一种采用电导探针测量液膜厚度随时间变化的实验装置及测量方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于冷凝器或降膜蒸发器中液膜厚度的测量技术领域，具体涉及一种采用 电导探针测量液膜厚度随时间变化的实验装置及测量方法。
【背景技术】
[0002] 工业领域有30%的设备采用换热器，而换热器中又多采用凝结和蒸发来实现高效 换热。在这两种换热模式中，均发生着液膜流过固体壁面完成换热的过程，换热热阻集中在 液膜中。而且，绝大多数换热会发生在湍流或雷诺数较高的层流膜中，这两种情况均会发生 界面波动现象，这会使换热系数增加20 %甚至更高。因此，了解和测量液膜波动特点是预测 冷凝和沸腾换热系数的关键。
[0003] 目前，已有部分文献实验测量了蒸汽流过倾斜或垂直通道内壁水膜表面产生的界 面波动特点，测量的重点是液膜厚度。1994年，南朝鲜浦项科技大学的Kang等采用双线探头 测量了倾角为4.1°的矩形通道内含空气的蒸汽流过射流水膜表面接触冷凝的气液界面波 动，给出液膜厚度（1~3mm)随时间的变化图，偏差比膜厚小1个数量级。然而该测量装置需 要部分电级埋入到固体壁面中。他们的研究再次证实气液界面的波动会提高冷凝换热系 数。1995年，Karabpantsios等采用平行电导探针法实验测量了圆管内静止蒸汽在空气中与 贴壁垂直下流水膜接触冷凝的界面波动特性。然而，平行电导探针法因受到液膜表面较高 气相温度的影响，不能给出蒸汽接触冷凝液膜厚度测量的精确结果。在1996年，南朝鲜浦项 科技大学的Park等再次采用双线探针法实验测量了垂直壁面蒸汽在空气中与给入液膜接 触冷凝时的液膜厚度。在2009年，德国弗莱贝格工业大学的Gross等在垂直管内设置高速摄 像机拍摄了等温充分发展下降的水膜和异丙醇膜的形状。在2011年，西安交大的侯旱等采 用电导探针法测量了水平管表面水膜稳态流动无凝结发生时液膜厚度沿着圆周表面的变 化，膜厚在0.1~0.5_的量级，液膜最薄的位置在周角为90°~115°之间。然而，该测量装置 仅可测量静态下的液膜厚度，无法测量液膜厚度随时间的变化。
[0004]但是，在以上膜厚的测量中，膜厚测量中探头种类和探头测量瞬态膜厚的装置并 未报道。而采用静态的电导探针测量液膜厚度的方法无法应用于瞬态波动中，因此，有必要 发明适用于测量液膜厚度随时间变化的仪器。
【发明内容】
[0005] 本发明的目的在于提供一种采用电导探针测量液膜厚度随时间变化的实验装置 及测量方法，该装置结构设计合理，简单紧凑，响应快，测量精度高;该测量方法，操作简单， 重复性好，适用性强。
[0006] 本发明所采用的技术方案是：
[0007] 本发明公开了 一种测量液膜厚度随时间变化的实验装置，包括CPU板，在CPU板上 设有C51芯片;沿待测液膜的波峰设置与待测液膜底边垂直的中心线，在中心线上依次等距 离布设9个电导探针，每个电导探针连接一根1C总线，9根1C总线的另一接头设置在CPU板 上。
[0008] 在CPU板上设有电源。
[0009] 电源提供的电压为5V。
[0010] 在CPU板上安装有接地线。
[0011] 在CPU板上设有LED显示器。
[0012]所述待测液膜的厚度为20~30mm。
[0013] 本发明还公开了一种采用电导探针测量液膜厚度随时间变化的方法，基于测量装 置进行测量；
[0014] 所述测量装置，包括CPU板，在CPU板上设有C51芯片;沿待测液膜的波峰设置与待 测液膜底边垂直的中心线，在中心线上依次等距离布设9个电导探针，每个电导探针连接一 根1C总线，对应0号~8号1C总线;9根1C总线的另一接头设置在CPU板上;其中，1号~8号1C 总线相互并联，并联后与〇号1C总线串联形成闭合回路;在CPU板上设有LED显示器；
[0015] 测量包括以下步骤：
[0016] 1)将9根1C总线端头的电导探针均接于中心线上，将CPU板的CPU接地线连接好，为 CPU板通电；
[0017] 2)设定液膜初始厚度为δ，则测量液膜厚度装置的分辨率为δ/8;
[0018] 3)任取1号到8号电导探针i，如果此时i电导探针正处于液膜的最外侧，则从1到i-1个探针均处于液膜中，处于导通状态；
[0019] 而i+Ι到第8个探针处于气体中，处于不导通状态；
[0020] 4)选择第i个探针所在液膜厚度，并用LED加以显示；
[0021] 5)记录LED显示器在不同时刻的显示值，测出液膜厚度随时间的变化结果。
[0022]对于导通的探针，判断距离0号1C总线最大距离的电导探针读数，记为最大距离 Lmax，则电导探针的分辨率no用下式计算：
[0023]
[0024]其中，η为8，Lmax为最大的液膜高度。
[0025] CPU板接通电源为5V。
[0026]待测液膜的厚度为20~30mm。
[0027] 与现有技术相比，本发明具有以下有益的效果：
[0028] 本发明公开的一种测量液膜厚度随时间变化的实验装置，该装置在沿待测液膜的 波峰设置与待测液膜底边垂直的中心线，并在该中心线上等距布置9个电导探针，这9个电 导探针分别是9位1C总线上的9个接点，9根1C总线的另一端接头均与CPU板相连接，在CPU板 上采用C51芯片来分析这9个节点的导通状况，如果电导探针处于液膜中，则电路导通，出现 电流;如果电导探针处于气体中，则电路中断，无电流发生。此外，还可通过判断0-8号导通 的测点的距离，选择最大距离作为液膜高度，这样就可实现液膜厚度的瞬态测量。该装置采 用多个电导探头构成测量回路，通过导通电导探头所在位置确定液膜厚度，结构设计合理， 简单紧凑，响应快，测量精度高。
[0029] 本发明公开的基于上述实验装置的测量方法，操作简单，重复性好，测量精度高。
【附图说明】
[0030] 图1为本发明的结构示意图。
[0031] 其中：1为1号1C总线；2为2号1C总线；3为3号1C总线；4为4号1C总线；5为5号1C总 线;6为6号1C总线;7为7号1C总线;8为8号1C总线;9为1C总线0; 10为CPU板；11为CPU接地线； 12为C51芯片；13为电源;14为待测液膜;15为中心线；16为LED显示器。
【具体实施方式】
[0032]下面结合附图和【具体实施方式】对本发明进行说明：
[0033] 参见图1，在待测液膜14的波峰处垂直于待测液膜14底边位置设有中心线15,