要同时测 定折射率的情况下，需要在观测管上安装折射率的检测部，从而使构造复杂化。
[0031]与此相对，在本发明的旋光度以及折射率的测定装置中，将试样室的结构设成将 从一侧的外部入射的分析对象光向另一侧的外部出射，由此不需要使用观测管，能够使装 置变得简单化、小型化。
[0032] S卩，本发明能够提供一种在同一测定条件下能够同时测定与测定对象物的旋光度 和折射率对应的信息，测定操作简便且容易构成为小型设备的旋光度以及折射率的测定装 置。
【附图说明】
[0033] 图1是表示本发明的旋光度以及折射率的测定装置的结构的框图。
【具体实施方式】
[0034] 〔本发明的旋光度以及折射率的测定装置的结构的概要〕
[0035]图1是表示本发明的旋光度以及折射率的测定装置的结构的框图。
[0036] 如图1所示，本发明的旋光度以及折射率的测定装置具备：试样室1，其收纳测定 对象物101 ;旋光度测定部2,其测定收纳在试样室1内的测定对象物101的旋光度；以及折 射率测定部3,其测定与收纳在试样室1内的测定对象物101的折射率对应的信息。
[0037] 试样室1可直接注入测定对象物101，构成为使从一侧的外部入射的分析对象光4 透射所收纳的测定对象物101内，并使透射了该测定对象物101的分析对象光5向另一侧 的外部出射。即，在该试样室1的一侧部形成有入射窗6。通过透明材料封闭试样室1的一 侧部的开口部来构成该入射窗6。此外，在该试样室1的另一侧部形成有出射窗7。通过用 透明材料封闭试样室1的另一侧部的开口部来构成该出射窗7。构成这些入射窗6和出射 窗7的透明材料，可以由不使透射的光束的旋光状态变化的材料，或向透射的光束给予的 旋光状态的变化是已知的材料构成。
[0038] 此外，试样室1中，收纳测定对象物101的空间的壁部或底部的一部分由构成折射 率测定部3的棱镜8的一个面8a构成。在该实施方式中，棱镜8的一个面8a成为试样室 1的用于收纳测定对象物101的空间的底部的一部分。
[0039] 旋光度测定部2具有产生分析对象光9的光源10、对该分析对象光9进行偏光调 制后使其从入射窗6入射到试样室1内的偏光调制部11。作为光源10,例如可以使用单色 发光的LED。从该光源10产生的分析对象光9通过聚光透镜14成为平行光束。
[0040] 偏光调制部11包括仅使预定的偏光成分透射的偏振镜15和第1以及第2液晶元 件16、17。液晶元件16、17通过控制信号发生部18控制施加电压。此外，液晶元件16、17 的温度被温度传感器19检测出，将温度信息发送给控制信号发生部18。控制信号发生部18 根据从温度传感器19发送的温度信息，将液晶元件16、17控制成预定的旋光状态。或者， 也可以不控制针对液晶元件16、17的施加电压，而是根据从液晶元件16、17的温度传感器 19发送的温度信息来修正旋光度并进行计算。
[0041] 旋光度测定部2具有检测在试样室1内经过后从出射窗7出射的分析对象光5的 光强度的强度检测部12。在该旋光度以及折射率的测定装置中，从出射窗7出射的分析对 象光5的光强度根据试样室1内的测定对象物101的旋光度而变化。
[0042] 强度检测部12由检偏镜20和受光传感器（光电传感器）21构成。从出射窗7出 射的分析对象光5经过检偏镜20后被受光传感器21接受。将由强度检测部12检测出的 光强度信息发送给旋光度运算部13。此外，试样室1的温度被温度传感器22检测出，将温 度信息发送给旋光度运算部13。
[0043] 旋光度运算部13根据从强度检测部12发送的光强度信息和从温度传感器22发 送的温度信息来计算分析对象光5的偏光特性要素，并计算测定对象物101的旋光度。通 过存储部23存储旋光度运算部13中的运算结果。
[0044] 另外，旋光度运算部13与后述的折射率（浓度）