半导体激光器测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子技术，尤其涉及一种半导体激光器测试系统。
【背景技术】
[0002]半导体激光器具有体积小、结构简单、效率高、寿命长且易于调制的特点，被广泛应用于光纤通信、激光制导、激光武器、激光雷达和激光测距等军事领域，以及激光医疗、美容、机械加工等民用领域。
[0003]半导体激光器，尤其是高功率的半导体激光器，其工作状态的稳定性，直接影响了应用于上述领域时的安全性以及使用效果，因此，在出厂前都必须对半导体激光器进行稳定性测试，以筛选出合格产品。但现有技术中缺乏一种有效对半导体激光器工作状态的稳定性进行测试的方式。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型提供一种半导体激光器测试系统，用于对半导体激光器工作状态的稳定性进行测试。
[0005]本实用新型的第一个方面提供一种半导体激光器测试系统，包括:至少一台测试仪、控制主机、测试仪电源线、测试仪供电电源、半导体激光器电源控制线和数据总线；
[0006]所述至少一台测试仪中的每台测试仪分别与每个待测试的半导体激光器一一对应，用于进行对应半导体激光器预设工作状态参数的测试，其中，所述预设工作状态参数包括输出光功率、工作电压、工作电流、工作温度；
[0007]所述每台测试仪通过所述数据总线与所述控制主机连接；所述每台测试仪通过所述测试仪电源线与所述测试仪供电电源连接，由所述测试仪供电电源为所述每台测试仪进行供电；所述每个半导体激光器与对应的所述半导体激光器电源控制线连接，所述每台测试仪通过所述半导体激光器电源控制线控制对应半导体激光器电源的通断；
[0008]每台测试仪包括:
[0009]处理器、存储器、制冷设备，以及用于测量对应半导体激光器的所述输出功率的功率传感器、用于测量所述对应半导体激光器的所述工作电压的电压传感器、用于测量所述对应半导体激光器的所述工作电流的电流传感器和用于测量所述对应半导体激光器的所述工作温度的温度传感器；
[0010]所述存储器、所述功率传感器、所述电压传感器、所述电流传感器和所述温度传感器分别与所述处理器连接；所述制冷设备与所述功率传感器连接；
[0011]所述处理器，用于接收所述控制主机通过所述数据总线发送的测试指令，所述测试指令中包括所述预设工作状态参数；并在接收到所述测试指令后，断开对应测试仪与所述数据总线间的电连接，使所述对应测试仪处于离线工作状态；
[0012]所述处理器，还用于控制所述功率传感器、所述电压传感器、所述电流传感器和所述温度传感器分别进行所述预设工作状态参数的参数数据采集，并对采集到的参数数据进行处理后，将处理结果存储在所述存储器中。
[0013]如上所述的系统，所述制冷设备包括:半导体制冷设备、风冷设备或液体制冷设备中的任一个。
[0014]如上所述的系统，当采用液体制冷设备时，采用每台测试仪独立液体循环的方式，或者采用所述至少一台测试仪集中液体循环的方式。
[0015]如上所述的系统，所述功率传感器包括积分球衰减均化器、光探测器和峰值保持电路；
[0016]所述积分球衰减均化器上开有入光孔和采样孔，所述积分球衰减均化器通过所述采样孔与所述光探测器的输入端连接，所述光探测器的输出端与所述峰值保持电路连接；
[0017]通过所述入光孔接收对应半导体激光器发出的激光，并通过所述采样孔将与所述激光功率对应的光信号传输给所述光探测器；所述光探测器为量热型光探测器或光电探测器，对所述光信号进行光电转换，得到对应的电信号；所述峰值保持电路根据所述电信号得到所述输出光功率。
[0018]如上所述的系统，所述制冷设备贴附在所述积分球衰减匀化器上。
[0019]如上所述的系统，所述电压传感器的电压测试接头与对应半导体激光器的正负极连接；所述电流传感器的电流测试接头与对应半导体激光器的所述正负极连接；所述温度传感器的温度测试接头连接在对应半导体激光器的表面上；所述电压测试接头为贴片式或夹具式。
[0020]如上所述的系统，所述处理器中包括:滤波电路、放大电路和模数转换电路；
[0021]所述滤波电路、所述放大电路和所述模数转换电路依次连接，分别用于对所述参数数据进行滤波、放大、模数转换处理。
[0022]如上所述的系统，所述处理器还用于接收所述控制主机发送的读取指令；
[0023]所述处理器还用于根据所述读取指令将所述存储器中存储的所述处理结果发送给所述控制主机；
[0024]所述控制主机还用于对接收到的所述处理结果进行分析处理，并存储分析处理结果；其中，所述分析处理包括求最大值、最小值、均值或绘制所述预设工作状态参数的变化曲线。
[0025]如上所述的系统，所述处理器中还包括:清零电路，用于清零所述存储器中存储的所述处理结果。
[0026]采用上述本实用新型技术方案的有益效果是:通过与各半导体激光器一一对应的测试仪来实现对各半导体激光器的各工作状态参数的离线测试。具体地，各测试仪通过数据总线与控制主机连接，并在接收到控制主机下达的携带有待测试工作状态参数的测试指令后，断开与控制主机间的连接，实现脱机离线工作；各测试仪在控制自身上的各传感器对各工作状态参数数据进行采集之后，对参数数据进行处理并保存，并在用户需要查看测试结果的时候，通过控制主机读取各个测试仪中存储的处理结果。不但能够实现同时对多个半导体激光器的工作稳定性的高效、全面准确测试，而且避免了控制主机出现断电或死机等意外情况时，对测试的不利影响，并且离线测试保证了长期测试过程中测试结果的安全可靠。
【附图说明】
[0027]图1为本实用新型半导体激光器测试系统的原理图；
[0028]图2为测试仪中的处理器的结构示意图；
[0029]图3为本实用新型实施例一提供的半导体激光器测试系统的结构示意图；
[0030]图4为本实用新型实施例二提供的半导体激光器测试系统的结构示意图。
【具体实施方式】
[0031]图1为本实用新型半导体激光器测试系统的原理图，如图1所示，该测试系统包括:
[0032]至少一台测试仪11、控制主机12、测试仪电源线13、测试仪供电电源14、半导体激光器电源控制线15和数据总线16 ;
[0033]其中，该数据总线16可为RS-485数据总线或内部集成电路(Inter — IntegratedCircuit, I2C)总线。
[0034]测试仪供电电源14可以是220V交流电，也可以是适配器，将220交流电转化为9V或12V的低压直流电。
[0035]每台测试仪11分别与每个待测试的半导体激光器17 —一对应，用于进行对应半导体激光器17预设工作状态参数的测试，其中，所述预设工作状态参数包括输出光功率、工作电压、工作电流、工作温度；
[0036]每台测试仪11通过数据总线16与控制主机12连接；每台测试仪11通过测试仪电源线13与测试仪供电电源14连接，由该测试仪供电电源14为每台测试仪11进行供电；每个半导体激光器17与对应的半导体激光器电源控制线15连接，每台测试仪11通过所述半导体激光器电源控制线15控制对应半导体激光器17电源的通断。
[0037]其中，每台测试仪11包括:
[0038]冷却设备111、处理器112、存储器113、功率传感器114、电压传感器115、电流传感器116、温度传感器117。
[0039]所述存储器113、所述功率传感器11