信号的V端连接，阴极与待检测三相交流信号的W端连接。第一光耦器件U5的光敏三极管的集电极串联上拉电阻Rll后与电源VCC连接，串联第一非门G5后接入信号处理单元的I/O输入口7，第一光耦器件U5的光敏三极管的发射极接地。
[0021]第二光耦器件U6的发光二极管的阳极与待检测三相交流信号的V端连接，阴极与第一光耦器件U5的发光二极管的阳极连接。第二光耦器件U6的光敏三极管的集电极串联上拉电阻R12后与电源VCC连接，串联第二非门G6后接入信号处理单元的I/O输入口 9，第二光耦器件U6的光敏三极管的发射极接地。
[0022]或非门X3的输入端分别连接第一非门G5的输出端、第二非门G6的输出端，或非门X3的输出端与信号处理单元的I/O输入口 8连接。
[0023]当三相交流信号的V-W端波形输出正半周时，第一光耦器件U5的发光二极管导通并发光，第一光親器件U5的光敏三极管导通，输出低电平，经第一非门G5取反后，输出高电平；同时第二光耦器件U6的发光二极管截止，第二光耦器件U6的光敏三极管截止，输出高电平，经第二非门G6取反后，输出低电平，此时，或非门X3输出低电平。当三相交流信号的V-W端波形输出负半周时，第二光親器件U6的发光二极管导通并发光，第二光親器件U6的光敏三极管导通，输出低电平，经第二非门G6取反后，输出高电平；同时第一光親器件U5的发光二极管截止，第一光親器件U5的光敏三极管截止，输出高电平，经第一非门G5取反后，输出低电平，此时，或非门X3输出低电平。
[0024]本发明提供的一种高精度三相交流信号正负过零检测方法是基于上述过零检测装置实现的，包括如下步骤:
步骤一:光耦器件Ul的光敏三极管的集电极、光耦器件U2的光敏三极管的集电极、光耦器件U3的光敏三极管的集电极、光耦器件U4的光敏三极管的集电极、光耦器件U5的光敏三极管的集电极、光耦器件U6的光敏三极管的集电极输出的信号分别定义为S1、S2、S3、S4、35、36;1/0输入口1~1/0输入口9的输入信号分别定义为:？1、？2、？3、？4、？5、卩6、P7、P8、P9。[°°25]步骤二:定义如下标志f Iagl、flag2、flag3、f Iag4、flag5、f lag6，并条件赋值如下: (1)SI上升沿时，设置f Iagl=I，flag2=0;
S2上升沿时，设置f Iagl=O，f lag2=l ；
(2)33上升沿时，设置^&83=141&84=0;
S4上升沿时，设置f lag3=0，f lag4=l ；
(3)35上升沿时，设置^&85=141&86=0;
S6上升沿时，设置f lag5=0，f lag6=l ；
步骤三:信号处理单元对方波信号P2、P5、P8的脉冲宽度进行测量，计数值分别为N1、N2、N3;
步骤四:根据(Nl)/2时，flagl、flag2的值，判断UV端的正负过零点，具体如下:
(1)若行&81=141&82=0，则通过其1/0输出口1输出窄脉冲01，01对应交流信号1]、￥的负向过零点；
(2)若行&81=041&82=1，则通过其1/0输出口2输出窄脉冲02，02对应交流信号1]、￥的正向过零点；
步骤五:根据(N2)/2时，flag3、flag4的值，判断UW端的正负过零点，具体如下:
(1)若行&83=141&84=0，则通过其1/0输出口3输出窄脉冲03，03对应交流信号1]、1的负向过零点；
(2)若行&83=041&84=1，则通过其1/0输出口4输出窄脉冲04，04对应交流信号1]、￥的正向过零点；
步骤六:根据(N2)/2时，flag5、flag6的值，判断VW端的正负过零点，具体如下:
(1)若行&85=141&86=0，则通过其1/0输出口5输出窄脉冲05，05对应交流信号￥、1的负向过零点；
(2)若flag5=0，flag6=l，则通过其I/O输出口6输出窄脉冲Q6，Q6对应交流信号V、W的正向过零点。
[0026]本发明提供的高精度三相交流信号正负过零检测方法具有较强的抗干扰能力。
[0027]以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种高精度三相交流信号正负过零检测装置，其特征在于，包括信号处理单元、连接于待检测三相交流电与信号处理单元之间的三组正负过零检测电路，待检测三相交流电中的任两项组合引出三组正负过零检测端，每一组正负过零检测端连接一组正负过零检测电路； 所述正负过零检测电路包括:第一光耦器件、第二光耦器件、第一非门、第二非门以及或非门；第一光耦器件的发光二极管与第二光耦器件的发光二极管反向并联后，连接于对应正负过零检测端之间；第一光耦器件的光敏三极管的集电极串联第一非门后，与信号处理单元的第一输入口连接，第一光耦器件的光敏三极管的发射极接地;第二光耦器件的光敏三极管的集电极串联第二非门后，与信号处理单元的第三输入口连接，第二光耦器件的光敏三极管的发射极接地;所述或非门的两个输入端分别与第一非门的输出端、第二非门的输出端连接，或非门的输出端与信号处理单元的第二输入口连接； 第一光耦器件的光敏三极管的集电极、第二光耦器件的光敏三极管的集电极还分别与电源VCC电连接； 所述信号处理单元根据第一输入口、第二输入口、第三输入口输出的电平信号检测正负过零点。2.根据权利要求1所述的高精度三相交流信号正负过零检测装置，其特征在于，各所述正负过零检测端串联限流电阻后与对应正负过零检测电路连接。3.根据权利要求1所述的高精度三相交流信号正负过零检测装置，其特征在于，所述第一光耦器件的光敏三极管的集电极、第二光耦器件的光敏三极管的集电极分别串联各自的上拉电阻后与电源VCC电连接。4.一种采用权利要求1?3中任一项所述的高精度三相交流信号正负过零检测装置进行过零检测的方法，其特征在于，包括如下步骤: 步骤一:设: 第一组正负过零检测电路的第一光耦器件的发光二极管的阳极与待检测三相交流电的U端连接，阴极与待检测三相交流电的V端连接;对应的，第一光耦器件的光敏三极管集电极输出的电信号记为:S1，第二光耦器件的光敏三极管集电极输出的电信号记为:S2;第一非门、或非门、第二非门输出的信号分别记为:P1、P2、P3; 第二组正负过零检测电路的第一光耦器件的发光二极管的阳极与待检测三相交流电的U端连接，阴极与待检测三相交流电的W端连接;对应的，第一光耦器件的光敏三极管集电极输出的电信号记为:S3，第二光耦器件的光敏三极管集电极输出的电信号记为:S4;第一非门、或非门、第二非门输出的信号分别记为:P4、P5、P6; 第三组正负过零检测电路的第一光耦器件的发光二极管的阳极与待检测三相交流电的V端连接，阴极与待检测三相交流电的W端连接;对应的，第一光耦器件的光敏三极管集电极输出的电信号记为:S5，第二光親器件的光敏三极管集电极输出的电信号记为:S6;第一非门、或非门、第二非门输出的信号分别记为:P7、P8、P9; 步骤二:定义如下标志；1^1381、;1^1382、;1^1383、;1^1384、;1^1385、;1^1386，并条件赋值如下: (1)SI上升沿时，设置f Iagl=I，f lag2=0; S2 上升沿时，设置 flag I =O，f lag2=l ； (2)33上升沿时，设置^&83=141&84=0; S4上升沿时，设置f lag3=0，f lag4=l ； (3)35上升沿时，设置^&85=141&86=0; S6上升沿时，设置f lag5=0，f lag6=l ； 步骤三:信号处理单元对方波信号P2、P5、P8的脉冲宽度进行测量，计数值分别为N1、N2、N3; 步骤四:根据(NI)/2时，f Iag1、f Iag2的值，判断UV端的正负过零点，具体如下: (1)若0&81=141&82=0，则通过其1/0输出口1输出窄脉冲叭，01对应交流信号1]、￥的负向过零点； (2)若0&81=0，^&82=1，则通过其1/0输出口2输出窄脉冲02，02对应交流信号1]、￥的正向过零点； 步骤五:根据(N2)/2时，flag3、flag4的值，判断UW端的正负过零点，具体如下: (1)若flag3=l，flag4=0，则通过其I/O输出口 3输出窄脉冲Q3，Q3对应交流信号U、W的负向过零点； (2)若0&83=0，^&84=1，则通过其1/0输出口4输出窄脉冲04，04对应交流信号1]、￥的正向过零点； 步骤六:根据(N2)/2时，flag5、flag6的值，判断VW端的正负过零点，具体如下: (1)若flag5=l，flag6=0，则通过其I/O输出口 5输出窄脉冲Q5，Q5对应交流信号V、W的负向过零点； (2)若0&85=0，^&86=1，则通过其1/0输出口6输出窄脉冲06，06对应交流信号￥、￥的正向过零点。
【专利摘要】本发明公开了一种高精度三相交流信号正负过零检测装置，包括正负过零检测电路，其包括：第一光耦器件、第二光耦器件、第一非门、第二非门及或非门，第一光耦器件中的发光二极管与第二光耦器件中的发光二极管反相并联，第一光耦器件中光敏三极管的集电极串联第一非门后接入信号处理单元的第一输入口，第二光耦器件中光敏三极管的集电极串联第二非门后接入信号处理单元的第三输入口，或非门的输入端分别与第一非门、第二非门的输出端连接，或非门的输入端接入信号处理单元的第二输入端。本发明还公开了一种高精度三相交流信号正负过零检测方法，信号处理单元根据正负过零检测电路输出的信号判断正负过零点。本发明结构简单，具有较强的抗干扰能力。
【IPC分类】G01R19/175
【公开号】CN105675968
【申请号】CN201610213788
【发明人】黄家才, 李海彬, 张玎橙, 吴江涛, 王琳
【申请人】南京工程学院
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年4月8日